CN108845720B - 一种触控基板、其检测方法及触控显示面板、显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种触控基板、其检测方法及触控显示面板、显示装置，由于在奇数行激励信号线与奇数列感测信号线的交叉位置处，及偶数行激励信号线与偶数列感测信号线的交叉位置处设置一一对应的激励电极和感测电极，且感测电极的镂空区域在衬底基板上的正投影覆盖对应激励电极的正投影，上述形状的感测电极和触控电极使得在发生触控时相邻行或相邻列感测电极的感测信号相同；又弯曲时奇数行激励信号线与奇数列感测信号线的交叉位置处的感测电极和对应激励电极的正对面积，与偶数行激励信号线与偶数列感测信号线的交叉位置处的感测电极和对应的激励电极的正对面积不同，使得相邻行或相邻列感测电极的感测信号不同，因此实现了识别弯曲和触控的功能。

Description

一种触控基板、其检测方法及触控显示面板、显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种触控基板、其检测方法及触控显示面板、显示装置。

背景技术

触控显示面板是现在被广泛应用的一种触摸传感输入装置。按照触摸感应原理，现有的触控显示面板包括电阻式触控显示面板、电容式触控显示面板、表面红外触控显示面板等等。其中，互电容式触控显示面板，凭借其较高的灵敏度以及多点真触控的优点，受到越来越多消费者的追捧。

互电容式触控显示面板包括相互垂直交叉的激励信号线101和感测信号线102，与激励信号线101连接的激励电极103，以及与感测信号线102连接的感测电极104，如图1和图2所示。其基本工作原理为：激励信号线101确定触控点的纵向坐标，感测信号线102确定触控点的横向坐标。在检测触控点时，通过激励信号线101对激励电极103进行逐行扫描，在扫描每一行激励电极103时，均读取每条感测信号线102反馈的感测电极104上的感测信号，通过一轮的扫描，就可以把每个行列的交点都扫描到。这种触控定位检测方式可以具体的确定多点的坐标，因此可以实现多点触摸。

具体地，在激励信号线101与感测信号线102的交叉位置没有受到触控的条件下，该交叉位置有一个基础电容值，当受到手指触控以后，该交叉位置的电容增大，感测信号发生相应变化。

一般地，如图3所示，相邻的激励电极103与感测电极104之间会存在边缘电容C1，但因相对于交叉位置处的基础电容，该边缘电容C1较小，因此对触控点的检测影响极小。然而，在互电容式触控显示面板发生弯曲形变时，触控点及其周围点均会发生弯曲，如图4所示，相邻激励电极103与感测电极104之间将会产生除边缘电容C1以外的面电容C2，导致电容增大，而目前检测芯片(IC)无法判断出这种表征电容增大的感测信号来自于触控还是来自于柔性弯曲。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种触控基板、其检测方法及触控显示面板、显示装置，用以防止触控误判。

因此，本发明实施例提供的一种触控基板，包括衬底基板，位于所述衬底基板上垂直交叉且相互绝缘的激励信号线和感测信号线，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处，以及偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的激励电极和感测电极；其中，

所述激励电极与所述感测电极一一对应；

所述感测电极具有镂空区域，且所述感测电极的镂空区域在所述衬底基板上的正投影覆盖对应的所述激励电极在所述衬底基板上的正投影；

所述触控基板弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，和位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积不同。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控基板中，所述触控基板沿与行方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，大于位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积；

所述触控基板沿与列方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，小于位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控基板中，所述感测电极的形状为长方形；位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极在列方向的长度等于所述长方形的长，在行方向的长度等于所述长方形的宽；位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极在列方向的长度等于所述长方形的宽，在行方向的长度等于所述长方形的长。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控基板中，所述激励电极与所述激励信号线同层设置，所述感测电极与所述感测信号线同层设置。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控基板中，所述激励电极、所述激励信号线和所述感测电极同层设置。

在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控基板中，还包括：检测芯片，用于在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号不同时，确定所述触控基板发生弯曲；并用于在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号相同时，确定所述触控基板发生触控。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种触控显示面板，包括上述触控基板。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述触控显示面板。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种上述触控基板的检测方法，包括：

经激励信号线逐行向激励电极加载激励信号；

接收经感测信号线反馈的与所述激励电极一一对应的感测电极的感测信号；

在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号不同时，确定所述触控基板发生弯曲；或在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号相同时，确定所述触控基板发生触控。

本发明有益效果如下：

本发明实施例提供的触控基板、其检测方法及触控显示面板、显示装置，包括衬底基板，位于衬底基板上垂直交叉且相互绝缘的激励信号线和感测信号线，位于奇数行激励信号线与奇数列感测信号线的交叉位置处和偶数行激励信号线与偶数列感测信号线的交叉位置处的激励电极和感测电极；其中，激励电极与感测电极一一对应，感测电极的镂空区域在衬底基板上的正投影覆盖对应的激励电极在衬底基板上的正投影，上述形状的感测电极和激励电极，使得在触控基板发生触控时，相邻行或相邻列的感测电极的感测信号相同。又由于在触控基板弯曲时，位于奇数行激励信号线与奇数列感测信号线的交叉位置处的感测电极与对应的激励电极的正对面积，和位于偶数行激励信号线与偶数列感测信号线的交叉位置处的感测电极与对应的激励电极的正对面积不同，使得在触控基板发生弯曲时，位于奇数行激励信号线与奇数列感测信号线的交叉位置处的感测电极与对应的激励电极之间的面电容，与位于偶数行激励信号线与偶数列感测信号线的交叉位置处的感测电极与对应的激励电极之间的面电容不同，从而相邻行或相邻列的感测电极的感测信号不同。因此，根据相邻行或相邻列的感测电极的感测信号是否相同，即可识别出触控基板上发生了触控还是弯曲，避免了触控误判。

附图说明

图1为现有技术中触控基板的结构示意图；

图2为图1中虚线圈内结构的放大图；

图3为现有技术中激励电极与感测电极之间的边缘电容的示意图；

图4为现有技术中的触控基板发生弯曲时激励电极与感测电极之间的边缘电容和面电容的示意图；

图5为本发明实施例提供的触控基板的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的触控基板的检测方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明实施例提供的触控基板、其检测方法及触控显示面板、显示装置的具体实施方式进行详细的说明。需要说明的是本说明书所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例；并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合；此外，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供的一种触控基板，如图5所示，包括衬底基板501，位于衬底基板501上垂直交叉且相互绝缘的激励信号线101和感测信号线102，位于奇数行(即图5中第2n+1行)激励信号线101与奇数列(即图5中第2n+1列)感测信号线102的交叉位置处，以及偶数行(即图5中第2n行)激励信号线101与偶数列(即图5中第2n行)感测信号线102的交叉位置处的激励电极103和感测电极104；其中，

激励电极103与感测电极104一一对应；

感测电极104具有镂空区域A，且感测电极4的镂空区域A在衬底基板501上的正投影覆盖对应的激励电极103在衬底基板501上的正投影；

触控基板弯曲时，位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积，和位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积不同。

由于激励电极103和感测电极104较小，手指触摸时会同时覆盖多个相邻的激励电极103，且每个感测电极104的镂空区域A在衬底基板501上的正投影覆盖对应的激励电极103在衬底基板501上的正投影，致使与该多个激励电极103一一对应的感测电极104的感测信号相同，因此在本发明实施例提供的上述触控基板中，在检测到相邻行或相邻列的感测电极104的感测信号相同时，即可确定触控基板发生了触控。此外，又因为触控基板发生弯曲时，每个感测电极104与对应的触控电极103均会随弯曲发生形变，进而二者之间会形成正对面积，产生相应的面电容(原理如图4所示的面电容C2)。且在本发明中，触控基板弯曲时，位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积，和位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积不同，使得奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103之间的面电容，与位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103之间的面电容不同，使得相邻行或相邻列的感测电极104与对应的激励电极103之间的电容不同，从而相邻行或相邻列的感测电极104的感测信号不同。因此，在检测到相邻行或相邻列的感测电极104的感测信号不同时，即可确定触控基板发生了弯曲。

由上述描述可以看出，在本发明实施例提供的触控基板中，通过采用一种新的激励电极103与感测电极104的排布方式，使得在触控基板发生触控的条件下，相邻行或相邻列的感测电极104的感测信号相同，在触控基板发生弯曲的条件下，相邻行或相邻列的感测电极104的感测信号不同，从而实现了识别触控和弯曲的功能，避免了触控误判。并且，这种触控基板有可能为将来的柔性屏设备带来新颖的人机交互功能体验。

在本发明实施例提供的上述触控基板中，触控基板弯曲时，位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积，和位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积不同，具体可以表现为：

触控基板沿与行方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积，大于位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积，使得在触控基板沿与行方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103之间的面电容，大于位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103之间的面电容；

触控基板沿与列方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积，小于位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积，使得在触控基板沿与列方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103之间的面电容，小于位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103之间的面电容。

在本发明实施例提供的上述触控基板中，感测电极104的形状可以多种多样，例如如图5所示，感测电极104的形状为长方形。此时，为了使得在触控基板发生弯曲时，位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积，和位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104与对应的激励电极103的正对面积不同。则需设置位于奇数行激励信号线101与奇数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104在列方向的长度等于长方形的长，在行方向的长度等于长方形的宽；位于偶数行激励信号线101与偶数列感测信号线102的交叉位置处的感测电极104在列方向的长度等于长方形的宽，在行方向的长度等于长方形的长。

在本发明实施例提供的上述触控基板中，为简化制作工艺，可以在一膜层上采用一次构图工艺，同时形成激励电极103和激励信号线101，即设置激励电极103与激励信号线101同层；并在另一膜层上采用一次构图工艺，同时形成感测电极104和感测信号线102，即设置感测电极104可以与感测信号线102同层。

此外，本发明实施例提供的上述触控基板中，为简化制作工艺，还可以将激励电极103、激励信号线101和感测电极104同层设置，即采用一次构图工艺来形成激励电极103、激励信号线101和感测电极104的图案。在这种情形下，激励电极103位于感测电极104的镂空区域A内。

在本发明实施例提供的上述触控基板中，还可以包括：检测芯片，用于在检测到相邻行或相邻列的感测电极104的感测信号不同时，确定触控基板发生弯曲；并用于在检测到相邻行或相邻列的感测电极104的感测信号相同时，确定触控基板发生触控。

进一步地，在本发明实施例提供的上述触控基板中，在检测芯片检测到相邻行或相邻列的感测电极104的感测信号不同时，还可以使检测芯片对相邻行或相邻列的感测电极104的不同感测信号进行运算处理，以获得感测电极104所在区域的弯曲轴向和曲率等信息。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种上述触控基板的检测方法，如图6所示，具体可以包括以下步骤：

S601、经激励信号线逐行向激励电极加载激励信号；

S602、接收经感测信号线反馈的与激励电极一一对应的感测电极的感测信号；

S603、在检测到相邻行或相邻列的感测电极的感测信号不同时，确定触控基板发生弯曲；或在检测到相邻行或相邻列的感测电极的感测信号相同时，确定触控基板发生触控。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种触控显示面板，包括本发明实施例提供的上述触控基板。对于触控显示面板的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。该触控显示面板的实施可以参见上述触控基板的实施例，重复之处不再赘述。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述触控显示面板，该显示装置可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相机、导航仪、智能手表、健身腕带、个人数字助理、自助存/取款机等任何具有显示功能的产品或部件。对于显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。该显示装置的实施可以参见上述触控显示面板的实施例，重复之处不再赘述。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (8)

1.一种触控基板，包括衬底基板，位于所述衬底基板上垂直交叉且相互绝缘的激励信号线和感测信号线；其特征在于，还包括：

位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处，以及偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的激励电极和感测电极；其中，

所述激励电极与所述感测电极一一对应；

所述感测电极具有镂空区域，且所述感测电极的镂空区域在所述衬底基板上的正投影覆盖对应的所述激励电极在所述衬底基板上的正投影；

所述触控基板弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，和位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积不同；

所述感测电极的形状为长方形；位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极在列方向的长度等于所述长方形的长，在行方向的长度等于所述长方形的宽；位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极在列方向的长度等于所述长方形的宽，在行方向的长度等于所述长方形的长。

2.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述触控基板沿与行方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，大于位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积；

所述触控基板沿与列方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，小于位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积。

3.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述激励电极与所述激励信号线同层设置，所述感测电极与所述感测信号线同层设置。

4.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述激励电极、所述激励信号线和所述感测电极同层设置。

5.如权利要求1-4任一项所述的触控基板，其特征在于，还包括：检测芯片，用于在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号不同时，确定所述触控基板发生弯曲；并用于在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号相同时，确定所述触控基板发生触控。

6.一种触控显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的触控基板。

7.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求6所述的触控显示面板。

8.一种如权利要求1-4任一项所述的触控基板的检测方法，其特征在于，包括：

经激励信号线逐行向激励电极加载激励信号；

接收经感测信号线反馈的与所述激励电极一一对应的感测电极的感测信号；

在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号不同时，确定所述触控基板发生弯曲；或在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号相同时，确定所述触控基板发生触控。

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