CN109186529A - 一种大型金属件的平面度测量系统 - Google Patents

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李宁
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    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/30—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring roughness or irregularity of surfaces

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Abstract

本发明公开一种大型金属件的平面度测量系统，包括中央分析器、感应探头Ⅰ、感应探头Ⅱ、感应探头Ⅲ、感应探头Ⅳ、感应探头Ⅴ和感应探头Ⅵ，中央分析器分成两路，一路连接感应探头Ⅰ、感应探头Ⅱ和感应探头Ⅲ，另一路连接感应探头Ⅳ、感应探头Ⅴ和感应探头Ⅵ，感应探头Ⅰ、感应探头Ⅱ和感应探头Ⅲ并连一起，感应探头Ⅳ、感应探头Ⅴ和感应探头Ⅵ并联一起，不需要多人进行协助完成，不会增加人员成本的开支，工作效率也大大提高。

Description

一种大型金属件的平面度测量系统
技术领域
本发明涉及一种测量系统，具体是一种大型金属件的平面度测量系统。
背景技术
在大型的工件加工中对零件的平面度是要求一直很高，在加工出零件的时候需要第一时间将零件的平面度进行检查处理，但是现在使用的检查工具都是工作人员用平面锥进行测量，这种测量方法测量速度慢，而且测量的数值很不准确，在遇到大型的零件进行测量的时候需要多名工作人员一起协助才能完成工作，这样不仅大大要增加人员开支，而且工作效率也大大降低，如何能解决此问题已经刻不容缓。
发明内容
针对上述现有技术存在的问题，本发明提供一种大型金属件的平面度测量系统，不需要多人进行协助完成，不会增加人员成本的开支，工作效率也大大提高。
为了实现上述目的，本发明采用的一种大型金属件的平面度测量系统，包括中央分析器、感应探头Ⅰ、感应探头Ⅱ、感应探头Ⅲ、感应探头Ⅳ、感应探头Ⅴ和感应探头Ⅵ，中央分析器分成两路，一路连接感应探头Ⅰ、感应探头Ⅱ和感应探头Ⅲ，另一路连接感应探头Ⅳ、感应探头Ⅴ和感应探头Ⅵ，感应探头Ⅰ、感应探头Ⅱ和感应探头Ⅲ并连一起，感应探头Ⅳ、感应探头Ⅴ和感应探头Ⅵ并联一起。
所述的中央分析器是由单片机和电源组成，单片机连接电源。
不需要多人进行协助完成，不会增加人员成本的开支，工作效率也大大提高，生产进度不会因为此类事情而落后，使用简单，操作方便，适合全面的推光和使用。
附图说明
图1为本发明的结构示意图；
图中：1、中央分析器，2、感应探头Ⅰ，3、感应探头Ⅱ，4、感应探头Ⅲ，5、感应探头Ⅳ，6、感应探头Ⅴ，7、感应探头Ⅵ。
具体实施方式
为使本发明的目的技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中及实施例，对本发明进行进一步详细说明。但是应该理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限制本发明的范围。
如图1所示，本发明采用的一种大型金属件的平面度测量系统，包括中央分析器1、感应探头Ⅰ2、感应探头Ⅱ3、感应探头Ⅲ4、感应探头Ⅳ5、感应探头Ⅴ6和感应探头Ⅵ7，中央分析器1分成两路，一路连接感应探头Ⅰ2、感应探头Ⅱ3和感应探头Ⅲ4，另一路连接感应探头Ⅳ5、感应探头Ⅴ6和感应探头Ⅵ7，感应探头Ⅰ2、感应探头Ⅱ3和感应探头Ⅲ4并连一起，感应探头Ⅳ5、感应探头Ⅴ6和感应探头Ⅵ7并联一起。
所述的中央分析器1是由单片机和电源组成，单片机连接电源。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种大型金属件的平面度测量系统，包括中央分析器（1）、感应探头Ⅰ（2）、感应探头Ⅱ（3）、感应探头Ⅲ（4）、感应探头Ⅳ（5）、感应探头Ⅴ（6）和感应探头Ⅵ（7），其特征在于，中央分析器（1）分成两路，一路连接感应探头Ⅰ（2）、感应探头Ⅱ（3）和感应探头Ⅲ（4），另一路连接感应探头Ⅳ（5）、感应探头Ⅴ（6）和感应探头Ⅵ（7），感应探头Ⅰ（2）、感应探头Ⅱ（3）和感应探头Ⅲ（4）并连一起，感应探头Ⅳ（5）、感应探头Ⅴ（6）和感应探头Ⅵ（7）并联一起。
2.根据权利要求1所述的一种大型金属件的平面度测量系统，其特征在于，所述的中央分析器（1）是由单片机和电源组成，单片机连接电源。
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