CN108983250A - 接近检测方法及装置、电子装置、存储介质和设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于电子装置的接近检测方法。电子装置包括接近传感器，接近传感器用于发射红外脉冲信号，红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷。控制方法包括步骤：获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；计算M个所述差值的平均值为第一平均值；计算N组所述第一平均值；计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；和根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。如此，能够减小环境光中的红外光对接近传感器的检测造成的干扰。本发明还公开了一种接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。

Description

接近检测方法及装置、电子装置、存储介质和设备

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种接近检测方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。

背景技术

一般地，接近传感器利用发射的单脉冲红外信号检测物体与移动终端的距离从而判断物体与移动终端的远离或靠近。在某些使用场景中，接近传感器受到阳光中的红外线的干扰较大而导致判断出现误差。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种控制方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备。

本发明提供了一种接近检测方法，用于电子装置，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述控制方法包括步骤：

获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；

计算M个所述差值的平均值为第一平均值；

计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、L、N均为正整数；

计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；

根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

本发明提供了一种接近检测装置，用于电子装置，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述接近检测装置包括：

获取模块，用于获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；

计算模块，用于计算M个所述差值的平均值为第一平均值，所述计算模块还用于计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号以及计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值，其中M、N、L均为正整数；和

判断模块，用于根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

本发明提供了一种电子装置，所述电子装置包括：

接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷；和

处理器，所述处理器用于：

获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；

计算M个所述差值的平均值为第一平均值；

计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、N、L均为正整数；

计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；

根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

本发明提供了一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行所述接近检测方法。

本发明提供了一种计算机设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机可读指令，所述指令被所述处理器执行时，使得所述处理器执行所述接近检测方法。

本发明实施方式的接近检测方法、接近检测装置、电子装置、计算机可读存储介质和计算机设备，通过采集每个子脉冲周期波峰与波谷的的强度值的差值，然后取M个差值的平均值作为第一平均值，连续取N组第一平均值，然后计算N组第一平均值的平均值作为第二平均值，根据第二平均值来判断物体是否接近或者远离传感器。如此，能够减小环境光中的红外光对接近传感器的检测造成的干扰。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明实施方式的电子装置的模块示意图；

图2是本发明实施方式的接近检测方法的脉冲信号示意图；

图3是本发明实施方式的接近检测方法的流程示意图；

图4是本发明实施方式的接近检测装置的模块示意图；

图5是本发明实施方式的计算机设备的模块示意图；

图6是本发明实施方式的电子装置的应用场景示意图；

图7是本发明实施方式的电子装置的另一应用场景示意图；

图8是本发明实施方式的接近检测方法的另一流程示意图；

图9是本发明实施方式的电子装置的又一应用场景示意图；

图10是本发明实施方式的接近检测方法的再一流程示意图；

图11是本发明实施方式的接近检测方法的再一流程示意图；

图12是本发明实施方式的电子装置的再一应用场景示意图；

图13是本发明实施方式的电子装置的再一应用场景示意图；

图14是本发明实施方式的电子装置的再一应用场景示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面结合图1至图14详细描述本发明实施方式的接近检测方法、接近检测装置200、电子装置100、计算机可读存储介质和计算机设备300。

请参阅图1至图5，本发明实施方式提供一种用于电子装置100的接近检测方法。电子装置100包括接近传感器162，接近传感器162用于发射红外脉冲信号，红外脉冲信号的一个脉冲周期(T)包括多个子脉冲周期(t)，每个子脉冲周期(t)包括一个波峰和一个波谷。接近检测方法包括步骤：

S10：获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；

S20：计算M个差值的平均值为第一平均值；

S30：计算N组第一平均值；其中，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号且M、N、L均为正整数；

S40：计算N组第一平均值的平均值为第二平均值；

S50：根据第二平均值判断物体是否接近或远离电子装置100。

本发明实施方式还提供了一种用于电子装置100的接近检测装置200。本发明实施方式的接近检测方法可以由本发明实施方式的接近检测装置200实现。接近检测装置200包括获取模块21、判断模块22和计算模块23，步骤S10可以由获取模块21实现，步骤S20、步骤S30和步骤S40可以由计算模块23实现，步骤S50可以由判断模块22实现。即获取模块21可用于获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。计算模块23可用于计算M个差值的平均值为第一平均值、计算N组第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号以及计算N组第一平均值的平均值为第二平均值。判断模块22可用于根据第二平均值判断物体是否接近或远离电子装置100。

本发明实施方式还提供了一种电子装置100。电子装置100包括接近传感器162和处理器24。步骤S10、步骤S20、步骤S30和步骤S40可以由处理器24实现。也即是说，处理器24可用于获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值、计算M个差值的平均值为第一平均值以及计算N组第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号以及计算N组第一平均值的平均值为第二平均值，并且根据第二平均值判断物体是否接近或远离电子装置100。

本发明实施方式还提供了一种计算机设备300。在本发明的实施例中，接近检测装置200可以运用到计算机设备300中。计算机设备300可以是手机、平板电脑、笔记本电脑、智能手环、智能手表、智能头盔、智能眼镜、游戏机等，本发明实施方式的电子装置100也可以是计算机设备300中的一种。

本发明的实施例以电子装置100为手机作为例子进行说明。手机中的接近传感器162检测电子装置100与用户之间的距离以控制显示屏熄灭或者点亮。请参阅图6和图7，在进行距离检测时，例如，当用户在接听或者拨打电话并将手机靠近头部时，接近传感器162经过计算发射器发出红外光强度和接收器接收反射回来的红外光的强度生成距离检测信息，处理器24根据该距离检测信息发送相应指令到控制器，控制器根据指令熄灭屏幕。当手机远离头部时，处理器再次根据接近传感器162反馈回来的检测信息计算并发送指令，控制器根据指令重新点亮屏幕。

然而，在接近传感器162的实际应用过程中，接近传感器162有时会处于强光环境中，例如在户外太阳光直射的使用环境中，由于太阳光中含有红外光，将对接近传感器162采集的数据造成一定的干扰，特别地，在电子装置100处于不同的接收角度时，接近传感器162因接收到的红外光强度将产生波动，使得接近传感器162无法准确判断是否有物体遮挡或靠近电子装置100。

本发明实施方式的接近检测方法、接近检测装置200、电子装置100、计算机可读存储介质和计算机设备300，通过采集每个子脉冲周期波峰与波谷的的强度值的差值，然后取M个差值的平均值作为第一平均值，连续取N组第一平均值，然后计算N组第一平均值的平均值作为第二平均值，根据第二平均值来判断物体是否接近或者远离电子装置100。如此，能够减小环境光中的红外光对接近传感器162的检测造成的干扰。

具体地，在脉冲信号处于波谷(低电平)时，接近传感器162没有发射红外线。此时，接近传感器162的采集到的红外线强度值即是环境中红外线强度值。在脉冲信号处于波峰(高电平)时，接近传感器162发射红外线。此时，接近传感器162采集到的红外线强度即是环境光中的红外线强度与发射并且经过物体反射回来的红外线强度之和。将在波峰时采集的数据和波谷是采集的数据做差就可以得到经过物体反射回来的红外线的强度值。由于接近传感器162接收的太阳光中的红外线强度时刻在发生变化，因此，在本实施方式中，采集多组差值数据，进行处理后再进行输出，可以尽可能的减少环境光中的红外光对接近传感器162的检测数据造成的干扰。

在本发明实施方式中，M、N和L均为正整数，例如，当M为5，N为5时，在本实施方式中，首先，接近传感器162采集每个子脉冲周期的的波峰和波谷的强度值的差值，然后计算M个(即5个)差值的平均值作为第一平均值，然后依次计算N组(即5组)第一平均值，L为第一平均值的组数序号，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，例如，第一组第一平均值取的是第1至第5个差值，第二组第一平均值取第2至第6个差值，依次类推，总共取N(即5组)组。最后，再次取这N组(即5组)第一平均值的平均值作为第二平均值。可以理解，由于接近传感器162接收的太阳光中的红外线强度时刻在发生变化，对检测数据的影响程度也不一致，导致每个差值的大小不一致。因此，在连续取值做平均后再次平均可以进一步地将影响程度降低，使其越接近理想值。例如，第1次差值为50lm(流明、Lumen)、第2次差值为52lm、第3次差值为56lm，理想值为53lm，取第1次差值和第2次差值的平均值51lm作为第一组第一平均值，取第2次差值和第3次差值的平均值54作为第二组第一平均值，然后将两组第一平均值取平均值得到第二平均值52.5。显然，在这几个数据中，第二平均值52.5lm为最接近理想值53lm的数据。可以理解，这些强度差值和理想值仅作为示例性的，对本发明不具有限定性的作用。

需要说明的是，请参阅图2，在本发明实施方式中，一个脉冲周期(T)包括多个子脉冲周期(t)可以理解为，在一个脉冲周期(T)内存在多个波峰和多个波谷。一个子脉冲周期(t)包括一个波峰和一个波谷。以下实施方式有类似说明和描述时，也可参此处的解释说明来理解。

在本发明的实施方式中，接近传感器162发射红外光脉冲信号的方式采用的是多脉冲发射方式。多脉冲的发射方式可以理解为，在一个脉冲周期(T)内存在多个波峰跟波谷(如图2所示)，也即是说，在一个脉冲周期(T)内存在多个脉冲持续时间和多个脉冲间隔，即存在多个波峰跟多个波谷。

请参阅图8，在某些实施方式中，接近检测方法包括步骤：

S101：检测当前环境光的亮度值；和

S102：在亮度值大于或等于亮度预定阈值时，获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。

请参阅图4，在某些实施方式中，步骤S101和步骤S102可以由获取模块21实现。也即是说，获取模块21可以检测当前环境光的亮度值，并在亮度值大于或等于亮度预定阈值时，触发步骤S10。

请参阅图1，在某些实施方式中，电子装置100包括环境光传感器161，步骤S101和步骤S102可以由处理器24实现。即处理器24可以获取环境光传感器161检测当前环境光的亮度值，并在亮度值大于或等于亮度预定阈值时，触发步骤S10。

具体地，请结合参阅图9，当用户处于强光环境下，例如暴露在太阳底下时，接近传感器162在距离检测过程中受周围环境光中的红外线的影响较大，更容易引起接近传感器162的检测失误。电子装置100是否处于强光环境，可通过该环境传感器161进行判断，例如该亮度预定阈值为5000勒克斯，当环境光传感器161获取到的当前光强度值超过了5000勒克斯，则认定电子装置100当前处于强光环境中，此时，接近传感器162可能受到强光的干扰而造成采集的数值异常。需要说明的是，上述亮度预定阈值的数值仅作为示例性的说明，具体的大小可根据具体情况进行设定。此外，可以通过电子装置100中的图像传感器来计算环境光的亮度值。

请参阅图8，在某些实施方式中，接近检测方法包括步骤：

S103：当亮度值小于亮度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时接近传感器162采集的强度值判断物体是否接近或远离电子装置100。

请参阅图4，在某些实施方式中，步骤S103可以由判断模块22实现。也即是说，判断模块22可以在亮度值小于亮度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时接近传感器162采集的强度值判断物体是否接近或远离电子装置100。

请参阅图1，在某些实施方式中，步骤S103可以由处理器24实现。也即是说，处理器24可以在亮度值小于亮度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时接近传感器162采集的强度值判断物体是否接近或远离电子装置100。

具体地，当亮度值小于亮度预定阈值时，表示电子装置100并没有处于强光环境中，此时，当前环境中的红外光对接近传感器162的影响较小。例如，在用户处于室内等弱光环境中时，周围环境光中的红外光较少，对接近传感器162的影响可以忽略不计，所以可以直接使用接近传感器162在脉冲信号处于波峰时采集的的强度值作为检测信息判断物体是否接近或者远离电子装置100。

请参阅图10，在某些实施方式中，检测当前环境光的亮度值的步骤S101包括：

S1011：获取当前环境的多帧图像；和

S1012：根据多帧图像计算当前环境的亮度值。

请参阅图4，在某些实施方式中，步骤S1011可以由获取模块21实现，步骤S1012可以由计算模块23实现。也即是说，获取模块21可以获取当前环境的多帧图像，计算模块23可以根据多帧图像计算当前环境的亮度值。

请参阅图1，在某些实施方式中，电子装置100包括摄像头163，步骤S1011和步骤S1012可以由处理器24实现。也即是说，处理器24可以利用摄像头163获取当前环境的多帧图像，并根据多帧图像计算当前环境的亮度值。

具体地，也可以通过检测摄像头163捕获的图像得到当前环境的亮度值。例如，可以根据捕获的图像的RGB像素的亮度来计算当前环境的亮度值。可以理解，这些检测环境光的方式仅作为示例性的，对本发明不具有限定性的作用，检测环境光的方式还可以是其他的形式。

请参阅图11，在某些实施方式中，步骤S102包括：

S104：检测电子装置100的倾斜角度；和

S105：在倾斜角度小于角度预定阈值时，获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。

请参阅图4，在某些实施方式中，步骤S104和步骤S105可以由获取模块21实现。也即是说，获取模块21可以检测电子装置100的倾斜角度，并在倾斜角度大于或等于角度预定阈值时，触发步骤S10。

请参阅图1，在某些实施方式中，电子装置100包括加速度传感器164，步骤S104和步骤S105可以由处理器24实现。也即是说，处理器24可以利用加速度传感器164检测电子装置100的倾斜角度，并在倾斜角度大于或等于角度预定阈值时，触发步骤S10。

具体地，请参阅图12，此时电子装置100的倾斜角度为0度(电子装置100与水平方向平行)。请参阅图13，此时电子装置100的倾斜角度为30度(电子装置100与水平方向的夹角为30度)。接近传感器162更容易接收到环境光中的红外光，对接近传感器162的影响较大，所以当电子装置100的倾斜角度小于角度预定阀值时，可以通过检测接近传感器162接收到红外光的强度和环境光中红外光的强度来判断物体与电子装置100的距离，能够减小环境光对接近传感器162的检测造成的干扰。此外，电子装置100的倾斜角度还可以包括电子装置100与竖直方向的倾斜角度。检测电子装置100的倾斜角度也可以采用重力传感器或者陀螺仪传感器进行检测。可以理解，角度预定阈值的具体数据可以根据实际情况进行设定。

请参阅图11，在某些实施方式中，接近检测方法包括步骤：

S106：当倾斜角度大于或等于角度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时接近传感器162采集的强度值判断物体是否接近或远离电子装置100。

请参阅图4，在某些实施方式中，步骤S106可以由判断模块22实现。也即是说，判断模块22可以在倾斜角度大于或等于角度预定阈值，根据在任一子脉冲周期的波峰时接近传感器162采集的强度值判断物体是否接近或远离电子装置100。

请参阅图1，在某些实施方式中，步骤S106可以由处理器24实现。也即是说，处理器24可以在倾斜角度大于或等于角度预定阈值，根据在任一子脉冲周期的波峰时接近传感器162采集的强度值判断物体是否接近或远离电子装置100。

具体地，请参阅图14，此时电子装置100的倾斜角度为120度。接近传感器162较少地接收到环境光中的红外光，对接近传感器162的影响可以忽略不计，所以可以直接使用接近传感器162在脉冲信号处于波峰时采集的的强度值作为检测信息判断物体是否接近或者远离电子装置100。

本发明实施方式还提供了一种计算机可读存储介质。一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当计算机可执行指令被一个或多个处理器24执行时，使得处理器24执行上述任一实施方式的接近检测方法。例如执行步骤S10获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；步骤S20：计算M个差值的平均值为第一平均值；步骤S30：计算N组第一平均值，其中，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、N、L均为正整数；和步骤S40：根据第二平均值判断物体是否接近或远离电子装置100。

请参阅图5，本发明实施方式还提供了一种计算机设备300。计算机设备包括存储器32及处理器24，存储器32中储存有计算机可读指令，指令被处理器24执行时，处理器24执行上述任一实施方式的接近检测方法。例如执行步骤S10获取接近传感器162采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；步骤S20：计算M个差值的平均值为第一平均值；步骤S30：计算N组第一平均值，其中，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、N、L均为正整数；和步骤S40：根据第二平均值判断物体是否接近或远离电子装置100。

图5为一个实施例中的计算机设备300的内部模块示意图。计算机设备300包括通过系统总线31连接的处理器24、存储器32(例如为非易失性存储介质)、内存储器33、输入装置34、环境光传感器161、接近传感器162、摄像头163和加速度传感器164。其中，计算机设备300的存储器32存储有操作系统和计算机可读指令。该计算机可读指令可被处理器24执行，以实现上述任意一项实施方式的接近检测方法。处理器24可用于提供计算和控制能力，支撑整个计算机设备300的运行。计算机设备300的内存储器33为存储器32中的计算机可读指令运行提供环境。计算机设备300的输入装置34可以是显示屏上的触控面板，也可以是计算机设备300外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，也可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。该计算机设备300可以是手机、平板电脑、笔记本电脑、个人数字助理或穿戴式设备(例如智能手环、智能手表、智能头盔、智能眼镜)等。本领域技术人员可以理解，图中示出的结构，仅仅是与本发明方案相关的部分结构的示意图，并不构成对本发明方案所应用于其上的计算机设备300的限定，具体的计算机设备300可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)等。

上文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，上文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施方式”、“一些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施方式，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施方式进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (15)

1.一种接近检测方法，用于电子装置，其特征在于，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述控制方法包括步骤：

获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；

计算M个所述差值的平均值为第一平均值；

计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、L、N均为正整数；

计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；和

根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

2.如权利要求1所述的接近检测方法，其特征在于，所述接近检测方法包括步骤：

检测当前环境光的亮度值；和

在所述亮度值大于或等于亮度预定阈值时，获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。

3.如权利要求2所述的接近检测方法，其特征在于，所述接近检测方法包括步骤：

当所述亮度值小于所述亮度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时所述接近传感器采集的强度值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

4.如权利要求2所述的接近检测方法，其特征在于，所述检测当前环境光的亮度值的步骤包括：

获取当前环境的多帧图像；和

根据所述多帧图像计算当前环境的所述亮度值。

5.如权利要求2所述的接近检测方法，其特征在于，在所述亮度值大于或等于亮度预定阈值时，获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值的步骤包括：

检测所述电子装置的倾斜角度；和

在所述倾斜角度小于角度预定阈值时，获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。

6.如权利要求5所述的接近检测方法，其特征在于，所述接近检测方法包括步骤：

当所述倾斜角度大于或等于角度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时所述接近传感器采集的强度值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

7.一种接近检测装置，用于电子装置，其特征在于，所述电子装置包括接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷，所述接近检测装置包括：

获取模块，用于获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；

计算模块，用于计算M个所述差值的平均值为第一平均值，所述计算模块还用于计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号以及计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值，其中M、N、L均为正整数；和

判断模块，用于根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

8.一种电子装置，其特征在于，所述电子装置包括：

接近传感器，所述接近传感器用于发射红外脉冲信号，所述红外脉冲信号的一个脉冲周期包括多个子脉冲周期，每个子脉冲周期包括一个波峰和一个波谷；和

处理器，所述处理器用于：

获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值；

计算M个所述差值的平均值为第一平均值；

计算N组所述第一平均值，每组差值的差值序号为第L个至第(M+L-1)个，L为第一平均值的组数序号，M、L、N均为正整数；

计算所述N组第一平均值的平均值为第二平均值；和

根据所述第二平均值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

9.如权利要求8所述的电子装置，其特征在于，所述电子装置还包括环境光传感器，所述环境光传感器用于检测当前环境光的亮度值，所述处理器还用于在所述亮度值大于或等于亮度预定阈值时，获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。

10.如权利要求9所述的电子装置，其特征在于，所述处理器还用于：当所述亮度值小于所述亮度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时所述接近传感器采集的强度值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

11.如权利要求9所述的电子装置，其特征在于，所述电子装置包括摄像头，所述所述摄像头用于获取当前环境的多帧图像，所述处理器用于根据所述多帧图像计算当前环境的所述亮度值。

12.如权利要求9所述的电子装置，其特征在于，所述电子装置包括加速度传感器，所述加速度传感器用于检测所述电子装置的倾斜角度，所述处理器用于在所述倾斜角度小于角度预定阈值时，获取所述接近传感器采集的每个子脉冲周期的波峰与波谷的强度值的差值。

13.如权利要求12所述的电子装置，其特征在于，所述处理器用于在所述倾斜角度大于或等于所述角度预定阈值时，根据在任一子脉冲周期的波峰时所述接近传感器采集的强度值判断所述物体是否接近或远离所述电子装置。

14.一个或多个包含计算机可执行指令的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至6中任一项所述的接近检测方法。

15.一种计算机设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机可读指令，所述指令被所述处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至6中任一项所述的接近检测方法。