CN108829553A - 通用串行总线c型接口检测电路、检测方法和电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供通用串行总线C型接口检测电路、检测方法和电子设备，该检测电路包括：USB Type‑C接口、检测模块和采集模块，其中：所述检测模块用于向所述特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚未接地；所述采集模块用于在所述第一脉冲信号处于高电平期间采集所述特定接地引脚的电平值，并将所述电平值传输给所述检测模块；所述检测模块还用于在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type‑C接口有设备接入。本发明实施例提供的USB Type‑C接口检测电路可以减缓所述USB Type‑C接口的腐蚀速度。

Description

通用串行总线C型接口检测电路、检测方法和电子设备

技术领域

本发明实施例涉及通信技术领域，尤其涉及一种通用串行总线C型接口检测电路、检测方法和电子设备。

背景技术

USB Type-C(Universal Serial Bus Type-C，通用串行总线C型)接口支持与USB连接器的双面插接，将越来越广泛的应用于电子设备。根据USB协会标准规范上的规定，USBType-C接口具有相对的两个引脚面，每一个面上具有12个引脚。Type-C接口包括位于相对两个引脚面上的第一信号端CCl和第二信号端CC2。CCl和CC2上的电压呈周期性的拉高与拉低变化，当双角色端口DRP(Dual Role Port，双向端口)设备外接从机角色端口UFP(Upstream Facing Port，上行端口)设备时，CCl和CC2上的高电平将会被拉低；当该DRP设备外接主机角色端口DFP(Downstream Facing Port，下行端口)设备时，CCl和CC2上的低电平将会被拉高，从而通过检测CCl和CC2上的电压的变化情况便可以区分外接设备的角色是从机还是主机。

在相关技术中的，利用CCl和CC2对外接设备进行主从角色检测，在检测过程中CCl和CC2上的高电平的电压值为1.7V-5.5V，占空比为30％-70％，从而使CCl和CC2即使在待机状态下也长期带电，同时，由于在应用过程中，USB Type-C接口可能长期暴露在外，从而容易进入各种异物，有些异物是导电性的，例如：雨水，汗液，油污，食物等。导电异物附着在长期带电的CCl和CC2上，将使CCl和CC2之间长期发生电迁移，从而加速了信号引脚间发生腐蚀的速度。

可见，相关技术中的USB Type-C接口存在腐蚀速度快的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种通用串行总线C型检测电路、检测方法和电子设备，以解决相关技术中的USB Type-C接口腐蚀速度快的问题。

为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的

第一方面，本发明实施例提供了一种USB Type-C接口检测电路，包括：USB Type-C接口、检测模块和采集模块，其中：

所述检测模块的输出端与所述USB Type-C接口的特定接地引脚连接，所述检测模块用于向所述特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚未接地；

所述采集模块的输入端与所述特定接地引脚连接，所述采集模块的输出端与所述检测模块的输入端连接，所述采集模块用于在所述第一脉冲信号处于高电平期间采集所述特定接地引脚的电平值，并将所述电平值传输给所述检测模块；

所述检测模块还用于在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。

第二方面，本发明实施例还提供了一种USB Type-C接口检测方法，所述方法包括：

向USB Type-C接口的特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚不接地；

在所述第一脉冲信号处于高电平期间，采集所述特定接地引脚的电平值；

在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。

第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括本发明实施例提供的USBType-C接口检测电路。

第四方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的USB Type-C接口检测方法中的步骤。

第五方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的USB Type-C接口检测方法中的步骤。

在本发明实施例中，USB Type-C接口检测电路包括USB Type-C接口、检测模块和采集模块，其中：所述检测模块用于向所述USB Type-C接口的特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚未接地；所述采集模块用于在所述第一脉冲信号处于高电平期间采集所述特定接地引脚的电平值，并将所述电平值传输给所述检测模块；所述检测模块可以在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。这样，只需向USB Type-C接口的一个接地引脚输送脉冲信号，便能够确定该USB Type-C接口有无设备接入，而无需同时向USB Type-C接口的两个信号引脚输送脉冲信号，可以防止该信号引脚之间因电迁移而造成短路，从而实现减缓USB Type-C接口的化学腐蚀速度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的USB Type-C接口检测电路的结构图；

图2是本发明实施例提供的通USB Type-C接口检测电路中的USB Type-C接口的结构图；

图3是本发明实施例提供的USB Type-C接口检测电路中在USB Type-C接口无设备接入时，特定接地引脚上的电平值的曲线图；

图4是本发明实施例提供的USB Type-C接口检测电路中在USB Type-C接口接入设备前后，特定接地引脚上的电平值的曲线图；

图5是本发明实施例提供的USB Type-C接口检测电路之一的结构图；

图6是本发明实施例提供的USB Type-C接口检测电路之二的结构图；

图7是本发明实施例提供的USB Type-C接口检测电路之三的结构图；

图8是本发明实施例提供的USB Type-C接口检测方法的流程图；

图9是本发明实施例提供的另一USB Type-C接口检测方法的流程图；

图10是本发明实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明实施例提供一种USB Type-C接口检测电路100，用于检测USBType-C接口有无设备接入，所述通用串行总线C型USB Type-C接口检测电路100包括USBType-C接口101、检测模块102和采集模块103，其中：

所述检测模块102的信号输出端与所述USB Type-C接口101的特定接地引脚1011连接，所述检测模块102用于向所述特定接地引脚1011提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚1011未接地；

所述采集模块103的输入端与所述特定接地引脚1011连接，所述采集模块103的输出端与所述检测模块102的输入端连接，所述采集模块103用于在所述第一脉冲信号处于高电平期间采集所述特定接地引脚1011的电平值，并将所述电平值传输给所述检测模块102；

所述检测模块102还用于在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口101有设备接入。

如图2所示，根据USB协会标准规范，所述USB Type-C接口101具有对称设置的两个引脚面，每一个引脚面上具有12个引脚，其中A1、A2、B1以及B2为接地引脚，上述特定接地引脚1011可以是所述A1、所述A2、所述B1以及所述B2中的任意一个引脚，例如：上述特定接地引脚1011是A1，则A1不接地，所述A2、所述B1以及所述B2连接至接地端，其中，该接地端可以是电子设备的接地端。

需要说明的是，当所述USB Type-C接口101接入设备时，所述特定接地引脚1011通过所述接入的设备与其余三个接地引脚连通，即所述特定接地引脚1011接地，这样可以使所述A1引脚上的电压大幅度降低，这样所述检测模块102在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，便可以确定所述USB Type-C接口101有设备接入。

其中，所述第一脉冲信号可以是高电平和低电平按周期进行交替变化的电信号，具体的，该电信号可以是高电平的电流值大于低电平的电流值，当然，该电信号还可以是高电平的电压值大于低电平的电压值。例如：如图3所示，所述第一脉冲信号是周期为T的脉冲电流，其中，输出高电平的时间为T1，此时输出的电流值较大，输出低电平的时间为T2，此时输出的电流值较小，且T1+T2＝T，所述检测模块102可以控制所述T1、所述T2以及所述T的时间长短，通过减小输出高电平的时间T1的在周期T内的比例，便可以缩短所述A1引脚上流过电流的时间，即减小所述高电平的占空比(占空比＝T1/T)。从而减小高电平对所述A1引脚的催化腐蚀作用，即达到减缓腐蚀速度的效果。

当然，所述检测模块102还可以仅控制所述第一脉冲信号的输出，而所述第一脉冲信号的周期T、输出高电平的时间T1以及输出低电平的时间T2可以固定不变。

在具体实施过程中，所述低电平可以是不输出电平信号，即低电平的电平值等于0，这样，所述在低电平期间，不会催化所述特殊接地引脚1011的腐蚀速度。

当然，所述低电平还可以是比所述高电平小的任意电平值。

所述采集模块103可以是模数转换器ADC，当然，所述采集模块103还可以是电压表等其他元器件，如图3所示，所述采集模块103可以在T1时间段内采集所述特定接地引脚1011上的电平值，并将该电平值传递至所述检测模块102，所述检测模块102将该特定接地引脚1011上的电平值与所述第一脉冲信号的高电平值进行比较，如图4所示，在所述USBType-C接口101有设备接入的情况下，所述特定接地引脚1011通过接入的设备与其余接地引脚连通，因此，所述特定接地引脚1011上的电平值将降低，所以，若所述第一脉冲信号的高电平值大于所述特定接地引脚1011上的电平值，则可以确定所述特定接地引脚1011与外界设备有连接，即确定所述USB Type-C接口101有设备接入；在所述USB Type-C接口101无设备接入的情况下，所述特定接地引脚1011上的电平值等于所述第一脉冲信号的高电平值。

可选的，如图4所示，所述检测模块102内还可以预存储门限值Vth，所述Vth小于所述第一脉冲信号的高电平值，且大于在所述USB Type-C接口101有设备接入情况下的所述特定接地引脚1011上的电平值，所述检测模块102可以将所述采集模块103采集到的所述USB Type-C接口101上的电平值与该Vth进行比较，便可以判断所述USB Type-C接口101有无设备接入，例如：在所述USB Type-C接口101上的电平值小于Vth时，确定所述USB Type-C接口101有设备接入，在所述USB Type-C接口101上的电平值大于Vth时，确定所述USBType-C接口101无设备接入。

当然，所述检测模块102可以不存储所述储门限值Vth，而直接通过比较所述USBType-C接口101上的电平值与所述第一脉冲信号的高电平值而判断所述USB Type-C接口101有无设备接入。

在本发明实施例中，USB Type-C接口检测电路包括USB Type-C接口、检测模块和采集模块，其中：所述检测模块用于向所述USB Type-C接口的特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚未接地；所述采集模块用于在所述第一脉冲信号处于高电平期间采集所述特定接地引脚的电平值，并将所述电平值传输给所述检测模块；所述检测模块可以在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。这样，只需向USB Type-C接口的一个接地引脚输送脉冲信号，便能够确定该USB Type-C接口有无设备接入，而无需同时向USB Type-C接口的两个信号引脚输送脉冲信号，可以防止该信号引脚之间因电迁移而造成短路，从而实现减缓USB Type-C接口的化学腐蚀速度。

请参阅图5，图5是本发明实施例提供的USB Type-C接口检测电路之一的结构图，本实施例与图1所示的实施例的主要区别在于，所述检测模块102包括：控制器1021、电信号提供单元1022和开关单元1023，其中：

所述控制器1021的输出端与所述电信号提供单元1022的输入端连接，所述电信号提供单元1022的输出端与所述特定接地引脚连接1011，所述控制器1021用于通过所述电信号提供单元1022向所述特定接地引脚1011提供恒流电信号；

所述控制器1021的控制端与所述开关单元1023的第一端连接，所述开关单元1023的第二端与所述特定接地引脚1011连接，所述开关单元1023的第三端接地，所述控制器1021还用于控制所述开关单元1023的第二端与第三端之间周期性地导通。

其中，上述周期性地导通可以是在一个周期内的一个时间段内导通，其余时间段内断开，例如：周期T＝1min，导通的时间为(0，49s)之间，断开的时间为(50s，60s)之间。

另外，所述控制器1021控制所述开关单元1023的第二端与第三端之间周期性地导通，便可以实现所述特定接地引脚1011周期性的接地，在所述特定接地引脚1011接地期间，所述特定接地引脚1011上的电压值将大幅度降低，甚至降低至0V，在所述特定接地引脚1011不接地期间，所述特定接地引脚1011上的电压值等于一恒定的高电平电压值。

当然，所述检测模块102还可以通过其他方式项所述特定接地引脚1011提供脉冲信号，例如：脉冲信号发生器等。

其中，上述控制器1021可以是单片机、CPU等控制器件controller。

其中，上述电信号提供单元1022可以是电流源Isource，当然，所述电信号提供单元1022还可以是电压源等其他元器件，所述Isource与所述控制器1021之间连接有数模转换模块DAC，具体的，所述DAC的输入端与所述控制器1021的输出端连接，所述DAC的输出端与所述Isource的控制信号输入端连接，所述Isource的输出端与所述特定接地引脚1011连接，这样，所述控制器1021输出的数字控制信号通过所述DAC转换为模拟信号，所述Isource根据该模拟信号输出相应的恒定电流。

本实施方式中，所述数模转换模块DAC将所述控制器输出的数字控制信号转换成模拟信号，便于所述电流源根据该模拟信号输出与所述控制器的控制信号相匹配的电流，从而使所述特定接地引脚因流过该电流而具有电压，便于通过检测该特定接地引脚上的电压的值而确定所述USB Type-C接口是否有外接设备。

可选的，所述控制器1021可以控制所述Isource输出的电流值I1的大小，例如I1＝1μA。

当然，所述Isource可以输出固定大小的电流，而不受所述控制器1021的控制。

需要说明的是，图5中的开关单元1023仅以N型MOS管作为示例，在此不表示开关单元1023仅限定为N型MOS管。

其中，所述开关单元1023可以是FET(Field Effect Transistor，场效应晶体管)，当然，所述开关单元1023还可以是晶体管等其他可控开关元器件。

本实施方式中，通过控制器控制所述Isource输出很小的电流信号，使所述特定接地引脚在不接地期间的电压值很小，从而避免所述特定接地引脚因电平值较高而催使化学腐蚀反应加速，达到减缓所述USB Type-C接口的腐蚀速度的效果。

可选的，所述开关单元1023是N型场效应晶体管FET，所述N型FET的栅极引脚与所述控制器的控制端连接，所述N型FET的漏极引脚与所述特定接地引脚连接且源极引脚接地，所述控制器还用于控制所述N型FET周期性地导通；或者，

所述开关单元1023是P型场效应晶体管FET，所述P型FET的栅极引脚与所述控制器的控制端连接，所述P型FET的源极引脚与所述特定接地引脚连接且漏极引脚接地，所述控制器还用于控制所述P型FET周期性地导通。

具体的，上述FET可以是结型FET、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor FieldEffect Transistor，金属氧化物半导体场效应晶体管)等中的任意一种。

另外，所述FET的漏极引脚与源极的连接方式可以根据所述FET的型号及参数而决定，例如：在上述FET是增强型NMOS的情况下，所述增强型NMOS的漏极引脚与所述特定接地引脚1011连接且所述增强型NMOS的源极引脚接地，所述增强型NMOS的栅极引脚与源极引脚之间的电压VGS1>0时，所述增强型NMOS的源极与漏极导通；在所述FET是增强型PMOS的情况下，所述增强型PMOS的源极引脚与所述特定接地引脚1011连接且所述增强型PMOS的漏极引脚接地，所述增强型PMOS的栅极引脚与源极引脚之间的电压VGS2<0时，所述增强型PMOS的源极与漏极导通。

需要说明的是，所述控制器1021通过改变所述FET的栅极电压而控制所述FET的源极和漏极之间的导通关系，在所述FET的源极和漏极导通的情况下，所述特定接地引脚1011接地，所述FET的导通的时间为如图3中的T2；在所述FET的源极和漏极不导通的情况下，所述特定接地引脚1011不接地，所述FET不导通的时间为如图3中的T1，所述周期为T。

在本实施方式中，通过所述控制器、所述电信号提供单元和所述开关单元的配合便可以实现向所述特殊接地引脚提供脉冲信号。

可选的，所述控制器1021可以控制所述电信号提供单元1022所输出的电平值的大小，从而可以通过降低所述电信号提供单元1022所输出的电平值而减小所述特殊接地引脚1011上的电平值，所述控制器1021还可以控制所述开关单元1023的导通时间，通过延长所述开关单元1023的导通时间，缩短所述开关单元1023的不导通时间，便可以减小所述特殊接地引脚1011带电时间的占空比。达到减缓所述特殊接地引脚1011因带电而腐蚀的速度。

在本实施方式中，通过电信号提供单元提供恒流电信号，并通过控制器控制开关单元周期性的导通，使特殊接地引脚周期性的接地，以实现向所述特殊接地引脚提供脉冲信号，这样可以使控制模块的电路简单便于集成，达到缩小所述USB Type-C接口检测电路的占用空间和降低生产成本的效果。

可选的，如图7所示，本实施例中，所述USB Type-C接口检测电路100包括：USBType-C接口101、检测模块102、采集模块103以及处理器104。其中，所述USB Type-C接口101、检测模块102以及采集模块103还可以合称为如图6中所示的“插入检测电路”，上述处理器104还可以称之为如图6中所示的“应用处理器”。

所述处理器104的一端口与所述检测模块102的通知端口连接，所述检测模块102还用于在确定所述USB Type-C接口101有设备接入的情况下，通知所述处理器104所述USBType-C接口101设备接入；

所述处理器104用于在所述USB Type-C接口101有设备接入的情况下，向所述USBType-C接口101的检测引脚提供第二脉冲信号，并通过所述检测引脚上的电平检测所述设备的角色，其中，所述角色包括主机设备或者从机设备。

其中，所述处理器104也可以称之为应用处理器；所述检测引脚是所述USB Type-C接口101中的第一信号端CC1和第二信号端CC2。

另外，所述处理器104与所述检测模块102之间可以实现数据的双向传递，所述处理器104与所述检测模块102的通知端口连接的所述一端口可以是双向端口，还可以是两个反向传递数据的单向端口。

其中，所述第一脉冲信号的占空比可以小于所述第二脉冲信号的占空比，例如：所述第二脉冲信号的占空比为30％，所述第一脉冲信号的占空比为1％。

这样，可以减少所述特定接地引脚的带电时间，从而减缓所述特定接地引脚因带电而发生腐蚀的速度。

另外，所述第一脉冲信号的高电平值可以小于所述第二脉冲信号的高电平值，例如：所述第二脉冲信号为高电平值为电流值等于80μA的脉冲信号，所述第一脉冲信号为高电平值为电流值等于1μA的脉冲信号。

这样，可以降低所述特定接地引脚在带电期间的电平值，从而减缓所述特定接地引脚因通过高电平电信号而发生的腐蚀速度。

根据USB协会标准规范，支持USB Type-C接口设备的通常可以分为三种，第一种为UFP模式(Upstream Facing Port，上行端口)，即为从机角色(从机设备)，从机角色设备从主机角色设备取电；第二种为DFP模式(Downstream Facing Port，下行端口)，即为主机角色(主机设备)，主机角色设备向从机角色设备提供电源；第三种为DRP模式(Dual RolePort，双向端口)，即为双角色，DRP模式可以充当主机角色也可以充当从机角色。当DRP设备连接到UFP设备时，DRP设备就充当主机角色；当DRP设备连接到DFP设备，DRP设备就充当从机角色；当两个DRP设备连接在一起时，当任意一方工作在DFP模式时，另一方就充当从机角色，当任意一方工作在UFP模式时，另一方就充当主机角色。

由于USB Type-C接口设备相当于DRP设备，因此，在接入外接设备时，需要判断该接入的设备的角色，以此决定所述USB Type-C接口设备的角色。

在现有技术中，通过向USB Type-C接口的检测引脚CC1和CC2输出高电平的电压值需要大于1.7V且小于5.5V的脉冲信号，并通过所述检测引脚上的电压，以检测所述设备的角色。其中上述脉冲信号的占空比需要大于30％且小于70％，从而造成CC1和CC2长期带电。

具体的，在所述CCl和所述CC2上的电压处于高电平期间，当上述USB Type-C接口接入的设备为UFP设备时，该高电平将向该UFP设备供电能，从而使所述CCl和所述CC2上的高电平降低，依此可以判定上述USB Type-C接口接入的设备为UFP设备；在所述CCl和所述CC2上的电压处于低电平期间，当上述USB Type-C接口接入的设备为DFP设备时，该DFP设备将向上述USB Type-C接口设备提供电能，从而使所述CCl和所述CC2上的低电平升高，依此可以判定上述USB Type-C接口设备接入的设备为DFP设备。

根据USB协会标准规范，采用上述现有技术中的方法以判别USB Type-C接口接入的设备的角色时，由于所述高电平的电压值位于1.7V～5.5V之间，且占空比位于30％～70％之间。其电压值较大，且通电时间较长，易加速所述CCl和所述CC2在电压下的化学腐蚀速度，且电子设备处于待机状态时，所述CCl和所述CC2也处于持续带电的状态，从而加速了上述USB Type-C接口101的腐蚀速度。

本实施方式中，所述处理器检测所述USB Type-C接口接入的所述设备的角色的方法与现有技术中的相同，即通过向所述CC1与所述CC2输入脉冲信号，并根据所述CC1与所述CC2上测得的实际电平值判断所述USB Type-C接口接入的所述设备的角色。

与现有技术不同的是，所述处理器104在所述检测模块102确定所述USB Type-C接口101无设备接入的情况下，不检测所述USB Type-C接口101接入的所述设备的角色，即所述CC1与所述CC2在待机状态和未接入设备的情况下不带电。

这样，可以大大缩短所述CC1与所述CC2的带电时间，从而防止所述CC1与所述CC2因长时间带电而加速化学腐蚀速度，达到减缓所述USB Type-C接口的腐蚀速度的作用，而在检测所述USB Type-C接口有无设备接入时，仅需向特定接地引脚输送一个电位低于1.7V的电信号，并使该电信号的占空比小于30％，便能够实现，从而降低了所述USB Type-C接口的电位和带电时间，达到减缓所述USB Type-C接口的腐蚀速度的效果。

在本发明实施例中，通过USB Type-C接口检测电路检测到USB Type-C接口有设备接入的情况下，启动处理器，以检测接入所述USB Type-C接口的所述设备的角色，从而决定所述USB Type-C接口的角色，可以实现所述USB Type-C接口与接入的所述设备之间建立正确的传输关系。

请参阅图8，本发明实施例还提供一种USB Type-C接口检测方法800，应用于USBType-C接口，所述方法包括：

步骤801、向所述USB Type-C接口的特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚不接地。

步骤802、在所述第一脉冲信号处于高电平期间，采集所述特定接地引脚的电平值。

步骤803、在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。

本发明实施例中，通过向所述USB Type-C接口的特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚不接地，在所述第一脉冲信号处于高电平期间，检测所述特定接地引脚的电压，若所述特定接地引脚的电压低于所述第一脉冲信号的高电平，则确定所述USB Type-C接口有设备接入，其有益效果与图1与图5所示检测电路的实施例相同，为避免重复，在此不再赘述。

请参阅图9，本实施方式中，所述USB Type-C接口检测方法800包括：

步骤801、向所述USB Type-C接口的特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚不接地。

步骤802、在所述第一脉冲信号处于高电平期间，采集所述特定接地引脚的电平值。

步骤803、在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。

步骤804、向所述USB Type-C接口的检测引脚提供第二脉冲信号，并通过所述检测引脚上的电平检测所述设备的角色，其中，所述角色包括主机设备或者从机设备。

本发明实施例中，通过在检测所述设备的角色之前，预先检测所述USB Type-C接口有无设备接入，仅在有设备接入的情况下，不检测所述设备的角色，其有益效果与图6与图7所示检测电路的实施例相同，为避免重复，在此不再赘述。

本发明实施例还提供一种电子设备，包括上一检测电路实施例中所述的USBType-C接口检测电路。

其中，上述电子设备可以是手机、平板电脑(Tablet Personal Computer)、膝上型电脑(Laptop Computer)、个人数字助理(personal digital assistant，简称PDA)、移动上网装置(Mobile Internet Device，MID)、可穿戴式设备(Wearable Device)、计算机或笔记本电脑等具有USB Type-C接口的电子设备。

本发明实施例中，通过在所述电子设备的USB Type-C接口上设置所述通用串行总线C型USB Type-C接口检测电路，可以减缓所述电子设备上的USB Type-C接口的腐蚀速度，从而减缓了所述电子设备整体的腐蚀速度，提升了所述电子设备的使用寿命。

参阅图10，图10为实现本发明各个实施例的一种电子设备的硬件结构示意图。

该电子设备1000包括但不限于：射频单元1001、网络模块1002、音频输出单元1003、输入单元1004、传感器1005、显示单元1006、用户输入单元1007、接口单元1008、存储器1009、处理器1010、以及电源1020等部件。本领域技术人员可以理解，图10中示出的电子设备结构并不构成对电子设备的限定，电子设备可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。在本发明实施例中，电子设备包括但不限于手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载终端、可穿戴设备、计步器、计算机以及笔记本电脑等。

其中，处理器1010，用于向USB Type-C接口的特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚不接地；

在所述第一脉冲信号处于高电平期间，采集所述特定接地引脚的电平值；

在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。

可选的，处理器1010还用于向所述USB Type-C接口的检测引脚提供第二脉冲信号，并通过所述检测引脚上的电平检测所述设备的角色，其中，所述角色包括主机设备或者从机设备。

电子设备1000可以实现减缓USB Type-C接口的腐蚀速度。

应理解的是，本发明实施例中，射频单元1001可用于收发信息或通话过程中，信号的接收和发送，具体的，将来自基站的下行数据接收后，给处理器1010处理；另外，将上行的数据发送给基站。通常，射频单元1001包括但不限于天线、至少一个放大器、收发信机、耦合器、低噪声放大器、双工器等。此外，射频单元1001还可以通过无线通信系统与网络和其他设备通信。

电子设备通过网络模块1002为用户提供了无线的宽带互联网访问，如帮助用户收发电子邮件、浏览网页和访问流式媒体等。

音频输出单元1003可以将射频单元1001或网络模块1002接收的或者在存储器1009中存储的音频数据转换成音频信号并且输出为声音。而且，音频输出单元1003还可以提供与电子设备1000执行的特定功能相关的音频输出(例如，呼叫信号接收声音、消息接收声音等等)。音频输出单元1003包括扬声器、蜂鸣器以及受话器等。

输入单元1004用于接收音频或视频信号。输入单元1004可以包括图形处理器(Graphics Processing Unit，GPU)10041和麦克风10042，图形处理器10041对在视频捕获模式或图像捕获模式中由图像捕获装置(如摄像头)获得的静态图片或视频的图像数据进行处理。处理后的图像帧可以显示在显示单元1006上。经图形处理器10041处理后的图像帧可以存储在存储器1009(或其它存储介质)中或者经由射频单元1001或网络模块1002进行发送。麦克风10042可以接收声音，并且能够将这样的声音处理为音频数据。处理后的音频数据可以在电话通话模式的情况下转换为可经由射频单元1001发送到移动通信基站的格式输出。

电子设备1000还包括至少一种传感器1005，比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地，光传感器包括环境光传感器及接近传感器，其中，环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示面板10061的亮度，接近传感器可在电子设备1000移动到耳边时，关闭显示面板10061和/或背光。作为运动传感器的一种，加速计传感器可检测各个方向上(一般为三轴)加速度的大小，静止时可检测出重力的大小及方向，可用于识别电子设备姿态(比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准)、振动识别相关功能(比如计步器、敲击)等；传感器1005还可以包括指纹传感器、压力传感器、虹膜传感器、分子传感器、陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等，在此不再赘述。

显示单元1006用于显示由用户输入的信息或提供给用户的信息。显示单元1006可包括显示面板10061，可以采用液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)、有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)等形式来配置显示面板10061。

用户输入单元1007可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。具体地，用户输入单元1007包括触控面板10071以及其他输入设备10072。触控面板10071，也称为触摸屏，可收集用户在其上或附近的触摸操作(比如用户使用手指、触笔等任何适合的物体或附件在触控面板10071上或在触控面板10071附近的操作)。触控面板10071可包括触摸检测装置和触摸控制器两个部分。其中，触摸检测装置检测用户的触摸方位，并检测触摸操作带来的信号，将信号传送给触摸控制器；触摸控制器从触摸检测装置上接收触摸信息，并将它转换成触点坐标，再送给处理器1010，接收处理器1010发来的命令并加以执行。此外，可以采用电阻式、电容式、红外线以及表面声波等多种类型实现触控面板10071。除了触控面板10071，用户输入单元1007还可以包括其他输入设备10072。具体地，其他输入设备10072可以包括但不限于物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)、轨迹球、鼠标、操作杆，在此不再赘述。

进一步的，触控面板10071可覆盖在显示面板10061上，当触控面板10071检测到在其上或附近的触摸操作后，传送给处理器1010以确定触摸事件的类型，随后处理器1010根据触摸事件的类型在显示面板10061上提供相应的视觉输出。虽然在图10中，触控面板10071与显示面板10061是作为两个独立的部件来实现电子设备的输入和输出功能，但是在某些实施例中，可以将触控面板10071与显示面板10061集成而实现电子设备的输入和输出功能，具体此处不做限定。

接口单元1008为外部装置与电子设备1000连接的接口。例如，外部装置可以包括有线或无线头戴式耳机端口、外部电源(或电池充电器)端口、有线或无线数据端口、存储卡端口、用于连接具有识别模块的装置的端口、音频输入/输出(I/O)端口、视频I/O端口、耳机端口等等。接口单元1008可以用于接收来自外部装置的输入(例如，数据信息、电力等等)并且将接收到的输入传输到电子设备1000内的一个或多个元件或者可以用于在电子设备1000和外部装置之间传输数据。

存储器1009可用于存储软件程序以及各种数据。存储器1009可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等；存储数据区可存储根据手机的使用所创建的数据(比如音频数据、电话本等)等。此外，存储器1009可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。

处理器1010是电子设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分，通过运行或执行存储在存储器1009内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器1009内的数据，执行电子设备的各种功能和处理数据，从而对电子设备进行整体监控。处理器1010可包括一个或多个处理单元；优选的，处理器1010可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器1010中。

电子设备1000还可以包括给各个部件供电的电源1020(比如电池)，优选的，电源1020可以通过电源管理系统与处理器1010逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。

另外，电子设备1000包括一些未示出的功能模块，在此不再赘述。

优选的，本发明实施例还提供一种电子设备，包括处理器1010，存储器1009，存储在存储器1009上并可在所述处理器1010上运行的计算机程序，该计算机程序被处理器1010执行时实现上述USB Type-C接口检测方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述USB Type-C接口检测方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。其中，所述的计算机可读存储介质，如只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random AccessMemory，简称RAM)、磁碟或者光盘等。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本发明的保护之内。

Claims (12)

1.一种通用串行总线C型USB Type-C接口检测电路，其特征在于，包括：USB Type-C接口、检测模块和采集模块，其中：

所述检测模块的输出端与所述USB Type-C接口的特定接地引脚连接，所述检测模块用于向所述特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚未接地；

所述采集模块的输入端与所述特定接地引脚连接，所述采集模块的输出端与所述检测模块的输入端连接，所述采集模块用于在所述第一脉冲信号处于高电平期间采集所述特定接地引脚的电平值，并将所述电平值传输给所述检测模块；

所述检测模块还用于在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述检测模块包括：控制器、电信号提供单元和开关单元，其中：

所述控制器的输出端与所述电信号提供单元的输入端连接，所述电信号提供单元的输出端与所述特定接地引脚连接，所述控制器用于通过所述电信号提供单元向所述特定接地引脚提供恒流电信号；

所述控制器的控制端与所述开关单元的第一端连接，所述开关单元的第二端与所述特定接地引脚连接，所述开关单元的第三端接地，所述控制器还用于控制所述开关单元的第二端与第三端之间周期性地导通。

3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述电信号提供单元包括：数模转换模块DAC和电流源，其中，所述DAC的输入端与所述控制器的输出端连接，所述DAC的输出端与所述电流源的控制信号输入端连接，所述电流源的输出端与所述特定接地引脚连接，所述控制器用于通过所述DAC和所述电流源向所述特定接地引脚提供恒流电信号。

4.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述开关单元包括：

N型场效应晶体管FET，所述N型FET的栅极引脚与所述控制器的控制端连接，所述N型FET的漏极引脚与所述特定接地引脚连接且源极引脚接地，所述控制器还用于控制所述N型FET周期性地导通；或者，

P型场效应晶体管FET，所述P型FET的栅极引脚与所述控制器的控制端连接，所述P型FET的源极引脚与所述特定接地引脚连接且漏极引脚接地，所述控制器还用于控制所述P型FET周期性地导通。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的电路，其特征在于，所述电路还包括：处理器；

所述处理器的一端口与所述检测模块的通知端口连接，所述检测模块还用于在确定所述USB Type-C接口有设备接入的情况下，通知所述处理器所述USB Type-C接口有设备接入；

所述处理器用于在所述USB Type-C接口有设备接入的情况下，向所述USB Type-C接口的检测引脚提供第二脉冲信号，并通过所述检测引脚上的电平检测所述设备的角色，其中，所述角色包括主机设备或者从机设备。

6.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述第一脉冲信号的占空比小于所述第二脉冲信号的占空比。

7.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述第一脉冲信号的高电平值小于所述第二脉冲信号的高电平值。

8.一种USB Type-C接口检测方法，其特征在于，所述方法包括：

向USB Type-C接口的特定接地引脚提供第一脉冲信号，其中，所述特定接地引脚不接地；

在所述第一脉冲信号处于高电平期间，采集所述特定接地引脚的电平值；

在所述电平值低于所述第一脉冲信号的高电平值的情况下，确定所述USB Type-C接口有设备接入。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述确定所述USB Type-C接口有设备接入之后，所述方法还包括：

向所述USB Type-C接口的检测引脚提供第二脉冲信号，并通过所述检测引脚上的电平检测所述设备的角色，其中，所述角色包括主机设备或者从机设备。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：如权利要求1至7中任意一项所述的通用串行总线C型USB Type-C接口检测电路。

11.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求8至9中任一项所述的USB Type-C接口检测方法的步骤。

12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求8至9中任一项所述的USB Type-C接口检测方法的步骤。