CN109030886B - 一种精密测试探针用铍青铜底柱头 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 35
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 17
- 239000010974 bronze Substances 0.000 title claims abstract description 17
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 17
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 16
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 14
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 15
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 150000001572 beryllium Chemical class 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
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- G01R1/06755—Material aspects
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Abstract
本发明公开了一种精密测试探针用铍青铜底柱头,包括绝缘外壳、连接头和限位板,所述绝缘外壳顶端固定连接有连接头,所述绝缘外壳内部固定设有底柱头,所述底柱头底端活动连接有连接杆,所述连接杆外围固定设有伸缩弹簧,所述伸缩弹簧顶端固定连接有绝缘板,所述绝缘板顶端固定连接有一号连接片,所述连接杆顶端固定连接有二号连接片,所述二号连接片外围固定连接有绝缘套,所述二号连接片顶端固定连接有导电杆,所述绝缘套一侧固定连接有滑动杆,所述绝缘套底端固定连接有固定杆。本发明设计新颖,结构简单,具有良好的导电性和耐磨性,使其不易发生损坏,大大的提升了测试探针的准确度和使用寿命,较为实用适合被广泛推广和使用。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试探针,特别涉及一种精密测试探针用铍青铜底柱头。
背景技术
近年来,大数据越来越普及,芯片作为数据传输处理的载体,其性能往往影响到整个电子设备的执行能力,为确保芯片的正常运行,在芯片安装之前必须采用测试探针对芯片进行检测。
而现有的检测探针不具有良好的导电性能,从而使测试探针在工作时较为容易出现误差,严重的影响到测试探针准确度,同时不具有良好的保护作用,使其较为容易出现损坏,已经满足不了人们的需求,为此,我们提出一种精密测试探针用铍青铜底柱头。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种精密测试探针用铍青铜底柱头,设计新颖,结构简单,具有良好的导电性和耐磨性,使其不易发生损坏,大大的提升了测试探针的准确度和使用寿命,较为实用适合被广泛推广和使用,可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的,本发明采取的技术方案为:
一种精密测试探针用铍青铜底柱头,包括绝缘外壳、连接头和限位板,所述绝缘外壳顶端固定连接有连接头,所述绝缘外壳内部固定设有底柱头,所述底柱头底端活动连接有连接杆,所述连接杆外围固定设有伸缩弹簧,所述伸缩弹簧顶端固定连接有绝缘板,所述绝缘板顶端固定连接有一号连接片,所述连接杆顶端固定连接有二号连接片,所述二号连接片外围固定连接有绝缘套,所述二号连接片顶端固定连接有导电杆,所述绝缘套一侧固定连接有滑动杆,所述绝缘套底端固定连接有固定杆。
进一步地,所述绝缘套顶端固定设有限位板,所述连接头内部固定连接有连接件,所述连接头内侧壁固定设有内螺纹。
进一步地,所述绝缘外壳内侧壁固定设有滑动槽,所述滑动槽底端固定设有固定孔。
进一步地,所述绝缘套通过滑动杆和滑动槽与绝缘外壳内侧壁滑动连接,所述绝缘套通过固定杆和固定孔与绝缘外壳内侧壁滑动连接,所述绝缘板和一号连接片滑动连接,所述限位板与绝缘外壳内侧壁固定连接。
进一步地,所述二号连接片通过导电杆与一号连接片电性连接,所述一号连接片通过导线与连接件电性连接,所述底柱头为铍青铜制作的底柱头。
与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:
1.通过推动滑动杆,可以使绝缘套带动固定杆向下移动,同时绝缘板会对伸缩弹簧进行压缩,使底柱头显露在绝缘外壳外侧,以便于操作人员对测试探针进行使用。
2.通过按动滑动杆使其推动固定杆脱离固定孔内部,在固定杆脱离固定孔内部后,伸缩弹簧会推动绝缘板向上移动,使其带动连接杆进行复位,从而可以使底柱头进入绝缘外壳内部,以便于对底柱头进行良好的保护,防止底柱头遭到破坏,避免影响到操作人员对测试谭针的使用。
3.通过铍青铜制作底柱头,具有良好的耐腐性、导热性和导电性,同时还具有很高的硬度和耐磨性,使自身不易发生损坏,同时可以提升测试谭针对芯片的测试准确度,较为实用。
附图说明
图1为本发明一种精密测试探针用铍青铜底柱头的整体结构示意图。
图2为本发明一种精密测试探针用铍青铜底柱头的绝缘外壳内部结构示意图。
图3为本发明一种精密测试探针用铍青铜底柱头的滑动槽结构示意图。
图中:1、绝缘外壳;2、连接头;3、底柱头;4、连接杆;5、伸缩弹簧;6、绝缘板;7、一号连接片;8、二号连接片;9、绝缘套;10、导电杆;11、滑动杆;12、固定杆;13、限位板;14、连接件;15、内螺纹;16、滑动槽;17、固定孔。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。
如图1-3所示,一种精密测试探针用铍青铜底柱头,包括绝缘外壳1、连接头2和限位板13,所述绝缘外壳1顶端固定连接有连接头2,所述绝缘外壳1内部固定设有底柱头3,所述底柱头3底端活动连接有连接杆4,所述连接杆4外围固定设有伸缩弹簧5,所述伸缩弹簧5顶端固定连接有绝缘板6,所述绝缘板6顶端固定连接有一号连接片7,所述连接杆4顶端固定连接有二号连接片8,所述二号连接片8外围固定连接有绝缘套9,所述二号连接片8顶端固定连接有导电杆10,所述绝缘套9一侧固定连接有滑动杆11,所述绝缘套9底端固定连接有固定杆12。
本实施例中如图2所示,通过底柱头3具有良好的耐腐性、导热性和导电性,同时还具有很高的硬度和耐磨性,使自身不易发生损坏。
其中,所述绝缘套9顶端固定设有限位板13,所述连接头2内部固定连接有连接件14,所述连接头2内侧壁固定设有内螺纹15。
本实施例中如图1所示,通过连接头2和内螺纹15的结合,便于操作人员将测试探针对外部装置进行固定。
其中,所述绝缘外壳1内侧壁固定设有滑动槽16,所述滑动槽16底端固定设有固定孔17。
本实施例中如图3所示,通过滑动槽16便于滑动杆11在绝缘外壳1内部进行滑动。
其中,所述绝缘套9通过滑动杆11和滑动槽16与绝缘外壳1内侧壁滑动连接,所述绝缘套9通过固定杆12和固定孔17与绝缘外壳1内侧壁滑动连接,所述绝缘板6和一号连接片7滑动连接,所述限位板13与绝缘外壳1内侧壁固定连接。
本实施例中如图2所示,通过推动滑动杆11,可以使绝缘套9带动固定杆12向下移动。
其中,所述二号连接片8通过导电杆10与一号连接片7电性连接,所述一号连接片7通过导线与连接件14电性连接,所述底柱头3为铍青铜制作的底柱头。
本实施例中如图2所示,通过一号连接片7和连接件14的结合,从而可以使测试探针与外部装置进行连接。
需要说明的是,本发明为一种精密测试探针用铍青铜底柱头,工作时,本发明1、绝缘外壳;2、连接头;3、底柱头;4、连接杆;5、伸缩弹簧;6、绝缘板;7、一号连接片;8、二号连接片;9、绝缘套;10、导电杆;11、滑动杆;12、固定杆;13、限位板;14、连接件;15、内螺纹;16、滑动槽;17、固定孔,部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件,其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知,本发明操作人员通过推动滑动杆11,从而可以使绝缘套9带动固定杆12向下移动,同时绝缘板6会对伸缩弹簧5进行压缩,使底柱头3显露在绝缘外壳1外侧,当固定杆12移动到一定位置时,会与固定孔17相结合,从而可以将连接杆4进行固定,以便于操作人员对测试探针进行使用,使其对芯片进行检测,其中当连接杆4进行固定后,导电杆10会与一号连接片7进行接触,使其进行通电,且一号连接片7通过导线与连接件14电性连接,从而可以使测试探针与外部装置进行结合,以便于使测试探针进行正常运转,其中,通过连接头2和内螺纹15的结合,便于操作人员将测试探针对外部装置进行固定,从而便于操作人员对测试探针进行操作,较为实用,当操作人员使用完毕后,可以通过按动滑动杆11使其推动固定杆12脱离固定孔17内部,在固定杆12脱离固定孔17内部后,伸缩弹簧5会推动绝缘板6向上移动,使其带动连接杆4进行复位,从而可以使底柱头3进入绝缘外壳1内部,以便于对底柱头3进行良好的保护,防止底柱头3遭到破坏,避免影响到操作人员对测试谭针的使用,其中底柱头3为铍青铜制作,具有良好的耐腐性、导热性和导电性,同时还具有很高的硬度和耐磨性,使自身不易发生损坏,同时可以提升测试谭针对芯片的测试准确度,较为实用。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (1)
1.一种精密测试探针用铍青铜底柱头,包括绝缘外壳(1)、连接头(2)和限位板(13),所述绝缘外壳(1)顶端固定连接有连接头(2),其特征在于:所述绝缘外壳(1)内部固定设有底柱头(3),所述底柱头(3)底端活动连接有连接杆(4),所述连接杆(4)外围固定设有伸缩弹簧(5),所述伸缩弹簧(5)顶端固定连接有绝缘板(6),所述绝缘板(6)顶端固定连接有一号连接片(7),所述连接杆(4)顶端固定连接有二号连接片(8),所述二号连接片(8)外围固定连接有绝缘套(9),所述二号连接片(8)顶端固定连接有导电杆(10),所述绝缘套(9)一侧固定连接有滑动杆(11),所述绝缘套(9)底端固定连接有固定杆(12);
所述绝缘套(9)顶端固定设有限位板(13),所述连接头(2)内部固定连接有连接件(14),所述连接头(2)内侧壁固定设有内螺纹(15);
所述绝缘外壳(1)内侧壁固定设有滑动槽(16),所述滑动槽(16)底端固定设有固定孔(17);
所述绝缘套(9)通过滑动杆(11)和滑动槽(16)与绝缘外壳(1)内侧壁滑动连接,所述绝缘套(9)通过固定杆(12)和固定孔(17)与绝缘外壳(1)内侧壁滑动连接,所述绝缘板(6)和一号连接片(7)滑动连接,所述限位板(13)与绝缘外壳(1)内侧壁固定连接;
所述二号连接片(8)通过导电杆(10)与一号连接片(7)电性连接,所述一号连接片(7)通过导线与连接件(14)电性连接,所述底柱头(3)为铍青铜制作的底柱头。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810908802.0A CN109030886B (zh) | 2018-08-10 | 2018-08-10 | 一种精密测试探针用铍青铜底柱头 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810908802.0A CN109030886B (zh) | 2018-08-10 | 2018-08-10 | 一种精密测试探针用铍青铜底柱头 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN109030886A CN109030886A (zh) | 2018-12-18 |
CN109030886B true CN109030886B (zh) | 2024-04-12 |
Family
ID=64633599
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810908802.0A Active CN109030886B (zh) | 2018-08-10 | 2018-08-10 | 一种精密测试探针用铍青铜底柱头 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN109030886B (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113063974B (zh) * | 2021-03-17 | 2021-10-08 | 浙江金连接科技有限公司 | 一种半导体测试探针用带有法兰止位的探针套筒 |
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CN208568861U (zh) * | 2018-08-10 | 2019-03-01 | 浙江金连接科技有限公司 | 一种精密测试探针用铍青铜底柱头 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP5686541B2 (ja) * | 2009-09-03 | 2015-03-18 | 富士通コンポーネント株式会社 | プローブ |
US20120098561A1 (en) * | 2010-10-21 | 2012-04-26 | Brymen Technology Corporation | Test probe with dual switching probe tip |
-
2018
- 2018-08-10 CN CN201810908802.0A patent/CN109030886B/zh active Active
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CN205786727U (zh) * | 2016-05-24 | 2016-12-07 | 南京协辰电子科技有限公司 | 一种射频探针 |
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CN208568861U (zh) * | 2018-08-10 | 2019-03-01 | 浙江金连接科技有限公司 | 一种精密测试探针用铍青铜底柱头 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN109030886A (zh) | 2018-12-18 |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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CB02 | Change of applicant information |
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GR01 | Patent grant |