CN108981922B - 一种微波黑体发射率测量装置及测量方法 - Google Patents

一种微波黑体发射率测量装置及测量方法 Download PDF

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Abstract

本发明提出一种微波黑体发射率测量装置，所述装置包括转台底座、发射机、接收机、和闭环控制系统，该装置还包括回转平台、发射机支架、黑体升降机构、接收机支架、参考定标体和发射率测量模块；回转平台设置在转台底座上；回转平台的侧面与发射机支架的底部连接；其台面上方中心位置设置黑体升降机构；回转平台带动发射机支架和黑体升降机构同时同轴旋转；黑体升降机构用于调整参考定标体和微波黑体的高度，使参考定标体和微波黑体的中心分别与接收机支架的回转轴共面；在所述闭环控制系统的控制下接收机支架带动接收机的接收天线进行俯仰方向的旋转扫描获取散射数据；发射率测量模块根据扫描得到的散射数据计算得到微波黑体的发射率。

Description

一种微波黑体发射率测量装置及测量方法
技术领域
本发明涉及微波辐射计领域，具体而言，涉及一种微波黑体发射率测量装置及测量方法。
背景技术
微波辐射计通过接收来自地物目标的电磁辐射或者反射进行探测，是一种被动微波遥感器。微波辐射计与红外及可见光遥感器相比，具有波长更长、穿透能力强的优势，并且能够全天时、全天候工作，特别适合于观测地球物理参数。微波辐射计在对地观测和日常生活中正发挥着越来越重要的作用。它不但能够应用于海洋环境监测、大气与气象观测、农业监测、地质探查和军事侦察等方面，还可以用于导弹的末端制导、射电天文、医疗病理研究等领域。微波辐射计可以进行幅相、极化和相干接收，可以进行灵活的信号处理，以获取更多的有用信息。与主动遥感器相比，微波辐射计具有功耗低、体积小、质量轻和工作稳定可靠等特点。
为确定辐射计输出电压响应与天线口面输入电磁辐射的定量函数关系，通常采用两点定标法为双极化辐射计定标。两点定标时，选用两个微波辐射特性精确已知的参考噪声源作为微波辐射计定标源，利用两个定标源的输出响应确定辐射计输出电压与观测亮温之间的直线方程。两个定标源通常为高温源和低温源，而待测目标的亮温应该尽量在两个定标源亮温值之间，这样可以保证两点定标足够准确有效。
微波辐射计定标源的核心部件是微波黑体，其发射率测量精确与否直接影响微波辐射计定标精度。黑体定标源发射率的测量方法可以分为直接测量法和间接测量法两种。直接测量法是利用已经利用标准定标源进行定标的微波辐射计，在高精度监测黑体温度情况下，对待测黑体定标源进行辐射亮温的直接测量，所测得的亮温与黑体物理温度的比值就是黑体在给定的测量频段和给定的测量方向上的发射率。可见，直接法要求事先有一个发射率精确已知和温度可控的标准定标源对微波辐射计进行事先校准，而该标准定标源的发射率应已经通过其他手段测定或者是已经获得的国际机构传递的数据。事实上，在红外波段，美国国家标准局已经进行了很多关于定标源的研究，并建立了相关的辐射标准，而对于微波频段，国际上尚未建立起完备的辐射亮温传递标准。间接测量法则是通过对黑体定标源的全空间散射特性测量，基于基尔霍夫定律的发射率和反射率的互补关系获得黑体定标源的发射率。间接测量法的优点就是不依赖外在因素，因此是目前黑体发射率的最基本测量方法。但是，国际上对于有关目标发射率尤其是黑体发射率的测量研究较少，诸如俄罗斯、美国国家标准局等均是采用后向散射推知发射率，但并未系统地给出这种测量方法的误差。另外，由于微波辐射计黑体定标源通常采用涂敷吸波材料的锥形周期阵列结构，其散射特性随频率以及电磁波的入射方向的改变而改变。同时，由于黑体定标源的吸波特性很好，散射信号很弱，对测试系统的动态范围、精度等要求很高。因此，精确测定黑体的空间散射特性是一件具有挑战性的任务。
美国国家标准局长期致力于其国家微波辐射传递标准的建立，其定标源发射率测定方法主要是基于基尔霍夫热平衡定律的单站散射测量体系，近期的主要进展报道是2011年对空间驻波法的研究，原理是通过改变天线和目标的相对位置，从回波中去除天线驻波的影响。该工作的核心贡献是进一步引入了天线的传输衰减补偿来提升对小散射信号的测量精度，可测得-40dB的后向散射(镜面反射)。单站测量方法除了需要克服天线驻波影响外，还需要在中高频段(波长小于锥体周期)引入测值校准系数，完成单站测得反射率到积分反射率的链接。
我国在定标源发射率测量方面建设了基于空间驻波法的单站测量和扫描双站测量平台。其中，单站测量的方法中对校准系数的考虑是基于粗糙表面散射理论得到的，考虑到粗糙表面的空间弥散式散射和定标源的空间波瓣式散射有着本质的不同，该校准系数的量值仍需借助系统的数值仿真予以修正。双站测量方法的研究与某电磁工程实验室进行了合作，得到了关于测试距离、测量天线形式选择的一些重要结论。考察了以相同结构尺寸但无吸波涂敷的金属裸锥阵列作为标定参考目标的可行性，以非涂敷裸锥阵列和实际定标源的空间散射相似性为基础，但受限于当时仿真能力的限制，仅考虑了一组频率、尺寸参数，仍需进一步系统的分析总结。
传统的双站散射测量只是将微波黑体辐射的上半空间取其中一条经线来测量，通过这条经线的测量结果近似代替上半空间的全部散射值，利用发射值和散射值之和等于1的公理，求得发射值，也就是微波黑体发射率。由于这种方式只是取得了上半空间其中一条经线的测试结果，不能够获取整个上半空间的微波黑体散射值，因此该测试方法只能是对微波黑体发射率的估计和近似，测试误差较大，不能够满足微波黑体发射率作为辐射亮温定标基准的使用要求。
发明内容
本发明的目的是为了解决目前无法精确测定整个上半空间的微波黑体散射值，测试误差较大，不能够满足微波黑体发射率作为辐射亮温定标基准的使用要求的问题，为实现上述目的，本发明提出一种微波黑体发射率的测量装置及测量方法。
其中，所述微波黑体发射率测量装置，用于测量微波黑体的发射率，包括转台底座、发射机、接收机、伺服电机、减速机和编码器，所述伺服电机、减速器和编码器形成闭环控制系统；其特征在于，所述装置还包括回转平台、发射机支架、黑体升降机构、接收机支架、参考定标体和发射率测量模块；
所述回转平台设置在所述转台底座上；
所述回转平台的侧面与所述发射机支架的底部连接；
所述回转平台的台面上方中心位置设置所述黑体升降机构；
所述回转平台用于带动发射机支架和黑体升降机构同时同轴旋转；
所述发射机支架用于支撑发射机；
所述黑体升降机构用于调整参考定标体的高度，使参考定标体的中心与所述接收机支架的回转轴共面；还用于调整微波黑体高度，使微波黑体中心与所述接收机支架的回转轴共面；
所述接收机支架用于支撑接收机，在所述闭环控制系统的控制下，所述接收机支架带动接收机的接收天线进行俯仰方向的旋转扫描，获取参考定标体的散射数据和微波黑体的散射数据；
所述发射率测量模块，用于根据扫描测量得到的参考定标体的散射数据和微波黑体的散射数据计算得到微波黑体的发射率。
作为本发明所述装置的一种改进，所述黑体升降机构包括：升降机构螺母，用于调整被测微波黑体的高度。
作为本发明所述装置的一种改进，所述装置还包括金属板，所述金属板用于校准发射链路和接收链路；所述发射链路为发射机与微波黑体或参考定标体之间的链路，所述接收链路为接收机与微波黑体或参考定标体之间的链路。
作为本发明所述装置的一种改进，所述发射机的发射频段包括40GHz-500GHz和6GHz-40GHz；
本发明还提出了一种基于所述微波黑体发射率测量装置实现的微波黑体发射率的测量方法，所述方法包括：
步骤1)将所述参考定标体置于所述黑体升降机构上，在闭环控制系统的控制下，接收机的接收天线实现俯仰旋转扫描，获取在此位置所述参考定标体的散射数据；回转平台带动发射机和参考定标体旋转，接收天线继续进行俯仰旋转扫描，获取所述参考定标体当前位置的散射数据；直至回转平台旋转覆盖0-180°区间，接收机得到所述参考定标体在上半空间的散射数据，所述发射率测量模块计算所述参考定标体的上半空间积分反射功率；
步骤2)将微波黑体置于所述黑体升降机构上，通过接收机接收天线俯仰旋转扫描，以获取在此位置所述微波黑体散射数据；回转平台带动发射机旋转，接收天线继续进行俯仰旋转扫描，获取所述微波黑体当前位置的散射数据；直至回转平台旋转覆盖0-180°区间，所述接收机获取微波黑体在上半空间的散射数据，所述发射率测量模块计算所述微波黑体的上半空间积分反射功率；
步骤3)根据获取的所述参考定标体的上半空间积分反射功率和所述微波黑体的上半空间积分反射功率求出微波黑体的上半空间积分反射率。
作为本发明所述方法的一种改进，在所述步骤1)之前还包括对所述装置进行初始化和校准的步骤：
根据微波黑体发射率所需的测试频段，选择安装合适的接收机和发射机；所述接收支架和发射支架置于初始位置；将所述金属板放置于黑体升降机构上，通过金属板的反射对发射链路和接收链路进行校准。
作为本发明所述方法的一种改进，所述步骤1)包括：
步骤1-1)将参考定标体放置于所述装置的黑体升降机构上；
步骤1-2)所述闭环控制系统驱动接收机支架在指定俯仰角度区间，根据测试频段以固定角度步进转动，每个步进角度到位后停留若干秒，获取参考定标体在该点的散射数值并存储；从而获得垂直极化状态接收天线测得参考定标体的散射功率
Figure BDA0001728331720000041
其中，θs为接收支架扫描的俯仰角度，为回转平台旋转的回转角度；
所述指定俯仰角度区间为0°-85°区间；
步骤1-3)获取指定俯仰角度区间的全部数值后，回转平台根据测试频段以固定角度步进转动旋转；从而获得水平极化状态接收天线测得参考定标体的散射功率
步骤1-4)固定角度旋转到位后，重复步骤2-2)至步骤2-3)直至回转平台旋转覆盖0-180°区间；从而获得来自参考定标体的散射功率
Figure BDA0001728331720000044
Figure BDA0001728331720000045
步骤1-5)根据散射对称性，求出参考定标体的上半空间积分散射功率A，
Figure BDA0001728331720000046
作为本发明所述方法的一种改进，所述步骤2)包括：
步骤2-1)将待测微波黑体放置于所述装置的回转平台台面上；
步骤2-2)所述闭环控制系统驱动接收支架在指定角度区间，根据测试频段以固定角度步进转动，每个步进角度到位后停留若干秒，获取微波黑体在该点的散射数值并存储，得到垂直极化状态接收天线测得微波黑体的散射功率
Figure BDA0001728331720000051
步骤2-3)获取指定角度区间的全部数值后，驱动回转平台根据测试频段以固定角度步进转动旋转；从而获得水平极化状态接收天线测得微波黑体的散射功率
Figure BDA0001728331720000052
步骤2-4)每个固定角度旋转到位后，重复步骤2-2)至步骤2-3)，直至回转平台旋转覆盖0-180°区间；从而获得来自微波黑体的散射功率
Figure BDA0001728331720000053
Figure BDA0001728331720000054
步骤2-5)求出微波黑体定标体的上半空间积分散射功率B：
Figure BDA0001728331720000055
作为本发明所述方法的一种改进，所述步骤3)包括：根据参考定标体的上半空间积分散射功率A和微波黑体定标体的上半空间积分散射功率B，得到微波黑体发射率e：
作为本发明所述方法的一种改进，当采用一维扫角测量模式下的散射积分时，即
Figure BDA0001728331720000057
时，所述微波黑体的发射率e为：
Figure BDA0001728331720000058
本发明的优点在于：
1、本发明提出的构建用于全空间扫描的三维双站散射测量装置，多次测量采样，可以实现三维的全空间测量，可以有效评估微波黑体全空间散射，能够获得空间散射的准确数据，提高发射率测量精度；
2、本发明的测量装置通过利用近场聚束的口面天线作为发射和接收天线，一方面可以通过波束的聚焦降低收发链路的衰减，另一方面，通过口面天线设计在目标区形成平坦的相位分布，可近似实现对远场散射分布的测量。
附图说明
图1为现有技术的美国国家标准局的单站发射率测量系统示意图；
图2为现有技术的单站和双站发射率测量系统示意图；
图3为本发明的空间三维双站微波黑体发射率测试原理图；
图4为本发明的微波黑体发射率测量装置机械部分组成图；
图5为本发明的40GHz-500GHz测量系统配置示意图；
图6为本发明的6GHz-40GHz测量系统配置示意图。
附图标识
1、减速机底座 2、减速机 3、伺服电机
4、编码器 5、转台底座 6、发射机支架
7、接收机支架 8、回转平台 9、黑体升降机构
10、被测黑体
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细的说明。
如图3所示，本发明针对微波黑体的发射率测试问题提出了一种新的微波黑体发射率测量装置，其中，发射天线与待测黑体定标源目标相对固定，接收天线进行俯仰角度即垂直方位扫描，回转平台回转，进行水平方位扫描；即：基于收发天线的分离实现小散射信号的精确测量，通过增加回转平台，并将双站发射端与微波黑体整合成为一个整体，使得回转平台旋转时，可以将微波黑体和双站发射端同步绕竖直轴旋转，接收端可以在俯仰向0-90°区间扫描，这样不仅可以获取上半空间微波黑体任意一条二维经线的散射积分，还可以将这些二维经线的散射积分根据需要的角度间隔拼合成为三维的上半空间微波黑体散射积分，从而得到微波黑体的发射率真值，提高微波黑体发射率的准确度，以建立微波黑体发射率计量标准。
如图4所示，微波黑体发射率测量装置机械部分主要包括转台底座、发射机支架、接收机支架、回转平台、伺服电机、减速机、编码器、黑体升降机构和被测黑体等组成；
所述回转平台设置在所述转台底座上；所述回转平台的侧面与所述发射机支架的底部连接；所述回转平台的台面上方中心位置设置所述黑体升降机构；
接收机支架和发射机支架主要起到支撑接收机和发射机，并且带动发射机和接收机回转的作用。发射机支架与回转平台刚性连接，带动发射机随回转平台同步转动。接收支架与减速机轴通过键连接，从而接收支架带动接收机绕水平轴旋转。伺服电机与减速器和减速器前方的绝对值编码器形成闭环控制系统，从而保证接收机旋转角度所需的精度。被测黑体安装在黑体升降机构上，通过升降机构螺母可以调整被测黑体高度从而保证不同高度被测黑体中心都可与接收支架回转轴共面。
微波黑体发射率计量标准测量装置主要实现40GHz-500GHz高频测量和6GHz-40GHz低频测量两种测量功能。40GHz-500GHz测量系统配置示意图和6GHz-40GHz测量系统配置示意图如图5和图6所示。
本发明的二维扫角测量模式下的通过散射积分获取发射率的公式：
Figure BDA0001728331720000071
其中，
Figure BDA0001728331720000072
表示在俯仰θs和方位
Figure BDA0001728331720000073
的角度位置由接收天线测量得到来自待测黑体定标源的散射功率；θs为接收支架扫描的俯仰角度，为回转平台旋转的回转角度。具体而言所述散射功率由两个极化状态的接收组成，如下所示：
其中，和
Figure BDA0001728331720000077
分别表示利用H极化状态(水平极化状态)和V极化状态(垂直极化状态)接收天线测得的散射功率。
同理，
Figure BDA0001728331720000078
表示在相同角度位置测得参考定标体的散射功率。
作为本发明的一种简易模式，也可以通过一维扫角测量模式下的散射积分获取发射率的公式：
Figure BDA0001728331720000079
根据所述的微波黑体发射率测量装置，本发明还提出了微波黑体发射率的测量方法，所述测量方法包括：
步骤1)根据微波黑体发射率的所需测试频段，选择合适的收发天线和扩展模块安装，回转平台和接收支架置于初始位置，将金属板放置于回转平台上，通过金属反射板对收发链路进行校准，完成黑体发射率测试装置测试前的准备工作；
步骤2)将参考定标体放置于黑体发射率标准装置的回转平台台面上，首先接收支架在0°-85°区间，根据测试频段以固定的俯仰角度步进转动，每个步进角度到位后停留30秒，获取参考定标体在该点的散射数值并存储，从而获得垂直极化状态接收天线测得参考定标体的散射功率
所取数值覆盖全部0°-85°区间后，回转平台根据测试频段以固定回转角度步进转动旋转，每个步进角度到位后，接收支架在0°-85°区间，根据测试频段以固定角度步进转动，每个步进角度到位后停留30秒，获取所述参考定标体在该点的散射数据并存储，从而获得水平极化状态参考定标体的散射功率
所取数据覆盖全部0°-85°区间，如此往复循环，直至回转平台旋转覆盖0-180°区间，从而获得来自参考定标体的上半空间散射功率
Figure BDA0001728331720000082
Figure BDA0001728331720000083
根据散射对称性，求出参考定标体的上半空间积分散射功率A，
Figure BDA0001728331720000084
步骤3)将待测微波黑体放置于黑体发射率标准装置的回转平台台面上，首先驱动接收支架在0°-85°区间，根据测试频段以固定俯仰角度步进转动，每个步进角度到位后停留30秒，获取微波黑体在该点的散射数值并存储，得到垂直极化状态微波黑体的散射功率
Figure BDA0001728331720000085
所取数值覆盖全部0°-85°区间后，回转平台根据测试频段以固定角度步进转动旋转，每个步进角度到位后，接收支架在0°-85°区间，根据测试频段以固定角度步进转动，每个步进角度到位后停留30秒，获取微波黑体在该点的散射数值并存储，获得水平极化状态接收天线测得微波黑体的散射功率
Figure BDA0001728331720000086
所取数值覆盖全部0°-85°区间，如此往复循环，直至回转平台旋转覆盖0-180°区间，从而获得来自微波黑体的散射功率
Figure BDA0001728331720000087
Figure BDA0001728331720000088
根据散射对称性可以求出微波黑体定标体的上半空间积分反射率B：
Figure BDA0001728331720000089
根据参考定标体的上半空间积分散射功率A和微波黑体定标体的上半空间积分散射功率B，得到微波黑体发射率e：
最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制。尽管参照实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，都不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (10)

1.一种微波黑体发射率测量装置，用于测量微波黑体的发射率，所述装置包括转台底座、发射机、接收机、伺服电机、减速机和编码器，所述伺服电机、减速器和编码器形成闭环控制系统；其特征在于，所述装置还包括回转平台、发射机支架、黑体升降机构、接收机支架、参考定标体和发射率测量模块；
所述回转平台设置在所述转台底座上；
所述回转平台的侧面与所述发射机支架的底部连接；
所述回转平台的台面上方中心位置设置黑体升降机构；
所述回转平台用于带动发射机支架和黑体升降机构同时同轴旋转；
所述发射机支架用于支撑发射机；
所述黑体升降机构用于调整参考定标体的高度，使参考定标体的中心与所述接收机支架的回转轴共面；还用于调整微波黑体高度，使微波黑体中心与所述接收机支架的回转轴共面；
所述接收机支架用于支撑接收机，在所述闭环控制系统的控制下，所述接收机支架带动接收机的接收天线进行俯仰方向的旋转扫描，获取参考定标体的散射数据和微波黑体的散射数据；
所述发射率测量模块，用于根据扫描测量得到的参考定标体的散射数据和微波黑体的散射数据计算得到微波黑体的发射率。
2.根据权利要求1所述微波黑体发射率测量装置，其特征在于，所述黑体升降机构包括：升降机构螺母，用于调整被测微波黑体的高度。
3.根据权利要求2所述微波黑体发射率测量装置，其特征在于，所述装置还包括金属板，所述金属板用于校准发射链路和接收链路；所述发射链路为发射机与微波黑体或参考定标体之间的链路，所述接收链路为接收机与微波黑体或参考定标体之间的链路。
4.根据权利要求3所述微波黑体发射率测量装置，其特征在于，所述发射机的发射频段包括40GHz-500GHz和6GHz-40GHz。
5.一种基于权利要求3-4之一所述微波黑体发射率测量装置实现的微波黑体发射率的测量方法，其特征在于，所述方法包括：
步骤1)将所述参考定标体置于所述黑体升降机构上，在闭环控制系统的控制下，接收机的接收天线实现俯仰旋转扫描，获取在此位置所述参考定标体的散射数据；回转平台带动发射机和参考定标体旋转，接收天线继续进行俯仰旋转扫描，获取所述参考定标体当前位置的散射数据；直至回转平台旋转覆盖0-180°区间，接收机得到所述参考定标体在上半空间的散射数据，所述发射率测量模块计算所述参考定标体的上半空间积分反射功率；
步骤2)将微波黑体置于所述黑体升降机构上，通过接收机接收天线俯仰旋转扫描，以获取在此位置所述微波黑体散射数据；回转平台带动发射机旋转，接收天线继续进行俯仰旋转扫描，获取所述微波黑体当前位置的散射数据；直至回转平台旋转覆盖0-180°区间，所述接收机获取微波黑体在上半空间的散射数据，所述发射率测量模块计算所述微波黑体的上半空间积分反射功率；
步骤3)根据获取的所述参考定标体的上半空间积分反射功率和所述微波黑体的上半空间积分反射功率求出微波黑体的上半空间积分反射率。
6.根据权利要求5所述的微波黑体发射率的测量方法，其特征在于，在所述步骤1)之前还包括对所述装置进行初始化和校准的步骤：
根据微波黑体发射率所需的测试频段，选择安装合适的接收机和发射机；所述接收支架和发射支架置于初始位置；将所述金属板放置于黑体升降机构上，通过金属板的反射对发射链路和接收链路进行校准。
7.根据权利要求6所述的微波黑体发射率的测量方法，其特征在于，所述步骤1)包括：
步骤1-1)将参考定标体放置于所述装置的黑体升降机构上；
步骤1-2)所述闭环控制系统驱动接收机支架在指定俯仰角度区间，根据测试频段以固定角度步进转动，每个步进角度到位后停留若干秒，获取参考定标体在该点的散射数值并存储；从而获得垂直极化状态接收天线测得参考定标体的散射功率
其中，θs为接收支架扫描的俯仰角度，
Figure FDA0002098259860000022
为回转平台旋转的回转角度；
所述指定俯仰角度区间为0°-85°区间；
步骤1-3)获取指定俯仰角度区间的全部数值后，回转平台根据测试频段以固定角度步进转动旋转；从而获得水平极化状态接收天线测得参考定标体的散射功率
Figure FDA0002098259860000023
步骤1-4)固定角度旋转到位后，重复步骤1-2)至步骤1-3)直至回转平台旋转覆盖0-180°区间；从而获得来自参考定标体的散射功率
Figure FDA0002098259860000024
步骤1-5)根据散射对称性，求出参考定标体的上半空间积分散射功率A，
Figure FDA0002098259860000032
8.根据权利要求7所述的微波黑体发射率的测量方法，其特征在于，步骤2)包括：
步骤2-1)将待测微波黑体放置于所述装置的回转平台台面上；
步骤2-2)所述闭环控制系统驱动接收支架在指定角度区间，根据测试频段以固定角度步进转动，每个步进角度到位后停留若干秒，获取微波黑体在该点的散射数值并存储，得到垂直极化状态接收天线测得微波黑体的散射功率
Figure FDA0002098259860000033
步骤2-3)获取指定角度区间的全部数值后，驱动回转平台根据测试频段以固定角度步进转动旋转；从而获得水平极化状态接收天线测得微波黑体的散射功率
Figure FDA0002098259860000034
步骤2-4)每个固定角度旋转到位后，重复步骤2-2)至步骤2-3)，直至回转平台旋转覆盖0-180°区间；从而获得来自微波黑体的散射功率
Figure FDA0002098259860000035
Figure FDA0002098259860000036
步骤2-5)求出微波黑体定标体的上半空间积分散射功率B：
Figure FDA0002098259860000037
9.根据权利要求8所述的微波黑体发射率的测量方法，其特征在于，所述步骤3)包括：根据参考定标体的上半空间积分散射功率A和微波黑体定标体的上半空间积分散射功率B，得到微波黑体发射率e：
Figure FDA0002098259860000038
10.根据权利要求8所述的微波黑体发射率的测量方法，其特征在于，当采用一维扫角测量模式下的散射积分时，即时，所述微波黑体的发射率e为：
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