CN109115436B - 一种磁盘减振器减振效果测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种磁盘减振器减振效果测试方法，将车载机放置在振动平台上，传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，在测试时，使用软件测试硬盘盒的IO的访问速率，其主要步骤如下（1）设置振动测试条件，组合测试条件进行测试，并记录每一种组合振动测试条件下的IO的访问速率；（2）统计不同I/O访问时间的块数量，获得在不同的振动条件下的I/O访问情况，继而获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果。本发明通过对不同振动测试条件下的IO的访问速率进行数据分析，获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果，从而改进不同条件下的硬盘的减振结构，在不同的地理区域，使用不同的减振结构。

Description

一种磁盘减振器减振效果测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试方法，具体的说，涉及了一种磁盘减振器减振效果测试方法。
背景技术
对于车载机的减振效果测试，一般的检测方法是：把车载机按振动标准，放置在振动平台上：（1）传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，通过传感器采集各个振动频率的过程数据，分析两组数据来确定减振的效果；（2）在结束振动时，通过检查存储的数据是否连续或丢失；通过采用这样的方式确认设计的减振是否有效。但是，目前的检测方法存在有如下缺陷：（1）通过采集的数据和检查的存储数据，来确定减振效果，是一个宏观上的结果；（2）使用的硬盘，随着硬盘的工作时长的增加，同时振动所产生的后果，是有累积效应；（3）无法确认硬盘在各个振动频率下的IO访问状态。
因此，提供一种新的检测方法是人们一直在致力研究的课题。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的不足，从而提供了一种易于实现、测试效果明显的磁盘减振器减振效果测试方法。
为了实现上述目的，本发明所采用的技术方案是：
一种磁盘减振器减振效果测试方法，将车载机放置在振动平台上，传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，在测试时，使用软件测试硬盘盒的IO的访问速率，其主要步骤如下
（1）设置振动测试条件，组合测试条件进行测试，并记录每一种组合振动测试条件下的IO的访问速率；
（2）统计不同I/O访问时间的块数量，获得在不同的振动条件下的I/O访问情况，继而获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果。
基于上述，所述设置振动测试条件包括
加速度设置，1G/2G/2.5G/3G；
频率设置，5Hz-200Hz；
方向设置，X/Y/Z；
IO访问区域，访问同一柱面的数据，访问的区域和大小相同；
温度，低温/常温/高温。
基于上述，所述不同I/O访问时间设置为小于5ms、小于10ms、小于50ms、小于150ms、小于500ms和访问失败。
基于上述，所述使用软件采用的是MHDD软件。
基于上述，所述硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果的判断规则包括：
（1）同一振动条件内，不同访问时间对比：访问时间少的块数量多，判断为减振效果好；否则，判断为减振效果差；
（2）不同振动条件，相同访问时间对比：访问块数多，判断为在此条件的减振效果好；否则，判断为减振效果差。
本发明相对现有技术具有突出的实质性特点和显著的进步，具体的说：
本发明通过对不同振动测试条件下的IO的访问速率进行数据分析，获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果，从而改进不同条件下的硬盘的减振结构，在不同的地理区域，使用不同的减振结构，为减振结构的针对性使用提供依据，而不是单纯的获得一个减振效果测试的结果。
具体实施方式
下面通过具体实施方式，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
一种磁盘减振器减振效果测试方法，将车载机放置在振动平台上，传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，在测试时，使用软件测试硬盘盒的IO的访问速率，其主要步骤如下
（1）设置振动测试条件表，组合测试条件进行测试；
表1，振动测试条件表
Figure DEST_PATH_IMAGE002
其中，组合以上测试条件，记录每一种情况下的数据。总的测试项共有：4*21*3*3=756种。
（2）以测试结果表的形式统计不同I/O访问时间的块数量，获得在不同的振动条件下的I/O访问情况；对于每一种振动测试组合（共756），输出一个测试结果表；
表2，测试结果表
Figure DEST_PATH_IMAGE004
（3）DD软件，记录每一种组合振动测试条件下的IO的访问速率。
（4）统计不同I/O访问时间的块数量，获得在不同的振动条件下的I/O访问情况；其中，所述硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果的判断规则如判断振动效果表；
表3，判断振动效果表
Figure DEST_PATH_IMAGE006
通过表3中描述的规则，进行数据分析，获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果，从而改进不同条件下的减振结构，可针对不同的地理区域，使用不同的减振结构。
最后应当说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制；尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者对部分技术特征进行等同替换；而不脱离本发明技术方案的精神，其均应涵盖在本发明请求保护的技术方案范围当中。

Claims (2)

1.一种磁盘减振器减振效果测试方法，其特征在于：将车载机放置在振动平台上，传感器分别接在车载机设备和硬盘盒的减振结构上，在测试时，使用软件测试硬盘盒的IO的访问速率，其主要步骤如下
（1）设置振动测试条件，组合测试条件进行测试，并记录每一种组合振动测试条件下的IO的访问速率；
（2）统计不同I/O访问时间的块数量，获得在不同的振动条件下的I/O访问情况，继而获得硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果；
所述设置振动测试条件包括
加速度设置，1G/2G/2.5G/3G；
频率设置，5Hz-200Hz；
方向设置，X/Y/Z；
IO访问区域，访问同一柱面的数据，访问的区域和大小相同；
温度，低温/常温/高温；
所述硬盘的减振结构在不同振动条件下的减振效果的判断规则包括：
（1）同一振动条件内，不同访问时间对比：访问时间少的块数量多，判断为减振效果好；否则，判断为减振效果差；
（2）不同振动条件，相同访问时间对比：访问块数多，判断为在此条件的减振效果好；否则，判断为减振效果差；
所述不同I/O访问时间设置为小于5ms、小于10ms、小于50ms、小于150ms、小于500ms和访问失败。
2.根据权利要求1所述的磁盘减振器减振效果测试方法，其特征在于：所述使用软件采用的是MHDD软件。
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