CN108985002A - 一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，所述方法包括：构建对位数据库，通过机台小批量运行获取对位数据信息并存储于对位数据库，对位数据信息包括每次样本工件来料位置P_0i及所对应的对位补偿值C_0i、平均位置P₀及平均对位补偿值C₀以及平均位置变化量dP₀；获取待装配工件本次来料位置P_i，以及P_i相对于平均位置P₀的差值绝对值dP_i；确定待装配工件本次对位补偿值。本发明的有益效果体现在，机台运行过程中，持续对待装配工件来料位置进行补偿，与采用固定的对位补偿值进行补偿相比，提高了机台补偿的准确性；对位数据库的建立，使对位系统中存储了大量可作为机台运动补偿信息的对位数据信息，可作为机台对位补偿的基础数据。

Description

一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法

技术领域

本发明涉及机械对位的技术领域，特别涉及一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法。

背景技术

对位是现代工业生产中，器件精密装配环节的一个专业名称。实际的生产过程是通过自动化机台来完成的。目前机台的补偿方式通常采用静态的调整方式，在标定完成之后，对位补偿值就确定下来，在下次标定之前，机台补偿值是固定不变的。在实际工作状态下，通常根据补偿效果来确定当前机台的对位补偿值。但在机台运动过程中，机台运动有一定的随机性，随机性主要源于机台调节平台电机转动时的抖动所造成，高精度平台的随机性一般在10-20微米范围内，此外机台周围环境变化如机台旁存在其他个体或物体运动时也可能造成机台运动的随机性，影响补偿效果。对位系统运行之后，配套的视觉系统将会捕捉到这一随机性，表现在于，每次机器视觉拍摄所得的来料位置有一定的随机性。由于机台安装误差、待装配工件走位时的电机抖动、周围环境变化等影响，对位补偿值也存在一定的随机性，故在下次标定之前，机台运动过程中一直采用同一对位补偿值也将影响补偿的准确性。因此，如何提供一种针对于机台运动随机性处理的对位补偿方法，以改善机台补偿的准确性，是需要解决的技术问题。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明提供一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，以解决机台运动过程中待装配工件走位、调节平台电机转动时的抖动、周围环境变化等影响机台补偿准确性的技术问题。

本发明的技术方案是，提供一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，所述方法包括：

构建对位数据库：通过机台小批量运行获取对位数据信息并存储于对位数据库，所述对位数据信息包括每次样本工件来料位置P_0i及所对应的对位补偿值C_0i、平均位置P₀及平均对位补偿值C₀以及平均位置变化量dP₀，所述dP₀为实际样本工件来料位置P_0i与平均位置P₀最大差值的绝对值；

获取待装配工件本次来料位置P_i，并得到待装配工件本次来料位置P_i相对于平均位置P₀的差值绝对值dP_i；

确定待装配工件本次对位补偿值：比较dP_i与dP₀的大小关系；若dP_i≤dP₀，可选取对位数据库中平均对位补偿值C₀作为本次对位补偿值；若dP_i＞dP₀，可通过插值法确定本次对位补偿值C_i。

优选方案，所述dP_i＞dP₀时，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。

优选方案，所述确定待装配工件本次对位补偿值还包括：将所述待装配工件本次来料位置P_i与所述对位数据库中的所有样本工件来料位置对照，若P_i与对位数据库中某一样本工件来料位置P_0i相匹配，选取所述样本工件来料位置P_0i所对应的对位补偿值C_0i作为本次对位补偿值。

优选方案，所述确定待装配工件本次对位补偿值还包括：将所述待装配工件本次来料位置P_i与所述对位数据库中的所有样本工件来料位置对照，若P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i匹配失败，且dP_i≤dP₀，可通过插值法确定本次对位补偿值。

优选方案，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。

优选方案，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i′，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。

优选方案，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点之间，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。

优选方案，所述每次样本工件来料位置根据每次样本工件传输到位后在机台对位平台工作平面发生的位移和旋转角度确定。

优选方案，所述对位数据库持续存储待装配工件本次工件来料位置和本次对位补偿值。

优选方案，所述对位数据库持续存储待装配工件本次工件来料位置和本次对位补偿值，且同时将待装配工件作为样本工件重新计算增加样本数量后的平均位置及平均对位补偿值以及平均位置变化量。

本发明的有益效果体现在，提供一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，通过机台小批量运行获取较多的样本工件对位数据信息，并记录存储于对位数据库中；在机台连续运行时，通过较多次数的采集，可以统计得到样本工件来料位置的随机性在对位平台平面发生的位移及旋转角度的定量信息；机台运行过程中，持续对待装配工件来料位置进行补偿，与采用固定的对位补偿值进行补偿相比，提高了机台补偿的准确性；此外，对位数据库的建立，使对位系统中记录存储了大量可作为机台运动补偿信息的对位数据信息，可作为机台对位补偿的基础数据，利于提高机台补偿的准确性。

附图说明：

图1为本发明实施例所述一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法流程示意图；

图2为本发明实施例所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法另一流程示意图；

图3为本发明实施例所述P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i的位置关系图；

图4为本发明实施例所述P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i′的位置关系图；

图5为本发明实施例所述P_i位于P_0i与P_0i′两个端点之间的位置关系图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-5所示，本发明提供的具体实施例如下：

本实施例的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，所述方法包括：

构建对位数据库：通过机台小批量运行获取对位数据信息并存储于对位数据库，所述对位数据信息包括每次样本工件来料位置P_0i及所对应的对位补偿值C_0i、平均位置P₀及平均对位补偿值C₀以及平均位置变化量dP₀，所述dP₀为实际样本工件来料位置P_0i与平均位置P₀最大差值的绝对值。其中平均位置P₀基于所有样本工件来料位置P_0i计算所得的算术平均值，平均对位补偿值C₀是基于所有样本工件来料位置P_0i所对应的对位补偿值C_0i计算所得的算术平均值。而dP₀为实际样本工件来料位置P_0i与平均位置P₀最大差值的绝对值，可以理解为以P₀为中心dP₀为半径的一个位置范围。

获取待装配工件本次来料位置P_i，并得到待装配工件本次来料位置P_i相对于平均位置P₀的差值绝对值dP_i；待装配工件传输到位后，视觉对位系统对待装配工件各个位置进行拍照，确定待装配工件本次来料位置P_i。

确定待装配工件本次对位补偿值：比较dP_i与dP₀的大小关系；若dP_i≤dP₀，可选取对位数据库中平均对位补偿值C₀作为本次对位补偿值；若dP_i＞dP₀，可通过插值法确定本次对位补偿值C_i。

现有机台的补偿方式通常采用静态的调整方式，在标定完成之后，对位补偿值就确定下来(如由于机台的安装误差，在机台生产一定数量工件后补偿值由实际补偿效果确定)，在下次标定之前，机台补偿值是固定不变的。而在实际机台运动过程中，机台运动有一定的随机性，随机性主要源于机台调节平台电机转动时的抖动所造成，而高精度平台的随机性一般在10-20微米范围内，此外机台周围环境变化如机台旁存在其他个体或物体运动时也可能造成机台运动的随机性。基于上述情况所造成机台运动时的随机性，将影响机台补偿的准确性，使对位补偿值也存在一定的随机性，故在下次标定之前，机台运动过程中一直采用同一对位补偿值也将影响补偿的准确性。本实施例提供一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，在视觉对位系统标定完成后，通过机台小批量运行获取较多的样本工件对位数据信息，并记录存储于对位数据库中。与对位系统配套的视觉系统将会捕捉到机台运动随机性，表现在于，每次机器视觉系统拍摄所得的样本工件来料位置有一定的随机性。在机台连续运行时，通过较多次数的采集(如机台小批量运行)，可以统计得到样本工件来料位置的随机性在对位平台平面发生的位移及旋转角度的定量信息。本实施例中定义工件来料位置为根据工件在对位平台平面发生的位移及旋转角度而确定。针对每次机器视觉系统拍摄所得的样本工件来料位置P_0i，对应确定有对位补偿值C_0i；基于样本工件的数据信息，进一步统计得到平均位置P₀及平均对位补偿值C₀以及平均位置变化量dP₀，并将对位数据信息存储于对位数据库中。即对位系统中记录存储了大量可作为机台运动补偿信息的对位数据信息，可作为机台对位补偿的基础数据，利于提高机台补偿的准确性。当待装配工件传输到位后，视觉对位系统对待装配工件各个位置进行拍照，确定待装配工件本次来料位置P_i；并得到待装配工件本次来料位置P_i相对于平均位置P₀的差值绝对值dP_i。本实施例中确定待装配工件本次对位补偿值采用比较dP_i与dP₀的大小的方案；若dP_i≤dP₀，可以理解为dP_i落于dP₀范围内，此时可选取对位数据库中平均对位补偿值C₀作为本次对位补偿值；若dP_i＞dP₀，可以理解为dP_i超过dP₀范围，即需要重新确定本次对位补偿值，可通过插值法确定本次对位补偿值C_i。

优选实施例方案，所述dP_i＞dP₀时，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。若dP_i＞dP₀，可以理解为dP_i超过dP₀的变化范围，即需要重新确定本次对位补偿值。本实施例中具体利用线性插值法原理重新确定本次对位补偿值C_i。此时，本次来料位置P_i在对位数据库所存储的样本工件来料位置范围以外(参考图3，可以理解为：此时P_i在以P₀为中心dP₀为半径的位置范围外)，可选取距离P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′，且P_i、P_0i与P_0i′处于同一直线，P_0i此时代表距离P_i更近的位置)，并计算本次来料位置P_i分别与两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离L_0i与L_0i′，以及两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离L，同时从对位数据库中选取两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′分别所对应的对位补偿值C_0i与C_0i′，依据上述计算公式(1)重新得到本次对位补偿值。当待装配工件传输到位后，由于机台运动随机性，也可造成本次来料位置的随机性。本实施例中针对本次来料位置超过对位数据库中存储的样本工件来料位置范围的情况，对位数据库仍然可以提供计算时的基础数据，并利用插值法确定本次对位补偿值。与直接选取平均对位补偿值C₀作为本次对位补偿值的方案相比，经过调整后的对位补偿值更利于提高机台补偿的准确性。

优选实施例方案，所述确定待装配工件本次对位补偿值还包括：将所述待装配工件本次来料位置P_i与所述对位数据库中的所有样本工件来料位置对照，若P_i与对位数据库中某一样本工件来料位置P_0i相匹配，选取所述样本工件来料位置P_0i所对应的对位补偿值C_0i作为本次对位补偿值。本实施例中，对位数据库仍然为确定本次对位补偿值提供了基础数据，即所述对位数据库中的所有样本工件来料位置及其针对所有样本工件来料位置的对位补偿值，利于提高机台补偿的准确性。

优选实施例方案，所述确定待装配工件本次对位补偿值还包括：将所述待装配工件本次来料位置P_i与所述对位数据库中的所有样本工件来料位置对照，若P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i匹配失败，且dP_i≤dP₀，可通过插值法确定本次对位补偿值。本实施例中，虽然待装配工件本次来料位置P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i匹配失败，但是本实本次来料位置仍然位于对位数据库中存储的样本工件来料位置范围内的情况，此时，可以采用插值法确定本次对位补偿值C_i。

优选实施例方案，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i(如图3所示)，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。本实施例中具体利用线性插值法原理重新确定本次对位补偿值C_i。此时，本次来料位置P_i虽然在对位数据库所存储的样本工件来料位置范围以内(可以理解为此时P_i位于以P₀为中心dP₀为半径的位置范围内)，但是P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i匹配失败，可利用线性插值法，选取距离本次来料位置P_i距离最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′(此时P_i、P_0i与P_0i′处于同一直线，P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i)，并计算本次来料位置P_i分别与两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离L_0i与L_0i′，以及两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离L，同时从对位数据库中选取两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′分别所对应的对位补偿值C_0i与C_0i′，依据上述计算公式(1)重新得到本次对位补偿值。当待装配工件传输到位后，由于机台运动随机性，因此可造成本次来料位置P_i虽然位于对位数据库所存储的样本工件来料位置范围以内，但是P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i不同，即造成本次来料位置的随机性。本实施例中针对上述情况，对位数据库仍然可以提供计算时的基础数据，并利用插值法确定本次对位补偿值。与直接选取平均对位补偿值C₀作为本次对位补偿值的方案相比，经过调整后的对位补偿值更利于提高机台补偿的准确性。

优选实施例方案，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i′(如图4所示)，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。本实施例中具体利用线性插值法原理重新确定本次对位补偿值C_i。此时，本次来料位置P_i虽然在对位数据库所存储的样本工件来料位置范围以内，但是P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i匹配失败，可利用线性插值法，选取距离本次来料位置P_i距离最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′(此时P_i、P_0i与P_0i′处于同一直线，P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i′)，并计算本次来料位置P_i分别与两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离L_0i与L_0i′，以及两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离L，同时从对位数据库中选取两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′分别所对应的对位补偿值C_0i与C_0i′，依据上述计算公式(2)重新得到本次对位补偿值。当待装配工件传输到位后，由于机台运动随机性，因此可造成本次来料位置P_i虽然位于对位数据库所存储的样本工件来料位置范围以内，但是P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i不同，即造成本次来料位置的随机性。本实施例中针对上述情况，对位数据库仍然可以提供计算时的基础数据，并利用插值法确定本次对位补偿值。与直接选取平均对位补偿值C₀作为本次对位补偿值的方案相比，经过调整后的对位补偿值更利于提高机台补偿的准确性。

优选实施例方案，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点之间(如图5所示)，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。本实施例中具体利用线性插值法原理重新确定本次对位补偿值C_i。此时，本次来料位置P_i虽然在对位数据库所存储的样本工件来料位置范围以内，但是P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i匹配失败，可利用线性插值法，选取距离本次来料位置P_i距离最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′(此时P_i、P_0i与P_0i′处于同一直线，P_i位于P_0i与P_0i′两个端点之间)，并计算本次来料位置P_i分别与两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离L_0i与L_0i′，以及两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离L，同时从对位数据库中选取两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′分别所对应的对位补偿值C_0i与C_0i′，依据上述计算公式(3)重新得到本次对位补偿值。当待装配工件传输到位后，由于机台运动随机性，因此可造成本次来料位置P_i虽然位于对位数据库所存储的样本工件来料位置范围以内，但是P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i不同，即造成本次来料位置的随机性。本实施例中针对上述情况，对位数据库仍然可以提供计算时的基础数据，并利用插值法确定本次对位补偿值。与直接选取平均对位补偿值C₀作为本次对位补偿值的方案相比，经过调整后的对位补偿值更利于提高机台补偿的准确性。

优选实施例方案，所述每次样本工件来料位置根据每次样本工件传输到位后在机台对位平台工作平面发生的位移和旋转角度确定。

优选实施例方案，所述对位数据库持续存储待装配工件本次工件来料位置和本次对位补偿值。本实施例的效果在于，对位数据库持续存储待装配工件本次工件来料位置和本次对位补偿值；若之后在机台持续运作中，某一待装配工件来料位置与上述工件来料位置相匹配，则可选取相对应的对位补偿值做调整。

优选实施例方案，所述对位数据库持续存储待装配工件本次工件来料位置和本次对位补偿值，且同时将待装配工件作为样本工件重新计算增加样本数量后的平均位置及平均对位补偿值以及平均位置变化量。本实施例中，持续存储待装配工件本次工件来料位置和本次对位补偿值，同时将待装配工件作为样本工件重新计算增加样本数量后的平均位置及平均对位补偿值以及平均位置变化量，扩展对位数据库存储的样本工件数量的同时，提供更多的基础数据，进一步补充可作为机台运动补偿信息的对位数据信息，利于提高机台补偿的准确性。

在本发明的实施例的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“坚直”、“水平”、“中心”、“顶”、“底”、“顶部”、“底部”、“内”、“外”、“内侧”、“外侧”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了使于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。其中，“里侧”是指内部或围起来的区域或空间。“外围”是指某特定部件或特定区域的周围的区域。

在本发明的实施例的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”仅用以描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”、“第四”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本发明的实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“组装”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明的实施例的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

在本发明的实施例的描述中，需要理解的是，“-”和“～”表示的是两个数值之同的范围，并且该范围包括端点。例如:“A-B”表示大于或等于A，且小于或等于B的范围。“A～B”表示大于或等于A，且小于或等于B的范围。

在本发明的实施例的描述中，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，所述方法包括：

构建对位数据库：通过机台小批量运行获取对位数据信息并存储于对位数据库，所述对位数据信息包括每次样本工件来料位置P_0i及所对应的对位补偿值C_0i、平均位置P₀及平均对位补偿值C₀以及平均位置变化量dP₀，所述dP₀为实际样本工件来料位置P_0i与平均位置P₀最大差值的绝对值；

获取待装配工件本次来料位置P_i，并得到待装配工件本次来料位置P_i相对于平均位置P₀的差值绝对值dP_i；

确定待装配工件本次对位补偿值：比较dP_i与dP₀的大小关系；若dP_i≤dP₀，可选取对位数据库中平均对位补偿值C₀作为本次对位补偿值；若dP_i＞dP₀，可通过插值法确定本次对位补偿值C_i。

2.如权利要求1所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，所述dP_i＞dP₀时，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。

3.如权利要求1或2所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，所述确定待装配工件本次对位补偿值还包括：将所述待装配工件本次来料位置P_i与所述对位数据库中的所有样本工件来料位置对照，若P_i与对位数据库中某一样本工件来料位置P_0i相匹配，选取所述样本工件来料位置P_0i所对应的对位补偿值C_0i作为本次对位补偿值。

4.如权利要求1或2所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，所述确定待装配工件本次对位补偿值还包括：将所述待装配工件本次来料位置P_i与所述对位数据库中的所有样本工件来料位置对照，若P_i与对位数据库中的所有样本工件来料位置P_0i匹配失败，且dP_i≤dP₀，可通过插值法确定本次对位补偿值。

5.如权利要求4所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。

6.如权利要求4所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点外且靠近于P_0i′，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。

7.如权利要求4所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，通过线性插值法确定本次对位补偿值C_i，并通过下式计算：

其中，C_0i与C_0i′分别为所述对位数据库中选取的距离所述待装配工件本次来料位置P_i最近的两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′所对应的对位补偿值；L_0i与L_0i′为待装配工件本次来料位置P_i分别与所述两个样本工件来料位置P_0i与P_0i′之间的距离，此时P_i位于P_0i与P_0i′两个端点之间，L为所述两个样本工件来料位置之间的距离。

8.如权利要求1所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，所述每次样本工件来料位置根据每次样本工件传输到位后在机台对位平台工作平面发生的位移和旋转角度确定。

9.如权利要求1或2所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，所述对位数据库持续存储待装配工件本次工件来料位置和本次对位补偿值。

10.如权利要求1或2所述的一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法，其特征在于，所述对位数据库持续存储待装配工件本次工件来料位置和本次对位补偿值，且同时将待装配工件作为样本工件重新计算增加样本数量后的平均位置及平均对位补偿值以及平均位置变化量。