CN109157187A - 增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法 - Google Patents

增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109157187A
CN109157187A CN201811035526.8A CN201811035526A CN109157187A CN 109157187 A CN109157187 A CN 109157187A CN 201811035526 A CN201811035526 A CN 201811035526A CN 109157187 A CN109157187 A CN 109157187A
Authority
CN
China
Prior art keywords
interference signal
equally spaced
wave number
array
signal array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201811035526.8A
Other languages
English (en)
Inventor
王瑄
李中梁
王向朝
南楠
步扬
曾爱军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS
Original Assignee
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS filed Critical Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS
Priority to CN201811035526.8A priority Critical patent/CN109157187A/zh
Publication of CN109157187A publication Critical patent/CN109157187A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/102—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for optical coherence tomography [OCT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

一种增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法。该方法通过高速采集时间等间隔的系统干涉信号，并将该时间等间隔的系统干涉信号标定为波数等间隔的系统干涉信号以增加系统的成像深度范围。高速采集的速率越大，一个光谱范围内的采样点数就越多，系统的成像深度范围也越大。数据处理中，利用在扫频光学相干层析成像系统中引入的光程差为固定值的干涉信号，将高速采集的时间等间隔的系统干涉信号标定为波数等间隔的系统干涉信号。本发明的实现方式结构简单，易于操作，降低了系统成本和复杂性。

Description

增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法
技术领域
本发明涉及频域光学相干层析成像(Fourier Domain Optical CoherenceTomography，简称FDOCT)，特别是一种增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法。
背景技术
目前越来越多的人受到眼科疾病的影响，如远近视、青光眼、老年性黄斑变性和糖尿病视网膜病等，而这些眼科疾病早期的症状主要体现在眼睛结构和形状的变化。因此，获得高分辨率的全眼信息，如角膜、晶状体及视网膜厚度等结构与眼轴长度，对眼科疾病的诊断具有十分重要的意义。
光学相干层析成像(Optical Coherence Tomography，以下简称为OCT)是一种通过探测样品背向散射光的强度来获取样品不同深度结构信息的生物医学光学成像技术，具有非侵入、分辨率高、可在体检测生物组织内部微结构信息等特点。1991年，美国麻省理工学院的J.G.Fujimoto和D.Huang等人首先提出了此概念，并对视网膜和冠状动脉进行了离体成像。目前OCT技术已被广泛应用于眼科、皮肤科、心血管等领域的临床诊断和研究。
OCT可分为时域OCT(Time Domain OCT，TDOCT)和频域OCT(Fourier Domain OCT，FDOCT)，而频域OCT又可分为基于光谱仪的频域OCT(Spectral Domain OCT，SDOCT)和基于扫频光源的频域OCT(又称扫频光学相干层析成像，Swept source OCT，SSOCT)。与SDOCT相比，SSOCT具有更慢的灵敏度下降曲线、更大的成像范围、更高的探测效率。基于以上诸多有点，SSOCT已成为主要的研究方向。
考虑人眼的折射率以及疾病的影响，人眼的眼轴长度通常大约几十毫米。因而利用SSOCT进行眼轴长度测量时，系统的成像深度范围越大越好。然而，在SSOCT系统中，受扫频光源时钟信号的采样点数限制，其成像范围仅几个毫米；而且系统存在的复共轭镜像也会使得系统成像深度范围缩小为原来的一半，进一步限制了SSOCT系统的成像深度范围。因此，在测量人眼结构和眼轴长度的应用中，SSOCT系统的成像深度范围成为主要制约因素。目前，增加成像深度范围的方法主要是硬件的方式，可以分为三类，分别是：
1)消除复共轭镜像获得全深度成像范围。该方法主要是在系统中增加或替换一个硬件，如声光调制器或3*3光纤耦合器等消除镜像，获得全深度成像范围，成像范围增加了一倍(参见在先技术[1]，J.Jing,J.Zhang,A.C.Loy,B.J.F.Wong,and Z.Chen,“High-speedupper-airway imaging using full-range optical coherence tomography,”J.Biomed.Opt.17(11),110507,2012，和在先技术[2]M.Sarunic,M.A.Choma,C.Yang,J.A.Izatt,Instantaneous complex conjugate resolved spectral domain and swept-source OCT using 3x3fiber couplers,Optics express,13(2005)957-967)；
2)采用多参考臂的方式增加成像深度范围。在该类方法中，每个参考臂对应不同的成像深度范围，这些范围结合增加系统的成像深度范围。但该方式中每个参考臂对应的成像范围仍然比较小，不同参考臂对应的OCT图像分时采集并进行拼接，而且拼接的图像数量与参考臂的数量相等(参见在先技术[3]，A.Tao,Y.Shao,J.Zhong,H.Jiang,M.Shen,andJ.Wang,“Versatile optical coherence tomography for imaging the human eye,”Biomed.Opt.Express 4,1031–1044,2013，和在先技术[4],S.Fan,L.Li,Q.Li,C.Dai,Q.Ren,S.Jiao,C.Zhou,Dual band dual focus optical coherence tomography forimaging the whole eye segment,Biomedical optics express,6(2015)2481-2493)；
3)增加一个光谱范围内的采样点数。在该方法中，一种方式通过利用频率加倍器和滤波器等硬件使得光源输出的时钟信号的频率加倍，从而增加采样点数(参见在先技术[5]，J.Yang,L.Liu,J.P.Campbell,D.Huang,and G.Liu,"Handheld optical coherencetomography angiography,"Biomed.Opt.Express8,2287-2300,2017)；另一种是高速采集干涉信号，并利用搭建的外置迈克尔逊干涉仪将高速采集的时间等间隔信号标定为波数等间隔的信号，获得了10mm的成像深度范围(参见在先技术[6]，B.Potsaid,B.Baumann,D.Huang,S.Barry,A.E.Cable,J.S.Schuman,J.S.Duker,and J.G.Fujimoto,"Ultrahighspeed 1050nm swept source/Fourier domain OCT retinal and anterior segmentimaging at 100,000to400,000axial scans per second,"Opt.Express 18,20029-20048,2010)；还有一种方式是利用新型扫频激光器增加一个光谱范围内的采样点数(参见在先技术[7]，B.Potsaid,V.Jayaraman,J.G.Fujimoto,J.Jiang,P.J.S.Heim,andA.E.Cable,“MEMS tunable VCSEL light source for ultrahigh speed 60kHz—1MHzaxial scan rate and long range centimeter class OCT imaging,”Proc.SPIE 8213,82130M,82130M-8,2012)；
上述这些方法都可以增加系统的成像深度范围，但是均需要通过增加额外的器件，例如声光调制器、多参考臂和改变样品臂的设计等，增加了系统的成本和复杂性。另外，有些方法还会增加数据处理的复杂度。
发明内容
本发明的目的是为了克服上述在先技术的不足，提供一种增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法。该方法是利用数据采集卡高速采集系统的干涉信号以增加其每个光谱扫描范围内的采样点数，该系统干涉信号不仅包含样品干涉信号，而且还包含光程差为固定值的干涉信号。然后通过该光程差为固定值的干涉信号，标定样品干涉信号，从而增加扫频光学相干层析成像系统的成像深度范围。
本发明的技术解决方案如下：
一种增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法，该扫频光学相干层析成像系统中扫频光源的输出端口与第一耦合器的第一端口相连，第二端口连接至第二耦合器的第一端口；第一耦合器将光分为第三端口、第四端口输出，分别连接至样品光路和参考光路；所述的第一耦合器的第三端口连接至样品光路的第一准直透镜，在准直光的出射方向依次放置二维扫描振镜、聚焦透镜和待测样品；所述的第四端口连接至参考光路的第二光束准直器，在参考光路中，沿光的前进方向依次是第二光束准直器、色散补偿块和第三准直透镜，参考光路的输出端口连接至第二耦合器的第二端口；第二耦合器的两个输出端口连接至平衡探测器，再通过数据采集卡与计算机相连，其特点在于该方法包括以下步骤：
①在扫频光学相干层析成像系统引入光程差为固定值的干涉信号Is，该干涉信号Is或通过在该系统的参考光路中放置透明薄片产生，或由两个间距很小的光纤端面或透镜表面产生；
所述的参考光路可以是透射式结构的参考臂，可以是反射式结构的参考臂；
②利用数据采集卡高速采集扫频光学相干层析成像系统的干涉信号阵列I，该干涉信号阵列I包含光程差为固定值的干涉信号阵列Is和参考臂的光与样品臂的光发生干涉得到的样品干涉信号阵列Irs；
所述的数据采集卡的采样速率不小于扫频光学相干层析成像系统中扫频光源的外部时钟的最大频率；
所述的光程差为固定值的干涉信号阵列Is和样品干涉信号阵列Irs在各个采样时刻的波数是完全相同的，所述的干涉信号阵列I是由光程差为固定值的干涉信号阵列Is和样品干涉信号阵列Irs对应点的数值叠加获得；
所述的干涉信号阵列Is沿横向扫描方向的数值均相同；
③对干涉信号阵列I中每一个沿轴向方向的一维信号阵列进行傅里叶变换(FFT)后找到透明薄片产生的干涉信号所对应的频率，然后依次进行滤波和逆傅里叶变换(iFFT)获得透明薄片的复干涉信号阵列I's，再对该复干涉信号阵列I's进行求幅角运算(angle())并解包裹，获得其解包裹的的时间等间隔的相位阵列
④根据波数k、光程差d与相位Φ的关系Φ＝kd可知，当光程差d为一个固定值时，相位Φ与波数k是线性关系，因此为了获得波数等间隔的k，可以用波数等间隔的Φ代替。对相位阵列中每一个沿轴向方向的一维相位阵列求最小值和最大值并利用这两个值将从最小值到最大值的区间等分成P个点，获得新的波数等间隔的相位阵列
所述的新的波数等间隔的相位阵列的等分点P需小于或等于一个光谱范围内的采样点数；
⑤利用第④步中得到的波数等间隔的相位阵列和原始的时间等间隔的相位阵列对高速采集的时间等间隔的干涉信号阵列I进行插值获得波数等间隔的干涉信号阵列Inew；
⑥对获得的波数等间隔的干涉信号阵列Inew进行逆傅里叶变换等数据处理和图像重建算法，得到样品的层析结构图像；数据采集时采样速率越大，一个光谱范围内的采样点数越多，标定后的波数等间隔的点数P也越多；由公式可知，当系统中光源的中心波长λ0和扫描带宽△λ确定后，系统的最大成像深度范围Zmax就越大。
实施上述方法的扫频光学相干层析成像系统主要包括扫频光源、迈克尔逊干涉仪、平衡探测器和数据采集卡。扫频光源的输出光经迈克尔逊干涉仪分为两路，分别进入参考光路和样品光路；样品光路的光经准直透镜变为准直光束后再由聚焦透镜聚焦到待测样品；该参考光路用于匹配与样品光路的光程差。参考臂的耦合光和样品臂的散射或反射光在迈克尔逊干涉仪中发生干涉后并由平衡探测器探测，探测的干涉信号经数据采集卡输入到计算机中。
所述的迈克尔逊干涉仪其特征在具有两个接近等光程的干涉光路，分别为参考光路和样品光路。
所述的扫频光学相干层析成像系统会引入光程差为固定值的干涉信号，该干涉信号位于零光程差位置附近，可以通过在该系统的参考光路中放置透明薄片产生，也可以由两个间距很小的光纤端面或透镜表面产生。
所述的系统的参考光路可以是透射式结构的参考臂，可以是反射式结构的参考臂。
所述的样品光路其特征在于将光束聚焦到样品并进行扫描成像，可以通过二维扫描振镜扫描样品，也可以通过移动精密机械位移台扫描样品。
所述的平衡探测器是具有光电信号转换功能和放大差分信号的探测器。
本发明与现有技术相比有益的效果是：
1.与在先技术[1]和[2]相比，本发明不需要电光调制器或3*3光纤耦合器等额外复杂的器件，减少了系统的成本和复杂性；而且不需要解调干涉信号等复杂的数据处理流程。
2.与在先技术[3]和[4]相比，本发明不需要透镜和反射镜等组成的多个参考臂，减少了系统的成本和复杂性；而且本发明的系统结构简单，易于实现，数据处理中不需要多次进行图像拼接等流程。
3.与在先技术[5]和[6]相比，本发明不需要滤波器、信号放大器、干涉仪等额外复杂的器件进行时钟信号加倍与光谱标定等，减少了系统的成本和复杂性。
4.与在先技术[7]相比，本发明不需要改变扫频光源的设计以增加一个扫描内扫频光源外部时钟的采样点数等，减少了系统的成本和复杂性。
附图说明
图1是光纤型扫频光学相干层析成像系统的结构示意图。
图2是采用精密位移平台对样品进行扫描的样品臂光路示意图。
图3是反射式结构的参考臂光路示意图。
图4是本发明的增加SSOCT系统成像深度范围方法的流程图。
图5是实施例中由盖玻片和载玻片组成的仿体图像。
图6是应用本发明后测量图5所示仿体获得的A-line信号图。
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本发明作进一步说明，但不应以此实施例限制本发明的保护范围。
请参阅图1，图1为本发明的光纤型扫频光学相干层析成像系统结构示意图。其中包括扫频光源1，扫频光源1的输出端口与第一耦合器21的第一端口211相连，第二端口212连接至第二耦合器24的第一端口241，第一耦合器21将光分为两路213和214，分别连接至样品光路22和参考光路23。样品光路22中，第一耦合器21的第三端口213连接至第一准直透镜221，准直后的光出射方向顺序放置二维扫描振镜222、聚焦透镜223和待测样品224；参考光路23中，第一耦合器21的另一个出射端口214，输出光的出射方向顺序放置第二光束准直器231、透明薄片232、色散补偿快233和第三准直透镜234，输出端口连接至第二耦合器24的第二端口242。第二耦合器24的两个输出端口243和244连接至平衡探测器3，再通过数据采集卡4与计算机5相连。
扫频光源1的输出扫频激光进入第一耦合器21中并分成两路213和214，一路213进入样品臂光路22，并经过第一准直透镜221、二维扫描振镜222和聚焦透镜223后聚焦到待测样品224上；另一路214进入参考臂光路23，经过第二准直透镜231、透明薄片232、色散补偿块233和第三准直透镜234后输出耦合光。从待测样品234内部不同深度处背向散射回来的光被重新收集回第一耦合器21，并由第二端口212输出。该第二端口212的输出光与参考光路23输出的耦合光，输入到第二耦合器24的第一端口241和第二端口242，在第二耦合器24产生干涉信号，该干涉信号经平衡探测器3将光信号转换成电信号，经数据采集卡4采集后送入计算机5中。该干涉信号在计算机5中进行数据处理后获得透明薄片232的干涉信号和样品的干涉信号。由透明薄片232的干涉信号获得波数等间隔采样点，利用这些采样点对系统中被测样品234的干涉信号插值获得波数等间隔的干涉信号，逆傅里叶变换后得到被测样品234沿深度方向的层析图。通过二维扫描振镜223对待测样品234沿光轴垂直方向做横向扫描获得被测样品234的二维或三维层析图。
本实施例中，扫频光源的中心波长是1050nm，带宽约为102nm。第一准直透镜、第二准直透镜和第三准直透镜具有相同的参数。
图2是采用精密位移平台对样品进行扫描的样品臂光路示意图。
图3是反射式结构的参考臂光路示意图。
图4是本发明的增加SSOCT系统成像深度范围方法的流程图，如图所示，本发明增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法，包括下列步骤：
①利用数据采集卡高速采集时间等间隔的系统干涉信号阵列，该干涉信号阵列不仅包含光程差为固定值的干涉信号阵列，而且包含参考臂的光与样品臂的光发生干涉得到的样品干涉信号阵列Irs；然后对每一个扫描范围内的干涉信号进行傅里叶变换(FFT)后找到透明薄片产生的干涉信号所对应的频率，然后依次进行窗函数滤波和逆傅里叶变换(iFFT)获得透明薄片的复干涉信号阵列I's，再对该复干涉信号阵列I's进行求幅角运算(angle())并解包裹，获得其解包裹的时间等间隔的相位阵列
②根据波数k、光程差d与相位Φ的关系(Φ＝kd)可知，当光程差d为一个固定值时，相位Φ与波数k是线性关系。因此为了获得波数等间隔的k，可以用波数等间隔的Φ代替。对相位阵列中每一个扫描范围内的相位阵列求最小值和最大值并利用这两个值将从最小值到最大值的区间等分成P个点，获得新的波数等间隔的相位阵列
③利用第②步中得到的波数等间隔的相位阵列和原始的时间等间隔的相位阵列对高速采集的时间的等间隔的系统干涉信号阵列进行插值获得波数等间隔的干涉信号阵列Inew；
④对获得的波数等间隔的干涉信号阵列Inew进行逆傅里叶变换(iFFT)等数据处理和图像重建算法，得到样品的层析结构图像；数据采集时采样速率越大，一个光谱范围内的采样点数越多，标定后的波数等间隔的点数P也越多；由公式可知，当系统中光源参数(中心波长λ0和扫描带宽△λ)确定后，系统的最大成像深度范围Zmax就越大。
图5是由盖玻片和载玻片组成的仿体图像。盖玻片和载玻片之间是空气。盖玻片的厚度大约是0.27mm，载玻片的厚度大约是1.51mm
图6是应用本发明测量图5所示仿体获得的A-line信号图。从图中可以看出，表面1和表面4的距离大约7mm。表明应用本发明后系统的成像深度范围可达7mm。
本发明应用于增加扫频光学相干层析成像系统的成像深度范围，首先利用数据采集卡高速采集系统的干涉信号以增加每个扫描范围内的采样点数，然后利用透明薄片产生的光程差为固定值的干涉信号对高速采集的样品干涉信号进行标定，获得波数等间隔的样品干涉信号，再进行FFT等数据处理和图像重建算法获得样品的层析结构图像。每个扫描范围内的采样点数越多，系统的成像深度范围越大。

Claims (2)

1.一种增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法，该扫频光学相干层析成像系统中扫频光源(1)的输出端口与第一耦合器(21)的第一端口(211)相连，第二端口(212)连接至第二耦合器(24)的第一端口(241)；第一耦合器(21)将光分为第三端口(213)、第四端口(214)输出，分别连接至样品光路(22)和参考光路(23)；所述的第一耦合器(21)的第三端口(213)连接至样品光路(22)的第一准直透镜(221)，在准直光的出射方向依次放置二维扫描振镜(222)、聚焦透镜(223)和待测样品(224)；所述的第四端口(214)连接至参考光路(23)的第二光束准直器(231)，在参考光路中，沿光的前进方向依次是第二光束准直器(231)、色散补偿块(233)和第三准直透镜(234)，参考光路(23)的输出端口连接至第二耦合器(24)的第二端口(242)；第二耦合器(24)的两个输出端口(243和244)连接至平衡探测器(3)，再通过数据采集卡(4)与计算机(5)相连，其特征在于该方法包括以下步骤：
①在扫频光学相干层析成像系统引入光程差为固定值的干涉信号Is，该干涉信号Is或通过在该系统的参考光路中放置透明薄片(232)产生，或由两个间距很小的光纤端面或透镜表面产生；
②利用数据采集卡(4)高速采集扫频光学相干层析成像系统的干涉信号阵列I，该干涉信号阵列I包含光程差为固定值的干涉信号阵列Is和参考臂的光与样品臂的光发生干涉得到的样品干涉信号阵列Irs；
所述的数据采集卡的采样速率不小于扫频光学相干层析成像系统中扫频光源的外部时钟的最大频率；
所述的光程差为固定值的干涉信号阵列Is和样品干涉信号阵列Irs在各个采样时刻的波数是完全相同的，所述的干涉信号阵列I是由光程差为固定值的干涉信号阵列Is和样品干涉信号阵列Irs对应点的数值叠加获得；
所述的干涉信号阵列Is沿横向扫描方向的数值均相同；
③对干涉信号阵列I中每一个沿轴向方向的一维信号阵列进行傅里叶变换(FFT)后找到透明薄片产生的干涉信号所对应的频率，然后依次进行滤波和逆傅里叶变换(iFFT)获得透明薄片的复干涉信号阵列I's，再对该复干涉信号阵列I's进行求幅角运算(angle())并解包裹，获得其解包裹的时间等间隔的相位阵列
④根据波数k、光程差d与相位Φ的关系Φ＝kd可知，当光程差d为一个固定值时，相位Φ与波数k是线性关系，因此为了获得波数等间隔的k，可以用波数等间隔的相位Φ代替,对相位阵列中每一个沿轴向的一维相位阵列求最小值和最大值并利用这两个值将从最小值到最大值的区间等分成P个点，获得新的波数等间隔的相位阵列
所述的新的波数等间隔的相位阵列的等分点P需小于或等于一个光谱范围内的采样点数；
⑤利用第④步中得到的波数等间隔的相位阵列和原始的时间等间隔的相位阵列对高速采集的时间等间隔的干涉信号阵列I进行插值，获得波数等间隔的干涉信号阵列Inew；
⑥对获得的波数等间隔的干涉信号阵列Inew进行逆傅里叶变换等数据处理和图像重建算法，得到样品的层析结构图像；数据采集时采样速率越大，一个光谱范围内的采样点数越多，标定后的波数等间隔的点数P也越多；由公式可知，当系统中光源的中心波长λ0和扫描带宽△λ确定后，系统的最大成像深度范围Zmax就越大。
2.根据权利要求1所述的增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法，其特征在于所述的参考光路(23)是透射式结构的参考臂，或是反射式结构的参考臂。
CN201811035526.8A 2018-09-06 2018-09-06 增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法 Pending CN109157187A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811035526.8A CN109157187A (zh) 2018-09-06 2018-09-06 增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811035526.8A CN109157187A (zh) 2018-09-06 2018-09-06 增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109157187A true CN109157187A (zh) 2019-01-08

Family

ID=64894294

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811035526.8A Pending CN109157187A (zh) 2018-09-06 2018-09-06 增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109157187A (zh)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109620134A (zh) * 2019-01-21 2019-04-16 浙江大学 基于光纤阵列多通道并行探测的微血管造影方法和系统
CN109807471A (zh) * 2019-02-01 2019-05-28 佛山科学技术学院 一种激光打标装置及方法
CN110530276A (zh) * 2019-07-17 2019-12-03 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 Ss-oct间距测量中利用伺服系统谐振消镜像的方法及其系统
CN111134612A (zh) * 2020-01-15 2020-05-12 南京理工大学 基于超宽带光源谱域光学相干层析系统及光谱标定方法
CN111288902A (zh) * 2020-02-21 2020-06-16 苏州大学 一种双视场光相干断层扫描成像系统及材料厚度检测法
CN111354055A (zh) * 2020-03-13 2020-06-30 西南科技大学 基于深度学习的光学相干层析成像深度重建方法
CN112043242A (zh) * 2020-08-31 2020-12-08 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 用于oct成像的信号处理方法及系统、存储介质
CN112244759A (zh) * 2020-09-24 2021-01-22 温州医科大学 适用于房角流出通道Schlemm’s管全周动态测定的OCT成像系统
CN112684463A (zh) * 2020-12-21 2021-04-20 武汉光目科技有限公司 一种面阵扫频测量装置和方法
CN114136233A (zh) * 2021-11-19 2022-03-04 新拓三维技术(深圳)有限公司 一种内孔表面轮廓测量系统及方法
WO2022095237A1 (zh) * 2020-11-09 2022-05-12 苏州大学 波数线性色散光学系统的设计方法及成像光谱仪

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102151121A (zh) * 2011-01-28 2011-08-17 浙江大学 基于干涉光谱相位信息的光谱标定方法及系统
CN106949966A (zh) * 2017-03-24 2017-07-14 中国科学院上海光学精密机械研究所 扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102151121A (zh) * 2011-01-28 2011-08-17 浙江大学 基于干涉光谱相位信息的光谱标定方法及系统
CN106949966A (zh) * 2017-03-24 2017-07-14 中国科学院上海光学精密机械研究所 扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王瑄 等: ""一种基于固定光程差干涉信号的光学相干层析成像光谱标定方法"", 《中国激光》 *

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109620134A (zh) * 2019-01-21 2019-04-16 浙江大学 基于光纤阵列多通道并行探测的微血管造影方法和系统
CN109807471A (zh) * 2019-02-01 2019-05-28 佛山科学技术学院 一种激光打标装置及方法
CN109807471B (zh) * 2019-02-01 2024-03-26 佛山科学技术学院 一种激光打标装置及方法
CN110530276A (zh) * 2019-07-17 2019-12-03 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 Ss-oct间距测量中利用伺服系统谐振消镜像的方法及其系统
CN111134612A (zh) * 2020-01-15 2020-05-12 南京理工大学 基于超宽带光源谱域光学相干层析系统及光谱标定方法
CN111288902A (zh) * 2020-02-21 2020-06-16 苏州大学 一种双视场光相干断层扫描成像系统及材料厚度检测法
CN111354055A (zh) * 2020-03-13 2020-06-30 西南科技大学 基于深度学习的光学相干层析成像深度重建方法
CN111354055B (zh) * 2020-03-13 2022-03-08 西南科技大学 基于深度学习的光学相干层析成像深度重建方法
CN112043242A (zh) * 2020-08-31 2020-12-08 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 用于oct成像的信号处理方法及系统、存储介质
CN112043242B (zh) * 2020-08-31 2022-11-11 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 用于oct成像的信号处理方法及系统、存储介质
CN112244759A (zh) * 2020-09-24 2021-01-22 温州医科大学 适用于房角流出通道Schlemm’s管全周动态测定的OCT成像系统
WO2022062050A1 (zh) * 2020-09-24 2022-03-31 温州医科大学 适用于房角流出通道 schlemm ' s 管全周动态测定的 oct 成像系统
WO2022095237A1 (zh) * 2020-11-09 2022-05-12 苏州大学 波数线性色散光学系统的设计方法及成像光谱仪
CN112684463A (zh) * 2020-12-21 2021-04-20 武汉光目科技有限公司 一种面阵扫频测量装置和方法
CN112684463B (zh) * 2020-12-21 2024-03-26 武汉光目科技有限公司 一种面阵扫频测量装置和方法
CN114136233A (zh) * 2021-11-19 2022-03-04 新拓三维技术(深圳)有限公司 一种内孔表面轮廓测量系统及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109157187A (zh) 增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法
US11471039B2 (en) High resolution 3-D spectral domain optical imaging apparatus and method
CN106949966B (zh) 扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法
De Boer et al. Twenty-five years of optical coherence tomography: the paradigm shift in sensitivity and speed provided by Fourier domain OCT
Götzinger et al. High speed spectral domain polarization sensitive optical coherence tomography of the human retina
Izatt et al. Theory of optical coherence tomography
CN104523239B (zh) 全深度谱域光学相干层析成像装置及方法
Ju et al. Advanced multi-contrast Jones matrix optical coherence tomography for Doppler and polarization sensitive imaging
US9448056B2 (en) System for fourier domain optical coherence tomography
JP6360065B2 (ja) スペクトル領域干渉法における信号処理方法および装置、並びにスペクトル領域光コヒーレンストモグラフィの方法および装置
Bachmann et al. Resonant Doppler flow imaging and optical vivisection of retinal blood vessels
US20080198367A1 (en) Interferometric System for Complex Image Extraction
US10485422B2 (en) System and method for imaging subsurface of specimen
EP3180581B1 (en) Instantaneous time domain optical coherence tomography
Poddar et al. In vitro 3D anterior segment imaging in lamb eye with extended depth range swept source optical coherence tomography
Szkulmowski et al. Flow velocity estimation by complex ambiguity free joint Spectral and Time domain Optical Coherence Tomography
Podoleanu Route to OCT from OFS at university of Kent
Wang Low-cost and digital refocusing approaches to high-resolution spectral-domain optical coherence tomography
Zhao SPECTRAL CALIBRATION FOR SPECTRAL DOMAIN OPTICAL COHERENCE TOMOGRAPHY BASED ON B-SCAN DOPPLER SHIFT WITH IN SITU. TISSUE IMAGES
Adie Enhancement of contrast in optical coherence tomography: new modes, methods and technology
Szkulmowski et al. Simultaneous complex ambiguity removal and quantitative flow velocity estimation with joint spectral and time domain OCT
Laubscher Innovative experimental concepts for optical coherence tomography
de Bruin Clinical applications of functional optical coherence tomography
Mahapatra et al. Spectral Domain Optical Coherence Tomography (SD-OCT) for Imaging Non-Biological Samples
Wojtkowski et al. Doppler spectral optical coherence tomography with optical frequency shift

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190108

RJ01 Rejection of invention patent application after publication