CN109142284B - 穿透率检测方法、装置和计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种穿透率检测方法，所述穿透率检测方法包括以下步骤：获取待测试偏光片在测试点处的初始穿透率；获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试偏光片的穿透率。本发明还公开了一种穿透率检测装置和计算机可读存储介质。本发明使得偏光片的穿透率检测减小了背光波动和对位偏差导致的误差，提高了偏光片检测的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及穿透率检测方法、装置和计算机可读存储介质。
背景技术
显示技术领域中，偏光片对面板的穿透率、亮度、对比度、视角、色度、色调等光学品味有着重要影响，特别是面板穿透率一直是显示领域关注的焦点；偏光片主要由PVA膜、TAC膜、保护膜、离型膜和压敏胶等复合制成，再加上众多的表面处理方式：如防眩处理(AG)、低反射处理(AR)、透明硬化处理(CHC)等，因此在众多的偏光片架构筛选一种高穿透率的偏光片具有重要意义。
已知检测技术：
目前偏光片穿透率的验证常用方法为选定测试点位置，然后逐次偏贴不同的测试样品，从而达到比较不同偏光片样品穿透率的目的。当我们逐次偏贴偏光片测量其穿透率时，测量结果容易受背光亮度波动，人为更换OC产生的Bending、测量点对位偏差等不同程度的影响，这样不但测量误差大而且需要花费大量的时间，也降低了穿透率检测的准确性。
综上，目前的穿透率检测方式受其他因素影响大，导致检测的穿透率误差大，准确率差。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种穿透率检测方法、装置和计算机可读存储介质，旨在解决目前的穿透率检测方式受其他因素影响大，导致检测的穿透率误差大，准确率差的问题。
为实现上述目的，本发明一方面提供一种穿透率检测方法，所述穿透率检测方法包括以下步骤：
获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率；
获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；
根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率。
可选地，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，还包括：
获取一片待测试光学膜片在各个测试点上的穿透率；
确定各个测试点中的基准测试点的穿透率；
将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点。
可选地，所述将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点的步骤之前，还包括：
确定每个测试点的位置信息和背光信息；
根据所述位置信息和背光信息确定每个测试点对应的穿透率趋势信息；
判断每个测试点的穿透率是否符合所述穿透率趋势信息；
在符合时，执行将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值的步骤。
可选地，在存在多片待检测的光学膜片时，所述根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率的步骤包括：
在确定所述多片待检测的光学膜片的穿透率后，将检测到的各待检测光学膜片的穿透率比较，得到各待检测光学膜片的穿透率的差值。
可选地，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，还包括：
确定各个测试点对应的背光信息；
在计算各个测试点背光信息与基准测试点背光信息的差值；
根据所述差值生成各个测试点的第一穿透率修正值。
可选地，所述根据所述差值生成各个测试点的穿透率修正值的步骤之后，还包括：
获取一片待测试光学膜片在各个测试点上的穿透率；
确定各个测试点中的基准测试点的穿透率；
将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的第二穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点；
根据每个测试点对应的第一穿透率修正值和第二穿透率修正值确定每个测试点对应的穿透率修正值。
可选地，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，还包括：
提供一光学检测设备，将待测试的光学膜片置于光学检测设备的检测范围内，并置于各个设置的待测试点；
控制光学检测设备检测所述各个设置的测试点的光学膜片的穿透率。
可选地，所述控制光学检测设备检测所述各个设置的测试点的光学膜片的穿透率的步骤包括：
控制光学检测设备检测通过各个设置的测试点的光学膜片的光强度；
根据各个光强度确定对应光学膜片的穿透率。
此外，为实现上述目的，本发明另一方面还提供一种穿透率检测装置，所述穿透率检测装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明再一方面还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有穿透率检测程序，所述穿透率检测程序被处理器执行时实现如上所述的穿透率检测方法。
本发明通过先检测光学膜片的初始穿透率，获取到提前设置的穿透率修正值，通过修正值对不同测试点的初始穿透率做出修正，使得光学膜片的穿透率检测减小了背光波动和对位偏差导致的误差，提高了光学膜片检测的准确性。
附图说明
图1为本发明一实施例方案涉及的硬件运行环境的检测装置的结构示意图；
图2为本发明穿透率检测方法的第一实施例的流程示意图；
图3为本发明穿透率检测方法的第二实施例的流程示意图；
图4为本发明一实施例中测试点分布的示意图；
图5为本发明穿透率检测方法的第三实施例的流程示意图；
图6为本发明穿透率检测方法的第四实施例的流程示意图；
图7为本发明穿透率检测方法的第五实施例的流程示意图；
图8为本发明一施例中比较各个光学膜片穿透率的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例的主要解决方案是：获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率；获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率。
由于目前的穿透率检测方式受其他因素影响大，导致检测的穿透率误差大，准确率差的问题。本发明提供一种解决方案，通过先检测光学膜片的初始穿透率，获取到提前设置的穿透率修正值，通过修正值对不同测试点的初始穿透率做出修正，使得光学膜片的穿透率检测减小了背光波动和对位偏差导致的误差，提高了光学膜片检测的准确性。
如图1所示，图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的检测装置结构示意图。
如图1所示，该检测装置可以包括：处理器1001，例如CPU，网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
可选地，检测装置还可以包括摄像头、RF(Radio Frequency，射频)电路，传感器、音频电路、WiFi模块、检测器(光学检测传感器1006)等等。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的终端结构并不构成对检测装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。所述检测装置可以是显示装置，例如，液晶显示装置，或者是手机、pad或者电视等具有显示功能和/或处理功能的设备。
如图1所示，作为一种计算机可读存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及穿透率检测应用程序。
在图1所示的终端中，网络接口1004主要用于连接后台服务器，与后台服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于连接客户端(用户端)，与客户端进行数据通信；而处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的穿透率检测应用程序，并执行以下操作：
获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率；
获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；
根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率。
进一步地，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的穿透率检测应用程序，并执行以下操作：
获取一片待测试光学膜片在各个测试点上的穿透率；
确定各个测试点中的基准测试点的穿透率；
将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点。
进一步地，所述将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点的步骤之前，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的穿透率检测应用程序，并执行以下操作：
确定每个测试点的位置信息和背光信息；
根据所述位置信息和背光信息确定每个测试点对应的穿透率趋势信息；
判断每个测试点的穿透率是否符合所述穿透率趋势信息；
在符合时，执行将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值的步骤。
进一步地，在存在多片待检测的光学膜片时，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的穿透率检测应用程序，并执行以下操作：
在确定所述多片待检测的光学膜片的穿透率后，将检测到的各待检测光学膜片的穿透率比较，得到各待检测光学膜片的穿透率的差值。
进一步地，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的穿透率检测应用程序，并执行以下操作：
确定各个测试点对应的背光信息；
在计算各个测试点背光信息与基准测试点背光信息的差值；
根据所述差值生成各个测试点的第一穿透率修正值。
进一步地，所述根据所述差值生成各个测试点的穿透率修正值的步骤之后，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的穿透率检测应用程序，并执行以下操作：
获取一片待测试光学膜片在各个测试点上的穿透率；
确定各个测试点中的基准测试点的穿透率；
将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的第二穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点；
根据每个测试点对应的第一穿透率修正值和第二穿透率修正值确定每个测试点对应的穿透率修正值。
进一步地，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的穿透率检测应用程序，并执行以下操作：
提供一光学检测设备，将待测试的光学膜片置于光学检测设备的检测范围内，并置于各个设置的待测试点；
控制光学检测设备检测所述各个设置的测试点的光学膜片的穿透率。
进一步地，处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的穿透率检测应用程序，并执行以下操作：
控制光学检测设备检测通过各个设置的测试点的光学膜片的光强度；
根据各个光强度确定对应光学膜片的穿透率。
参照图2，本发明的一实施例提供一种穿透率检测方法，所述穿透率检测方法包括：
步骤S10，获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率；
在本实施例中，初始穿透率为通过光学检测设备直接检测得到的穿透率，即，该初始穿透率是直接读取的光学检测设备检测的穿透率。
在检测光学膜片的穿透率之前，提前设置多个测试点，每个测试点可以放置不同的光学膜片，当然也可通过该多个测试点测试一个光学膜片的穿透率。所述光学膜片可选为偏光片，用于显示装置的偏光片，通过偏光片使得射入液晶的光发生偏转，进而控制液晶的偏转。
而具体的，光学检测设备检测光学膜片的穿透率的方式包括：提供一光学检测设备，将待测试的光学膜片置于光学检测设备的检测范围内，并置于各个设置的待测试点；控制光学检测设备检测所述各个设置的测试点的光学膜片的穿透率。控制光学检测设备检测通过各个设置的测试点的光学膜片的光强度；根据各个光强度确定对应光学膜片的穿透率。根据前后通过光学膜片的光强度来确定该光学膜片的穿透率，通过光学膜片吸收了多少光来得到其穿透率。
步骤S20，获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；
每个测试点都设置有穿透率修正值，不同的测试点间的修正值会根据实际情况设置，为不同的穿透率修正值，修正值可以是负的修正值，也可是正的修正值。修正值的影响主要是该测试点出背光波动带来的影响或者位置不同接收到的光不同而导致的影响。在步骤S10检测到多个测试点的光学膜片的初始穿透率后，根据提前设置的测试点与穿透率修正值的关系，确定当前检测了初始穿透率的测试点对应的穿透率修正值，即，放置有光学膜片的测试点对应的穿透率修正均需要获取。
而在本发明一实施例中，也可是，先执行获取测试点的穿透率修正值的步骤，即，通过检测测试点是否有放置光学膜片来确定是否获取该测试点的穿透率修正值，在获取到穿透率修正值之后，或者同时，获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率。
步骤S30，根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率。
在获取到测试点的初始穿透率以及该测试点对应的穿透率修正值之后，根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率，即，将初始穿透率与穿透率修正值求和计算该测试点光学膜片的穿透率。在确定所述多片待检测的光学膜片的穿透率后，将检测到的各待检测光学膜片的穿透率比较，得到各待检测光学膜片的穿透率的差值。可快速检测得到各个光学膜片的穿透率，进而准确比对各光学膜片的穿透率，快速挑选出光学膜片中高穿透率的光学膜片。
本实施例通过先检测光学膜片的初始穿透率，获取到提前设置的穿透率修正值，通过修正值对不同测试点的初始穿透率做出修正，使得光学膜片的穿透率检测减小了背光波动和对位偏差导致的误差，提高了光学膜片检测的准确性。
而在一实施例中，参考图3，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，还包括：
步骤S40，获取一片待测试光学膜片在各个测试点上的穿透率；
步骤S50，确定各个测试点中的基准测试点的穿透率；
步骤S60，将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点。
在本实施例中，提前会设置或存储每个测试点的光学膜片的穿透率修正值，修正值的一种设置方式是，通过如下方式获取：
先将一片光学膜片放置于检测位置，设置基准测试点和其他测试点，即，首先确定测试点位置(如图4所示)，测量未偏贴前光学膜片样片a、b、c、Reference(基准测试点)四个测试点的穿透率Tra、Trb、Trc、Tr0；根据测量结果，以Tr0为参考点，分别计算其它测试点与其差异，即补偿值，记为da、db、dc。
本实施例通过一片光学膜片测量多个测试点的穿透率，选取基准测试点来计算其他测试点的穿透率差值，得到穿透率修正值，使得修正值的提供更加合理，提高了测试的准确性。
为了更准确的得到修正值，参考图5，所述将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点的步骤之前，还包括：
步骤S11，确定每个测试点的位置信息和背光信息；
步骤S12，根据所述位置信息和背光信息确定每个测试点对应的穿透率趋势信息；
步骤S13，判断每个测试点的穿透率是否符合所述穿透率趋势信息；
在符合时，执行将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值的步骤。
光学膜片的穿透率除与光学膜片本身的结构存在关系，还与背光信息存在关系，在测量穿透率时，确定每个测试点的位置信息和背光信息，获取到每个测试点的位置和背光信息，背光的强度，得到不同位置是否存在背光强度不同的信息，根据所述位置信息和背光信息确定每个测试点对应的穿透率趋势信息；即，得到不同位置是否通过光学膜片之前的光强度就不同，如果不同，强弱不同会导致检测到的穿透率趋势不同，例如，通过光学膜片前，a位置的强度大于b位置的强度，则相同的光学膜片，a位置的穿透率应该要大于b位置的；因此，根据这个可以得到穿透率的趋势，如果检测到的穿透率不符合这个趋势，则判定测试的结果无效，需要重新检测光学膜片的穿透率；如果趋势相符，则判定检测结果有效，执行后续将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值的步骤。通过背光信息的获取，对测试点的穿透率趋势分析，得到穿透率趋势，进而避免修正值错误的情况，提高检测准确度。
在一实施例中，参考图6，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，还包括：
步骤S21，确定各个测试点对应的背光信息；
步骤S22，在计算各个测试点背光信息与基准测试点背光信息的差值；
步骤S23，根据所述差值生成各个测试点的第一穿透率修正值。
在本实施例中，影响光学膜片穿透率不均匀的因素是背光，而需要针对背光差异做出修正，提前设置不同背光之间的穿透率修正值，用以补正不同测试点不同背光导致的穿透率差异，具体的，确定各个测试点对应的背光信息，在计算各个测试点背光信息与基准测试点背光信息的差值，根据所述差值生成各个测试点的第一穿透率修正值，而本实施例中的第一穿透率修正值为步骤S20确定的穿透率修正值，相应的步骤S30修改为根据所述初始穿透率和所述第一穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率。背光差的地方相应穿透率要增加，做正向修正，背光强的地方相应修正值是降低穿透率，做负向修正。通过对不同背光位置的修正，使得每个测试点的穿透率准确度更高，进而可以挑选出穿透率更加合适的光学膜片。
为了更加精确的获取到光学膜片的穿透率在不同测试点的修正值，参考图7，所述根据所述差值生成各个测试点的第一穿透率修正值的步骤之后，还包括：
步骤S24，获取一片待测试光学膜片在各个测试点上的穿透率；
步骤S25，确定各个测试点中的基准测试点的穿透率；
步骤S26，将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的第二穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点；
步骤S27，根据每个测试点对应的第一穿透率修正值和第二穿透率修正值确定每个测试点对应的穿透率修正值。
在本实施例中，在通过背光信息获取到测试点的第一穿透率修正值之后，还根据一片光学膜片在不同测试点与基准测试点的差异来得到第二穿透率修正值，根据第一穿透率修正值和第二穿透率修正值计算得到测试点的穿透率修正值；可以是加权的方式，或者平均值的方式得到穿透率修正值。
进一步地，在计算得到第一穿透率修正值和第二穿透率修正值后，比对第一穿透率修正值和第二穿透率修正值的趋势是否相同，若不同，则重新获第一穿透率修正值和第二穿透率修正值，若相同，则根据第一穿透率修正值和第二穿透率修正值计算得到测试点的穿透率修正值；避免穿透率修正值计算错误的情况，提高穿透率修正值的准确性。
而为了更好的描述本发明实施例，以偏光片为例，参考图8，比较多个偏光片的穿透率的方式包括：
(1)首先确定测试点位置，测量偏贴前偏光片样片a、b、c、Reference四个测试点的穿透率Tra、Trb、Trc、Tr0；
(2)根据测量结果，以Tr0为参考点，分别计算其它测试点与其差异，即补偿值，记为da、db、dc；
(3)在位置a、b、c分别偏贴需要测试的偏光片样片,分别测量其穿透率Tra1、Trb1、Trc1；
(4)将(3)中测量的穿透率分别用(2)中计算的补偿值补正，即Tra1+da、Trb1+db、Trc1+dc，即可快速评判出不同测试样片穿透率的大小。
此外，本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有穿透率检测程序，所述穿透率检测程序被处理器执行时实现如上实施例所述的穿透率检测方法。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个计算机可读存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种穿透率检测方法，其特征在于，所述穿透率检测方法包括以下步骤：
获取一片待测试光学膜片在各个测试点上的穿透率；
确定各个测试点中的基准测试点的穿透率；
确定每个测试点的位置信息和背光信息；
根据所述位置信息和背光信息确定每个测试点对应的穿透率趋势信息；
判断每个测试点的穿透率是否符合所述穿透率趋势信息；
在符合时，执行将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值的步骤；
将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点；
获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率；
获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；
根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率。
2.如权利要求1所述的穿透率检测方法，其特征在于，在存在多片待检测的光学膜片时，所述根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率的步骤包括：
在确定所述多片待检测的光学膜片的穿透率后，将检测到的各待检测光学膜片的穿透率比较，得到各待检测光学膜片的穿透率的差值。
3.如权利要求1所述的穿透率检测方法，其特征在于，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，还包括：
确定各个测试点对应的背光信息；
在计算各个测试点背光信息与基准测试点背光信息的差值；
根据所述差值生成各个测试点的第一穿透率修正值。
4.如权利要求3所述的穿透率检测方法，其特征在于，所述根据所述差值生成各个测试点的穿透率修正值的步骤之后，还包括：
获取一片待测试光学膜片在各个测试点上的穿透率；
确定各个测试点中的基准测试点的穿透率；
将其他测试点的穿透率与所述基准测试点的穿透率比较，计算得到每个测试点的第二穿透率修正值，其中其他测试点为除基准测试点之外的测试点；
根据每个测试点对应的第一穿透率修正值和第二穿透率修正值确定每个测试点对应的穿透率修正值。
5.如权利要求1所述的穿透率检测方法，其特征在于，所述获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率的步骤之前，还包括：
提供一光学检测设备，将待测试的光学膜片置于光学检测设备的检测范围内，并置于各个设置的待测试点；
控制光学检测设备检测所述各个设置的测试点的光学膜片的穿透率。
6.如权利要求5所述的穿透率检测方法，其特征在于，所述控制光学检测设备检测所述各个设置的测试点的光学膜片的穿透率的步骤包括：
控制光学检测设备检测通过各个设置的测试点的光学膜片的光强度；
根据各个光强度确定对应光学膜片的穿透率。
7.一种穿透率检测装置，其特征在于，所述穿透率检测装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有穿透率检测程序，所述穿透率检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的穿透率检测方法。
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