CN109084954A - 一种激光器核心参数快速测量方法 - Google Patents

一种激光器核心参数快速测量方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109084954A
CN109084954A CN201810587470.0A CN201810587470A CN109084954A CN 109084954 A CN109084954 A CN 109084954A CN 201810587470 A CN201810587470 A CN 201810587470A CN 109084954 A CN109084954 A CN 109084954A
Authority
CN
China
Prior art keywords
laser
light beam
light
core parameter
parameter method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201810587470.0A
Other languages
English (en)
Inventor
王家赞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Laser Technology (tianjin) Co Ltd
Beijing GK Laser Technology Co Ltd
Original Assignee
Laser Technology (tianjin) Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Laser Technology (tianjin) Co Ltd filed Critical Laser Technology (tianjin) Co Ltd
Priority to CN201810587470.0A priority Critical patent/CN109084954A/zh
Publication of CN109084954A publication Critical patent/CN109084954A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/0014Monitoring arrangements not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/0014Measuring characteristics or properties thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种激光器核心参数快速测量方法,将待测激光器的输出光束分成多束,同时进行测量并输出结果。本发明可以快速测量激光器的光斑圆度、光束质量、脉冲宽度、重复频率、平均功率和波长这些核心参数,可以进一步计算出激光器输出的峰值功率密度,对于工业标记和加工具有重要意义。

Description

一种激光器核心参数快速测量方法
技术领域
本发明涉及激光器参数测量技术领域,特别是涉及一种激光器核心参数快速测量方法。
背景技术
近年来随着激光技术日益成熟,激光器由于其单色性、高亮度、方向性好,被越来越多地用于生产和生活。而市场上大部分测量仪器只能测量激光器的某一参数,效率较差,如何准确快速地测量激光器的核心参数可以提高企业的生产效率。
发明内容
针对上述现有技术中存在的技术问题,本发明的目的是提供一种激光器核心参数快速测量方法。
为实现本发明的目的,本发明提供了一种激光器核心参数快速测量方法,将待测激光器的输出光束分成多束,同时进行测量并输出结果。
进一步地,所述将待测激光器的输出光束分为多束,具体为,使用菱形棱镜A将待测激光器发出的光束I分成两束,反射光束I1和透射光束I2,菱形棱镜B把I2分成反射光束I3和透射光束I4,各光束的平均功率分别为P,P1,P2,P3,P4
进一步地,其中,平均功率的测量方法如下:
菱形棱镜的分光比例为P1=Pη1,P2=Pη2,P3=P2η1,P4=P2η2
通过功率计测量得到光束I4的平均功率P4,通过测量得到的菱形棱镜的透射率η2,从而,得到激光器输出的平均功率:
进一步地,其中,输出光谱的测量方法如下:
光束I4照射功率计并发生漫反射,用光谱仪去测量漫反射光可以得到激光器的输出光谱。
进一步地,其中,脉冲宽度和重复频率的测量:
光束I3经过合适的衰减器照射对应波长的光电探头,使光电探头工作在线性区间,光信号被转换为电信号,通过示波器收集并计算电信号的脉冲宽度和频率,得到激光器的脉冲宽度和重复频率。
进一步地,其中,束腰直径、椭圆度和光束质量的测量方法如下:
光束I1经过衰减器照射在CCD上,连接计算机,经软件拟合计算得到光束I1在距离激光器出光口Z1距离处的光斑直径d1和椭圆度e1;然后计算机控制伺服电机,使CCD在丝杠导轨上移动至距离出光口Z2和Z3的位置,分别测量I1在位置Z2和Z3处的光斑直径d2、d3和椭圆度e2、e3,并根据公式计算束腰直径和光束质量因子M2
进一步地,其中,将CCD、光谱仪、功率计、示波器连接至计算机,由计算机采集数据,进一步计算脉冲峰值功率,并生成检测报告。
与现有技术相比,本发明的有益效果为,可以快速测量激光器的光斑圆度、光束质量、脉冲宽度、重复频率、平均功率和波长这些核心参数,可以进一步计算出激光器输出的峰值功率密度,对于工业标记和加工具有重要意义。
附图说明
图1所示为本申请测量方法原理图;
图2所示为本申请菱形棱镜分光光路图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的,除非上下文另外明确指出,否则单数形式也意图包括复数形式,此外,还应当理解的是,当在本说明书中使用属于“包含”和/或“包括”时,其指明存在特征、步骤、操作、部件或者模块、组件和/或它们的组合。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
如图1所示,本发明提供了一种激光器核心参数快速测量方法,将待测激光器的输出光束分成多束,同时进行测量并输出结果。
如图2所示,所述将待测激光器的输出光束分为多束,具体为,使用菱形棱镜A将待测激光器发出的光束I分成两束,反射光束I1和透射光束I2,菱形棱镜B把I2分成反射光束I3和透射光束I4,各光束的平均功率分别为P,P1,P2,P3,P4
进一步地,平均功率的测量方法如下:
菱形棱镜的分光比例为P1=Pη1,P2=Pη2,P3=P2η1,P4=P2η2
通过功率计测量得到光束I4的平均功率P4,通过测量得到的菱形棱镜的透射率η2,从而,得到激光器输出的平均功率:
进一步地,其中,输出光谱的测量方法如下:
光束I4照射功率计并发生漫反射,用光谱仪去测量漫反射光可以得到激光器的输出光谱。
进一步地,脉冲宽度和重复频率的测量:
光束I3经过合适的衰减器照射对应波长的光电探头,使光电探头工作在线性区间,光信号被转换为电信号,通过示波器收集并计算电信号的脉冲宽度和频率,得到激光器的脉冲宽度和重复频率。
进一步地,束腰直径、椭圆度和光束质量的测量方法如下:
光束I1经过衰减器照射在CCD上,连接计算机,经软件拟合计算得到光束I1在距离激光器出光口Z1距离处的光斑直径d1和椭圆度e1;然后计算机控制伺服电机,使CCD在丝杠导轨上移动至距离出光口Z2和Z3的位置,分别测量I1在位置Z2和Z3处的光斑直径d2、d3和椭圆度e2、e3,并根据下述公式计算束腰直径和光束质量因子M2
d2=A+B·Z+C·Z2
式中:
d------光束直径,mm;
A------光束特征系数;
B------光束特征系数;
C------光束特征系数;
Z0------束腰位置,m;
d0------束腰直径,mm;
θ------远场束散角,mrad;
M2-----光束质量因子。
进一步地,将CCD、光谱仪、功率计、示波器连接至计算机,由计算机采集数据,进一步计算脉冲峰值功率,并生成检测报告。
本方法适用于平均功率1瓦到100瓦,脉冲宽度大于1nm,光束宽度0.1-3mm的脉冲固体激光器。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出的是,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种激光器核心参数快速测量方法,其特征在于,将待测激光器的输出光束分成多束,同时进行测量并输出结果。
2.根据权利要求1所述的激光器核心参数快速测量方法,其特征在于,所述将待测激光器的输出光束分为多束,具体为,使用菱形棱镜A将待测激光器发出的光束I分成两束,反射光束I1和透射光束I2,菱形棱镜B把I2分成反射光束I3和透射光束I4,各光束的平均功率分别为P,P1,P2,P3,P4
3.根据权利要求2所述的激光器核心参数快速测量方法,其特征在于,其中,平均功率的测量方法如下:
菱形棱镜的分光比例为P1=Pη1,P2=Pη2,P3=P2η1,P4=P2η2
通过功率计测量得到光束I4的平均功率P4,通过测量得到的菱形棱镜的透射率η2,从而,得到激光器输出的平均功率:
4.根据权利要求3所述的激光器核心参数快速测量方法,其特征在于,其中,输出光谱的测量方法如下:
光束I4照射功率计并发生漫反射,用光谱仪去测量漫反射光可以得到激光器的输出光谱。
5.根据权利要求4所述的激光器核心参数快速测量方法,其特征在于,其中,脉冲宽度和重复频率的测量:
光束I3经过合适的衰减器照射对应波长的光电探头,使光电探头工作在线性区间,光信号被转换为电信号,通过示波器收集并计算电信号的脉冲宽度和频率,得到激光器的脉冲宽度和重复频率。
6.根据权利要求5所述的激光器核心参数快速测量方法,其特征在于,其中,束腰直径、椭圆度和光束质量的测量方法如下:
光束I1经过衰减器照射在CCD上,连接计算机,经软件拟合计算得到光束I1在距离激光器出光口Z1距离处的光斑直径d1和椭圆度e1;然后计算机控制伺服电机,使CCD在丝杠导轨上移动至距离出光口Z2和Z3的位置,分别测量I1在位置Z2和Z3处的光斑直径d2、d3和椭圆度e2、e3,并根据公式计算束腰直径和光束质量因子M2
7.根据权利要求6所述的激光器核心参数快速测量方法,其特征在于,其中,将CCD、光谱仪、功率计、示波器连接至计算机,由计算机采集数据,进一步计算脉冲峰值功率,并生成检测报告。
CN201810587470.0A 2018-06-08 2018-06-08 一种激光器核心参数快速测量方法 Pending CN109084954A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810587470.0A CN109084954A (zh) 2018-06-08 2018-06-08 一种激光器核心参数快速测量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810587470.0A CN109084954A (zh) 2018-06-08 2018-06-08 一种激光器核心参数快速测量方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109084954A true CN109084954A (zh) 2018-12-25

Family

ID=64839772

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810587470.0A Pending CN109084954A (zh) 2018-06-08 2018-06-08 一种激光器核心参数快速测量方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109084954A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110095260A (zh) * 2019-03-19 2019-08-06 杭州奥创光子技术有限公司 一种内嵌式激光参数综合自诊断系统及其工作流程
CN114235354A (zh) * 2021-12-21 2022-03-25 苏州众烁云辉科技有限公司 一种激光器光束质量综合检测装置及方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101782435A (zh) * 2010-03-11 2010-07-21 中国科学院上海光学精密机械研究所 激光参数综合测试系统
CN102384836A (zh) * 2010-09-01 2012-03-21 中国科学院光电研究院 激光多参数实时测量装置
CN103674488A (zh) * 2012-09-12 2014-03-26 中国科学院光电研究院 激光器发散角及光斑形状测量装置
CN205843930U (zh) * 2016-05-26 2016-12-28 西安工程大学 一种激光光束质量测量装置
CN107356407A (zh) * 2016-05-10 2017-11-17 南京理工大学 同步测量高功率光纤激光器功率、光谱和光束质量的装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101782435A (zh) * 2010-03-11 2010-07-21 中国科学院上海光学精密机械研究所 激光参数综合测试系统
CN102384836A (zh) * 2010-09-01 2012-03-21 中国科学院光电研究院 激光多参数实时测量装置
CN103674488A (zh) * 2012-09-12 2014-03-26 中国科学院光电研究院 激光器发散角及光斑形状测量装置
CN107356407A (zh) * 2016-05-10 2017-11-17 南京理工大学 同步测量高功率光纤激光器功率、光谱和光束质量的装置
CN205843930U (zh) * 2016-05-26 2016-12-28 西安工程大学 一种激光光束质量测量装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110095260A (zh) * 2019-03-19 2019-08-06 杭州奥创光子技术有限公司 一种内嵌式激光参数综合自诊断系统及其工作流程
CN114235354A (zh) * 2021-12-21 2022-03-25 苏州众烁云辉科技有限公司 一种激光器光束质量综合检测装置及方法
CN114235354B (zh) * 2021-12-21 2024-05-14 苏州众烁云辉科技有限公司 一种激光器光束质量综合检测装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102062678B (zh) 大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法
CN102608613B (zh) 一种激光雷达对点目标探测能力的精确标定装置与方法
CN103175808B (zh) 激光诱导击穿光谱分析系统及其方法
CN108801930B (zh) 一种高时间分辨率的穆勒矩阵椭偏测量装置与方法
CN103123320A (zh) 基于单束光分束的激光诱导击穿光谱分析方法及实施装置
CN104142226B (zh) 一种ccd器件量子效率测量装置及方法
CN103234917B (zh) 一种冲击温度及光谱发射率的实时测量系统
CN102623880B (zh) 一种基于种子注入式激光器的种子光进行激光频率锁定的装置
CN109084954A (zh) 一种激光器核心参数快速测量方法
CN104181146A (zh) 一种多脉冲激光诱导击穿光谱在线检测系统
CN109100029A (zh) 飞秒激光脉冲时空参数单发测量装置
CN105871457A (zh) 光时域反射计系统及其测量使用方法
CN103926200B (zh) 一种cars和tdlas共线的测温装置
CN205015147U (zh) 用于半导体激光器腔面失效分析的综合测试系统
CN104792501A (zh) 一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法
CN103017664B (zh) 激光光束分析仪校准方法及系统
CN102252830A (zh) 光学鬼像的检测装置及其检测方法
CN112556890A (zh) 一种高频响热流传感器标定装置及标定方法
CN202938789U (zh) 激光光束分析仪校准系统
CN201936073U (zh) 双扩束均匀化平行光照光源
CN201811834U (zh) 一种激光参数性能测试自动标定装置
CN203606283U (zh) 单光源双波长激光诱导击穿光谱测量装置
CN104897372B (zh) 多发光单元半导体激光器近场非线性自动测试方法及装置
CN110702384B (zh) 激光器近场测试方法及测试系统
CN208443765U (zh) 半导体瞬态x射线非线性光学效应测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20181225

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication