CN109142909B - 一种电子测试设备用微调装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电子测试设备用微调装置，包括托盘，所述托盘的顶部开设有放置槽，所述放置槽内固定安装有水平柱，所述托盘的底部四角位置上均设有支撑柱，所述支撑柱的顶部开设有移动槽，所述移动槽内滑动连接有支撑杆，所述支撑杆的一侧焊接有齿条，所述支撑杆的顶端延伸至支撑柱的上方并与托盘的底部相焊接，所述移动槽的一侧内壁上开设有转动孔，所述转动孔内转动连接有转轴，所述转轴的一端延伸至移动槽内并与移动槽的另一侧内壁转动连接，所述转轴上固定套设有齿轮。本发明操作简单，通过转动齿轮和转动螺纹盘可以使得水平柱进行水平，此时就可以将低温试验箱放置在托盘上，可以使得低温试验箱处于水平位置。

Description

一种电子测试设备用微调装置
技术领域
本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种电子测试设备用微调装置。
背景技术
低温试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能，低温范围从0度到-80度均可。
现如今在放置低温试验箱时，需要水平放置，这就常常需要托盘来辅助低温试验箱放置，然而现有的托盘不具有水平调节的功能，所以在对低温试验箱进行水平调节时，就会非常的不方便，所以我们提出一种电子测试设备用微调装置，用于解决上述所提出的问题。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种电子测试设备用微调装置。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
一种电子测试设备用微调装置，包括托盘，所述托盘的顶部开设有放置槽，所述放置槽内固定安装有水平柱，所述托盘的底部四角位置上均设有支撑柱，所述支撑柱的顶部开设有移动槽，所述移动槽内滑动连接有支撑杆，所述支撑杆的一侧焊接有齿条，所述支撑杆的顶端延伸至支撑柱的上方并与托盘的底部相焊接，所述移动槽的一侧内壁上开设有转动孔，所述转动孔内转动连接有转轴，所述转轴的一端延伸至移动槽内并与移动槽的另一侧内壁转动连接，所述转轴上固定套设有齿轮，所述齿轮位于移动槽内并与齿条相啮合，所述支撑柱的底部焊接有螺纹柱，所述螺纹柱上螺纹连接有螺纹盘，所述螺纹盘的底部滑动连接有支脚，所述支脚的顶部开设有连接槽，所述螺纹柱的底端延伸至连接槽内。
优选的，所述移动槽的另一侧内壁上开设有转动槽，所述转轴的一端延伸至转动槽内并与转动槽转动连接。
优选的，所述转轴的另一端延伸至支撑柱的外侧并焊接有转盘，所述转盘上开设有滑动孔，所述滑动孔内滑动连接有制动杆，所述支撑柱的一侧开设有卡槽，所述制动杆的一端延伸至卡槽内并与卡槽相卡装。
优选的，所述支脚的顶部焊接有环形滑轨，所述螺纹盘的底部开设有环形滑槽，所述环形滑轨与环形滑槽滑动连接。
优选的，所述螺纹盘上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内开设有内螺纹，所述螺纹杆上设有外螺纹，所述内螺纹与外螺纹螺纹连接。
优选的，所述移动槽的一侧内壁上开设有限位滑槽，所述支撑杆上焊接有限位滑板，所述限位滑槽与限位滑板滑动连接。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：首先转动转盘，可以带动齿轮进行转动，因为齿轮与齿条相啮合，所以会带动齿条向上位移，在齿条向上位移时，可以带动支撑杆向上位移，进而可以使得托盘向上位移，再观察水平柱接近水平的位置时，此时推动制动杆，将制动杆推送至卡槽内，对齿轮进行限位，然后转动螺纹盘，带动支撑柱向上位移，直至水平柱水平，此时就可以对托盘进行水平调节。
本发明操作简单，通过转动齿轮和转动螺纹盘可以使得水平柱达到水平位置，此时就可以将低温试验箱放置在托盘上，可以使得低温试验箱处于水平位置。
附图说明
图1为本发明提出的一种电子测试设备用微调装置的结构主视图；
图2为本发明提出的一种电子测试设备用微调装置的支脚结构主视图。
图中：1托盘、2放置槽、3水平柱、4支撑柱、5移动槽、6支撑杆、7齿条、8转动孔、9转轴、10转动槽、11齿轮、12转盘、13螺纹柱、14螺纹盘、15螺纹孔、16环形滑槽、17环形滑轨、18支脚、19连接槽、20制动杆。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种电子测试设备用微调装置，包括托盘1，托盘1的顶部开设有放置槽2，放置槽2内固定安装有水平柱3，托盘1的底部四角位置上均设有支撑柱4，支撑柱4的顶部开设有移动槽5，移动槽5内滑动连接有支撑杆6，支撑杆6的一侧焊接有齿条7，支撑杆6的顶端延伸至支撑柱4的上方并与托盘1的底部相焊接，移动槽5的一侧内壁上开设有转动孔8，转动孔8内转动连接有转轴9，转轴9的一端延伸至移动槽5内并与移动槽5的另一侧内壁转动连接，转轴9上固定套设有齿轮11，齿轮11位于移动槽5内并与齿条7相啮合，支撑柱4的底部焊接有螺纹柱13，螺纹柱13上螺纹连接有螺纹盘14，螺纹盘14的底部滑动连接有支脚18，支脚18的顶部开设有连接槽19，螺纹柱13的底端延伸至连接槽19内，首先转动转盘12，可以带动齿轮11进行转动，因为齿轮11与齿条7相啮合，所以会带动齿条7向上位移，在齿条7向上位移时，可以带动支撑杆6向上位移，进而可以使得托盘1向上位移，再观察水平柱3接近水平的位置时，此时推动制动杆20，将制动杆20推送至卡槽内，对齿轮11进行限位，然后转动螺纹盘14，带动支撑柱4向上位移，直至水平柱3水平，此时就可以对托盘1进行水平调节，本发明操作简单，通过转动齿轮11和转动螺纹盘14可以使得水平柱3达到水平位置，此时就可以将低温试验箱放置在托盘1上，可以使得低温试验箱处于水平位置。
本发明中，移动槽5的另一侧内壁上开设有转动槽10，转轴9的一端延伸至转动槽10内并与转动槽10转动连接，转轴9的另一端延伸至支撑柱4的外侧并焊接有转盘12，转盘12上开设有滑动孔，滑动孔内滑动连接有制动杆20，支撑柱4的一侧开设有卡槽，制动杆20的一端延伸至卡槽内并与卡槽相卡装，支脚18的顶部焊接有环形滑轨17，螺纹盘14的底部开设有环形滑槽16，环形滑轨17与环形滑槽16滑动连接，螺纹盘14上开设有螺纹孔15，螺纹孔15内开设有内螺纹，螺纹杆13上设有外螺纹，内螺纹与外螺纹螺纹连接，移动槽5的一侧内壁上开设有限位滑槽，支撑杆6上焊接有限位滑板，限位滑槽与限位滑板滑动连接，首先转动转盘12，可以带动齿轮11进行转动，因为齿轮11与齿条7相啮合，所以会带动齿条7向上位移，在齿条7向上位移时，可以带动支撑杆6向上位移，进而可以使得托盘1向上位移，再观察水平柱3接近水平的位置时，此时推动制动杆20，将制动杆20推送至卡槽内，对齿轮11进行限位，然后转动螺纹盘14，带动支撑柱4向上位移，直至水平柱3水平，此时就可以对托盘1进行水平调节，本发明操作简单，通过转动齿轮11和转动螺纹盘14可以使得水平柱3进行达到水平位置，此时就可以将低温试验箱放置在托盘1上，可以使得低温试验箱处于水平位置。
工作原理：当需要对低温试验箱进行水平放置时，首先转动转盘12，可以带动齿轮11进行转动，因为齿轮11与齿条7相啮合，所以会带动齿条7向上位移，在齿条7向上位移时，可以带动支撑杆6向上位移，进而可以使得托盘1向上位移，再观察水平柱3接近水平的位置时，此时推动制动杆20，将制动杆20推送至卡槽内，对齿轮11进行限位，然后转动螺纹盘14，带动支撑柱4向上位移，直至水平柱3水平，此时就可以对托盘1进行水平调节，将低温试验箱放置在托盘1上，使得低温试验箱处于水平位置，在后面的使用中，如出现没有水平的情况下，可以通过转动螺纹盘14进行微调，使得低温试验箱处于水平位置。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种电子测试设备用微调装置，包括托盘(1)，其特征在于，所述托盘(1)的顶部开设有放置槽(2)，所述放置槽(2)内固定安装有水平柱(3)，所述托盘(1)的底部四角位置上均设有支撑柱(4)，所述支撑柱(4)的顶部开设有移动槽(5)，所述移动槽(5)内滑动连接有支撑杆(6)，所述支撑杆(6)的一侧焊接有齿条(7)，所述支撑杆(6)的顶端延伸至支撑柱(4)的上方并与托盘(1)的底部相焊接，所述移动槽(5)的一侧内壁上开设有转动孔(8)，所述转动孔(8)内转动连接有转轴(9)，所述转轴(9)的一端延伸至移动槽(5)内并与移动槽(5)的另一侧内壁转动连接，所述转轴(9)上固定套设有齿轮(11)，所述齿轮(11)位于移动槽(5)内并与齿条(7)相啮合，所述支撑柱(4)的底部焊接有螺纹柱(13)，所述螺纹柱(13)上螺纹连接有螺纹盘(14)，所述螺纹盘(14)的底部滑动连接有支脚(18)，所述支脚(18)的顶部开设有连接槽(19)，所述螺纹柱(13)的底端延伸至连接槽(19)内；
所述支脚(18)的 顶部焊接有环形滑轨(17) ，所述螺纹盘(14)的底部开设有环形滑槽(16) ，所述环形滑轨 (17)与环形滑槽(16)滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种电子测试设备用微调装置，其特征在于，所述移动槽(5)的另一侧内壁上开设有转动槽(10)，所述转轴(9)的一端延伸至转动槽(10)内并与转动槽(10)转动连接。
3.根据权利要求1所述的一种电子测试设备用微调装置，其特征在于，所述转轴(9)的另一端延伸至支撑柱(4)的外侧并焊接有转盘(12)，所述转盘(12)上开设有滑动孔，所述滑动孔内滑动连接有制动杆(20)，所述支撑柱(4)的一侧开设有卡槽，所述制动杆(20)的一端延伸至卡槽内并与卡槽相卡装。
4.根据权利要求1所述的一种电子测试设备用微调装置，其特征在于，所述螺纹盘(14)上开设有螺纹孔(15)，所述螺纹孔(15)内开设有内螺纹，所述螺纹杆(13)上设有外螺纹，所述内螺纹与外螺纹螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种电子测试设备用微调装置，其特征在于，所述移动槽(5)的一侧内壁上开设有限位滑槽，所述支撑杆(6)上焊接有限位滑板，所述限位滑槽与限位滑板滑动连接。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3617741A1 (de) * 1986-05-27 1987-12-03 Heigl Helmuth Handhabungsvorrichtung
JPH0961499A (ja) * 1995-08-22 1997-03-07 Nippon Maikuronikusu:Kk 表示パネル基板の検査装置
CN2723961Y (zh) * 2004-06-18 2005-09-07 庄成荣 水平台
CN102900928A (zh) * 2012-10-31 2013-01-30 宁波电业局 一种支撑平台装置
CN104801006A (zh) * 2015-05-22 2015-07-29 陈烁 齿条式可调单杠
CN204514541U (zh) * 2014-12-03 2015-07-29 安徽汇联机械工业有限公司 一种轮毂平衡性检测装置
CN105821913A (zh) * 2016-04-06 2016-08-03 河南城建学院 地基基础模型试验用反力荷载施加装置及试验方法
CN206057550U (zh) * 2016-10-08 2017-03-29 国家电网公司 电压互感器现场检定平台
CN207392181U (zh) * 2017-09-28 2018-05-22 王晓伟 一种岩土工程勘察用平台支撑装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3617741A1 (de) * 1986-05-27 1987-12-03 Heigl Helmuth Handhabungsvorrichtung
JPH0961499A (ja) * 1995-08-22 1997-03-07 Nippon Maikuronikusu:Kk 表示パネル基板の検査装置
CN2723961Y (zh) * 2004-06-18 2005-09-07 庄成荣 水平台
CN102900928A (zh) * 2012-10-31 2013-01-30 宁波电业局 一种支撑平台装置
CN204514541U (zh) * 2014-12-03 2015-07-29 安徽汇联机械工业有限公司 一种轮毂平衡性检测装置
CN104801006A (zh) * 2015-05-22 2015-07-29 陈烁 齿条式可调单杠
CN105821913A (zh) * 2016-04-06 2016-08-03 河南城建学院 地基基础模型试验用反力荷载施加装置及试验方法
CN206057550U (zh) * 2016-10-08 2017-03-29 国家电网公司 电压互感器现场检定平台
CN207392181U (zh) * 2017-09-28 2018-05-22 王晓伟 一种岩土工程勘察用平台支撑装置

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