CN109035270B - 壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质。所述方法包括：获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。上述方法中，可以根据采样点对应的截面轮廓确定采样点的测量区域，从而根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果，可以提高壳料的测量效率。

Description

壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质。

背景技术

随着计算机技术的发展，窄边框成为现代电子设备的主流，在窄边框点胶工艺中，需要对粘胶面的宽度、粘胶面到LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)仓的高度等尺寸进行测量。然而，传统技术中，通过高度规对高度进行测量、采用二次元测量及切片测量对粘胶面宽度进行测量，存在测量效率低的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质，可以提高测量效率。

一种壳料测量方法，包括：

获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；

根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。

一种壳料测量装置，包括：

轨迹获取模块，用于获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

测试区域确定模块，用于确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；

结果确定模块，用于根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。

一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：

获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；

根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：

获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域；

根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果。

上述壳料测量方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质，通过获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。由于可以根据采样点对应的截面轮廓确定采样点的测量区域，从而根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果，可以提高壳料的测量效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一个实施例中电子设备的内部结构示意图；

图2为一个实施例中壳料测量方法的流程图；

图3为另一个实施例中壳料测量方法的流程图；

图4为一个实施例中获取测量结果的流程图；

图5为一个实施例中壳料边框截面的示意图；

图6为一个实施例中壳料测量方法的流程图；

图7为一个实施例中采样点的截面轮廓的示意图；

图8为一个实施例中壳料测量装置的结构框图；

图9为一个实施例中手机的部分结构的框图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一客户端称为第二客户端，且类似地，可将第二客户端称为第一客户端。第一客户端和第二客户端两者都是客户端，但其不是同一客户端。

图1为一个实施例中电子设备的内部结构示意图。如图1所示，该电子设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该处理器用于提供计算和控制能力，支撑整个电子设备的运行。存储器用于存储数据、程序等，存储器上存储至少一个计算机程序，该计算机程序可被处理器执行，以实现本申请实施例中提供的适用于电子设备的壳料测量方法。存储器可包括非易失性存储介质及内存储器。非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该计算机程序可被处理器所执行，以用于实现以下各个实施例所提供的一种壳料测量方法。内存储器为非易失性存储介质中的操作系统计算机程序提供高速缓存的运行环境。网络接口可以是以太网卡或无线网卡等，用于与外部的电子设备进行通信。该电子设备可以是手机、平板电脑、电脑或者个人数字助理或穿戴式设备等。

图2为一个实施例中壳料测量方法的流程图。本实施例中的壳料测量方法，以运行于图1中的电子设备上为例进行描述。如图2所示，壳料测量方法包括步骤202至步骤206。

步骤202，获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓。

壳料是指用于支承设备中不同组件的结构件。壳料可以但不限于是各种金属壳料、塑料壳料等。例如，壳料可以是指手机、平板电脑等设备的前壳、后壳、中框等结构件。电子设备可以采用激光对壳料中的采样点进行线扫描，使得壳料在该采样点的表面形成由多个点状光斑形成的线状轮廓，该线状轮廓即为该采样点对应的截面轮廓。具体地，电子设备对壳料进行线扫描，可以每隔预设距离设定一个采样点，获取壳料中各个采样点对应的截面轮廓。例如，电子设备对任意设备的后盖进行线扫描，当后盖的采样点为100个时，电子设备可以获取该后盖100个采样点进行线扫描后形成的100个截面轮廓。预设距离可以根据壳料的尺寸大小进行设定。具体地，当对尺寸管控要求较高时，预设距离可以设为较小的数值；当对尺寸管控要求较低时，预设距离可以设为较大的数值。例如，预设距离可以为0.2mm(millimeter，毫米)、0.3mm、0.4mm、0.5mm等不限于此。

电子设备可以获取壳料中需要进行测量的区域进行线扫描，获取扫描后得到的轨迹，该轨迹记录了壳料中各个采样点进行线扫描后形成的各个采样点对应的截面轮廓。

步骤204，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域。

定点位置的数量可以根据壳料的结构形状和需要测量的数据进行设定。例如，定点位置可以是1个、2个、3个等不限于此。电子设备可以选取截面轮廓中相对稳定的特征点作为截面轮廓的定点位置。相对稳定的特征点是指采样点的截面轮廓中曲率平滑过渡、没有明显噪点的特征点，具体地，可以是截面轮廓中立壁中间区域与截面轮廓中的圆角、拐点等区域远离的特征点。在一个实施例中，电子设备可以根据采样点的截面轮廓建立坐标轴，根据预设坐标值确定截面轮廓的定点位置，预设坐标值可以是壳料中各个采样点对应的截面轮廓中相对稳定的特征点对应的坐标值。测量区域是壳料的不同位置在截面轮廓中对应的区域。例如，当测量壳料的深度值时，测量区域可以是截面轮廓中壳料顶部和壳料底部分别对应的区域，则可以根据壳料顶部和壳料底部分别对应的测量区域的测量值的差值得到壳料的深度值。

步骤206，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。

测量结果是指壳料的测量数据。具体地，测量结果可以包括壳料整体的宽度、高度、深度等，也可以包括壳料中部分位置的宽度、高度、深度等测量数据。电子设备根据测量区域中截面轮廓可以得到测量区域的平均值、中位值等，将得到的平均值、中位值中的至少一个作为测量区域的测量值。电子设备可以直接根据测量区域的测量值确定壳料的测量结果，也可以根据不同测量区域的测量值确定壳料的测量结果。

本申请实施例中，通过获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果，可以提高壳料的测量效率。

如图3所示，在一个实施例中，提供的壳料测量方法包括步骤302至步骤310，其中：

步骤302，获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓。

步骤304，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域。

步骤306，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。

步骤308，获取壳料的边框对应的各个采样点的测量结果。

壳料的边框根据壳料的结构形状有所不同。例如，当壳料为圆环形壳料时，电子设备可以获取该壳料的圆环边框对应的各个采样点的测量结果；当壳料为长方体壳料时，电子设备可以获取该壳料上、下、左、右中至少一个边框对应的各个采样的测量结果。

步骤310，对壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，得到壳料的边框的测量统计结果。

测量统计结果是指壳料的边框对应的各个采样点的测量数据的统计结果。具体地，电子设备对壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，可以统计各个采样点的测量结果的平均值、方差、标准差、极差等中的至少一种，从而得到壳料边框的测量统计结果。例如，当测量壳料的深度值时，电子设备获取壳料边框各个采样点对应的深度值，对各个采样点的深度值进行统计，从而得到壳料边框的深度平均值、深度极差值、深度值方差等。电子设备可以根据壳料的边框的测量统计结果可以得到该壳料边框的测量数据变化趋势。例如，电子设备可以根据极差确定壳料边框各个采样点测量结果的范围误差，根据方差或标准差确定壳料边框各个采样点测量结果的离散程度等。在一个实施例中，电子设备还可以根据获取的壳料边框各个采样点的测量结果生成对应的图表。例如，电子设备可以根据壳料边框各个采样点的测量结果生成折线图，根据折线图可以确定壳料边框的数据变化趋势。

本申请实施例中，通过获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果，对壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，得到壳料的边框的测量统计结果，可以获得壳料边框多个采样点的测量结果以及边框的测量统计结果，可以提高壳料的测量效率，便于对壳料进行分析。

在一个实施例中，提供的壳料测量方法中根据定点位置获取采样点对应的测量区域的过程，包括：将定点位置按预设偏移量进行偏移，获取定点位置偏移后宽度为预设宽度的区域作为采样点的测量区域。

电子设备可以统计不同截面轮廓中定点位置与测量区域之间的距离值，从而确定预设偏移量，将定点位置按预设偏移量进行偏移。预设宽度可以根据不同测量区域对应的截面轮廓的曲率变化大小来确定。具体地，截面轮廓的曲率变化越大，则该测量区域的预设宽度越小；截面轮廓的曲率变化越小，则该测量区域的预设宽度相对较大。测量区域的高度可以是无限长，也可以根据实际需要进行设定，在此不做限制。

电子设备可以根据预设偏移量将定点位置进行偏移，获取预设宽度的区域作为采样点的测量区域。

如图4所示，在一个实施例中，提供的壳料测量方法中根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果的过程，包括步骤402至步骤404，其中：

步骤402，获取至少两个测量区域中截面轮廓的高度中位值。

具体地，电子设备可以获取测量区域中截面轮廓的各个像素点对应的高度值，根据测量区域中各个像素点对应的高度值确定测量区域中截面轮廓的高度中位值。

步骤404，将至少两个高度中位值的差值作为采样点的测量结果。

高度中位值的差值为对应的两个测量区域的距离。电子设备将至少两个高度中位值的差值作为采样点的测量结果，可以获得该采样点截面轮廓中不同位置之间的高度。例如，当存在A、B、C三个位置对应的测量区域时，电子设备可以获取A和C两个测量区域的高度中位值的差值作为采样点的截面轮廓中A、C两个位置之间的高度,将A和B两个测量区域的高度中位值的差值作为采样点的截面轮廓中A、B两个位置之间的高度、B和C两个测量区域的高度中位值的差值作为采样点的截面轮廓中B、C两个位置之间的高度。

通过对获取至少两个测量区域中截面轮廓的高度中位值，将至少两个高度中位值的差值作为采样点的测量结果，可以提高采样点测量结果的准确性。

在一个实施例中，提供的壳料测量方法中测量结果包括粘胶面宽度、粘胶面与LCD仓的高度、粘胶面与边框顶部的高度。

在点胶工艺中，需要对前盖壳料的粘胶面宽度、粘胶面与LCD仓的高度、粘胶面与边框顶部的高度进行测量，从而使得前盖壳料与设备的边框和LCD仓之间的粘接更加精准。粘胶面宽度是指前盖边框粘胶区域的宽度。边框顶部即为设备边框与前盖同为一侧的区域。LCD仓为设备放置LCD的区域。图5为一个实施例中壳料的边框截面的示意图，如图5所示，该边框截面包括边框520、LCD仓540和前盖560，粘胶面580为需要进行点胶的区域即图5中前盖560与边框520接触的区域，电子设备可以测量粘胶面580的宽度、粘胶面580与LCD仓540的高度、粘胶面580与边框顶部522的高度，从而使得前盖粘接更加精准。

在一个实施例中，提供的壳料测量方法还包括：根据定点位置确定采样的粘胶面宽度。

电子设备通过统计多个截面轮廓中曲率平滑过渡、没有明显噪点的特征点的坐标，确定作为定点位置的至少两个坐标值。电子设备根据至少两个坐标值确定截面轮廓上对应的至少两个定点位置，将至少两个定点位置之间的水平距离作为粘胶面宽度。例如，当电子设备以截面轮廓的左上角为原点，与前盖平行的坐标轴为X轴，与边框平行的坐标轴为Y轴建立坐标轴时，电子设备可以确定作为定点位置的至少两个Y轴坐标值，根据至少两个Y轴坐标值确定截面轮廓上对应的至少两个定点位置，将至少两个定点位置在X轴上差值作为粘胶面宽度。

如图6所示，在一个实施例中，提供的壳料测量方法还包括步骤602至步骤606，其中：

步骤602，根据定点位置确定采样点中粘胶面、LCD仓和边框顶部分别对应的测量区域。

电子设备可以统计不同截面轮廓中定点位置与粘胶面、LCD仓和边框顶部的距离值，确定粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域与定点位置之间的偏移值，根据各个偏移值和定点位置确定不同的测量区域。电子设备还可以根据设定粘胶面、LCD仓和边框分别对应的测量区域的宽度值，具体地，宽度值可以根据不同测量区域对应的截面轮廓的曲率变化大小来确定。例如，边框顶部和粘胶面的曲率变化较大，则边框顶部和粘胶面分别对应的测量区域的宽度较小；LCD仓的曲率变化较小，则对应的测量区域的宽度较大。

电子设备可以根据粘胶面、LCD仓和边框顶部分别对应的宽度值、与定点位置的偏移值和定点位置确定粘胶面、LCD仓和边框顶部分别对应的测量区域。

步骤604，获取粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值。

电子设备可以获取测量区域中截面轮廓的各个像素点对应的高度值，从而获取测量区域中截面轮廓的高度中位值。具体地，电子设备获取粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的各个像素点对应的高度值，从而确定粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域的高度中位值。

步骤606，根据粘胶面和LCD仓分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与LCD仓的高度；根据粘胶面与边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与边框顶部的高度。

具体地，电子设备将粘胶面对应的测量区域的高度中位值与LCD仓对应的测量区域的高度中位值的差值作为粘胶面与LCD的高度，将粘胶面对应的测量区域的高度中位值与边框顶部对应的测量区域的高度中位值的差值作为粘胶面与边框顶部的高度。

图7为一个实施例中截面轮廓的示意图。本实施例中的壳料测量方法，以图7中截面轮廓为例对壳料的测量过程进行描述。

首先，电子设备获取对壳料进行线扫描后得到的采样点对应的截面轮廓，沿上盖的方向为X轴，沿边框底部的方向为Y轴建立坐标系；根据预设坐标值Y＝70、Y＝170，将采样点的截面轮廓中像素点坐标值为Y＝70的A像素点702和截面轮廓中像素点坐标值为Y＝170的B像素点704作为截面轮廓的定点位置。

可选地，电子设备可以获取A像素点702和B像素点704对应的X轴坐标值，将A像素点702和B像素点的X轴坐标值的差值作为粘胶面宽度。

接着，电子设备获取粘胶面、LCD仓和边框顶部分别与定点位置之间的偏移值和对应测量区域的宽度值。电子设备以A像素点702为参考点、获取第一偏移量为-100、第一宽度为60的测量区域作为LCD仓测量区域712，该LCD仓测量区域712为相对于A像素点702向X轴负方向偏移100个像素点，宽度为60的区域。可选地，电子设备以A像素点702为参考点，获取第二偏移量为+10、第二宽度为20的测量区域作为粘胶面测量区域714，该粘胶面测量区域为相对于A像素点向X轴正方向偏移10个像素点，宽度为60的区域；以B像素点704为参考点，获取第三偏移量为+5,、第三宽度为20的测量区域作为边框顶部测量区域716，该边框顶部测量区域716为相对于B像素点向X轴正方向偏移5个像素点，宽度为20的区域。

接着，电子设备获取LCD仓测量区域712中截面轮廓各个像素点对应的高度值即Y轴坐标值，将LCD仓测量区域712的高度中位值作为LCD仓高度值。可选地，电子设备可以将粘胶面测量区域714的高度中位值作为粘胶面高度值，将边框顶部测量区域716的高度中位值作为边框顶部高度值。电子设备可以将LCD仓高度值与粘胶面高度值的差值作为粘胶面与LCD仓的高度；将边框顶部高度值与粘胶面高度值的差值作为粘胶面与边框顶部的高度。电子设备将得到的粘胶面宽度、粘胶面与LCD仓的高度、粘胶面与边框顶部的高度作为壳料中该采样点的测量结果。

在一个实施例中，提供了一种壳料测量方法，实现该方法的具体步骤如下所述：

首先，电子设备获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓。电子设备可以采用激光对壳料中的采样点进行线扫描，使得壳料在该采样点的表面形成由多个点状光斑形成的线状轮廓，该线状轮廓即为该采样点对应的截面轮廓。电子设备对壳料进行线扫描，可以每隔预设距离设定一个采样点，获取壳料中各个采样点对应的截面轮廓。

接着，电子设备确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域。电子设备可以选取截面轮廓中相对稳定的特征点作为截面轮廓的定点位置。测量区域是壳料的不同位置在截面轮廓中对应的区域。例如，当测量壳料的深度值时，测量区域可以是截面轮廓中壳料顶部和壳料底部分别对应的区域，则可以根据壳料顶部和壳料底部分别对应的测量区域的测量值的差值得到壳料的深度值。

可选地，电子设备将定点位置按预设偏移量进行偏移，获取定点位置偏移后宽度为预设宽度的区域作为采样点的测量区域。电子设备可以统计不同截面轮廓中定点位置与测量区域之间的距离值，从而确定预设偏移量，将定点位置按预设偏移量进行偏移。预设宽度可以根据不同测量区域对应的截面轮廓的曲率变化大小来确定。

接着，电子设备根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。测量结果可以包括壳料整体的宽度、高度、深度等，也可以包括壳料中部分位置的宽度、高度、深度等测量数据。电子设备根据测量区域中截面轮廓可以得到测量区域的平均值、中位值等，将得到的平均值、中位值中的至少一个作为测量区域的测量值。

可选地，电子设备获取至少两个测量区域中截面轮廓的高度中位值，将至少两个高度中位值的差值作为采样点的测量结果。电子设备可以获取测量区域中截面轮廓的各个像素点对应的高度值，根据测量区域中各个像素点对应的高度值确定测量区域中截面轮廓的高度中位值，将至少两个高度中位值的差值作为采样点的测量结果。

可选地，测量结果包括粘胶面宽度、粘胶面与LCD仓的高度、粘胶面与边框顶部的高度。在点胶工艺中，需要对前盖壳料的粘胶面宽度、粘胶面与LCD仓的高度、粘胶面与边框顶部的高度进行测量，从而使得前盖壳料与设备的边框和LCD仓之间的粘接更加精准。粘胶面宽度是指前盖边框粘胶区域的宽度。边框顶部即为设备边框与前盖同为一侧的区域。LCD仓为设备放置LCD的区域。

可选地，电子设备根据定点位置确定采样的粘胶面宽度。电子设备通过统计多个截面轮廓中曲率平滑过渡、没有明显噪点的特征点的坐标，确定作为定点位置的至少两个坐标值。电子设备根据至少两个坐标值确定截面轮廓上对应的至少两个定点位置，将至少两个定点位置之间的水平距离作为粘胶面宽度。

可选地，电子设备根据定点位置确定采样点中粘胶面、LCD仓和边框顶部分别对应的测量区域，获取粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值，根据粘胶面和LCD仓分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与LCD仓的高度；根据粘胶面与边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与边框顶部的高度。

可选地，电子设备获取壳料的边框对应的各个采样点的测量结果，对壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，得到壳料的边框的测量统计结果。壳料的边框根据壳料的结构形状有所不同。电子设备对壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，可以统计各个采样点的测量结果的平均值、方差、标准差、极差等中的至少一种，从而得到壳料边框的测量统计结果。

应该理解的是，虽然图2-4、6的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-4、6中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

图8为一个实施例壳料测量装置的结构框图。如图8所示，一种壳料测量装置包括轨迹获取模块820、测试区域确定模块840和结果确定模块860。其中：

轨迹获取模块820，用于获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓。

测试区域确定模块840，用于确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域。

结果确定模块860，用于根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果。

在一个实施例中，结果确定模块860还可以用于获取壳料的边框对应的各个采样点的测量结果，对壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，得到壳料的边框的测量统计结果。

在一个实施例中，测量区域确定模块840还可以用于将定点位置按预设偏移量进行偏移，获取定点位置偏移后宽度为预设宽度的区域作为采样点的测量区域。

在一个实施例中，结果确定模块860还可以用于获取至少两个测量区域中截面轮廓的高度中位值，将至少两个高度中位值的差值作为采样点的测量结果。

在一个实施例中，结果确定模块860还可以用于根据定点位置确定所述采样点的粘胶面宽度。

在一个实施例中，结果确定模块860还可以用于根据定点位置确定采样点中粘胶面、LCD仓和边框顶部分别对应的测量区域，获取粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值，根据粘胶面和LCD仓分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与LCD仓的高度，根据粘胶面与边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与边框顶部的高度。

本申请实施例提供的壳料测量装置，通过获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,轨迹用于记录壳料中各个采样点对应的截面轮廓，确定采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据定点位置获取采样点对应的测量区域，根据测量区域中的截面轮廓得到采样点的测量结果，可以提高壳料的测量效率。

上述壳料测量装置中各个模块的划分仅用于举例说明，在其他实施例中，可将壳料测量装置按照需要划分为不同的模块，以完成上述壳料测量装置的全部或部分功能。

关于壳料测量装置的具体限定可以参见上文中对于壳料测量方法的限定，在此不再赘述。上述壳料测量装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

本申请实施例中提供的壳料测量装置中的各个模块的实现可为计算机程序的形式。该计算机程序可在终端或服务器上运行。该计算机程序构成的程序模块可存储在终端或服务器的存储器上。该计算机程序被处理器执行时，实现本申请实施例中所描述方法的步骤。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质。一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行壳料测量方法的步骤。

一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行壳料测量方法。

本申请实施例还提供了一种电子设备。如图9所示，为了便于说明，仅示出了与本申请实施例相关的部分，具体技术细节未揭示的，请参照本申请实施例方法部分。该电子设备可以为包括手机、平板电脑、电脑、PDA(Personal Digital Assistant，个人数字助理)、POS(Point of Sales，销售终端)、车载电脑、穿戴式设备等任意终端设备，以电子设备为手机为例：

图9为与本申请实施例提供的电子设备相关的手机的部分结构的框图。参考图9，手机包括：射频(Radio Frequency，RF)电路910、存储器920、输入单元930、显示单元940、传感器950、音频电路960、无线保真(wireless fidelity，WiFi)模块970、处理器980、以及电源990等部件。本领域技术人员可以理解，图9所示的手机结构并不构成对手机的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

其中，RF电路910可用于收发信息或通话过程中，信号的接收和发送，可将基站的下行信息接收后，给处理器980处理；也可以将上行的数据发送给基站。通常，RF电路包括但不限于天线、至少一个放大器、收发信机、耦合器、低噪声放大器(Low Noise Amplifier，LNA)、双工器等。此外，RF电路910还可以通过无线通信与网络和其他设备通信。上述无线通信可以使用任一通信标准或协议，包括但不限于全球移动通讯系统(Global System ofMobile communication，GSM)、通用分组无线服务(General Packet Radio Service，GPRS)、码分多址(Code Division Multiple Access，CDMA)、宽带码分多址(Wideband CodeDivision Multiple Access，WCDMA)、长期演进(Long Term Evolution，LTE))、电子邮件、短消息服务(Short Messaging Service，SMS)等。

存储器920可用于存储软件程序以及模块，处理器980通过运行存储在存储器920的软件程序以及模块，从而执行手机的各种功能应用以及数据处理。存储器920可主要包括程序存储区和数据存储区，其中，程序存储区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能的应用程序、图像播放功能的应用程序等)等；数据存储区可存储根据手机的使用所创建的数据(比如音频数据、通讯录等)等。此外，存储器920可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。

输入单元930可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与手机900的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。具体地，输入单元930可包括触控面板931以及其他输入设备932。触控面板931，也可称为触摸屏，可收集用户在其上或附近的触摸操作(比如用户使用手指、触笔等任何适合的物体或附件在触控面板931上或在触控面板931附近的操作)，并根据预先设定的程式驱动相应的连接装置。在一个实施例中，触控面板931可包括触摸检测装置和触摸控制器两个部分。其中，触摸检测装置检测用户的触摸方位，并检测触摸操作带来的信号，将信号传送给触摸控制器；触摸控制器从触摸检测装置上接收触摸信息，并将它转换成触点坐标，再送给处理器980，并能接收处理器980发来的命令并加以执行。此外，可以采用电阻式、电容式、红外线以及表面声波等多种类型实现触控面板931。除了触控面板931，输入单元930还可以包括其他输入设备932。具体地，其他输入设备932可以包括但不限于物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)等中的一种或多种。

显示单元940可用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息以及手机的各种菜单。显示单元940可包括显示面板941。在一个实施例中，可以采用液晶显示器(LiquidCrystal Display，LCD)、有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)等形式来配置显示面板941。在一个实施例中，触控面板931可覆盖显示面板941，当触控面板931检测到在其上或附近的触摸操作后，传送给处理器980以确定触摸事件的类型，随后处理器980根据触摸事件的类型在显示面板941上提供相应的视觉输出。虽然在图9中，触控面板931与显示面板941是作为两个独立的部件来实现手机的输入和输入功能，但是在某些实施例中，可以将触控面板931与显示面板941集成而实现手机的输入和输出功能。

手机900还可包括至少一种传感器950，比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地，光传感器可包括环境光传感器及接近传感器，其中，环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示面板941的亮度，接近传感器可在手机移动到耳边时，关闭显示面板941和/或背光。运动传感器可包括加速度传感器，通过加速度传感器可检测各个方向上加速度的大小，静止时可检测出重力的大小及方向，可用于识别手机姿态的应用(比如横竖屏切换)、振动识别相关功能(比如计步器、敲击)等；此外，手机还可配置陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等其他传感器等。

音频电路960、扬声器961和传声器962可提供用户与手机之间的音频接口。音频电路960可将接收到的音频数据转换后的电信号，传输到扬声器961，由扬声器961转换为声音信号输出；另一方面，传声器962将收集的声音信号转换为电信号，由音频电路960接收后转换为音频数据，再将音频数据输出处理器980处理后，经RF电路910可以发送给另一手机，或者将音频数据输出至存储器920以便后续处理。

WiFi属于短距离无线传输技术，手机通过WiFi模块970可以帮助用户收发电子邮件、浏览网页和访问流式媒体等，它为用户提供了无线的宽带互联网访问。虽然图9示出了WiFi模块970，但是可以理解的是，其并不属于手机900的必须构成，可以根据需要而省略。

处理器980是手机的控制中心，利用各种接口和线路连接整个手机的各个部分，通过运行或执行存储在存储器920内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器920内的数据，执行手机的各种功能和处理数据，从而对手机进行整体监控。在一个实施例中，处理器980可包括一个或多个处理单元。在一个实施例中，处理器980可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器980中。

手机900还包括给各个部件供电的电源990(比如电池)，优选的，电源可以通过电源管理系统与处理器980逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。

在一个实施例中，手机900还可以包括摄像头、蓝牙模块等。

在本申请实施例中，该电子设备所包括的处理器980执行存储在存储器上的计算机程序时实现壳料测量方法的步骤。

本申请所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)，它用作外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDR SDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (14)

1.一种壳料测量方法，其特征在于，包括：

获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置确定所述采样点中粘胶面、LCD仓和边框顶部分别对应的测量区域；

根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果，获取所述粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值；

根据所述粘胶面和LCD仓分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与LCD仓的高度；

根据所述粘胶面与边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与边框顶部的高度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述壳料的边框对应的各个采样点的测量结果；

对所述壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，得到所述壳料的边框的测量统计结果。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述定点位置获取所述采样点对应的测量区域，包括：

将所述定点位置按预设偏移量进行偏移，获取定点位置偏移后宽度为预设宽度的区域作为所述采样点的测量区域。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果，包括：

获取至少两个测量区域中截面轮廓的高度中位值；

将至少两个高度中位值的差值作为所述采样点的测量结果。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量结果包括粘胶面宽度、粘胶面与LCD仓的高度、粘胶面与边框顶部的高度。

6.根据权利要求5所述 的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述定点位置确定所述采样点的粘胶面宽度。

7.一种壳料测量装置，其特征在于，包括：

轨迹获取模块，用于获取对壳料进行线扫描后得到的轨迹,所述轨迹用于记录所述壳料中各个采样点对应的截面轮廓；

测量区域确定模块，用于确定所述采样点对应的截面轮廓的定点位置,根据所述定点位置确定所述采样点中粘胶面、LCD仓和边框顶部分别对应的测量区域；

结果确定模块，用于根据所述测量区域中的截面轮廓得到所述采样点的测量结果，获取所述粘胶面、LCD仓、边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值；

根据所述粘胶面和LCD仓分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与LCD仓的高度；

根据所述粘胶面与边框顶部分别对应的测量区域中截面轮廓的高度中位值确定粘胶面与边框顶部的高度。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述结果确定模块，还用于：获取所述壳料的边框对应的各个采样点的测量结果；对所述壳料的边框对应的各个采样点的测量结果进行统计，得到所述壳料的边框的测量统计结果。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述测量区域确定模块，还用于将所述定点位置按预设偏移量进行偏移，获取定点位置偏移后宽度为预设宽度的区域作为所述采样点的测量区域。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述结果确定模块，还用于获取至少两个测量区域中截面轮廓的高度中位值；将至少两个高度中位值的差值作为所述采样点的测量结果。

11.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述测量结果包括粘胶面宽度、粘胶面与LCD仓的高度、粘胶面与边框顶部的高度。

12.根据权利要求11所述 的装置，其特征在于，

所述结果确定模块，还用于根据所述定点位置确定所述采样点的粘胶面宽度。

13.一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至6中任一项所述的壳料测量方法的步骤。

14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

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