CN109029165A - 一种电子延时控制的雷管电路及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提出了一种电子延时控制的雷管电路及测试方法,包括雷管、延时控制电路、开关控制电路、双电容充电电路、第一测试点、第二测试点、第一引爆连接点、第二引爆连接点,所述第一引爆连接点、第二引爆连接点都是为雷管的引爆连接点,所述第一测试点、第二测试点都为雷管的测试点;所述双电容充电电路包括第一充电电容、第二充电电容,所述第一充电电容与第二充电电容的电容值相同,所述第一充电电容的正极与第二充电电容的正极连接,且都与电源的正极连接,所述第一充电电容的负极与第二充电电容的负极连接,且都与电源的负极连接。本发明在没有增加电路设计复杂度的前提下增加了电容储存的电荷量,大大降低了电路制造成本。
Description
技术领域
本发明涉及雷管技术领域,特别涉及一种电子延时控制的雷管电路及测试方法。
背景技术
由于电子雷管工作地点的特殊性以及现场的复杂性,其稳定性能必须要得到保障,这对于电子雷管装置系统的稳定性可靠性检测有很高要求,往往需要在爆破现场工作之前反复仔细试验,现有的无损检测理论尚未成熟,无法实现真正意义上的全自动无损检测,如何设计无损检测电子雷管的接口尤为重要。传统的电子雷管往往采用单个电容作为充放电电路,具有一定的局限性。
发明内容
本发明的目的旨在至少解决所述技术缺陷之一。
为此,本发明的目的在于提出一种电子延时控制的雷管电路及测试方法,采用双电容的方式能够增加电容储存的电荷量,降低了测试的人力和物力成本。
为了实现上述目的,本发明提供一种电子延时控制的雷管电路,包括雷管、延时控制电路、开关控制电路、双电容充电电路、第一测试点、第二测试点、第一引爆连接点、第二引爆连接点,所述第一引爆连接点、第二引爆连接点都是为雷管的引爆连接点,所述第一测试点、第二测试点都为雷管的测试点;
所述第一引爆连接点、第一测试点、双电容充电电路的正极端、延时控制电路的电源端都与电源的正极连接,所述第二引爆连接点、第二测试点都与开关控制电路的输出端连接,所述延时控制电路的输出端与开关控制电路的输入端连接,所述双电容充电电路的负极端与开关控制电路的接地端连接且都接电源的负极;
所述双电容充电电路包括第一充电电容、第二充电电容,所述第一充电电容与第二充电电容的电容值相同,所述第一充电电容的正极与第二充电电容的正极连接,且都与电源的正极连接,所述第一充电电容的负极与第二充电电容的负极连接,且都与电源的负极连接。
进一步的,所述第一引爆连接点、第二引爆连接点都设置在印制板的背面。
进一步的,所述第一引爆连接点、第二引爆连接点都为方形镀金焊盘。
进一步的,所述第一引爆连接点与第二引爆连接点的两个焊盘几何中心间距范围在0.5-0.8mm之间。
进一步的,所述第一测试点和第二测试点是两个与整个装置呈轴对称的镀金焊盘。
进一步的,所述第一测试点和第二测试点为圆形镀金焊盘,且焊盘直径范围为1.5mm-1.7mm。
进一步的,所述延时控制电路选用高性能处理器。
进一步的,所述开关控制电路为MOS管开关电路。
进一步的,还包括第一脚线、第二脚线,所述第一脚线、第二脚线分别与延时控制电路连接,所述第一脚线还连接电源的正极。
本发明还提供一种应用于上述电子延时控制的雷管电路的测试方法,包括以下步骤:
步骤S1,首先断开第一引爆连接点和第二引爆连接点;
步骤S2,将第一测试点、第二测试点分别连接到相应的测试电路或者测试机器中,测试时,电源给双电容充电电路进行充电,充电完成后,由测试电路或者测试机器对第一测试点、第二测试点的各项指标进行测试分析;
步骤S3,若整个测试的各项指标中有存在异常,则产品为不良品;
若整个测试的各项指标都没有问题,则产品为合格品;
步骤S4:将测试合格后的第一引爆连接点和第二引爆连接点用焊锡连接。
本发明具有以下有益效果:
1、本发明并没有采用传统的单个电容充电的方式,而是采用双电容充放电电路。采用单个电容储能时往往需要大电容这样在放电时才能有足够的电荷释放,达到引爆效果,而本发明采用双电容的方式只需要两个电容值相同的电容并联即可,在没有增加电路设计复杂度的前提下增加了电容储存的电荷量,大大降低了电路制造成本。
2、本发明在雷管中添加了测试点和引爆连接点,使雷管在正式投入使用之前能够进行无损的检测,因为雷管在测试的时候无法实际的去引爆,要想实现电子雷管的无损检测往往需要使用先进的自动化设备。现有的无损检测理论技术并不是非常成熟,而且需要对自动化检测设备进行复杂的操作,对检测技术人员有非常高的专业要求。想要实现正真意义上的无损全自动检测比较困难。而传统的雷管设计在测试的时候又往往会对电子雷管造成一定的损伤,这也导致了电子雷管在测试时候良率不高的现象。而本发明中的电子雷管在测试时,先断开2个引爆连接点,待整个电路各项指标测试完成之后再将引爆连接点断点连接即可,整个操作过程简单但是却能在提高产品良率的同时做到无损全面的检查,降低了测试的人力和物力成本。
本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1为本发明的电子延时控制的雷管电路的结构示意图;
图2为本发明的测试方法的流程图。
图中,1、双电容充电电路;2、延时控制电路;3、开关控制电路;A、第一测试点;B、第二测试点;E、第一引爆连接点;F、第二引爆连接点;
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
本发明提供一种电子延时控制的雷管电路,参考附图1所示,包括雷管、延时控制电路2、开关控制电路3、双电容充电电路1、第一测试点A、第二测试点B、第一引爆连接点E、第二引爆连接点F,第一引爆连接点E、第二引爆连接点F都是为雷管的引爆连接点,第一测试点A、第二测试点B都为雷管的测试点。
第一引爆连接点E、第一测试点A、双电容充电电路1的正极端、延时控制电路2的电源端都与电源的正极连接,第二引爆连接点F、第二测试点B都与开关控制电路3的输出端连接,延时控制电路2的输出端与开关控制电路3的输入端连接,双电容充电电路1的负极端与开关控制电路3的接地端连接且都接电源的负极。
双电容充电电路1包括第一充电电容C1、第二充电电容C2,第一充电电容C1与第二充电电容C2的电容值相同,第一充电电容C1的正极与第二充电电容C2的正极连接,且都与电源的正极连接,第一充电电容C1的负极与第二充电电容C2的负极连接,且都与电源的负极连接。
工作时,电源的正极给双电容充电电路1供电,同时电源向延时控制电路2输出电压信号,由延时控制电路2控制开关控制电路通断,双电容充电电路1内的充电电容充满后,当开关控制电路不导通,则双电容充电电路与第一测试点A、第二测试点B、第一引爆连接点E、第二引爆连接点F之间断开,不能向第一测试点A、第二测试点B、第一引爆连接点E、第二引爆连接点F放电;当开关控制电路导通时,则双电容充电电路1给第一测试点A、第二测试点B、第一引爆连接点E、第二引爆连接点F放电,如果第一引爆连接点E和第二引爆连接点F之间由桥丝连接,则桥丝加热周围的药剂,在药剂达到着火点的一段时候后发火引爆雷管。如果第一引爆连接点E和第二引爆连接点F之间断开,并将第一测试点A、第二测试点B连接到相应的测试电路或者测试机器中,则由测试电路或者测试机器对第一测试点A、第二测试点B进行检测,如果检测的各项指标都正常,则判断该雷管合格,如果检测的各项指标有一项或多项异常,则判断该雷管不合格。
为了便于接线,本发明还包括第一脚线、第二脚线,第一脚线、第二脚线分别与延时控制电路2连接,第一脚线还连接电源的正极。
为了便于区分测试点和引爆连接点,第一引爆连接点E、第二引爆连接点F都设置在印制板的背面。
为了便于两者之间的连接,第一引爆连接点E、第二引爆连接点F都为方形镀金焊盘。
为了提高桥丝的加热效果,第一引爆连接点E与第二引爆连接点F的两个焊盘几何中心间距范围在0.5-0.8mm之间,优选两个焊盘几何中心间距为0.5mm、0.6mm、0.7mm、0.8mm;即连接第一引爆连接点E与第二引爆连接点F的桥丝的长度范围在0.5-0.8mm之间。
为了便于测试,第一测试点A和第二测试点B是两个与整个装置呈轴对称的镀金焊盘。
为了便于与测试电路或者测试机器连接,第一测试点A和第二测试点B为圆形镀金焊盘,且焊盘直径范围为1.5mm-1.7mm,焊盘直径范围优选1.5mm、1.6mm、1.7mm。
例如:当第一引爆连接点E与第二引爆连接点F的两个焊盘几何中心间距为0.5mm时,第一测试点A和第二测试点B的焊盘直径为1.5mm、1.6mm、1.7mm中的任一项;
当第一引爆连接点E与第二引爆连接点F的两个焊盘几何中心间距为0.6mm时,第一测试点A和第二测试点B的焊盘直径为1.5mm、1.6mm、1.7mm中的任一项;
当第一引爆连接点E与第二引爆连接点F的两个焊盘几何中心间距为0.7mm时,第一测试点A和第二测试点B的焊盘直径为1.5mm、1.6mm、1.7mm中的任一项;
当第一引爆连接点E与第二引爆连接点F的两个焊盘几何中心间距为0.8mm时,第一测试点A和第二测试点B的焊盘直径为1.5mm、1.6mm、1.7mm中的任一项;
延时控制电路2选用高性能处理器。
开关控制电路3为MOS管开关电路。
本发明并没有采用传统的单个电容充电的方式,而是采用双电容充放电电路。采用单个电容储能时往往需要大电容这样在放电时才能有足够的电荷释放,达到引爆效果,而本发明采用双电容的方式只需要两个电容值相同的电容并联即可,在没有增加电路设计复杂度的前提下增加了电容储存的电荷量,大大降低了电路制造成本。
本发明还提供一种应用于上述电子延时控制的雷管电路的测试方法,如图2所示,包括以下步骤:
首先在雷管中添加测试点和引爆连接点,即添加了第一引爆连接点、第二引爆连接点、第一测试点、第二测试点,然后为了便于连接,将第一引爆连接点、第二引爆连接点设置于方形镀金焊盘,第一引爆连接点E与第二引爆连接点F的两个焊盘几何中心间距范围在0.5-0.8mm之间。
接着执行以下步骤:
步骤S1,断开第一引爆连接点和第二引爆连接点;
步骤S2,将第一测试点、第二测试点分别连接到相应的测试电路或者测试机器中,测试时,电源给双电容充电电路进行充电,充电完成后,由测试电路或者测试机器对第一测试点、第二测试点的各项指标进行测试分析;
电源给双电容充电电路进行充电时,同时对第一充电电容和第二充电电容充电,当双电容充电电路进行放电时,第一充电电容和第二充电电容同时进行放电,能有足够的电荷释放,给第一引爆连接点、第二引爆连接点、第一测试点、第二测试点放电。
步骤S3,若整个测试的各项指标中有存在异常,则产品为不良品;
若整个测试的各项指标都没有问题,则产品为合格品;
步骤S4:将测试合格后的第一引爆连接点和第二引爆连接点用焊锡连接。
本发明提供了一中更加可靠稳定的电子延时控制的雷管电路及测试方法,通过延时控制电路器和开关控制电路相结合,在到达之前认为设定的时候后,利用储能元件充电电容对点火头放电,桥丝加热周围的药剂,在药剂达到着火点的一段时候后发火引爆雷管。由于电子雷管的特殊性,不可能采取抽样调查和实际引爆的试验的方式,传统的雷管设计在测试的时候又往往会对电子雷管造成一定的损伤,这也导致了电子雷管在测试时候良率不高的现象。为了最大限度的方便后期试验,本发明在雷管设计时增加了测试点和引爆断点,整个操作过程简单但是却能在提高产品良率的同时做到无损全面的检查,降低了测试的人力和物力成本。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。本发明的范围由所附权利要求及其等同限定。
Claims (10)
1.一种电子延时控制的雷管电路,包括雷管,其特征在于,还包括延时控制电路、开关控制电路、双电容充电电路、第一测试点、第二测试点、第一引爆连接点、第二引爆连接点,所述第一引爆连接点、第二引爆连接点都是为雷管的引爆连接点,所述第一测试点、第二测试点都为雷管的测试点;
所述第一引爆连接点、第一测试点、双电容充电电路的正极端、延时控制电路的电源端都与电源的正极连接,所述第二引爆连接点、第二测试点都与开关控制电路的输出端连接,所述延时控制电路的输出端与开关控制电路的输入端连接,所述双电容充电电路的负极端与开关控制电路的接地端连接且都接电源的负极;
所述双电容充电电路包括第一充电电容、第二充电电容,所述第一充电电容与第二充电电容的电容值相同,所述第一充电电容的正极与第二充电电容的正极连接,且都与电源的正极连接,所述第一充电电容的负极与第二充电电容的负极连接,且都与电源的负极连接。
2.如权利要求1所述的电子延时控制的雷管电路,其特征在于,所述第一引爆连接点、第二引爆连接点都设置在印制板的背面。
3.如权利要求1所述的电子延时控制的雷管电路,其特征在于,所述第一引爆连接点、第二引爆连接点都为方形镀金焊盘。
4.如权利要求1所述的电子延时控制的雷管电路,其特征在于,所述第一引爆连接点与第二引爆连接点的两个焊盘几何中心间距范围在0.5-0.8mm之间。
5.如权利要求1所述的电子延时控制的雷管电路,其特征在于,所述第一测试点和第二测试点是两个与整个装置呈轴对称的镀金焊盘。
6.如权利要求1所述的电子延时控制的雷管电路,其特征在于,所述第一测试点和第二测试点为圆形镀金焊盘,且焊盘直径范围为1.5mm-1.7mm。
7.如权利要求1所述的电子延时控制的雷管电路,其特征在于,所述延时控制电路选用高性能处理器。
8.如权利要求1所述的电子延时控制的雷管电路,其特征在于,所述开关控制电路为MOS管开关电路。
9.如权利要求1所述的电子延时控制的雷管电路,其特征在于,还包括第一脚线、第二脚线,所述第一脚线、第二脚线分别与延时控制电路连接,所述第一脚线还连接电源的正极。
10.一种应用于如权利要求1-9任一项所述的电子延时控制的雷管电路的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1,首先断开第一引爆连接点和第二引爆连接点;
步骤S2,将第一测试点、第二测试点分别连接到相应的测试电路或者测试机器中,测试时,电源给双电容充电电路进行充电,充电完成后,由测试电路或者测试机器对第一测试点、第二测试点的各项指标进行测试分析;
步骤S3,若整个测试的各项指标中有存在异常,则产品为不良品;
若整个测试的各项指标都没有问题,则产品为合格品;
步骤S4:将测试合格后的第一引爆连接点和第二引爆连接点用焊锡连接。
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