CN109189603A - 一种用于动态随机存取存储器使用raid做纠错校验的方法 - Google Patents

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陈育鸣
李庭育
洪振洲
魏智汎
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Abstract

本发明公开了一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，包括以下步骤：主控内部的随机内存控制单元，不配置额外的校验位储存用内存组件，随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存；主控内部的随机内存控制单元在内存控制物理层通过对数据数据做异或运算产生校验用的校验位；随机内存控制单元所控制并从随机内存中读出资料，该发明使用异或运算对于大量块状数据做数据保护，其优点是对于块数据的保护与其他代数算法ECC比较起来控制逻辑设计相对简单，与传统随机内存保护方式相比，对于大量块状数据做数据保护更是省去大量校验位的空间需求，同时仍保有数据纠错的能力，同时可以节省大量的内存空间浪费。

Description

一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法
技术领域
本发明涉及随机内存使用异或运算达成纠错校验的方法技术领域，具体为一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法。
背景技术
动态内存(Dynamic Memory)，使用户能够指定虚拟操作系统启动的RAM容量，并将平台可用的系统内存最大化。
现行内存控制系统多以汉明码方式做随机数据保护，其数据位宽与校验位宽的比例大致为2:1/4:1/8:1/16:1/32:1。但对于块数据的保护(512B/1KB/2KB/4KB…)，使用现行汉明码方式的校验位会消耗大量的内存空间，因此，亟待一种改进的技术来解决现有技术中所存在的这一问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，使用异或运算以改善传统使用汉明码需要大量额外储存空间，或是对于大量块状数据造成不必要的内存储存空间浪费。本发明使用异或运算对于大量块状数据做数据保护，其优点是对于块数据的保护与其他代数算法ECC比较起来控制逻辑设计相对简单，与传统随机内存保护方式相比，对于大量块状数据做数据保护更是省去大量校验位的空间需求，同时仍保有数据纠错的能力，同时可以节省大量的内存空间浪费，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，包括以下步骤：
步骤一：主控内部的随机内存控制单元，不配置额外的校验位储存用内存组件，而将校验位一同内嵌或编排储存至普通数据用内存组件的储存空间；
步骤二：随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存；
步骤三：主控内部的随机内存控制单元在内存控制物理层通过对数据数据做异或运算产生校验用的校验位；
步骤四：随机内存控制单元所控制并从随机内存中读出资料，读取时，同时读出用户数据与校验位数据，于校验模块内进行用户数据校验运算。
优选的，步骤一中的主控内部包括内存控制单元及内存控制物理层。
优选的，内存控制单元内部设置有写入单元和读取单元，所述写入单元产生数据传输至内存控制物理层内，再由读取单元从内存控制物理层内读出资料。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
使用异或运算对于大量块状数据做数据保护，其优点是对于块数据的保护与其他代数算法ECC比较起来控制逻辑设计相对简单，与传统随机内存保护方式相比，对于大量块状数据做数据保护更是省去大量校验位的空间需求，同时仍保有数据纠错的能力，同时可以节省大量的内存空间浪费。
附图说明
图1为主控内部的随机内存控制单元不配置额外的校验位储存用内存组件的示意图。
图2为无配置专用校验位储存组件，随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存的流程示意图。
图3为无配置专用校验位储存组件，随机内存控制单元所控制从随机内存读出资料与校验的流程示意图。
图4为校验位产生与读取校验单元的异或运算操作流程示意图。
图5为主控内部的随机内存控制单元结构示意图。
图6为主控内部的随机内存控制单元配置额外的校验位储存用内存组件的示意图。
图7为配置专用校验位储存组件，随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存的流程示意图。
图8为配置专用校验位储存组件，随机内存控制单元所控制从随机内存读出资料与校验的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4，本发明提供一种技术方案：一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，包括以下步骤：
步骤一：主控内部的随机内存控制单元，不配置额外的校验位储存用内存组件，而将校验位一同内嵌或编排储存至普通数据用内存组件的储存空间；
步骤二：随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存；
步骤三：主控内部的随机内存控制单元在内存控制物理层通过对数据数据做异或运算产生校验用的校验位；
步骤四：随机内存控制单元所控制并从随机内存中读出资料，读取时，同时读出用户数据与校验位数据，于校验模块内进行用户数据校验运算。
如图5所示，主控内部包括内存控制单元及内存控制物理层，内存控制单元内部设置有写入单元和读取单元，写入单元产生数据传输至内存控制物理层内，再由读取单元从内存控制物理层内读出资料。
如图6-8所示，主控内部的随机内存控制单元，配置额外的校验位储存用内存组件，随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存，随机内存控制单元所控制从随机内存读出资料与校验，该方法将占用大量的校验位，校验位会消耗大量的内存空间。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (3)

1.一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤一：主控内部的随机内存控制单元，不配置额外的校验位储存用内存组件，而将校验位一同内嵌或编排储存至普通数据用内存组件的储存空间；
步骤二：随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存；
步骤三：主控内部的随机内存控制单元在内存控制物理层通过对数据数据做异或运算产生校验用的校验位；
步骤四：随机内存控制单元所控制并从随机内存中读出资料，读取时，同时读出用户数据与校验位数据，于校验模块内进行用户数据校验运算。
2.根据权利要求1所述的一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，其特征在于：所述步骤一中的主控内部包括内存控制单元及内存控制物理层。
3.根据权利要求2所述的一种用于动态随机存取存储器使用RAID做纠错校验的方法，其特征在于：所述内存控制单元内部设置有写入单元和读取单元，所述写入单元产生数据传输至内存控制物理层内，再由读取单元从内存控制物理层内读出资料。
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