CN108857578B - 一种磁性能试验板件剪切质量监控方法 - Google Patents

一种磁性能试验板件剪切质量监控方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种应用于软磁材料磁性能测量技术领域的磁性能试验板件剪切质量监控方法，新剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值A作为监控基准数值；精密剪切机使用后，磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具，本发明的磁性能试验板件剪切质量监控方法，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行监控，发现剪切质量恶化后，能及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果的不良影响。

Description

一种磁性能试验板件剪切质量监控方法
技术领域
本发明属于软磁材料磁性能测量技术领域，更具体地说，是涉及一种磁性能试验板件剪切质量监控方法。
背景技术
精密剪板机剪切质量的好坏，直接影响到软磁材料磁性能测量结果的准确性。软磁材料磁性能测量过程中，试验标准对试样的剪切质量，要求无明显毛刺，但毛刺大小无法准确量化。这样导致的问题是，当精密剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，剪切出的板件质量发生变化，从而影响后续磁性能试验的试样结果准确性，无法满足要求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种步骤简单，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行有效监控，使剪板机的剪切质量量化，在发现剪切质量恶化后，能够及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果造成不良的影响，有效提高磁性能试验结果可靠性的磁性能试验板件剪切质量监控方法。
要解决以上所述的技术问题，本发明采取的技术方案为：
本发明为一种磁性能试验板件剪切质量监控方法，所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为：1)精密剪切机更换新剪切刀具，将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，将偏差数值A作为监控基准数值；2)精密剪切机使用后，采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比，当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，表明精密剪切机剪切的板件不符合要求；4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具。
更换新剪切刀具的精密剪切机将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料；采用精密剪切机磨损后的剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料。
精密剪切机使用后，按周期采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值，多个偏差数值B的数值变化监控剪切质量变化。
采用本发明的技术方案，能得到以下的有益效果：
本发明所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，采用比较法，先将同一批软磁材料在精密剪板机新刀具间隙调节良好状态下，加工单片和方圈试样，以方圈法(这是本领域公知技术方法)与单片法(这是本领域公知技术方法)分别测量磁性能P1.5/50(这是本领域公知技术术语)，并计算方圈法对单片法的相对偏差，并作为监控基准数值。当剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，加工同一批软磁材料的方圈法与单片法试样，并测量的磁性能P1.5/50，并计算方圈法对单片法的相对偏差。通过两次计算的磁性能P1.5/50相对偏差值变化，可以随时监控精密剪板机剪切质量变化，当质量变化过大时，就需要更换刀具，从而使得刀具加工的板件的质量始终在误差允许范围之内，这样，能够确保磁性能试验时的板件的质量始终满足要求，避免板件剪切质量不足影响试验结果，提高试验数据准确性。本发明所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，步骤简单，成本低，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行有效监控，使剪板机的剪切质量量化，在发现剪切质量恶化后，能够及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果造成不良的影响，有效提高磁性能试验结果的可靠性和准确性。
附图说明
下面对本说明书各附图所表达的内容及图中的标记作出简要的说明：
图1为本发明所述的方法单片样取样的结构示意图；
图2为本发明所述的方法单片样加工成方圈样取样的结构示意图；
附图中标记为：1、板带中心线。
具体实施方式
下面通过对实施例的描述，对本发明的具体实施方式如所涉及的各构件的形状、构造、各部分之间的相互位置及连接关系、各部分的作用及工作原理等作进一步的详细说明：
本发明为一种磁性能试验板件剪切质量监控方法，所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为：1)精密剪切机更换新剪切刀具，将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，将偏差数值A作为监控基准数值；2)精密剪切机使用后，采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比，当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，表明精密剪切机剪切的板件不符合要求；4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具。本发明所述的方法，采用比较法，先将同一批软磁材料在精密剪板机新刀具间隙调节良好状态下，加工单片和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，并计算方圈法对单片法的相对偏差，并作为监控基准数值。当剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，加工同一批软磁材料的方圈法与单片法试样，并测量的磁性能P1.5/50，并计算方圈法对单片法的相对偏差。通过两次计算的磁性能P1.5/50相对偏差值变化，可以随时监控精密剪板机剪切质量变化，当质量变化过大时，就需要更换刀具，从而使得刀具加工的板件(板带)的质量始终在误差允许范围之内，这样，能够确保磁性能试验时的板件的质量始终满足要求，避免板件剪切质量不足影响试验结果，提高试验数据准确性。本发明所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，步骤简单，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行有效监控，使剪板机的剪切质量量化，在发现剪切质量恶化后，能够及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果造成不良的影响，有效提高磁性能试验结果可靠性。
更换新剪切刀具的精密剪切机将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料；采用精密剪切机磨损后的剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料。上述步骤，采用相同的软磁材料，避免软磁材料不同导致的测量数据的误差。精密剪切机使用后，按周期采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值，多个偏差数值B的数值变化监控剪切质量变化。上述步骤，可以随机或定期进行测量，得出多个监控实际数值，有效监控剪切质量变化，一旦剪切质量不符合要求，就更换刀具，确保质量始终符合要求。
本发明所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，采用比较法，先将同一批软磁材料在精密剪板机新刀具间隙调节良好状态下，加工单片和方圈试样，以方圈法(这是本领域公知技术方法)与单片法(这是本领域公知技术方法)分别测量磁性能P1.5/50(这是本领域公知技术术语)，并计算方圈法对单片法的相对偏差，并作为监控基准数值。当剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，加工同一批软磁材料的方圈法与单片法试样，并测量的磁性能P1.5/50，并计算方圈法对单片法的相对偏差。通过两次计算的磁性能P1.5/50相对偏差值变化，可以随时监控精密剪板机剪切质量变化，当质量变化过大时，就需要更换刀具，从而使得刀具加工的板件的质量始终在误差允许范围之内，这样，能够确保磁性能试验时的板件的质量始终满足要求，避免板件剪切质量不足影响试验结果，提高试验数据准确性。本发明所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，步骤简单，成本低，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行有效监控，使剪板机的剪切质量量化，在发现剪切质量恶化后，能够及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果造成不良的影响，有效提高磁性能试验结果的可靠性和准确性。
上面对本发明进行了示例性的描述，显然本发明具体的实现并不受上述方式的限制，只要采用了本发明的方法构思和技术方案进行的各种改进，或未经改进将本发明的构思和技术方案直接应用于其他场合的，均在本发明的保护范围内。

Claims (3)

1.一种磁性能试验板件剪切质量监控方法，其特征在于：所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为：1)精密剪切机更换新剪切刀具，将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，将偏差数值A作为监控基准数值；2)精密剪切机使用后，采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比，当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，表明精密剪切机剪切的板件不符合要求；4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具。
2.根据权利要求1所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，其特征在于：更换新剪切刀具的精密剪切机将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料；采用精密剪切机磨损后的剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料。
3.根据权利要求1所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法，其特征在于：精密剪切机使用后，按周期采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值，多个偏差数值B的数值变化监控剪切质量变化。
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