CN109030435A - 一种新型原子荧光光度计 - Google Patents

一种新型原子荧光光度计 Download PDF

Info

Publication number
CN109030435A
CN109030435A CN201810658868.9A CN201810658868A CN109030435A CN 109030435 A CN109030435 A CN 109030435A CN 201810658868 A CN201810658868 A CN 201810658868A CN 109030435 A CN109030435 A CN 109030435A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sampling
fluophotometer
new type
setting
fluting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810658868.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109030435B (zh
Inventor
周玲慧
廖桂陶
冯琴琴
倪晓芳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Huzhou Zhongzhong Inspection Research Institute Co Ltd
Original Assignee
Huzhou Zhongzhong Inspection Research Institute Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huzhou Zhongzhong Inspection Research Institute Co Ltd filed Critical Huzhou Zhongzhong Inspection Research Institute Co Ltd
Priority to CN201810658868.9A priority Critical patent/CN109030435B/zh
Publication of CN109030435A publication Critical patent/CN109030435A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109030435B publication Critical patent/CN109030435B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/6402Atomic fluorescence; Laser induced fluorescence
    • G01N21/6404Atomic fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N2021/0106General arrangement of respective parts
    • G01N2021/0112Apparatus in one mechanical, optical or electronic block

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

本发明属于光度计技术领域,尤其涉及一种新型原子荧光光度计,包括原子荧光光度计主体,设置在所述原子荧光光度计主体上的取样开槽,以及设置在所述取样开槽上的样针,还包括设置在所述取样开槽上的限位杆,套接设置在所述限位杆上且位于所述样针下方位置处的样品架,设置在所述样品架下表面上的永磁铁片,以及设置在所述取样开槽上并通过通电后电生磁方式以用于向上排斥顶起所述样品架进而完成所述样针伸入取样操作的磁力顶起单元。本发明具有取样结构简单有效,取样操作方便快捷、灵活高效,以及光度计使用效果好的优点。

Description

一种新型原子荧光光度计
技术领域
本发明属于光度计技术领域,尤其涉及一种新型原子荧光光度计。
背景技术
原子荧光光度计,利用硼氢化钾或硼氢化钠作为还原剂,将样品溶液中的待分析元素还原为挥发性共价气态氢化物(或原子蒸汽),然后借助载气将其导入原子化器,在氩-氢火焰中原子化而形成基态原子,而基态原子吸收光源的能量变成激发态,激发态原子在去活化过程中将吸收的能量以荧光的形式释放出来,此荧光信号的强弱与样品中待测元素的含量成线性关系,因此通过测量荧光强度就可以确定样品中被测元素的含量。原子荧光光度计与原子吸收分光光度计略有不同,后者根据物质基态原子蒸汽对特征辐射吸收的作用来进行金属元素分析,两者在元素含量分析过程中可以相互配合,补充使用。
现有的原子荧光光度计一般包括光路系统、原子化器以及分析系统三部分,其中分析系统从样品架和样针开始,还包括后续的气液处理结构,其中样品架在放置样品管后需要样针伸入取样,存在操作繁复的问题,所以市场上急需一款方便取样的原子荧光光度计。
专利公告号为CN206248549U,公告日为2017.06.13的中国实用新型专利公开了一种原子荧光光度计,包括机架、样品架、还原剂瓶、对比样槽、废液瓶、混合室和气液分离室,所述样品架、还原剂瓶和对比样槽与混合室间分别通过三根软管连接,所述气液分离室与废液瓶间连接有软管,所述机架上设置有两输液装置,所述输液装置均包括转动件、保持件和限位件。
但是该实用新型专利中的原子荧光光度计存在取样操作不方便的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种新型原子荧光光度计,其能通过在原子荧光光度计主体上设置样针、限位杆、样品架、永磁铁片以及磁力顶起单元的方式,达到原子荧光光度计有效取样的目的。本发明具有取样结构简单有效,取样操作方便快捷、灵活高效,以及光度计使用效果好的优点。
本发明解决上述问题采用的技术方案是:一种新型原子荧光光度计,包括原子荧光光度计主体,设置在所述原子荧光光度计主体上的取样开槽,以及设置在所述取样开槽上的样针,还包括设置在所述取样开槽上的限位杆,套接设置在所述限位杆上且位于所述样针下方位置处的样品架,设置在所述样品架下表面上的永磁铁片,以及设置在所述取样开槽上并通过通电后电生磁方式以用于向上排斥顶起所述样品架进而完成所述样针伸入取样操作的磁力顶起单元。
进一步优选的技术方案在于:所述限位杆上设有支撑板,所述样品架包括设置在所述支撑板上的架体底板,设置在所述架体底板上的安装柱,设置在所述安装柱上的上板,以及设置在所述架体底板和所述上板上的样品管槽孔,所述永磁铁片为环状,设置在所述架体底板下表面上。
进一步优选的技术方案在于:所述磁力顶起单元包括设置在所述取样开槽上的电磁铁部,用于向所述电磁铁部供电的直流干电池,以及用于控制所述电磁铁部电路通断的电力控制部,所述电磁铁部、直流干电池以及电力控制部通过连接导线串联。
进一步优选的技术方案在于:所述电磁铁部的数量为5-8个,按均匀圆周排列方式设置在所述取样开槽上,所述电磁铁部之间相互串联。
进一步优选的技术方案在于:所述电磁铁部包括粘接设置在所述取样开槽上的安装芯体,设置在所述安装芯体外环面上的螺旋槽,以及嵌入绕制在所述螺旋槽上的螺线圈。
进一步优选的技术方案在于:所述电力控制部包括设置在所述取样开槽上的安装罩体,螺接设置在所述安装罩体上的旋转控制柱,设置在所述旋转控制柱上的调节导电段,套接设置在所述调节导电段上的接触导电段,以及设置在所述取样开槽上的导电片,所述调节导电段以及导电片分别与所述电磁铁部和所述直流干电池进行导线连接。
进一步优选的技术方案在于:所述调节导电段为套接设置在所述旋转控制柱外环面上的导电套筒。
进一步优选的技术方案在于:所述接触导电段为筒状导电结构,内衬设置在固定套筒内环面上,所述调节导电段下端设有用于限位固定所述固定套筒的环状凸起,所述固定套筒上端设有用于限位卡合所述环状凸起的套筒内凸起环。
进一步优选的技术方案在于:所述接触导电段下表面上设有用于增大与所述导电片接触面积的环状导电凸起。
进一步优选的技术方案在于:所述调节导电段外环面上设有连接螺纹,所述安装罩体上设有导线穿孔。
本发明通过在原子荧光光度计主体上设置样针、限位杆、样品架、永磁铁片以及磁力顶起单元的方式,达到原子荧光光度计有效取样的目的。本发明具有取样结构简单有效,取样操作方便快捷、灵活高效,以及光度计使用效果好的优点。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图2为本发明中样品架的半剖示意图。
图3为本发明中磁力顶起单元的位置示意图。
图4为本发明中电力控制部的位置结构示意图。
图5为本发明中调节导电段以及接触导电段的位置结构示意图。
图6为本发明中螺线圈的绕制示意图。
具体实施方式
以下所述仅为本发明的较佳实施例,并非对本发明的范围进行限定。
实施例:如附图1、2、3、4、5以及附图6所示,一种新型原子荧光光度计,包括原子荧光光度计主体1,设置在所述原子荧光光度计主体1上的取样开槽2,以及设置在所述取样开槽2上的样针3,还包括设置在所述取样开槽2上的限位杆4,套接设置在所述限位杆4上且位于所述样针3下方位置处的样品架5,设置在所述样品架5下表面上的永磁铁片6,以及设置在所述取样开槽2上并通过通电后电生磁方式以用于向上排斥顶起所述样品架5进而完成所述样针3伸入取样操作的磁力顶起单元7。
现有技术,所述样针3的取样操作为伸入样品管进行取样,存在操作繁复的问题,而在本实施例中,所述样针3固定不动,所述样品管对齐所述样针3后通过所述磁力顶起单元7处的通电操作,使得其与所述样品架5之间形成排斥磁场,所述样品架5连带所述样品管上升,所述样针3自然伸入到所述样品管内,进行有效操作,保证所述原子荧光光度计取样操作的方便灵活性。
另一方面,所述样品架5自身具有多个样品管插口,即所述样针3与所述样品架5在伸入取样前需要进行水平向位置调节,使得所述样针3与样品竖直向对齐,然后在取样时就无需进行水平向位置调节了,进一步保证了取样操作的快捷性。
所述限位杆4上设有支撑板8,所述样品架5包括设置在所述支撑板8上的架体底板501,设置在所述架体底板501上的安装柱502,设置在所述安装柱502上的上板503,以及设置在所述架体底板501和所述上板503上的样品管槽孔504,所述永磁铁片6为环状,设置在所述架体底板501下表面上。
在本实施例中,所述限位杆4位于所述架体底板501的中部开口处,配合所述支撑板8,对所述样品架5进行竖直、水平双向限位,所述样品管槽孔504在旋转过程中一旦对齐上方的所述样针3后即可进行上升取样操作,保证取样操作的有效性,另一方面,所述样品管槽孔504分内外多圈设置,所述样针3在所述样品管不同内外圈之间切换时,需要进行一次水平向收缩调节,以保证取样操作的有效性。
所述磁力顶起单元7包括设置在所述取样开槽2上的电磁铁部701,用于向所述电磁铁部701供电的直流干电池702,以及用于控制所述电磁铁部701电路通断的电力控制部703,所述电磁铁部701、直流干电池702以及电力控制部703通过连接导线串联。所述电磁铁部701的数量为5-8个,按均匀圆周排列方式设置在所述取样开槽2上,所述电磁铁部701之间相互串联。
在本实施例中,所述电力控制部703具有控制开合以及调节电流大小的双重作用,在取样前通电接通,所述样品架5上升并根据液面距离所述样针3的长短,进行上升高度调节,即所述样品管内样品减少,所述电力控制部703增大电流,保证所述样品管上升较高,样品较多时减小电流即可,保证若干个所述电磁铁部701能有效且适宜地向上顶起所述永磁铁片6。
所述电磁铁部701包括粘接设置在所述取样开槽2上的安装芯体701a,设置在所述安装芯体701a外环面上的螺旋槽,以及嵌入绕制在所述螺旋槽上的螺线圈701b。
在本实施例中,所述安装芯体701a的材质为非导磁材料,仅用于安装固定所述螺线圈701b,所述螺旋槽的形状结构与螺钉螺纹相同。
所述电力控制部703包括设置在所述取样开槽2上的安装罩体703a,螺接设置在所述安装罩体703a上的旋转控制柱703b,设置在所述旋转控制柱703b上的调节导电段703c,套接设置在所述调节导电段703c上的接触导电段703d,以及设置在所述取样开槽2上的导电片703e,所述调节导电段703c以及导电片703e分别与所述电磁铁部701和所述直流干电池702进行导线连接。所述调节导电段703c为套接设置在所述旋转控制柱703b外环面上的导电套筒。所述接触导电段703d为筒状导电结构,内衬设置在固定套筒703f内环面上,所述调节导电段703c下端设有用于限位固定所述固定套筒703f的环状凸起703g,所述固定套筒703f上端设有用于限位卡合所述环状凸起703g的套筒内凸起环703m。所述接触导电段703d下表面上设有用于增大与所述导电片703e接触面积的环状导电凸起703h。所述调节导电段703c外环面上设有连接螺纹,所述安装罩体703a上设有导线穿孔703k。
在本实施例中,所述电力控制部703的使用方法及优点如下:
第一,初始状态下,所述调节导电段703c螺接在所述安装罩体703a的螺孔上,所述固定套筒703f与所述调节导电段703之间设有一对内外限位卡合的所述环状凸起703g和套筒内凸起环703m,使得所述固定套筒703f被所述调节导电段703c悬吊在较高位,即所述接触导电段703d与所述导电片703e分离,形成所述螺线圈701b电路上唯一一处断路位置;
第二,所述样品架5上放好所述样品管,并与所述样针3上下对齐后,向下旋转所述旋转控制柱703b,进而所述调节导电段703c以及接触导电段703d一起下降,所述环状导电凸起703h首先接触所述导电片703e,随即所述螺线圈701b通电,产生与所述永磁铁片6相互排斥的磁场,所述样品架5上升一段距离;
第三,所述样品架5上升后,用于此时所述调节导电段703c与所述环状导电凸起703h之间的距离较大,即所述接触导电段703d接入的有效电阻距离较大,因此所述螺线圈701b上电流较小,排斥力较小,此时所述样针3够不到样品,所述样品架5需要急需上升,即所述电力控制部703需要增大电流;
第四,所述旋转控制柱703b继续向下旋转,所述环状凸起703g在所述接触导电段703d内环面上下滑,不断靠近所述环状导电凸起703h,所述接触导电段703d接入的有效电阻距离较小,进而所述螺线圈701b上电流增大,产生的排斥磁力增大,所述样品架5被急需顶起,最终样品被所述样针3有效吸取,保证取样操作的有效性和方便性;
第五,取样操作结束后,所述旋转控制柱703b向上旋转,直到所述环状凸起703g碰触到所述套筒内凸起环703m并提升一段距离后停止,此时所述样品架5完全落在所述支撑板8上,表示所述电力控制部703断开完毕,具有通断有效和电流调节灵活的双重优点。
上面结合附图对本发明的实施方式作了详细说明,但是本发明不限于上述实施方式,在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下做出各种修改。这些都是不具有创造性的修改,只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (10)

1.一种新型原子荧光光度计,包括原子荧光光度计主体(1),设置在所述原子荧光光度计主体(1)上的取样开槽(2),以及设置在所述取样开槽(2)上的样针(3),其特征在于:还包括设置在所述取样开槽(2)上的限位杆(4),套接设置在所述限位杆(4)上且位于所述样针(3)下方位置处的样品架(5),设置在所述样品架(5)下表面上的永磁铁片(6),以及设置在所述取样开槽(2)上并通过通电后电生磁方式以用于向上排斥顶起所述样品架(5)进而完成所述样针(3)伸入取样操作的磁力顶起单元(7)。
2.根据权利要求1所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述限位杆(4)上设有支撑板(8),所述样品架(5)包括设置在所述支撑板(8)上的架体底板(501),设置在所述架体底板(501)上的安装柱(502),设置在所述安装柱(502)上的上板(503),以及设置在所述架体底板(501)和所述上板(503)上的样品管槽孔(504),所述永磁铁片(6)为环状,设置在所述架体底板(501)下表面上。
3.根据权利要求1所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述磁力顶起单元(7)包括设置在所述取样开槽(2)上的电磁铁部(701),用于向所述电磁铁部(701)供电的直流干电池(702),以及用于控制所述电磁铁部(701)电路通断的电力控制部(703),所述电磁铁部(701)、直流干电池(702)以及电力控制部(703)通过连接导线串联。
4.根据权利要求3所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述电磁铁部(701)的数量为5-8个,按均匀圆周排列方式设置在所述取样开槽(2)上,所述电磁铁部(701)之间相互串联。
5.根据权利要求3所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述电磁铁部(701)包括粘接设置在所述取样开槽(2)上的安装芯体(701a),设置在所述安装芯体(701a)外环面上的螺旋槽,以及嵌入绕制在所述螺旋槽上的螺线圈(701b)。
6.根据权利要求3所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述电力控制部(703)包括设置在所述取样开槽(2)上的安装罩体(703a),螺接设置在所述安装罩体(703a)上的旋转控制柱(703b),设置在所述旋转控制柱(703b)上的调节导电段(703c),套接设置在所述调节导电段(703c)上的接触导电段(703d),以及设置在所述取样开槽(2)上的导电片(703e),所述调节导电段(703c)以及导电片(703e)分别与所述电磁铁部(701)和所述直流干电池(702)进行导线连接。
7.根据权利要求6所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述调节导电段(703c)为套接设置在所述旋转控制柱(703b)外环面上的导电套筒。
8.根据权利要求7所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述接触导电段(703d)为筒状导电结构,内衬设置在固定套筒(703f)内环面上,所述调节导电段(703c)下端设有用于限位固定所述固定套筒(703f)的环状凸起(703g),所述固定套筒(703f)上端设有用于限位卡合所述环状凸起(703g)的套筒内凸起环(703m)。
9.根据权利要求8所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述接触导电段(703d)下表面上设有用于增大与所述导电片(703e)接触面积的环状导电凸起(703h)。
10.根据权利要求6所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述调节导电段(703c)外环面上设有连接螺纹,所述安装罩体(703a)上设有导线穿孔(703k)。
CN201810658868.9A 2018-06-25 2018-06-25 一种新型原子荧光光度计 Active CN109030435B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810658868.9A CN109030435B (zh) 2018-06-25 2018-06-25 一种新型原子荧光光度计

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810658868.9A CN109030435B (zh) 2018-06-25 2018-06-25 一种新型原子荧光光度计

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109030435A true CN109030435A (zh) 2018-12-18
CN109030435B CN109030435B (zh) 2021-01-22

Family

ID=64610698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810658868.9A Active CN109030435B (zh) 2018-06-25 2018-06-25 一种新型原子荧光光度计

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109030435B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109813862A (zh) * 2018-12-21 2019-05-28 中国科学院合肥物质科学研究院 一种自动化土壤检测装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6756232B1 (en) * 2000-03-20 2004-06-29 Perkinelmer Las, Inc. Method and apparatus for producing compact microarrays
CN205176047U (zh) * 2015-12-04 2016-04-20 苏州北裕环保仪器制造有限公司 一种液相自动进样器
CN207163905U (zh) * 2017-09-19 2018-03-30 浙江中煤检测有限公司 一种原子荧光光谱仪自动进样器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6756232B1 (en) * 2000-03-20 2004-06-29 Perkinelmer Las, Inc. Method and apparatus for producing compact microarrays
CN205176047U (zh) * 2015-12-04 2016-04-20 苏州北裕环保仪器制造有限公司 一种液相自动进样器
CN207163905U (zh) * 2017-09-19 2018-03-30 浙江中煤检测有限公司 一种原子荧光光谱仪自动进样器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109813862A (zh) * 2018-12-21 2019-05-28 中国科学院合肥物质科学研究院 一种自动化土壤检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN109030435B (zh) 2021-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN203234036U (zh) 电子烟
CN109030435A (zh) 一种新型原子荧光光度计
CN205910125U (zh) 一种自主加热式原子化器
CN100354008C (zh) 电灼式接种针灭菌消毒装置
CN208141258U (zh) 磁控旋钮和电器设备
CN109887719A (zh) 一种安装稳定的变压器
CN207397874U (zh) 台架式变压器的安装底座
CN108336556A (zh) 一种带有自锁功能的新型插座
CN218722236U (zh) 一种雾化器底座
CN208056185U (zh) 一种变频恒压供水设备
CN219778653U (zh) 一种变压器油箱
CN208400809U (zh) 一种内置天线式高频离子源装置
CN206497824U (zh) 一种新型屏蔽变压器
CN215771746U (zh) 一种提高端子连接器测试效率的装置
CN201307963Y (zh) 无极灯专用电子镇流器
CN206060011U (zh) 开关柜接地小车
CN204958483U (zh) 一种电极及其使用该电极的水下射频放电装置
CN201436721U (zh) 探针连接器
CN203731342U (zh) 一种防爆灯具进线电源的无线连接装置
CN208268792U (zh) 一种天然气管道泄漏检测装置
CN104135882B (zh) 电子烟
CN206226340U (zh) 一种末端调压装置
CN209462686U (zh) 用于x射线机的隔离式高压逆变控制器
CN206470293U (zh) 一种绝缘油试验支架
CN215265243U (zh) 一种大尺寸静电计式光电效应演示器

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information

Address after: 313000 1206-1210, 12 / F, building 6, No. 1366, Hongfeng Road, Huzhou City, Zhejiang Province

Applicant after: HUZHOU ZHONGYI TESTING & RESEARCH INSTITUTE Co.,Ltd.

Address before: 313000 South Taihu Lake Science and Technology Innovation Center, No. 1366 Hongfeng Road, Huzhou Economic and Technological Development Zone, Huzhou City, Zhejiang Province, 6 floors 605-610

Applicant before: HUZHOU ZHONGYI TESTING & RESEARCH INSTITUTE Co.,Ltd.

CB02 Change of applicant information
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant