CN108919511A - 光学装置及设备 - Google Patents
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Abstract
本公开是关于一种光学装置及设备。该光学装置包括：面发射激光器、阻抗检测电路、控制器以及位于面发射激光器出光光路上的光学组件；其中，光学组件包括支架以及位于支架内部的衍射光学元件DOE，支架的内侧壁上设置有成对的导电接触面，DOE的外侧壁上附着有与成对的导电接触面相互接触的导电层；阻抗检测电路分别与成对的导电接触面以及控制器连接；控制器还与面发射激光器连接，控制器用于在阻抗检测电路检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制面发射激光器关闭。本公开实施例的方法，可以避免由于DOE位置移动或破损导致面发射激光器发射的激光未被均匀发散，单点能量过高导致对人眼造成不可恢复的伤害的问题，提高了安全性。
Description
技术领域
本公开涉及光学技术领域，尤其涉及一种光学装置及设备。
背景技术
目前，越来越多的设备支持基于面发射激光器的人脸识别功能。
相关技术中，由于激光具有较高的能量，没有打散均匀化的激光直接照射人眼具有危险。因此，面发射激光器通常需要结合衍射光学元件(Diffractive OpticalElements，DOE)将聚集的激光打散后作为均匀的面光源发射出。DOE打散后的激光单点强度已经无害，但设备使用过程中DOE有位置移动或者破损的风险，一旦DOE破损或位置移动，激光未被均匀发散，单点能量过高会对人眼造成不可恢复的伤害。
发明内容
为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种光学装置及设备。
根据本公开实施例的第一方面，提供一种光学装置，包括：
面发射激光器、阻抗检测电路、控制器以及位于该面发射激光器出光光路上的光学组件；其中，
该光学组件包括支架以及位于该支架内部的衍射光学元件DOE，该支架的内侧壁上设置有成对的导电接触面，该DOE的外侧壁上附着有与该成对的导电接触面相互接触的导电层；
该阻抗检测电路分别与该成对的导电接触面以及该控制器连接；
该控制器还与该面发射激光器连接，该控制器用于在该阻抗检测电路检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭。
在一种可能实现的设计中，该支架的内侧壁上设置有多对成对的导电接触面，该DOE的外侧壁上设置有多个导电层，每个导电层可与对应的一对成对的导电接触面相互接触。
在一种可能实现的设计中，各该导电层之间设置有绝缘间隙。
在一种可能实现的设计中，该支架包括多个内侧壁，该支架的每个内侧壁上均设置有一对导电接触面，该DOE包括多个外侧壁，该DOE的每个外侧壁上均设置有一个导电层。
在一种可能实现的设计中，每对导电接触面两端间的长度不小于对应的导电层的长度。
在一种可能实现的设计中，该控制器还用于在该阻抗检测电路检测得到的阻抗在预设范围内时，控制该面发射激光器持续工作。
在一种可能实现的设计中，该导电接触面为由导电泡棉形成的接触面。
在一种可能实现的设计中，该导电层为氧化铟锡ITO层。
在一种可能实现的设计中，该面发射激光器为垂直腔面发射激光器VCSEL。
根据本公开实施例的第二方面，提供一种设备，所述设备包括光学装置；该光学装置包括：面发射激光器、阻抗检测电路、控制器以及位于该面发射激光器出光光路上的光学组件；其中，
该光学组件包括支架以及位于该支架内部的衍射光学元件DOE，该支架的内侧壁上设置有成对的导电接触面，该DOE的外侧壁上附着有与该成对的导电接触面相互接触的导电层；
该阻抗检测电路分别与该成对的导电接触面以及该控制器连接；
该控制器还与该面发射激光器连接，该控制器用于在该阻抗检测电路检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭。
在一种可能实现的设计中，该支架的内侧壁上设置有多对成对的导电接触面，该DOE的外侧壁上设置有多个导电层，每个导电层可与对应的一对成对的导电接触面相互接触。
在一种可能实现的设计中，各该导电层之间设置有绝缘间隙。
在一种可能实现的设计中，该支架包括多个内侧壁，该支架的每个内侧壁上均设置有一对导电接触面，该DOE包括多个外侧壁，该DOE的每个外侧壁上均设置有一个导电层。
在一种可能实现的设计中，每对导电接触面两端间的长度不小于对应的导电层的长度。
在一种可能实现的设计中，该控制器还用于在该阻抗检测电路检测得到的阻抗在预设范围内时，控制该面发射激光器持续工作。
在一种可能实现的设计中，该导电接触面为由导电泡棉形成的接触面。
在一种可能实现的设计中，该导电层为氧化铟锡ITO层。
在一种可能实现的设计中，该面发射激光器为垂直腔面发射激光器VCSEL。
本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：支架的内侧壁上设置有成对的导电接触面，DOE的外侧壁上附着有与该成对的导电接触面相互接触的导电层，阻抗检测电路分别与该成对的导电接触面连接，用于检测导电层与导电接触面间的阻抗，控制器分别与阻抗检测电路和面发射激光器连接，用于在阻抗检测电路检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭，由于DOE位置移动或破损时，会引起导电接触面与导电层间阻抗的变化，在导电接触面与导电层间阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭，可以避免由于DOE位置移动或破损导致面发射激光器发射的激光未被均匀发散，单点能量过高导致对人眼造成不可恢复的伤害的问题，提高了安全性。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
图1是根据一示例性实施例示出的一种光学装置的框图一；
图2是根据一示例性实施例示出的一种光学装置的框图二；
图3是根据另一示例性实施例示出的一种光学装置的框图一；
图4是根据另一示例性实施例示出的一种光学装置的框图二；
图5是根据另一示例性实施例示出的一种光学装置的框图三；
图6是根据一示例性实施例示出的设备800的框图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。
图1是根据一示例性实施例示出的一种光学装置的框图一，图2是根据一示例性实施例示出的一种光学装置的框图二。如图1和图2所示，本实施例的光学装置可以包括：面发射激光器(未示出)、阻抗检测电路11、控制器12以及位于所述面发射激光器出光光路上的光学组件；其中，该光学组件包括支架13以及位于支架13内部的DOE 14，支架13的内侧壁上设置有成对的导电接触面131，DOE 14的外侧壁上附着有与该成对的导电接触面131相互接触的导电层141；阻抗检测电路11分别与该成对的导电接触面131以及控制器12连接；控制器12还与该面发射激光器连接，控制器12用于在阻抗检测电路11检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭。
其中，当阻抗检测电路11检测得到的阻抗未在预设范围内时，可以表示DOE位置移动或破损；当阻抗检测电路11检测得到的阻抗在预设范围内时，可以表示DOE位置未移动且未破损。可选的，预设范围可以通过实验确定。即，可以通过阻抗检测电路11检测导电层141与导电接触面131之间的阻抗，来检测DOE的位置移动和破损。
具体的，DOE 14的导电层141和支架13的导电接触面131接触后通过阻抗检测电路可以检测导电层141与导电接触面131间的阻抗。如果DOE 14没有位置移动或者破损，则阻抗检测电路检测出的阻抗保持在一定范围(即，预设范围)之内，此时可以认为DOE 14正常，即DOE 14没有位置移动或破损。一旦DOE 14位置移动或者破损，导电层141与导电接触面131间的阻抗受到影响，引起导电层141用于导电接触面131间阻抗的巨大变化，此时阻抗检测电路11检测到阻抗巨变，控制器可以控制面发射激光器关闭，使得面发射激光器不再发射激光。
需要说明的是，当DOE 14位置移动时，与导电接触面131接触的导电层141的面积可以发生变化，从而引起导电接触面131与导电层141间阻抗的变化。当DOE 14破损时，可以引起导电层141的损坏(例如，断裂)，进而引起导电层141导电特性的变化，从而引起导电接触面131与导电层141间阻抗的变化。具体的，DOE 14的位置移动或者破损，可以引起导电接触面131与导电层141间阻抗的增大。
可选的，该面发射激光器具体可以为垂直腔面发射激光器(Vertical CavitySurface Emitting Laser，VCSEL)。
可选的，阻抗检测电路11可以为能够检测阻抗的任意电路。具体的，阻抗检测电路11可以与成对的导电接触面131组成闭环的电路，用于检测导电层141与导电接触面131间的阻抗。
其中，控制器12可以用于控制面发射激光器关闭。需要说明的是，对于控制器12控制发射激光器关闭的具体方式，本公开不作限定。可选的，可以通过输出控制信号的方式，控制面发射激光器关闭。例如，控制信号例如可以为控制切断面发射激光器电源的控制信号。
进一步可选的，阻抗检测电路11，还可以用于判断其检测得到的阻抗是否在预设范围内；或者，控制器12，还可以用于判断阻抗检测电路11检测得到的阻抗是否在预设范围内；或者，阻抗检测电路11与控制电路12之间还可以连接有判断电路，用于判断阻抗检测电路11检测得到的阻抗是否在预设范围内。
可选的，导电层141可以为导电镀层、导电涂层等。进一步可选的，为了使得导电层的导电特性能够灵敏的反应DOE的破损，导电层141具体可以为导电且易碎的导电层。例如，导电层141可以为氧化铟锡(Indium tin oxide，ITO)层。
可选的，为了实现导电层141与导电接触面131之间更好的接触，导电接触面具体可以为由具有一定伸缩性的导电物质形成的接触面。进一步可选的，导电接触面可以为由导电泡棉形成的接触面。
可选的，对于实现导电层141与导电接触面131接触的具体工艺，本公开不作限定。例如，可以通过邦定(bonding)工艺实现导电层141与导电接触面131接触。
可选的，为了实现对整个导电层的导电特性的检测，每对导电接触面两端间的长度不小于对应的导电层的长度。
可选的，在阻抗检测电路11检测得到的阻抗在预设范围内时，控制器12可以不作任何操作；或者，控制器12，还用于在阻抗检测电路11检测得到的阻抗在预设范围内时，控制面发射激光器持续工作，以使发射激光器可以持续发射激光，便于人脸识别。
本实施例提供的光学装置，支架的内侧壁上设置有成对的导电接触面，DOE的外侧壁上附着有与该成对的导电接触面相互接触的导电层，阻抗检测电路分别与该成对的导电接触面连接，用于检测导电层与导电接触面间的阻抗，控制器分别与阻抗检测电路和面发射激光器连接，用于在阻抗检测电路检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭，由于DOE位置移动或破损时，会引起导电接触面与导电层间阻抗的变化，在导电接触面与导电层间阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭，可以避免由于DOE位置移动或破损导致面发射激光器发射的激光未被均匀发散，单点能量过高导致对人眼造成不可恢复的伤害的问题，提高了安全性。
可选的，为了提高阻抗检测电路11检测导电接触面131与导电层141间阻抗的灵敏度，支架13的内侧壁上设置有多对成对的导电接触面131，DOE 14的外侧壁上设置有多个导电层141，每个导电层141可与对应的一对成对的导电接触面131相互接触。
需要说明的是，当设置有多对成对的导电接触面131时，阻抗检测电路11可以与每对成对的导电接触面131均组成独立的闭环电路，用于检测每对导电接触面131与导电层141间的阻抗。
进一步可选的，为了避免由于不同导电层之间的相互影响，而导致阻抗检测电路11检测得到的阻抗未能反映DOE位置移动或破损，或误检测到DOE位置移动或破损的问题，各导电层141之间可以设置有绝缘间隙。
可选的，支架13包括多个内侧壁，DOE 14包括多个外侧壁上，多对导电接触面131可以分别设置在不同的内侧壁，或者，也可以部分设置在相同的内侧壁。
图3是根据另一示例性实施例示出的一种光学装置的框图一，图4是根据另一示例性实施例示出的一种光学装置的框图二，图5是根据另一示例性实施例示出的一种光学装置的框图三。如图3-图5所示，在上述实施例的基础上，可选的，支架13的每个内侧壁上均设置有一对导电接触面131，DOE 14的每个外侧壁上均设置有一个导电层141。
如图5所示，各导电层141之间可以设置有绝缘间隙142。
本实施例提供的光学装置，支架的每个内侧壁上均设置有一对导电接触面，DOE的每个外侧壁上均设置有一个导电层，阻抗检测电路检测每对导电接触面131与导电层141间的阻抗，控制器在DOE的任意一个外侧壁上设置的导电层与对应的一对成对的导电接触面间阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭，可以避免由于DOE位置移动或破损导致面发射激光器发射的激光未被均匀发散，单点能量过高导致对人眼造成不可恢复的伤害的问题，提高了安全性。并且，由于每个外侧壁上设置的导电层与对应的一对成对的导电接触面间阻抗，因此能够更灵敏的检测出DOE位置移动和损坏检测，且易于实现。
图6是根据一示例性实施例示出的设备800的框图。例如，设备800可以是移动电话，计算机，数字广播设备，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。
参照图6，设备800可以包括以下一个或多个组件：处理组件802，存储器804，电源组件806，多媒体组件808，音频组件810，输入/输出(I/O)的接口812，传感器组件814，以及通信组件816。
处理组件802通常控制设备800的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件802可以包括一个或多个处理器820来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件802可以包括一个或多个模块，便于处理组件802和其他组件之间的交互。例如，处理组件802可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件808和处理组件802之间的交互。
存储器804被配置为存储各种类型的数据以支持在设备800的操作。这些数据的示例包括用于在设备800上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器804可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
电源组件806为设备800的各种组件提供电力。电源组件806可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为设备800生成、管理和分配电力相关联的组件。
多媒体组件808包括在该设备800和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。该触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与该触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件808包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当设备800处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。
音频组件810被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件810包括一个麦克风(MIC)，当设备800处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器804或经由通信组件816发送。在一些实施例中，音频组件810还包括一个扬声器，用于输出音频信号。
I/O接口812为处理组件802和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。
传感器组件814包括一个或多个传感器，用于为设备800提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件814可以检测到设备800的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如该组件为设备800的显示器和小键盘，传感器组件814还可以检测设备800或设备800一个组件的位置改变，用户与设备800接触的存在或不存在，设备800方位或加速/减速和设备800的温度变化。传感器组件814可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件814还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件814还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。
通信组件816被配置为便于设备800和其他设备之间有线或无线方式的通信。设备800可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件816经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，该通信组件816还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。
在示例性实施例中，设备800可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现。
在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器804。例如，该非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。
其中，设备800可以包括光学装置。该光学装置，包括：面发射激光器、阻抗检测电路、控制器以及位于该面发射激光器出光光路上的光学组件；其中，
该光学组件包括支架以及位于该支架内部的衍射光学元件DOE，该支架的内侧壁上设置有成对的导电接触面，该DOE的外侧壁上附着有与该成对的导电接触面相互接触的导电层；
该阻抗检测电路分别与该成对的导电接触面以及该控制器连接；
该控制器还与该面发射激光器连接，该控制器用于在该阻抗检测电路检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭。
综上所述，支架的内侧壁上设置有成对的导电接触面，DOE的外侧壁上附着有与该成对的导电接触面相互接触的导电层，阻抗检测电路分别与该成对的导电接触面连接，用于检测导电层与导电接触面间的阻抗，控制器分别与阻抗检测电路和面发射激光器连接，用于在阻抗检测电路检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭，由于DOE位置移动或破损时，会引起导电接触面与导电层间阻抗的变化，在导电接触面与导电层间阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭，可以避免由于DOE位置移动或破损导致面发射激光器发射的激光未被均匀发散，单点能量过高导致对人眼造成不可恢复的伤害的问题，提高了安全性。
在一种可能实现的设计中，该支架的内侧壁上设置有多对成对的导电接触面，该DOE的外侧壁上设置有多个导电层，每个导电层可与对应的一对成对的导电接触面相互接触。
综上所述，支架的内侧壁上设置有多对成对的导电接触面，该DOE的外侧壁上设置有多个导电层，每个导电层可与对应的一对成对的导电接触面相互接触，可以提高阻抗检测电路检测导电接触面与导电层间阻抗的灵敏度。
在一种可能实现的设计中，各该导电层之间设置有绝缘间隙。
综上所述，各该导电层之间设置有绝缘间隙，可以避免由于不同导电层之间的相互影响，而导致阻抗检测电路11检测得到的阻抗未能反映DOE位置移动或破损，或误检测到DOE位置移动或破损的问题。
在一种可能实现的设计中，该支架包括多个内侧壁，该支架的每个内侧壁上均设置有一对导电接触面，该DOE包括多个外侧壁，该DOE的每个外侧壁上均设置有一个导电层。
综上所述，支架的每个内侧壁上均设置有一对导电接触面，DOE的每个外侧壁上均设置有一个导电层，阻抗检测电路检测每对导电接触面131与导电层141间的阻抗，控制器在DOE的任意一个外侧壁上设置的导电层与对应的一对成对的导电接触面间阻抗未在预设范围内时，控制该面发射激光器关闭，可以避免由于DOE位置移动或破损导致面发射激光器发射的激光未被均匀发散，单点能量过高导致对人眼造成不可恢复的伤害的问题，提高了安全性。并且，由于每个外侧壁上设置的导电层与对应的一对成对的导电接触面间阻抗，因此能够更灵敏的检测出DOE位置移动和损坏检测，且易于实现。
在一种可能实现的设计中，每对导电接触面两端间的长度不小于对应的导电层的长度。
综上所述，每对导电接触面两端间的长度不小于对应的导电层的长度，可以实现对整个导电层的导电特性的检测。
在一种可能实现的设计中，该控制器还用于在该阻抗检测电路检测得到的阻抗在预设范围内时，控制该面发射激光器持续工作。
综上所述，控制器还用于在该阻抗检测电路检测得到的阻抗在预设范围内时，控制该面发射激光器持续工作，使得在DOE位置未移动或未破损时，发射激光器可以持续发射激光，便于人脸识别。
在一种可能实现的设计中，该导电接触面为由导电泡棉形成的接触面。
综上所述，导电接触面为由导电泡棉形成的接触面，可以实现导电层与导电接触面之间更好的接触。
在一种可能实现的设计中，该导电层为氧化铟锡ITO层。
综上所述，导电层为氧化铟锡ITO层，使得导电层的导电特性能够灵敏的反应DOE的破损。
在一种可能实现的设计中，该面发射激光器为垂直腔面发射激光器VCSEL。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由权利要求书指出。
应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求书来限制。
Claims (10)
1.一种光学装置，其特征在于，包括：面发射激光器、阻抗检测电路、控制器以及位于所述面发射激光器出光光路上的光学组件；其中，
所述光学组件包括支架以及位于所述支架内部的衍射光学元件DOE，所述支架的内侧壁上设置有成对的导电接触面，所述DOE的外侧壁上附着有与所述成对的导电接触面相互接触的导电层；
所述阻抗检测电路分别与所述成对的导电接触面以及所述控制器连接；
所述控制器还与所述面发射激光器连接，所述控制器用于在所述阻抗检测电路检测得到的阻抗未在预设范围内时，控制所述面发射激光器关闭。
2.根据权利要求1所述的光学装置，其特征在于，所述支架的内侧壁上设置有多对成对的导电接触面，所述DOE的外侧壁上设置有多个导电层，每个导电层可与对应的一对成对的导电接触面相互接触。
3.根据权利要求2所述的光学装置，其特征在于，各所述导电层之间设置有绝缘间隙。
4.根据权利要求2所述的光学装置，其特征在于，所述支架包括多个内侧壁，所述支架的每个内侧壁上均设置有一对导电接触面，所述DOE包括多个外侧壁，所述DOE的每个外侧壁上均设置有一个导电层。
5.根据权利要求1所述的光学装置，其特征在于，每对导电接触面两端间的长度不小于对应的导电层的长度。
6.根据权利要求1至5任一项所述的光学装置，其特征在于，所述控制器还用于在所述阻抗检测电路检测得到的阻抗在预设范围内时，控制所述面发射激光器持续工作。
7.根据权利要求1至5任一项所述的光学装置，其特征在于，所述导电接触面为由导电泡棉形成的接触面。
8.根据权利要求1至5任一项所述的光学装置，其特征在于，所述导电层为氧化铟锡ITO层。
9.根据权利要求1至5任一项所述的光学装置，其特征在于，所述面发射激光器为垂直腔面发射激光器VCSEL。
10.一种设备，其特征在于，所述设备包括如权利要求1-9任一项所述的光学装置。
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