CN109141316A - 一种尺寸测量方法、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种尺寸测量方法、设备及存储介质,所述方法包括检测是否有物体靠近尺寸测量设备;感应环境的亮度是否变暗,并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间;当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度;根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。本发明实现了通过智能设备检测物体的尺寸,给用户带来了便利,避免了用户因未携带卷尺等测量设备而产生困扰,而且提供了智能设备的智能化程度以及实用性。
Description
技术领域
本发明涉及尺寸测量领域,特别涉及一种尺寸测量方法、设备及存储介质。
背景技术
生活中常常会遇到一些需要测量物体的尺寸的情况,为了方便使用者测量,出现了一些便携式测量工具。
目前常用的测量工具为卷尺,在测量物体时,将卷尺的零刻度与待测物体的起点对齐,然后在读取待测物体的终点相对应的卷尺上的刻度,从而获取物体的长度。
虽然卷尺的测量极为方便,但是人们通常不会随身携带卷尺,所以当遇到需要测量物体的尺寸的情况时,无法较好的测量物体的尺寸,经常给人们带来困扰。
因而现有技术还有待改进和提高。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足之处,本发明的目的在于提供一种尺寸测量方法、设备及存储介质,可利用移动终端等智能设备来进行尺寸测量,给用户提供便利。
为了达到上述目的,本发明采取了以下技术方案:
一种尺寸测量方法,包括如下步骤:
检测是否有物体靠近尺寸测量设备;
感应环境的亮度是否变暗,并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间;
当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度;
根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。
所述的尺寸测量方法中,所述预设时间为5秒。
所述的尺寸测量方法中,所述感应环境亮度是否变暗,并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间的步骤包括:
感应环境的亮度,并在环境亮度变亮时输出高电平脉冲信号,在环境亮度变暗时输出低电平脉冲信号;
判断是否检测到低电平脉冲信号,并计算低电平脉冲信号的稳定输出时间;
判断低电平脉冲信号的稳定输出时间是否达到预设时间。
所述的尺寸测量方法中,所述当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度的步骤包括:
当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,发出角度测量指令;
根据角度测量指令检测所述待测物体的起点和终点,同时还检测所述尺寸测量设备的起点和终点;
计算所述待测物体的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角,以及所述尺寸测量设备的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角。
所述的尺寸测量方法中,所述根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度的步骤包括:
计算出所述待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值,并记作α;
找出待测物体的终点在所述尺寸测量设备上的映射点,其中,所述映射点为以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆与尺寸测量设备的交点;
计算出以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中,待测物体的终点到映射点的圆弧长度值,并记作L2;
根据角度差值和圆弧长度值计算出待测物体的长度。
所述的尺寸测量方法中,所述待测物体的长度的计算公式为:,其中L表示待测物体的长度,L2表示以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中,待测物体的终点到映射点的圆弧长度值,α表示待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值。
所述的尺寸测量方法中,还包括:
当检测到环境亮度在预设时间内呈明暗变化时,不检测物体的长度。
所述的尺寸测量方法中,所述尺寸测量设备为移动终端或平板。
一种尺寸测量设备,包括处理器,以及与所述处理器连接的存储器,所述存储器存储有计算机程序,该计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的尺寸测量方法中的步骤。
一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如上所述的尺寸测量方法中的步骤。
相较于现有技术,本发明提供的尺寸测量方法、设备及存储介质中,所述方法包括检测是否有物体靠近尺寸测量设备;感应环境的亮度是否变暗,并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间;当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度;根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。本发明实现了通过智能设备检测物体的尺寸,给用户带来了便利,避免了用户因未携带卷尺等测量设备而产生困扰,而且提供了智能设备的智能化程度以及实用性。
附图说明
图1为本发明提供的尺寸测量方法的流程图。
图2为本发明提供的尺寸测量方法中,所述步骤S200的流程图。
图3为本发明提供的尺寸测量方法中,所述步骤S300的流程图。
图4为本发明提供的尺寸测量方法中,所述步骤S400的流程图。
图5为本发明提供的尺寸测量设备的功能原理框图。
具体实施方式
本发明提供一种尺寸测量方法、设备及存储介质,为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参阅图1,本发明提供的尺寸测量方法,包括如下步骤:
S100、检测是否有物体靠近尺寸测量设备。
具体来说,所述尺寸测量设备可以检测是否有物体靠近,当有物体放置在所述智能移动终端及平板上时,所述尺寸测量设备中的光感应单元内的光电脉冲转化单元输出低电平脉冲信号。所述低电平脉冲信号反映所述光感应单元感应到暗光,即判断所述待测物体已经放置在所述尺寸测量设备上,其中,所述尺寸测量设备可以是智能移动终端或平板等,当然还可为其它便携式携带设备,本发明对此不作限定。
S200、感应环境的亮度是否变暗,并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间。
本实施例中,在检测到有物体靠近尺寸测量设备时,尺寸测量设备即判断环境的亮度是否变暗,本发明通过判断环境亮度的变化来判断是否需要对物体的尺寸进行检测,由于当物体靠近尺寸测量设备(如智能移动终端)时,尺寸测量设备上方的亮度必定会变暗,所以可通过环境亮度的变化来判断是否有物体接近尺寸测量设备;另外,为了避免无效测量,本发明预设有一个预设时间,尺寸测量设备还判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间,当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,尺寸测量设备才开始对物体进行检测,优选的,所述预设时间为5秒,可给尺寸测量设备足够的时间判断是否进行尺寸检测,而且保证了检测精度。所述步骤S200的具体流程图如图2所示。
请参阅图2,其为本发明提供的尺寸测量方法中所述步骤S200的流程图,包括如下步骤:
S201、感应环境的亮度,并在环境亮度变亮时输出高电平脉冲信号,在环境亮度变暗时输出低电平脉冲信号;
S202、判断是否检测到低电平脉冲信号,并计算低电平脉冲信号的稳定输出时间;
S203、判断低电平脉冲信号的稳定输出时间是否达到预设时间。
本实施例中,将环境亮度的变化转换为脉冲信号的高低电平的变化,环境亮度变暗则输出低电平脉冲信号,环境亮度变亮则输出高电平脉冲信号,如果检测到低电平脉冲信号,且低电平脉冲信号的稳定输出时间达到预设时间,则表示有物体需要进行尺寸检测,尺寸测量设备则开始进行尺寸检测,如果检测到高电平脉冲信号,或者脉冲信号呈高低电平变化的情况则尺寸测量设备不对物体进行尺寸检测。
优选的,所述方法还包括:
当检测到环境亮度在预设时间内呈明暗变化时,不检测物体的长度。
也就是说,本发明通过判断亮度变暗的环境光稳定的时间,进一步判断待测物体是否稳定靠近所述尺寸测量设备,提高检测精度,当亮度变暗的环境光稳定的时间没达到预设时间时,判断待测物体没有靠近所述尺寸测量设备,对待测物体不进行尺寸检测,从而提高检测的有效性。
S300、当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度。
具体来说,本发明在环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,如5秒,则开始进行尺寸计算,首先计算待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度,然后通过角度值进一步推算出待测物体的长度。所述步骤S300的流程图如图3所示。
请参阅图3,其为所述步骤S300的流程图,包括如下步骤:
S301、当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,发出角度测量指令;
S302、根据角度测量指令检测所述待测物体的起点和终点,同时还检测所述尺寸测量设备的起点和终点;
S303、计算所述待测物体的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角,以及所述尺寸测量设备的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角。
本实施例中,如果环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间则开始进行尺寸检测,即发出角度测量指令,然后根据角度测量指令检测所述待测物体的起点和终点,通过预设一个参考面,如地面,即可计算出待测物体与预设参考面的夹角,具体实施时,将待测物体的起点和终点连接成线,该线与预设参考面的夹角即为待测物体的倾斜角度,同样的,尺寸测量设备的起点和终点的连线与预设参考面的夹角即为所述尺寸测量设备的倾斜角度。
S400、根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。
具体来说,本发明根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度来计算待测物体的长度,通过计算出待测物体和尺寸测量设备的倾斜角度差进一步得出待测物体的长度。所述步骤S400的具体流程图如图4所示。
请参阅图4,其为所述步骤S400的流程图,包括如下步骤:
S401、计算出所述待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值,并记作α;
S402、找出待测物体的终点在所述尺寸测量设备上的映射点,其中,所述映射点为以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆与尺寸测量设备的交点;
S403、计算出以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中,待测物体的终点到映射点的圆弧长度值,并记作L2;
S404、根据角度差值和圆弧长度值计算出待测物体的长度。
具体来说,在得到了待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度后,可以计算出他们的倾斜角度差,然后找出待测物体的终点在所述尺寸测量设备上的映射点,然后再找出以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中,待测物体的终点到映射点的圆弧长度值,例如,将所述待测物体放置的终点设为c点,c点映射在所述尺寸测量设备上的点设为c′点,所述待测物体放置的起点设为a点,则所述尺寸测量设备的的直线上a点到c′点的距离,设所述a点到c′点的距离用电信号轨迹表示。用户可将待测物体绕a点转动,使所述待测物体具有一个加速度,使所述尺寸测量设备发出距离检测信号,检测电信号轨迹,设所述距离检测信号从a点输出,以加速度a′速度v′通过c′点,则所述电信号轨迹长度计算公式为,从而可以得到以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中,待测物体的终点到映射点的圆弧长度值L2;在得到了角度差值和圆弧长度值后即可计算出待测物体的长度。
进一步来说,所述待测物体的长度的计算公式为:,其中L表示待测物体的长度,L2表示以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中,待测物体的终点到映射点的圆弧长度值,α表示待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值,由于待测物体的起点、终点和映射点形成一个以待测物体的长度L为半径、夹角为α以及弧长为L2的扇形,所以可通过夹角α与弧长L2计算出半径L,即通过公式,即可得到L的值,从而达到了检测待测物体的尺寸的目的,给用户带来了便利,避免了用户因未携带卷尺等测量设备而产生困扰,而且提供了智能设备的智能化程度以及实用性。
基于上述尺寸测量方法,本发明还相应的提供一种尺寸测量设备,包括处理器1和存储器2,如图5所示。图5仅示出了移动终端的部分组件,但是应理解的是,并不要求实施所有示出的组件,可以替代的实施更多或者更少的组件。
所述存储器2在一些实施例中可以是所述尺寸测量设备的内部存储单元,例如移动终端的内存。所述存储器2在另一些实施例中也可以是所述尺寸测量设备的外部存储设备,例如所述尺寸测量设备上配备的插接式U盘,智能存储卡(Smart Media Card , SMC),安全数字(Secure Digital , SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器2还可以既包括所移动终端的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器2用于存储安装于所述移动终端的应用软件及各类数据,例如所述尺寸测量程序代码等。所述存储器2还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。在一实施例中,存储器2上存储有尺寸测量程序,该尺寸测量程序可被处理器1所执行,从而实现本发明中尺寸测量方法。
所述处理器1在一些实施例中可以是一中央处理器(Central Processing Unit ,CPU),微处理器,手机基带处理器或其他数据处理芯片,用于运行所述存储器2中存储的程序代码或处理数据,例如执行所述尺寸测量方法等。
本发明还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器(本实施例为所述处理器1)执行,以实现本发明尺寸测量方法中的步骤。
综上所述,本发明提供的尺寸测量方法、设备及存储介质中,所述方法包括检测是否有物体靠近尺寸测量设备;感应环境的亮度是否变暗,并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间;当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度;根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。本发明实现了通过智能设备检测物体的尺寸,给用户带来了便利,避免了用户因未携带卷尺等测量设备而产生困扰,而且提供了智能设备的智能化程度以及实用性。
当然,本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关硬件(如处理器,控制器等)来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取的存储介质中,该程序在执行时可包括如上述各方法实施例的流程。其中所述的存储介质可为存储器、磁碟、光盘等。
可以理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种尺寸测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
检测是否有物体靠近尺寸测量设备;
感应环境的亮度是否变暗,并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间;
当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度;
根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度。
2.根据权利要求1所述的尺寸测量方法,其特征在于,所述预设时间为5秒。
3.根据权利要求1所述的尺寸测量方法,其特征在于,所述感应环境亮度是否变暗,并判断环境亮度变暗的持续稳定时间是否达到预设时间的步骤包括:
感应环境的亮度,并在环境亮度变亮时输出高电平脉冲信号,在环境亮度变暗时输出低电平脉冲信号;
判断是否检测到低电平脉冲信号,并计算低电平脉冲信号的稳定输出时间;
判断低电平脉冲信号的稳定输出时间是否达到预设时间。
4.根据权利要求3所述的尺寸测量方法,其特征在于,所述当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,计算待测物体的倾斜角度以及尺寸测量设备的倾斜角度的步骤包括:
当环境亮度变暗的持续稳定时间达到预设时间时,发出角度测量指令;
根据角度测量指令检测所述待测物体的起点和终点,同时还检测所述尺寸测量设备的起点和终点;
计算所述待测物体的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角,以及所述尺寸测量设备的起点和终点的连线与预设参考面之间的夹角。
5.根据权利要求4所述的尺寸测量方法,其特征在于,所述根据待测物体的倾斜角度和尺寸测量设备的倾斜角度计算出所述待测物体的长度的步骤包括:
计算出所述待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值,并记作α;
找出待测物体的终点在所述尺寸测量设备上的映射点,其中,所述映射点为以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆与尺寸测量设备的交点;
计算出以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中,待测物体的终点到映射点的圆弧长度值,并记作L2;
根据角度差值和圆弧长度值计算出待测物体的长度。
6.根据权利要求5所述的尺寸测量方法,其特征在于,所述待测物体的长度的计算公式为:,其中L表示待测物体的长度,L2表示以待测物体的起点为圆心、以待测物体的长度为半径的圆中,待测物体的终点到映射点的圆弧长度值,α表示待测物体的倾斜角度与尺寸测量设备的倾斜角度的角度差值。
7.根据权利要求6所述的尺寸测量方法,其特征在于,还包括:
当检测到环境亮度在预设时间内呈明暗变化时,不检测物体的长度。
8.根据权利要求1-7任意一项所述的尺寸测量方法,其特征在于,所述尺寸测量设备为移动终端或平板。
9.一种尺寸测量设备,其特征在于,包括处理器,以及与所述处理器连接的存储器,所述存储器存储有计算机程序,该计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-8任意一项所述的尺寸测量方法中的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8任意一项所述的尺寸测量方法中的步骤。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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Application publication date: 20190104 |