CN109031080A - 一种用于测试二极管和三极管的电路、电路板和检测器 - Google Patents

一种用于测试二极管和三极管的电路、电路板和检测器 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种用于测试二极管和三极管的电路、电路板和检测器,该电路包括电源模块、选择模块、晶体管保护模块、第一555定时器、第二555定时器、显示模块、三极管接口模块和二极管接口模块,第一555定时器和第二555定时器的第四引脚和第八引脚均与电源模块连接,第一555定时器的第二引脚和第六引脚连接后分成两路,一路经过电阻R1与第二555定时器的第二引脚和第六引脚连接,另一路经过电容C与地连接,第一555定时器的第三引脚和第二555定时器的第二引脚、第六引脚连接后作为二极管接口模块的阴极和三极管接口模块的发射极;所述第二555定时器的输出端与选择模块连接。该发明的优点在于:方便测试二极管和三极管的各种状态。

Description

一种用于测试二极管和三极管的电路、电路板和检测器
技术领域
本发明涉及测试电路领域,尤其是一种用于测试二极管和三极管的电路、电路板和检测器。
背景技术
随着我国现代化信息技术的不断发展,电子产品在人们的日常生活中,占有重要的地位和角色,其中半导体器件是电子设备中重要的组成部分。在电子设备不断发展的过程中,半导体元器件起到了重要的作用和意义,与整个电子产品的正常运行,起到了决定性的作用。但是,在电子元器件运行的过程中,一些基本元器件,例如二极管,三极管之类经常会出现各式各样的问题,严重甚至阻碍的实验进程及电子技术的发展。因此,在这样的情况下,对半导体元器件的检测是十分重要的,尤其是二极管、三极管的检查,电子企业应当给予足够的重视。另外在高校的教学实验环节中,例如模拟电子技术实验、数字电子技术实验、电子工程实验等等,就需要大规模使用实验箱,而学生经常会由于操作不当或是不够严谨而致使某些元器件故障,导致实验出不了结果且影响授课效果,而其中二极管,三极管是出现故障频率最高的元器件,此时就尤其需要快速检测故障的仪器。
目前随着电子技术的进步,一些方法已然过时且无用。如今,最经典的办法就是利用万用表对二极管、三极管等进行检测。使用万用表检测时主要利用电阻档进行测试,并且,在对二极管、三极管进行检测的过程中,利用大电压使三极管处于饱和状态,以此可以有效的判断三极管的运行状态是否正常。二极管也是如此。但是,在对二极管、三极管检测的过程中,应当将其电源进行及时的切断,即离线测试,以此避免发生意外的安全事故。此时可以看出万用表测试的弊端。
因此急需一种新的电路或设备来测试二极管和三极管的状态。
发明内容
为了克服上述现有技术,为此,本发明提供一种用于测试二极管和三极管的电路、电路板和检测器。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种用于测试二极管和三极管的电路,包括电源模块、选择模块、晶体管保护模块、第一555定时器、第二555定时器、显示模块、三极管接口模块和二极管接口模块,第一555定时器和第二555定时器的第四引脚和第八引脚均与电源模块连接,第一555定时器的第二引脚和第六引脚连接后分成两路,一路经过电阻R1与第二555定时器的第二引脚和第六引脚连接,另一路经过电容C与地连接,第一555定时器的第三引脚和第二555定时器的第二引脚、第六引脚连接后作为二极管接口模块的阴极和三极管接口模块的发射极;所述第二555定时器的输出端与选择模块连接;
所述选择模块还包括第一选择端口、第二选择端口、第三选择端口、第四选择端口、第五选择端口,所述晶体管保护模块包括第一晶体管保护端口、第二晶体管保护端口和第三晶体管保护端口,所述显示模块包括第一显示端口与第二显示端口;
所述第一选择端口作为三极管接口模块中的基极,第二选择端口与第二555定时器的第三引脚连接,第三选择端口与第二晶体管保护端口连接,第四选择端口与第三晶体管保护端口和显示模块的第一显示端口连接,第五选择端口与电源模块连接。
所述第一晶体管保护端口作为三极管接口模块的集电极,第二晶体管保护端口与第三选择端口连接,第三晶体管保护端口与第一显示端口连接,第二显示端口与第一555定时器的第三引脚连接。
优化的,所述晶体管保护模块包括二极管VD1、二极管VD2、二极管VD3、二极管VD4,所述二极管VD1和二极管VD3反向并联连接,二极管VD2和二极管VD4反向并联连接,所述二极管VD1的阳极作为第二晶体管保护端口且与二极管VD2的阴极连接,二极管VD1的阴极作为第一晶体管保护端口,二极管VD2的阳极作为第三晶体管保护端口。
优化的,所述显示模块包括显示灯LED1和显示灯LED2,所述显示灯LED1和显示灯LED2反向并联连接,所述显示灯LED1的阴极作为第一显示端口,阳极作为第二显示端口。
优化的,所述选择模块包括电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、单刀双掷开关SB2、单刀双掷开关SB3,单刀双掷开关SB2和单刀双掷开关SB3均包括控制端、输出端D、输出端BG,单刀双掷开关SB2和单刀双掷开关SB3的控制端同时连接输出端D或同时连接输出端BG;当控制端与输出端BG导通时,用于检测三极管接口模块上的三极管,当控制端与输出端D导通时,用于检测二极管接口模块上的二极管;单刀双掷开关SB3的控制端经过电阻R2和单刀双掷开关SB2的控制端连接后作为第二选择端口,单刀双掷开关SB3的输出端BG作为第一选择端口,输出端D连接电阻R4后作为第五选择端口;单刀双掷开关SB2的输出端作为BG经过电阻R5作为第四选择端口,输出端D经过电阻R3作为第三选择端口。
优化的,所述电源模块包括提供9V电压的电池、开关SB1,9V电池的正极经过开关SB1作为电源模块的输出端,9V电压的电池的负极与地连接。
一种包括上述用于测试二极管和三极管的电路的电路板。
一种包括上述电路板的检测器,还包括壳体、两个插孔的第一插排端子、三个插孔的第二插排端子,所述壳体上设置第一插排端子、第二插排端子穿过的槽,安装显示灯LED1和LED2的安装孔,所述电路板设置在壳体内,所述第一插座和第二插座上的端子分别与对应的二极管接口模块和三极管接口模块上各引脚对应连接,所述第一插座和第二插座的另一端。
555定时器是一种数字-模拟混合集成电路,多谐振荡器能用它轻易构成。由于使用灵活、方便,所以555定时器在许多领域中都得到了很好的应用。其内部包括三个5K欧姆的等值串联分压电阻(555定时器的名称也由此而得),两个电压比较器,一个RS触发器,一个放电管T以及功率输出级。它的内部结构图如图3所示。它提供了两个基准电压和2VCC/3和VCC/3。555定时器的功能主要由其中的两个电压比较器决定。两个电压比较器的输出电压控制放电管和RS触发器的状态。当在电源与地之间加上电压,而第5引脚悬空时,此时电压比较器C1的同相输入端的电压为2VCC/3,而C2的反相输入端的电压为VCC/3。
本发明的优点在于:
本发明中第一555定时器和第二555定时器用作多谐振荡器,并设置了单刀双掷开关SB2和单刀双掷开关SB3,闭合不同的端头就能测试不同类型的半导体器件,这是此电路的方便之处。
三极管接口模块和二极管接口模块分别对应连接三极管的三个端及二极管的阴极和阳极。
该电路的工作过程如下:
开关SB1闭合后,电源模块的电压输入至第一555定时器,由于开始时刻电容C两端压降很低,第一555定时器的触发端(第2引脚)和阈值端(第6引脚)的电压都小于Vcc/3,第3引脚输出为高电平,即5V,此电压通过电阻R1对电容C进行充电,另一方面为第二555定时器提供输入触发电平和阈值电压,第二555定时器的第2引脚和第6引脚的输入电压均为5v。第二555定时器的第4引脚和第八引脚均接通直流电源5V电压后,由于第2引脚触发端和第6引脚阈值端接入的信号直流电压均为5v,均大于2Vcc/3,所以第二555定时器的输出端第3引脚电压为低电平0V。将上述不同时刻第二555定时器的输出端第3引脚电压值在分别送至单刀双掷开关SB2和单刀双掷开关SB3处,在此过程中,因为三极管模块的集电极和二极管的阴极经过电阻R1与电容C相连。随着电容C的充电,三极管模块的集电极和二极管的阴极处电压降低,与三极管的基极形成电压差,即通路,三极管模块的发射极和二极管的阳极分别对应的与三极管模块的集电极和二极管的阴极形成通路,则能测试接入的三极管和二极管。而随着电容C放电使得第一555定时器的触发端和阈值端的输入电压降低,则输出端电压随之升高,提供第二555定时器触发电平供其翻转,并送至三极管的基极、集电极、发射极端,而三极管模块的集电极和二极管的阴极低于电容C电压时,电容又开始放电,使三极管模块的集电极和二极管的阴极电压增高,此循环则产生极性不断翻转的电压差,通至晶体管保护模块形成的电路中,致使显示模块表现不同状态,来测试二极管和三极管的好坏。
附图说明
图1为本发明一种用于测试二极管和三极管的电路的模块连接图。
图2为本发明一种用于测试二极管和三极管的电路图。
图3为555定时器内部原理图。
图4为检测器的外部结构图。
图中标注符号的含义如下:
1-第一555定时器 2-第二555定时器
3-选择模块 31-第一选择端口 32-第二选择端口 33-第三选择端口
34-第四选择端口 35-第五选择端口
4-晶体管保护模块 41-第一晶体管保护端口 42-第二晶体管保护端口
43-第三晶体管保护端口
5-显示模块 51-第一显示端口 52-第二显示端口
6-三极管接口模块 7-二极管接口模块 8-电源模块
9-壳体 10-槽 11-安装孔
具体实施方式
实施例1
如图1所示,一种用于测试二极管和三极管的电路,包括电源模块8、选择模块3、晶体管保护模块4、第一555定时器1(在图2中为555A)、第二555定时器2(在图2中为555B)、显示模块5、三极管接口模块6和二极管接口模块7。第一555定时器1和第二555定时器2的第四引脚和第八引脚均与电源模块8连接,第一555定时器1的第二引脚和第六引脚连接后分成两路,一路经过电阻R1与第二555定时器2的第二引脚和第六引脚连接,另一路经过电容C与地连接,第一555定时器1的第三引脚和第二555定时器2的第二引脚、第六引脚连接后作为二极管接口模块7的阴极和三极管接口模块6的发射极;所述第二555定时器2的输出端与选择模块3连接。
所述选择模块3还包括第一选择端口31、第二选择端口32、第三选择端口33、第四选择端口34、第五选择端口35,所述晶体管保护模块4包括第一晶体管保护端口41、第二晶体管保护端口42和第三晶体管保护端口43,所述显示模块5包括第一显示端口51与第二显示端口52。
所述第一选择端口31作为三极管接口模块6中的基极,第二选择端口32与第二555定时器2的第三引脚连接,第三选择端口33与第二晶体管保护端口42连接,第四选择端口34与第三晶体管保护端口43和显示模块5的第一显示端口51连接,第五选择端口35与电源模块8连接。
所述第一晶体管保护端口41作为三极管接口模块6的集电极,第二晶体管保护端口42与第三选择端口33连接,第三晶体管保护端口43与第一显示端口51连接,第二显示端口52与第一555定时器1的第三引脚连接。
如图2所示,对各模块进行结构描述。
晶体管保护模块4
所述晶体管保护模块4包括二极管VD1、二极管VD2、二极管VD3、二极管VD4,所述二极管VD1和二极管VD3反向并联连接,二极管VD2和二极管VD4反向并联连接,所述二极管VD1的阳极作为第二晶体管保护端口42且与二极管VD2的阴极连接,二极管VD1的阴极作为第一晶体管保护端口41,二极管VD2的阳极作为第三晶体管保护端口43。该模块起到保护待测的二极管和三极管的作用。
显示模块5
所述显示模块5包括显示灯LED1和显示灯LED2,所述显示灯LED1和显示灯LED2反向并联连接,所述显示灯LED1的阴极作为第一显示端口51,阳极作为第二显示端口52。
选择模块3
所述选择模块3包括电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、单刀双掷开关SB2、单刀双掷开关SB3,单刀双掷开关SB2和单刀双掷开关SB3均包括控制端、输出端D、输出端BG。单刀双掷开关SB2和单刀双掷开关SB3状态保持一致,控制端同时连接输出端D或同时连接输出端BG。当控制端与输出端BG导通时,用于检测三极管接口模块6上的三极管,当控制端与输出端D导通时,用于检测二极管接口模块7上的二极管。单刀双掷开关SB3的控制端经过电阻R2和单刀双掷开关SB2的控制端连接后作为第二选择端口32,单刀双掷开关SB3的输出端BG作为第一选择端口31,输出端D连接电阻R4后作为第五选择端口35;单刀双掷开关SB2的输出端作为BG经过电阻R5作为第四选择端口34,输出端D经过电阻R3作为第三选择端口33。
电源模块8
所述电源模块8包括提供9V电压的电池、开关SB1,9V电池的正极经过开关SB1作为电源模块8的输出端,9V电压的电池的负极与地连接。
按照上述电路的连接方式,经过多次测试,列出二极管、三极管不同情况时LED灯状态,具体情况见表格1所示。
表1
实施例2
一种包括实施例1中电路的电路板,是将实施例1中的电路通过布线焊接的方式固化在电路板上。
实施例3
如图4所示,一种包括实施例2的电路板的检测器,还包括壳体9、两个插孔的第一插排端子、三个插孔的第二插排端子,所述壳体9上设置第一插排端子、第二插排端子穿过的槽10,安装显示灯LED1和LED2的安装孔11,所述电路板设置在壳体9内,所述第一插座和第二插座上的端子分别与对应的二极管接口模块7和三极管接口模块6上各引脚对应连接,所述第一插座和第二插座的另一端用于插入对应的待检测的二极管和三极管。
以上仅为本发明创造的较佳实施例而已,并不用以限制本发明创造,凡在本发明创造的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明创造的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种用于测试二极管和三极管的电路,其特征在于,包括电源模块(8)、选择模块(3)、晶体管保护模块(4)、第一555定时器(1)、第二555定时器(2)、显示模块(5)、三极管接口模块(6)和二极管接口模块(7),第一555定时器(1)和第二555定时器(2)的第四引脚和第八引脚均与电源模块(8)连接,第一555定时器(1)的第二引脚和第六引脚连接后分成两路,一路经过电阻R1与第二555定时器(2)的第二引脚和第六引脚连接,另一路经过电容C与地连接,第一555定时器(1)的第三引脚和第二555定时器(2)的第二引脚、第六引脚连接后作为二极管接口模块(7)的阴极和三极管接口模块(6)的发射极;所述第二555定时器(2)的输出端与选择模块(3)连接;
所述选择模块(3)还包括第一选择端口(31)、第二选择端口(32)、第三选择端口(33)、第四选择端口(34)、第五选择端口(35),所述晶体管保护模块(4)包括第一晶体管保护端口(41)、第二晶体管保护端口(42)和第三晶体管保护端口(43),所述显示模块(5)包括第一显示端口(51)与第二显示端口(52);
所述第一选择端口(31)作为三极管接口模块(6)中的基极,第二选择端口(32)与第二555定时器(2)的第三引脚连接,第三选择端口(33)与第二晶体管保护端口(42)连接,第四选择端口(34)与第三晶体管保护端口(43)和显示模块(5)的第一显示端口(51)连接,第五选择端口(35)与电源模块(8)连接;
所述第一晶体管保护端口(41)作为三极管接口模块(6)的集电极,第二晶体管保护端口(42)与第三选择端口(33)连接,第三晶体管保护端口(43)与第一显示端口(51)连接,第二显示端口(52)与第一555定时器(1)的第三引脚连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试二极管和三极管的电路,其特征在于,所述晶体管保护模块(4)包括二极管VD1、二极管VD2、二极管VD3、二极管VD4,所述二极管VD1和二极管VD3反向并联连接,二极管VD2和二极管VD4反向并联连接,所述二极管VD1的阳极作为第二晶体管保护端口(42)且与二极管VD2的阴极连接,二极管VD1的阴极作为第一晶体管保护端口(41),二极管VD2的阳极作为第三晶体管保护端口(43)。
3.根据权利要求1所述的一种用于测试二极管和三极管的电路,其特征在于,所述显示模块(5)包括显示灯LED1和显示灯LED2,所述显示灯LED1和显示灯LED2反向并联连接,所述显示灯LED1的阴极作为第一显示端口(51),阳极作为第二显示端口(52)。
4.根据权利要求1所述的一种用于测试二极管和三极管的电路,其特征在于,所述选择模块(3)包括电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、单刀双掷开关SB2、单刀双掷开关SB3,单刀双掷开关SB2和单刀双掷开关SB3均包括控制端、输出端D、输出端BG,单刀双掷开关SB2和单刀双掷开关SB3的控制端同时连接输出端D或同时连接输出端BG;当控制端与输出端BG导通时,用于检测三极管接口模块(6)上的三极管,当控制端与输出端D导通时,用于检测二极管接口模块(7)上的二极管;单刀双掷开关SB3的控制端经过电阻R2和单刀双掷开关SB2的控制端连接后作为第二选择端口(32),单刀双掷开关SB3的输出端BG作为第一选择端口(31),输出端D连接电阻R4后作为第五选择端口(35);单刀双掷开关SB2的输出端作为BG经过电阻R5作为第四选择端口(34),输出端D经过电阻R3作为第三选择端口(33)。
5.根据权利要求1所述的一种用于测试二极管和三极管的电路,其特征在于,所述电源模块(8)包括提供9V电压的电池、开关SB1,9V电池的正极经过开关SB1作为电源模块(8)的输出端,9V电压的电池的负极与地连接。
6.一种包括权利要求1-5任意一项所述的用于测试二极管和三极管的电路的电路板。
7.一种包括权利要求6所述的电路板的检测器,其特征在于,还包括壳体(9)、两个插孔的第一插排端子、三个插孔的第二插排端子,所述壳体(9)上设置第一插排端子、第二插排端子穿过的槽(10),安装显示灯LED1和LED2的安装孔(11),所述电路板设置在壳体(9)内,所述第一插座和第二插座上的端子分别与对应的二极管接口模块(7)和三极管接口模块(6)上各引脚对应连接,所述第一插座和第二插座的另一端。
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