CN109101353A - 一种电子设备部件的特性检测方法和电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种电子设备部件的特性检测方法，包括：依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。采用该方法，能够对内存的各种特性进行针对性的检测，解决了现有技术中无法对内存RAS进行检测的问题。
Description
技术领域
本方案涉及电子设备领域，更具体的说，是涉及一种电子设备部件的特性检测方法和电子设备。
背景技术
随着服务器行业的迅速发展，对于系统的稳定性，可靠性和安全性要求日益增高。
系统RAS(Reliability,Availability and Serviceability，可靠性、可用性、可扩展性)特性体现在很多方面，CPU(central processing unit，中央处理器)RAS特性，内存RAS特性，I/O(input/output，输入输出)RAS特性等。
其中，内存的RAS特性对于服务器而言是很关键的，因此RAS特性的检测是一个很重要的课题。
但是，现有技术中并没有对内存RAS特性进行检测的方法，因此，亟需一种对内存RAS特性进行检测的方法。
发明内容
有鉴于此，本方案提供了一种电子设备部件的特性检测方法，解决了现有技术中无法对内存RAS特性进行检测的问题。
为实现上述目的，本方案提供如下技术方案：
一种电子设备部件的特性检测方法，包括：
依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；
基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
上述的方法，优选的，所述依据预设规则，将待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号，包括：
根据目标检测特性，确定与所述目标检测特性对应的目标引脚；
基于通用输入/输出端口，为所述目标引脚输入低电平的输入信号。
上述的方法，优选的，所述根据目标检测特定，选择与所述目标检测特性对应的目标引脚之前，还包括：
以禁止方式设置目标部件所有的特性并保存设置，重启系统。
上述的方法，优选的，所述基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力，具体包括：
若运行结果表征所述目标部件正常运行，所述目标部件中与所述预设引脚对应的目标特性容错能力正常；
若运行结果表征所述目标部件非正常运行，所述目标部件中与所述预设引脚对应的目标特性容错能力不正常。
上述的方法，优选的，所述以禁止方式设置目标部件所有的特性并保存设置，包括：
提供基本输入输出界面；
基于接收到的输入信息，将所述基本输入输出界面中的所有目标部件的特性参数进行禁止设置；
保存所述设置。
上述的方法，优选的，所述目标部件是所述电子设备中具有存储功能的部件。
上述的方法，优选的，所述预设引脚包括以下的一种或者多种：内存复位信号引脚，一位内存数据信号引脚，一位错误校正码信号引脚，两位内存数据信号引脚。
一种电子设备，包括：
待检测的目标部件；
处理器，用于依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
上述的电子设备，优选的，还包括：
信号源，所述信号源与所述目标部件相连，用于生成信号至所述目标部件。
一种电子设备，包括：
信号模块，用于依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；
分析模块，用于基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本方案提供了一种电子设备部件的特性检测方法，包括：依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。采用该方法，能够对内存的各种特性进行针对性的检测，解决了现有技术中无法对内存RAS进行检测的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本方案实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本方案的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例1的流程图；
图2为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例2的流程图；
图3为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例3的流程图；
图4为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例4的流程图；
图5为本申请提供的一种电子设备实施例1的结构示意图；
图6为本申请提供的一种电子设备实施例2的结构示意图；
图7为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法应用场景示意图；
图8为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法应用场景中的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本方案实施例中的附图，对本方案实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本方案一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本方案中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本方案保护的范围。
需要说明的是，本方案中涉及的特性检测方法可以加到目前Lenovo使用已成熟的软件工具中应用，如DSA(Dynamic System Analysis,动态系统分析),或者是Diagnostictool(诊断工具)。
如图1所示的，为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例1的流程图，该方法应用于一电子设备，该方法包括以下步骤：
步骤S101：依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；
其中，该待检测的目标部件具有多种特性，其不同特性采用不同方式来检测。
由于特定的引脚输入信号使得目标设备的运行，而运行状态是与相应的特性相关，具体实施中，可以通过对特定引脚输入特定的非正常信号，能够对其相应的特性进行检测。
所述目标部件是电子设备中具有存储功能的部件，例如RAS。
其中，该预设引脚中输入的非正常信号作为该目标部件运行错误的触发源，在该目标运行部件运行过程触发错误情况，以此来检测该目标部件的容错能力。
具体的，预设引脚包括以下的一种或者多种：内存复位信号引脚，一位内存数据(data)信号引脚，一位错误校正码(ECC，Error Correcting Code，又称错误检查和纠正)信号引脚，两位内存数据信号引脚。
如下表1所示的，是不同的预设引脚引入非正常信号制造不同的错误，进而能够检测的目标部件对应的特性的容错能力。
表1
| 信号 | 功能 |
| 内存的复位信号 | 实现内部复位 |
| 内存1bit data | 制造数据错误 |
| 内存2bit data | 制造数据错误 |
| 内存ECC | 制造ECC错误数据 |
| … | … |
其中，内存的复位信号，用于实现内存的内部复位，以用于检测内存的镜像(mirror)特性；
其中，内存1bit(比特)data，用于制造数据错误，以用于检测内存的ECC特性；
其中，内存1bit data或者ECC，可用于制造数据错误或者ECC错误数据，以用于检测内存热备(Sparing)特性；
其中，内存1bit data或者ECC，可用于制造数据错误或者ECC错误数据，还可以用于检测内存的SDDC(Single Device Data Correction,单芯片数据校正)特性；
其中，内存2bit data，用于制造数据错误，以用于检测内存的DDDC(DoubleDevice Data Correction,双内存芯片数据校正)特性。
具体实施中，该引脚可以采用GPIO(General Purpose Input Output，通用输入/输出)引脚，当然，也可以采用其他类型引脚，本实施例中不做限制。
步骤S102：基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
其中，该目标部件基于特定引脚中输入非正常的信号运行，根据该目标部件的运行结果，即可得知该目标部件的特性容错能力。
具体实施中，可以通过查看运行日志的方式，得到目标部件的运行结果。
其中，该目标部件的特性有效时，其容错能力较强，能够避免对应的问题；相反的，该特性无效时，其容错能力较差，无法避免对应的问题。
具体实施中，不同的特性对应不同的容错能力，同一个目标部件的不同特性可能具有相同的容错能力，可以有不同的容错能力，本申请不对容错能力的量度进行限制。
需要说明的是，该方案中，通过对内存RAS诊断功能，方便管理人员进行系统和内存的诊断以及维护，从而提早发现内存错误并诊断错误。
综上，本实施例提供的一种电子设备部件的特性检测方法，包括：依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。采用该方法，能够对内存的各种特性进行针对性的检测，解决了现有技术中无法对内存RAS进行检测的问题。
如图2所示的，为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例2的流程图，该方法包括以下步骤：
步骤S201：根据目标检测特性，确定与所述目标检测特性对应的目标引脚；
其中，由于不同的引脚输入非正常信号，可以导致目标部件不同的运行错误，进而检测其对应的特性是否有效，其是否具有较强的容错能力。
具体的，该目标部件的特性与其引脚具有对应关系，根据该对应关系以及目标检测特性，即可确定对应的目标引脚。
步骤S202：基于通用输入/输出端口，为所述目标引脚输入低电平的输入信号；
其中，该目标部件通过GPIO(General Purpose Input Output，输入输出端口)进行信号传输。
具体的，通过在软件工具中加入一个GPIO设置，通过GPIO拉低其中某一位会触发目标部件相应的硬件错误，提示当前的错误类型，当内存RAS特性有效时会避免发生问题。
具体实施中，该目标部件的引脚输入高电平，而为了生成错误，将该引脚的电平拉低，输入低电平，导致输入目标部件的电平为低电平，
步骤S203：基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
其中步骤S203与实施例1中的步骤S102一致，本实施例中不做赘述。
综上，本实施例提供的一种电子设备部件的特性检测方法，该依据预设规则，将待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号，包括：根据目标检测特性，确定与所述目标检测特性对应的目标引脚；基于通用输入/输出端口，为所述目标引脚输入低电平的输入信号。采用该方法，通过通用输入/输出端口，为目标引脚输入低电平的输入信号，使得进入该目标部件相应引脚的信号为非正常信号，进而使得该目标部件运行出现错误。
如图3所示的，为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例3的流程图，该方法包括以下步骤：
步骤S301：以禁止方式设置目标部件所有的特性并保存设置，重启系统；
其中，为了对目标部件的特性进行检测，首先，对该目标部件的所有特性进行禁止，并保存该禁止的设置，然后，重启电子设备的系统，以实现基于该禁止设置运行该电子设备的目标部件。
进而使得该目标部件基于后续步骤中目标引脚输入的低电平(非正常信号)运行，实现检测该目标引脚对应的特性容错能力。
具体的，该步骤S301中以禁止方式设置目标部件所有的特性并保存设置可以通过如下具体步骤实现：
步骤S3011：提供基本输入输出界面；
具体的，该基本输入输出界面采用BIOS("Basic Input Output System，基本输入输出系统)界面，如UEFI(Unified Extensible Firmware Interface,统一可扩展固件接口)界面。
步骤S3012：基于接收到的输入信息，将所述基本输入输出界面中的所有目标部件特性参数进行禁止设置；
步骤S3013：保存所述设置。
具体的，在UEFI界面手动禁止(disable)目标部件的特性，设置保存在UEFI界面。
步骤S302：根据目标检测特性，确定与所述目标检测特性对应的目标引脚；
步骤S303：基于通用输入/输出端口，为所述目标引脚输入低电平的输入信号；
步骤S304：基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
综上，本实施例提供的一种电子设备部件的特性检测方法，还包括：以禁止方式设置目标部件所有的特性并保存设置，重启系统。采用该方法，通过对目标部件的所有特性进行禁止，并保存该禁止的设置，然后，重启电子设备的系统，以实现基于该禁止设置运行该电子设备的目标部件。
如图4所示的，为本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例4的流程图，该方法包括以下步骤：
步骤S401：以禁止方式设置内存所有的特性并保存设置，重启系统；
步骤S402：根据目标检测特性，确定与所述目标检测特性对应的目标引脚；
步骤S403：基于通用输入/输出端口，为所述目标引脚输入低电平的输入信号；
其中步骤S401-403与实施例3中的步骤S301-303一致，本实施例中不做赘述。
步骤S404：若运行结果表征所述目标部件正常运行，所述目标部件中与所述预设引脚对应的目标特性容错能力正常；
其中，该目标部件的运行结果表征了其容错能力。
具体的，如果该目标部件的运行结果表征其正常，则其对应的目标特性有效，其目标特性的容错能力正常，该预设引脚输入的非正常信号导致的错误是可以被容忍的。
步骤S405：若运行结果表征所述目标部件非正常运行，所述目标部件中与所述预设引脚对应的目标特性容错能力不正常。
具体的，如果该目标部件的运行结果表征其不正常，则其对应的目标特性无效，其目标特性的容错能力不正常，该预设引脚输入的非正常信号导致的错误不能够被容忍。
具体的，该目标部件非正常运行可以包括报错(bug)等，当然，具体实施中还可能是电子设备的系统重启，瘫痪等更严重的结果。
综上，本实施例提供的一种电子设备部件的特性检测方法中，该基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力，具体包括：若运行结果表征所述目标部件正常运行，所述目标部件中与所述预设引脚对应的目标特性容错能力正常；若运行结果表征所述目标部件非正常运行，所述目标部件中与所述预设引脚对应的目标特性容错能力不正常。采用该方法，基于运行结果即可分析得到目标部件中的目标特性容错能力是否正常。
与上述本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例相对应的，本申请还提供了应用该特性检测方法的电子设备实施例。
如图5所示的为本申请提供的一种电子设备实施例1的结构示意图，该电子设备包括以下结构：待检测的目标部件501和处理器502；
其中，该处理器502，用于依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
具体的，该处理器502可以采用CPU(central processing unit，中央处理器)等结构。
优选的，该电子设备还包括：
信号源，所述信号源与所述目标部件相连，用于生成信号至所述目标部件。
具体实施中，该信号源可以采用CPLD(Complex Programmable Logic Device,复杂可编程逻辑器件)芯片，其能够产生多种方式的信号。
具体实施中，该CPLD尽量靠近引出相关信号的目标部件(内存模组)，以减少内存高速信号没有必要的发射。
具体的，内存信号连出接入CPU，将此CPLD放置于内存信号引出的最近端，如果系统有内存板(内存会安装在内存板上)，需要将CPLD置于内存板上；如果是内存直接安装于系统主板上，则可将CPLD置于内存插槽的中间位置。
综上，本实施例提供的一种电子设备中，包括：待检测的目标部件；处理器，用于依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。采用该电子设备，能够对内存的各种特性进行针对性的检测，解决了现有技术中无法对内存RAS进行检测的问题。
如图6所示的为本申请提供的一种电子设备实施例2的结构示意图，该电子设备包括以下结构：信号模块601和分析模块602；
其中，该信号模块601，用于依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；
其中，该分析模块602，用于基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
综上，本实施例提供的一种电子设备中，包括：信号模块，用于依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；分析模块，用于基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。采用该电子设备，能够对内存的各种特性进行针对性的检测，解决了现有技术中无法对内存RAS进行检测的问题。
与上述本申请提供的一种电子设备部件的特性检测方法实施例相对应的，本申请还提供了应用该特性检测方法应用场景示例。
本应用场景中检测内存的镜像特性的容错能力。
图7所示的为应用场景示意图，该示意图包括主板主备内存701与CPLD芯片702，其中，主板主备内存701中的两个DATA引脚(DATA1、DATA2)、一个复位信号引脚、一个ECC引脚分别与CPLD芯片相连，二者相连的引脚可以采用GPIO。
图8所示的为应用场景中的流程示意图。
步骤S801：开机；
步骤S802：进入UEFI设置界面，手动禁止(disable)所有RAS特性，保存设置；
步骤S803：重启系统；
步骤S804：通过GPIO拉低内存复位信号，此时侦测到内存复位，并同时系统重启；
步骤S805：开机后，手动在UEFI设置界面使能(enable)RAS特性，开启Mirror特性，保存；
步骤S806：重启系统；
步骤S807：待系统启动后，软件再拉低内存复位信号，由于开启了Mirror特性，系统可以正常运行；
步骤S808：若系统仍重启，说明内存的RAS特性存在问题。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例提供的装置而言，由于其与实施例提供的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
对所提供的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本方案。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本方案的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本方案将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所提供的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种电子设备部件的特性检测方法，包括：
依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；
基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
2.根据权利要求1所述的方法，所述依据预设规则，将待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号，包括：
根据目标检测特性，确定与所述目标检测特性对应的目标引脚；
基于通用输入/输出端口，为所述目标引脚输入低电平的输入信号。
3.根据权利要求2所述的方法，所述根据目标检测特定，选择与所述目标检测特性对应的目标引脚之前，还包括：
以禁止方式设置目标部件所有的特性并保存设置，重启系统。
4.根据权利要求3所述的方法，所述基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力，具体包括：
若运行结果表征所述目标部件正常运行，所述目标部件中与所述预设引脚对应的目标特性容错能力正常；
若运行结果表征所述目标部件非正常运行，所述目标部件中与所述预设引脚对应的目标特性容错能力不正常。
5.据权利要求3所述的方法，所述以禁止方式设置目标部件所有的特性并保存设置，包括：
提供基本输入输出界面；
基于接收到的输入信息，将所述基本输入输出界面中的所有目标部件的特性参数进行禁止设置；
保存所述设置。
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，所述目标部件是所述电子设备中具有存储功能的部件。
7.根据权利要求1-5任一项所述的方法，所述预设引脚包括以下的一种或者多种：内存复位信号引脚，一位内存数据信号引脚，一位错误校正码信号引脚，两位内存数据信号引脚。
8.一种电子设备，包括：
待检测的目标部件；
处理器，用于依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
9.根据权利要求8所述的电子设备，还包括：
信号源，所述信号源与所述目标部件相连，用于生成信号至所述目标部件。
10.一种电子设备，包括：
信号模块，用于依据预设规则，将对应于待检测的目标部件的预设引脚中输入特定的非正常信号；
分析模块，用于基于所述目标部件的运行结果，分析得到所述目标部件的特性容错能力。
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| GR01 | Patent grant | ||
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