CN109037201A - Led阵列及其制备方法 - Google Patents

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范振灿
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Abstract

本发明公开了一种LED阵列及其制备方法,在LED阵列中,包括:支撑衬底;设置于支撑衬底表面预设位置的多个LED结构,LED结构中依次包括金属反射层、P电极、外延层及N电极;于支撑衬底表面与LED结构一一对应设置的MOS管,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管串联连接,每个LED结构通过与之连接的MOS管控制通断。其将LED结构和MOS管一一对应设置在支撑衬底表面,并串联连接,实现一对一的控制,在LED阵列中,简单方便的实现LED结构的独立工作,不影响阵列中其他LED结构正常工作。

Description

LED阵列及其制备方法
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种LED阵列及其制备方法。
背景技术
Mini LED和micro LED作为新一代的显示技术,将LED结构进行微小化而来,继承了LED的特点,具备低功耗、高亮度、超高分辨率与色彩饱和度、反应速度快、超省点、寿命较长、效率较高等优点,但是,对于mini LED和micro LED通断的独立控制尚没有较好的方案。
发明内容
本发明的目的是提供一种LED阵列及其制备方法,实现了mini LED和micro LED通断的独立控制。
本发明提供的技术方案如下:
一种LED阵列,包括:
支撑衬底;
设置于所述支撑衬底表面预设位置的多个LED结构,所述LED结构中依次包括金属反射层、P电极、外延层及N电极;
于所述支撑衬底表面与LED结构一一对应设置的MOS管,所述LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管串联连接,每个所述LED结构通过与之连接的MOS管控制通断。
进一步优选,当所述MOS管为N沟道MOS管时,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管的源极连接,且所述MOS管的栅极与外界控制端连接、漏极接电源正极。
进一步优选,当所述MOS管为P沟道MOS管时,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管的漏极连接,且所述MOS管的栅极与外界控制端连接、源极接电源正极。
本发明还提供了一种LED阵列制备方法,包括:
S10 在生长衬底上生长外延层,并在所述外延层表面蒸发或溅射P电极和金属反射层,得到外延结构;
S20 将预留位置处的外延结构去除;
S30 将生长衬底表面余下的外延结构转移至支撑衬底,并去除生长衬底;
S40 在支撑衬底上预留位置处制备MOS管;
S50 在外延结构中露出的外延层表面蒸发或溅射N电极,得到LED结构;
S60 沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接,得到LED阵列。
进一步优选,在步骤S20中,去除的外延结构与余下的外延结构的位置一一对应。
进一步优选,在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,具体为,在支撑衬底上预留位置处制备N沟道MOS管;
在步骤S60,沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接中,具体为:沉积连接金属,将LED结构中的金属反射层和/或P电极与MOS管的源极连接,将MOS管的栅极与外界控制端连接、漏极接电源正极。
进一步优选,在步骤S20中,包括:
在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,具体为,在支撑衬底上预留位置处制备P沟道MOS管;
在步骤S60,沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接中,具体为:沉积连接金属,将LED结构中的金属反射层和/或P电极与MOS管的漏极连接,将MOS管的栅极与外界控制端连接、源极接电源正极。
进一步优选,在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,采用沉积的方法制备栅极氧化硅。
进一步优选,所述N电极/P电极为ITO或Al或Au。
进一步优选,所述金属反射层为Cr或Pt或Al或Au。
在本发明提供的LED阵列及其制备方法中,将LED结构和MOS管一一对应设置在支撑衬底表面,并串联连接,实现一对一的控制,在LED阵列中,简单方便的实现LED结构的独立工作,不影响阵列中其他LED结构正常工作。
附图说明
下面将以明确易懂的方式,结合附图说明优选实施方式,对上述特性、技术特征、优点及实现方式予以进一步说明。
图1为本发明中LED阵列结构示意图;
图2为本发明中LED结构和MOS管串联连接侧面示意图;
图3为本发明中LED阵列制备方法流程示意图。
附图标记说明:
10-支撑衬底,20-LED结构,30-MOS管,21-金属反射层,22-P电极,23-外延层,24-N电极。
具体实施方式
下面结合附图和实例进一步说明本发明的实质内容,但本发明的内容并不限于此。
如图1所示为本发明提供的LED阵列结构示意图,从图中可以看出,在该LED阵列中包括:支撑衬底10;设置于支撑衬底10表面预设位置的多个LED结构20,LED结构20中依次包括金属反射层21、P电极22、外延层23及N电极24;于支撑衬底10表面与LED结构20一一对应设置的MOS管30,LED结构20通过金属反射层21与MOS管30串联连接,每个LED结构20通过与之连接的MOS管30控制通断。
具体,在该LED阵列中,当MOS管30为N沟道MOS管时,LED结构20通过金属反射层21和/或P电极22与MOS管30的源极连接(LED结构可以通过金属反射层21与MOS管30连接,也可以通过P电极22与MOS管30连接,还可以通过金属反射层21和P电极22与MOS管30连接),且MOS管30的栅极与外界控制端连接、漏极接电源正极;当MOS管30为P沟道MOS管时,LED结构20通过金属反射层21和/或P电极22与MOS管30的漏极连接,且MOS管30的栅极与外界控制端连接、源极接电源正极如图2所示(图示中LED结构通过金属反射层与MOS管连接)。且在LED结构20和MOS管30之间,通过沉积导电金属(如,Au、Al等)的方式进行连接,且在沉积金属前后,分别沉积绝缘材料,将金属包裹。
在工作过程中,LED结构20中的N电极24接电源负极,MOS管30为N沟道MOS管30时,漏极接电源正极;MOS管30为P沟道MOS管30时,源极接电源正极。给MOS管30中的栅极加入电压控制MOS管30导通,以此电流从N沟道MOS管30的漏极/P沟道MOS管30的源极流入,通过金属反射层21流入LED结构20的P电极22,最后经过LED外延层23流向N电极24,实现LED结构20的导通。
如图3所示为本发明提供的LED阵列制备方法流程示意图,从图中可以看出,在该制备方法中包括:S10 在生长衬底上生长外延层,并在外延层表面蒸发或溅射P电极和金属反射层,得到外延结构;S20 将预留位置处的外延结构去除;S30 将生长衬底表面余下的外延结构转移至支撑衬底,并去除生长衬底;S40 在支撑衬底上预留位置处制备MOS管;S50在外延结构中露出的外延层表面蒸发或溅射N电极,得到LED结构;S60 沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接,得到LED阵列。
在制备过程中,首先在生长衬底(如硅衬底)上生长外延层,并在外延层表面制备P电极和金属反射层,将预留制备MOS管位置上的外延结构腐蚀去除。之后,将生长衬底上制备的外延结构转移至支撑衬底(如硅衬底),并通过腐蚀、研磨、激光玻璃等方式将生长衬底去除。之后,在支撑衬底上预留位置制备MOS管(在制备的过程中,为了避免高温损坏LED结构,采用沉积的方法制备栅极氧化硅)。MOS管制备完成之后,在外延层表面制备N电极,最后,在一一对应的LED结构和MOS管之间沉积金属(在沉积金属前后,分别沉积绝缘材料,将金属包裹),完成LED结构和MOS管的串联连接。其中,N电极/P电极为ITO或Al或Au;金属反射层为Cr或Pt或Al或Au。
对于制备MOS管的预留位置,根据实际情况而定。在一实例中,在相邻列LED结构之间制备MOS管,即在LED阵列中,LED结构与MOS管呈相邻列设置,一列LED结构对应设置一列MOS管,以此将LED结构与MOS管一一对应串联连接,实现MOS管对LED结构的单独控制。在其他实例中,还可以每个MOS管同时与2个LED结构分别串联连接,实现一个MOS管同时控制2个LED结构等。
在制备得到的LED阵列中,当MOS管为N沟道MOS管时,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管的源极连接,且MOS管的栅极与外界控制端连接、漏极接电源正极;当MOS管为P沟道MOS管时,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管的漏极连接,且MOS管的栅极与外界控制端连接。
在工作过程中,LED结构中的N电极接电源负极,MOS管为N沟道MOS管时,漏极接电源正极;MOS管为P沟道MOS管时,源极接电源正极。给MOS管中的栅极加入电压控制MOS管导通,以此电流从N沟道MOS管的漏极/P沟道MOS管的源极流入,通过金属反射层流入LED结构的P电极,最后经过LED外延层流向N电极,实现LED结构的导通。
应当说明的是,上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种LED阵列,其特征在于,所述LED阵列中包括:
支撑衬底;
设置于所述支撑衬底表面预设位置的多个LED结构,所述LED结构中依次包括金属反射层、P电极、外延层及N电极;
于所述支撑衬底表面与LED结构一一对应设置的MOS管,所述LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管串联连接,每个所述LED结构通过与之连接的MOS管控制通断。
2.如权利要求1所述的LED阵列,其特征在于,当所述MOS管为N沟道MOS管时,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管的源极连接,且所述MOS管的栅极与外界控制端连接、漏极接电源正极。
3.如权利要求1所述的LED阵列,其特征在于,当所述MOS管为P沟道MOS管时,LED结构通过金属反射层和/或P电极与MOS管的漏极连接,且所述MOS管的栅极与外界控制端连接、源极接电源正极。
4.一种LED阵列制备方法,其特征在于,所述制备方法中包括:
S10 在生长衬底上生长外延层,并在所述外延层表面蒸发或溅射P电极和金属反射层,得到外延结构;
S20 将预留位置处的外延结构去除;
S30 将生长衬底表面余下的外延结构转移至支撑衬底,并去除生长衬底;
S40 在支撑衬底上预留位置处制备MOS管;
S50 在外延结构中露出的外延层表面蒸发或溅射N电极,得到LED结构;
S60 沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接,得到LED阵列。
5.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤S20中,去除的外延结构与余下的外延结构的位置一一对应。
6.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,
在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,具体为,在支撑衬底上预留位置处制备N沟道MOS管;
在步骤S60,沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接中,具体为:沉积连接金属,将LED结构中的金属反射层和/或P电极与MOS管的源极连接,将MOS管的栅极与外界控制端连接、漏极接电源正极。
7.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤S20中,包括:
在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,具体为,在支撑衬底上预留位置处制备P沟道MOS管;
在步骤S60,沉积连接金属,将LED结构与MOS管串联连接中,具体为:沉积连接金属,将LED结构中的金属反射层和/或P电极与MOS管的漏极连接,将MOS管的栅极与外界控制端连接、源极接电源正极。
8.如权利要求4-7任意一项所述的制备方法,其特征在于,在步骤S40,在支撑衬底上预留位置处制备MOS管中,采用沉积的方法制备栅极氧化硅。
9.如权利要求4-7任意一项所述的制备方法,其特征在于,所述N电极/P电极为ITO或Al或Au。
10.如权利要求4-7任意一项所述的制备方法,其特征在于,所述金属反射层为Cr或Pt或Al或Au。
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