CN108956544B - 一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法 - Google Patents

一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108956544B
CN108956544B CN201810417776.1A CN201810417776A CN108956544B CN 108956544 B CN108956544 B CN 108956544B CN 201810417776 A CN201810417776 A CN 201810417776A CN 108956544 B CN108956544 B CN 108956544B
Authority
CN
China
Prior art keywords
laser
light
relaxation time
atoms
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201810417776.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108956544A (zh
Inventor
寇军
桑建芝
王学锋
卢向东
孙晓洁
邓意成
李洁
张笑楠
代亚东
曹建勋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Aerospace Control Instrument Institute
Original Assignee
Beijing Aerospace Control Instrument Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Aerospace Control Instrument Institute filed Critical Beijing Aerospace Control Instrument Institute
Priority to CN201810417776.1A priority Critical patent/CN108956544B/zh
Publication of CN108956544A publication Critical patent/CN108956544A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108956544B publication Critical patent/CN108956544B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法,该系统包括激光生成模块、偏振调制模块、信号检测模块、原子气室以及上位机,该方法由激光生成模块提供频率稳定的激光,通过偏振调制模块调节激光的偏振态,不同的偏振态分别起到泵浦光和探测光的作用,泵浦光使原子极化,探测光经过极化后的原子气室之后光功率发生变化,通过上位机调节泵浦光和探测光的间隔时间,多次测得探测光的透射光功率值,根据e指数曲线拟合得到原子的横向弛豫时间。采用本发明的原子横向弛豫时间检测方法,在单一光路中实现原子横向弛豫时间的测试,光路系统简单可靠,能够提高测量精度和工作效率。

Description

一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法
技术领域
本发明涉及一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法,属于量子精密测量领域。
背景技术
原子能级具有量子化、高稳定、唯一性等特点,因此原子多被用于研制原子磁力仪、原子陀螺仪和原子钟等高精度仪表,这些仪表的工作机理均建立在原子极化的基础上,而原子间的碰撞、原子与器壁间的碰撞等会导致原子的横向弛豫,表现为原子的极化强度随时间减小,衰减的时间常数为横向弛豫时间。原子的横向弛豫时间是影响原子磁力仪等仪表精度的关键参数,因此提高原子的横向弛豫时间能够有效提高仪表的精度和可靠性。
由于加工工艺的限制,不同的原子气室个体存在差异,物理参数例如气室尺寸、缓冲气体压强、缓冲气体比例等并不相同,原子的横向弛豫时间也不尽相同。目前针对原子弛豫时间的检测方法,都需要提供两束激光,一束泵浦光用于使原子极化,一束探测光用于探测原子的极化强度,光路复杂且易受到环境条件的影响。此外,传统方法中探测光的脉宽较长,探测光引起的原子弛豫影响未考虑在内。因此,急需一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法。
发明内容
本发明的技术解决问题:克服现有技术的不足,提供一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法,能够原子横向弛豫时间的自动检测,提高了工作效率。
本发明采用的技术方案为:一种原子横向弛豫时间自动检测系统,包括:激光生成模块、偏振调制模块、原子气室、信号检测模块以及上位机;上位机控制激光生成模块产生激光,上位机控制偏振调制模块对激光偏振态进行调制,产生泵浦光和探测光;泵浦光使原子极化,探测光用于探测原子的极化强度;同时,上位机通过信号检测模块采集从原子气室透射的探测光光强;上位机控制偏振调制模块多次改变泵浦光与探测光之间的时间间隔T,得到多个探测光光强,得到原子弛豫时间曲线;根据e指数曲线拟合得到原子的横向弛豫时间,完成原子横向弛豫时间的自动检测。
所述激光生成模块包括激光器、激光器电流源和激光器温控;激光器电流源为激光器提供恒定工作电流,激光器温控用于控制激光器的恒定工作温度,上位机控制所述激光生成模块产生功率恒定、频率与原子跃迁共振的线偏振激光。
所述偏振调制模块包括电光调制器、高压放大器和信号发生器;上位机控制信号发生器产生周期性的脉冲电压信号,通过高压放大器提高电压幅值,再将放大后的电压加载到电光调制器上,实现激光偏振的周期性切换。
所述信号采集模块包括光电探测器和数据采集卡,光电探测器测量从原子气室出射激光的光强,转化为电信号后通过数据采集卡提供给上位机;所述原子弛豫时间曲线表示探测光与不同极化强度原子相互作用后的透射光强,以光强为纵坐标,以泵浦光与探测光时间间隔T为横坐标。
所述激光器、电光调制器、原子气室和光电探测器位于同一轴线上。
一种原子横向弛豫时间自动检测方法,步骤如下:
步骤一:调节所述激光器电流源和激光器温控,使激光器输出功率恒定且频率与原子本征跃迁共振的激光;
步骤二:上位机控制偏振调制模块对激光偏振态进行周期性的调制,依次产生两种偏振态相反的圆偏振光,分别作为泵浦光和探测光,设置两者之间的时间间隔T;
步骤三:利用光电探测器测量从原子气室出射的激光,将光强转化为电压值后,由数据采集卡采集并发送到上位机;
步骤四:上位机控制偏振调制模块多次改变泵浦光与探测光之间的时间间隔T,得到多个探测光透射光强;
步骤五:通过上位机根据e指数曲线拟合原子弛豫时间曲线,得到原子的弛豫时间TD,完成原子横向弛豫时间的自动检测。
所述得到原子的弛豫时间TD采用公式:
Figure BDA0001649836340000031
其中,I为探测光从原子气室出射后的光强,I0为探测光入射原子气室前的光强,T为泵浦光与探测光之间的时间间隔。
本发明与现有方法相比的优点在于:
(1)传统方法需要提供两束激光,一束泵浦光用于使原子极化,一束探测光用于探测原子的极化强度,光路复杂且易受到环境条件的影响。本发明在单一光路中通过对激光的偏振态进行调制实现了原子横向弛豫时间的自动检测,相比传统方法中的光路设计,系统结构简单,不易受环境因素影响,极大方便了原子横向弛豫时间的自动检测,提高了工作效率。
(2)传统方法中探测光的脉宽较长,探测光在探测过程中也会引起的原子极化弛豫,引起测量结果偏差。本发明采用超窄脉冲作为探测光,探测光对原子极化强度的影响可忽略,从而提高原子横向弛豫时间的检测精度。
附图说明
图1是本发明的原子横向弛豫时间自动检测系统框图;
图2是本发明的原子横向弛豫时间自动检测系统信号发生器输出脉冲信号时序和入射原子气室的光脉冲信号时序图;
图3是本发明的原子横向弛豫时间自动检测方法流程图。
具体实施方式
如图1所示,本发明提出了一种原子横向弛豫时间自动检测系统,其特征在于包括:激光生成模块、偏振调制模块、原子气室、信号检测模块以及上位机;
上位机控制激光生成模块产生激光,上位机控制偏振调制模块对激光偏振态进行调制,使其偏振态按照特定的时序变化,不同的偏振态分别起到泵浦光和探测光的作用,泵浦光使原子极化,探测光用于探测原子的极化强度,同时,上位机通过信号检测模块采集从原子气室透射的探测光光强;上位机控制偏振调制模块多次改变泵浦光与探测光之间的时间间隔T,得到多个探测光透射光强,并根据e指数曲线拟合得到原子的横向弛豫时间TD,完成原子横向弛豫时间的自动检测。
激光生成模块包括激光器、激光器电流源和激光器温控,激光器电流源为激光器提供恒定工作电流,激光器温控控制激光器的恒定工作温度,上位机控制激光生成模块产生功率恒定、频率与原子跃迁共振的线偏振激光。在具体实施例中,选用VCSEL激光器作为光源,激光器电流源采用Thorlabs公司的TDC210C激光电流控制器,控制精度0.1mA,激光器温控采用Thorlabs公司的TED200C温度控制器,控制精度0.01℃,激光器波长为795nm,功率120uW。
偏振调制模块包括电光调制器、高压放大器和信号发生器,上位机控制信号发生器产生周期性的脉冲电压信号,在具体实施例中,信号发生器产生的单个周期内的电压值为V0=0V,V1=-4V,V2=+4V。信号发生器输出的脉冲电压信号经过高压放大器后电压幅值放大20倍,再将放大后的电压加载到电光调制器上,实现激光偏振的周期性切换。在具体实施例中,高压放大器采用Thorlabs公司的HVA200高压放大器,电光调制器采用Thorlabs公司的EO-AM-NR-C1电光调制器,工作在偏振调制模式。
信号发生器输出脉冲信号时序和入射原子气室的光脉冲信号时序如图2所示,当信号发生器输出电压取值V1=-4V时,激光偏振态为σ+,起泵浦光作用,泵浦光脉宽设置为1s,使原子极化。当信号发生器输出电压取值V2=+4V时,激光偏振态为σ-,起探测光作用,探测光脉宽设置为1us。泵浦光与探测光之间的时间间隔T初始值T=0.1ms,T取值范围为0.1ms~10ms,每个周期时间间隔T的变化步进ΔT为0.1ms。
激光器、电光调制器、原子气室和光电探测器位于同一轴线上。原子采用87Rb原子,参与作用的原子能级跃迁为|F=2>→|F`=2>,泵浦光使原子集中在|F=2,mF=+2>,原子在宏观上呈现极化状态。
波长为信号采集模块包括光电探测器和数据采集卡,光电探测器测量从原子气室出射激光的光强,转化为电信号后通过数据采集卡提供给上位机。原子弛豫时间曲线表示探测光与不同极化强度原子相互作用后的透射光强,以光强I为纵坐标,以泵浦光与探测光时间间隔T为横坐标。得到原子弛豫时间曲线后,采用公式:
Figure BDA0001649836340000051
进行e指数拟合,其中,I为探测光从原子气室出射后的光强,I0为探测光入射原子气室前的光强,T为泵浦光与探测光之间的时间间隔。
得到原子的时间常数TD,即为横向弛豫时间,完成原子横向弛豫时间的自动检测。
如图3所示,基于上述系统,本发明还提出了一种原子横向弛豫时间自动检测方法,步骤如下:
步骤一:调节所述激光器电流源和激光器温控,使激光器输出功率恒定且频率与原子本征跃迁共振的激光;
步骤二:上位机控制偏振调制模块对激光偏振态进行周期性的调制,依次产生两种偏振态相反的圆偏振光,分别作为泵浦光和探测光,设置两者之间的时间间隔T=0.1ms;
步骤三:利用光电探测器测量从原子气室出射的激光,将光强转化为电压值后,由数据采集卡采集并发送到上位机;
步骤四:上位机控制偏振调制模块以步进ΔT=0.1ms多次改变泵浦光与探测光之间的时间间隔T,T取值范围为0.1ms~10ms,得到多个探测光透射光强;
步骤五:通过上位机根据采用公式
Figure BDA0001649836340000052
拟合原子弛豫时间曲线,同时得到原子的弛豫时间TD
以上所述的实施例只是本发明较优选的具体实施方式,本领域的技术人员在本发明技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本发明的保护范围内。

Claims (2)

1.一种原子横向弛豫时间自动检测方法,涉及的系统包括:激光生成模块、偏振调制模块、原子气室、信号检测模块以及上位机;上位机控制激光生成模块产生激光,上位机控制偏振调制模块对激光偏振态进行调制,产生泵浦光和探测光;泵浦光使原子极化,探测光用于探测原子的极化强度;同时,上位机通过信号检测模块采集从原子气室透射的探测光光强;上位机控制偏振调制模块多次改变泵浦光与探测光之间的时间间隔T,得到多个探测光光强,得到原子弛豫时间曲线;根据e指数曲线拟合得到原子的横向弛豫时间,完成原子横向弛豫时间的自动检测;
所述激光生成模块包括激光器、激光器电流源和激光器温控;激光器电流源为激光器提供恒定工作电流,激光器温控用于控制激光器的工作温度恒定,上位机控制所述激光生成模块产生功率恒定、频率与原子跃迁共振的线偏振激光;
所述偏振调制模块包括电光调制器、高压放大器和信号发生器;上位机控制信号发生器产生周期性的脉冲电压信号,通过高压放大器提高电压幅值,再将放大后的电压加载到电光调制器上,实现激光偏振的周期性切换;
所述信号检测模块包括光电探测器和数据采集卡,光电探测器测量从原子气室出射激光的光强,转化为电信号后通过数据采集卡提供给上位机;所述原子弛豫时间曲线表示探测光与不同极化强度原子相互作用后的透射光强,以光强为纵坐标,以泵浦光与探测光时间间隔T为横坐标;其特征在于步骤如下:
步骤一:调节所述激光器电流源和激光器温控,使激光器输出功率恒定且频率与原子本征跃迁共振的线偏振激光;
步骤二:上位机控制偏振调制模块对激光偏振态进行周期性的调制,依次产生两种偏振态相反的圆偏振光,分别作为泵浦光和探测光,设置两者之间的时间间隔T;
步骤三:利用光电探测器测量从原子气室出射的激光,将光强转化为电压值后,由数据采集卡采集并发送到上位机;
步骤四:上位机控制偏振调制模块多次改变泵浦光与探测光之间的时间间隔T,得到多个探测光透射光强,得到原子弛豫时间曲线;
步骤五:通过上位机根据e指数曲线拟合原子弛豫时间曲线,得到原子的弛豫时间TD,完成原子横向弛豫时间的自动检测;
所述得到原子的弛豫时间TD采用公式:
Figure FDA0003074084920000021
其中,I为探测光从原子气室出射后的光强,I0为探测光入射原子气室前的光强,T为泵浦光与探测光之间的时间间隔。
2.根据权利要求1所述的一种原子横向弛豫时间自动检测方法,其特征在于:所述激光器、电光调制器、原子气室和光电探测器位于同一轴线上。
CN201810417776.1A 2018-05-04 2018-05-04 一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法 Active CN108956544B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810417776.1A CN108956544B (zh) 2018-05-04 2018-05-04 一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810417776.1A CN108956544B (zh) 2018-05-04 2018-05-04 一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108956544A CN108956544A (zh) 2018-12-07
CN108956544B true CN108956544B (zh) 2021-08-10

Family

ID=64498951

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810417776.1A Active CN108956544B (zh) 2018-05-04 2018-05-04 一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108956544B (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111337868B (zh) * 2020-03-23 2022-07-08 北京自动化控制设备研究所 一种核自旋纵弛豫时间测量方法
CN112946541B (zh) * 2021-02-02 2021-12-28 中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院 一种碱金属原子自旋全光学控制系统及探测方法
CN113311369A (zh) * 2021-05-28 2021-08-27 清华大学 基于光纤环形器的微小型原子磁强计及磁成像系统
CN113253165B (zh) * 2021-06-11 2021-09-24 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院 一种新型全光学原子磁强计实现装置
CN113721171B (zh) * 2021-07-27 2024-06-04 北京量子信息科学研究院 磁梯度系统及其检测方法
CN114002573B (zh) * 2021-10-29 2024-03-26 东南大学 一种材料载流子弛豫时间检测系统及方法
CN114526893B (zh) * 2022-02-18 2024-05-28 重庆邮电大学 一种测量激光晶体受激发射截面的方法及装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6166543A (en) * 1997-09-25 2000-12-26 Schlumberger Technology Corporation Method and apparatus for measuring nuclear magnetic resonance
CN101718691A (zh) * 2009-12-03 2010-06-02 南京大学 监测含铁电纳米晶聚合物极化取向度及弛豫特性的方法
CN103954921A (zh) * 2014-03-13 2014-07-30 中国科学院电工研究所 一种纳米复合材料的核磁共振检测方法
CN106289222A (zh) * 2016-07-28 2017-01-04 北京航天控制仪器研究所 一种核磁共振陀螺仪工作介质的极化和探测方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6166543A (en) * 1997-09-25 2000-12-26 Schlumberger Technology Corporation Method and apparatus for measuring nuclear magnetic resonance
CN101718691A (zh) * 2009-12-03 2010-06-02 南京大学 监测含铁电纳米晶聚合物极化取向度及弛豫特性的方法
CN103954921A (zh) * 2014-03-13 2014-07-30 中国科学院电工研究所 一种纳米复合材料的核磁共振检测方法
CN106289222A (zh) * 2016-07-28 2017-01-04 北京航天控制仪器研究所 一种核磁共振陀螺仪工作介质的极化和探测方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于LabView的脉冲核磁共振实验;阙立志 等;《实验室研究与探索》;20080315;第27卷(第03期);第52页 *
小型化原子磁场测量关键技术研究;孙晓洁 等;《量子光学学报》;20180225;第24卷(第01期);第25-29页 *
铷原子横向弛豫时间的测量方法比较研究;丁志超 等;《光学学报》;20150630;第35卷(第6期);第0602002-1至0602002-6页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN108956544A (zh) 2018-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108956544B (zh) 一种原子横向弛豫时间自动检测系统及方法
US10215816B2 (en) Magnetic field measuring apparatus
CN102176021B (zh) 一种激光相位法测距装置
CN103605086B (zh) 一种基于光纤电光调制器的可自由扩展测磁系统
CN112083358B (zh) 一种用于serf超高灵敏磁场测量装置的激光稳频系统
CN112946541B (zh) 一种碱金属原子自旋全光学控制系统及探测方法
CN108717168A (zh) 一种基于光场幅度调制的标量磁场梯度测量装置及方法
CN112083364B (zh) 一种微波场和温度场阵列式定量测试系统及方法
CN110988504A (zh) 里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定控制装置及方法
CN101604815A (zh) 一种控制脉冲激光建立时间的激光稳频方法
CN102738694A (zh) 一种利用f-p干涉仪实现激光稳频的方法
CN111610470B (zh) 一种新型射频原子磁力仪及其实现方法
CN110045309B (zh) 一种新型的光泵磁力仪精度自检测方法
CN108614224B (zh) 一种用于cpt磁力仪的气室工作温度自动标定系统及方法
CN113203965B (zh) 一种高灵敏度脉冲光学泵浦式标量磁场测量装置及方法
JP2009098106A (ja) 光周波数の測定方法および装置
CN104297598B (zh) 一种vcsel的多参数测试装置及方法
CN109917415A (zh) 一种激光测距仪
CN103760135A (zh) V型能级结构原子的速度转移激光光谱测量装置及方法
CN105717344B (zh) 一种相位调制器半波电压测量系统及测量方法
JP2012132711A (ja) パルス間位相ズレ測定装置、オフセット周波数制御装置、パルス間位相ズレ測定方法、オフセット周波数制御方法
CN110649923B (zh) 一种双频探测相干布居囚禁原子钟及其工作方法
CN110045430B (zh) 一种地磁日变监测方法
CN212301699U (zh) 一种里德堡原子微波电场强度计激光强度稳定控制装置
US12028084B2 (en) Hybrid-cycle quantum-clock frequency regulation

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant