CN108827146A - Twain标准显微测量系统及测量方法 - Google Patents

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CN108827146A CN201810616297.2A CN201810616297A CN108827146A CN 108827146 A CN108827146 A CN 108827146A CN 201810616297 A CN201810616297 A CN 201810616297A CN 108827146 A CN108827146 A CN 108827146A
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张维山
鲁飞宇
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Suzhou Fulai Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Fulai Intelligent Technology Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00—Instruments as specified in the subgroups and characterised by the use of optical measuring means
    • G01B9/04—Measuring microscopes

Abstract

本发明TWAIN标准显微测量系统，包括：图像采集模块：可从TWAIN标准显微镜设备采集图像；与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块：与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块；显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量模块，测量算法为点测定、直线测定、圆测定、三角测定、或两线测角等。

Description

TWA IN标准显微测量系统及测量方法
技术领域
[0001]本发明涉及自动化测量系统，特别涉及一种TWAIN标准显微测量系统及测量方法。
背景技术
[0002]通常的显微镜测量工具软件，一般是由显微镜生产厂家提供，该类工具只能使用 厂家提供的查看图像等功能，具有严格的局限性，不能很好地满足客户基本测量需求，且不 具备软件的可拓展性。且每个软件只能使用一个厂家的设备。
[0003]因此，有必要提供一种TWAIN标准显微测量系统及测量方法来解决上述问题。
发明内容
[0004] 本发明的目的是提供一种TWAIN标准显微测量系统。
[0005] 技术方案如下： > 一种TWAIN标准显微测量系统，包括:图像采集模块:可从TWAIN标准显微镜设备采集图 像;与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块：以及与显微镜图像测量模块配合使用的 数据储存模块;显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择 模块、测量模块，测量算法为点测定、直线测定、圆测定、三角测定、或两线测角等。
[0006] 进一步的，数据储存模块用于读取设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微 镜倍率;用于读取测量记录等；用于保存设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜 倍率;用于保存测量记录等。
[0007] 进一步的，用户界面用于:可视化设备属性读取、设置界面，包括分辨率等属性;可 视化画笔预设界面，包括画笔粗细、样式、颜色等；可视化快捷工具界面，包括导出图像、导 出表格等；可视化测量界面，包括手动测量，划线等；显示测量结果，测定资讯界面，包括所 有测量说明文字等。
[0008] 进一步的，用户界面上搭载有设备设置模块。
[0009] 进一步的，用户界面上搭载有画笔预设模块，画笔预设主要是对画笔类型如实线、 虚线，画笔粗细如5Pt、l〇pt，画笔字体如宋体、黑体，画笔大小等属性进行配置，用于测量时 候画笔的属性预先设置。
[0010] 进一步的，用户界面上搭载有快捷工具模块，快捷工具包括以下功能，启动校正、 十字线设置、放大镜、DEM0测量、导出word、导出excel、导出测量结果等。
[0011]进一步的，用户界面上搭载有测定资讯模块，测定资讯表示的是N次测量信息，包 括每次测量所使用颜色、测定的类型如点线测量或平行中线测定，选中每个测定结果，可以 查看详细的测量数据，比如中心点坐标X和Y，以及测量曲线的长度等。
[0012] 进一步的，设备设置模块用于自动连接设备，并可由用户打开属性对话框，查看设 备分辨率、设备id、设备曝光率、白平衡等参数，偶尔会有部分参数读取不到的情况，则只显 示正常读取到的参数;或下发参数设置，更改当前显微镜工作参数。
[0013] 本发明还提供一种测量方法，测量步骤为： 51) 图像采集模块实时采集图像数据； 52) 通过用户界面模块操作选择显微镜设备进行连接，同时可通过设备设置模块查看 设备属性或设置设备属性，也可通过画笔预设模块设置画笔，等进行都是测量前的准备； 53) 利用直线测定算法进行测量； 54) 通过快捷工具模块导出测量结构，或通过数据储存模块存储当前测量结构或其他 参数； 55) 通过测定资讯模块查看测量结果详情。
[0014]与现有技术相比，本发明采用对接TWAIN标准协议的方式，较传统的测量工具软件 具有更强的兼容性，传统的测量工具只能支持厂家提供的图像采集功能，而本发明不仅能 采集图像，也能完成测量功能，保存测量数据，查看测量详情，功能更加完善。同时能够接入 不同厂家满足TWAIN标准的显微镜设备，增强平台扩展性。总体来说本发明平台扩展性强、 功能扩展性强、使用效率高、功能完善、能很大地提高测量工作效率。
附图说明
[0015] 图1是本发明的结构示意图之一。
[0016] 图2是本发明的结构示意图之二。
具体实施方式 [0017] 实施例： 请参阅图1至图2，本实施例展示一种TWAIN标准显微测量系统，包括： 图像采集模块:可从TWAIN标准显微镜设备采集图像； 与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块： 以及与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块； 显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量 模块。
[0018]进一步的，测量模块指的是测量算法模块，测量算法为点测定、直线测定、圆测定、 三角测定、或两线测角等。
[0019] 数据储存模块用于读取设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用 于读取测量记录等；用于保存设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于 保存测量记录等。
[0020] 用户界面用于:可视化设备属性读取、设置界面，包括分辨率等属性;可视化画笔 预设界面，包括画笔粗细、样式、颜色等;可视化快捷工具界面，包括导出图像、导出表格等； 可视化测量界面，包括手动测量，划线等;显示测量结果，测定资讯界面，包括所有测量说明 文字等。
[0021]用户界面上搭载有设备设置模块。
[0022] 用户界面上搭载有画笔预设模块，画笔预设主要是对画笔类型如实线、虚线，画笔 粗细如5Pt、i〇pt，画笔字体如宋体、黑体，画笔大小等属性进行配置，用于测量时候画笔的 属性预先设置。
[0023] 用户界面上搭载有快捷工具模块，快捷工具包括以下功能，启动校正、十字线设 置、放大镜、DEMO测量、导出word、导出exce 1、导出测量结果等。
[0024]用户界面上搭载有测定资讯模块，测定资讯表示的是N次测量信息，包括每次测量 所使用颜色、测定的类型如点线测量或平行中线测定，选中每个测定结果，可以查看详细的 测量数据，比如中心点坐标X和Y，以及测量曲线的长度等。
[0025]设备设置模块用于自动连接设备，并可由用户打开属性对话框，查看设备分辨率、 设备id、设备曝光率、白平衡等参数，偶尔会有部分参数读取不到的情况，则只显示正常读 取到的参数;或下发参数设置，更改当前显微镜工作参数。
[0026] 测量流程如下： 51) 图像采集模块实时采集图像数据； 52) 通过用户界面模块操作选择显微镜设备进行连接，同时可通过设备设置模块查看 设备属性或设置设备属性，也可通过画笔预设模块设置画笔，等进行都是测量前的准备； 53) 利用直线测定算法进行测量； 54) 通过快捷工具模块导出测量结构，或通过数据储存模块存储当前测量结构或其他 参数； 55) 通过测定资讯模块查看测量结果详情。
[0027] 本实施例采用对接TWAIN标准协议的方式，较传统的测量工具软件具有更强的兼 容性，传统的测量工具只能支持厂家提供的图像采集功能，而本发明不仅能采集图像，也能 完成测量功能，保存测量数据，查看测量详情，功能更加完善。同时能够接入不同厂家满足 TWA顶标准的显微镜设备，增强平台扩展性。总体来说本发明平台扩展性强、功能扩展性强、 使用效率高、功能完善、能很大地提高测量工作效率。
[0028] 以上所述的仅是本发明的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不 脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范 围。

Claims (9)

1. 一种TWAIN标准显微测量系统，其特征在于： 包括： 图像采集模块:可从TWAIN标准显微镜设备采集图像； 与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块： 与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块； 显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量 模块，测量算法为点测定、直线测定、圆测定、三角测定、或两线测角等。
2. 根据权利要求1所述的一种TWA IN标准显微测量系统，其特征在于:数据储存模块用 于读取设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于读取测量记录等；用于 保存设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率;用于保存测量记录等。
3. 根据权利要求2所述的一种TWAIN标准显微测量系统，其特征在于：用户界面用于:可 视化设备属性读取、设置界面，包括分辨率等属性;可视化画笔预设界面，包括画笔粗细、样 式、颜色等;可视化快捷工具界面，包括导出图像、导出表格等;可视化测量界面，包括手动 测量，划线等;显示测量结果，测定资讯界面，包括所有测量说明文字等。
4. 根据权利要求3所述的一种TWAIN标准显微测量系统，其特征在于：用户界面上搭载 有设备设置模块。
5. 根据权利要求4所述的一种TWAIN标准显微测量系统，其特征在于：用户界面上搭载 有画笔预设模块，画笔预设主要是对画笔类型如实线、虚线，画笔粗细如5pt、10pt，画笔字 体如宋体、黑体，画笔大小等属性进行配置，用于测量时候画笔的属性预先设置。
6. 根据权利要求5所述的一种TWAIN标准显微测量系统，其特征在于：用户界面上搭载 有快捷工具模块，快捷工具包括以下功能，启动校正、十字线设置、放大镜、DEMO测量、导出 word、导出excel、导出测量结果等。
7. 根据权利要求6所述的一种TWAIN标准显微测量系统，其特征在于：用户界面上搭载 有测定资讯模块，测定资讯表示的是N次测量信息，包括每次测量所使用颜色、测定的类型 如点线测量或平行中线测定，选中每个测定结果，可以查看详细的测量数据，比如中心点坐 标X和Y，以及测量曲线的长度等。
8. 根据权利要求7所述的一种TWAIN标准显微测量系统，其特征在于:设备设置模块用 于自动连接设备，并可由用户打开属性对话框，查看设备分辨率、设备id、设备曝光率、白平 衡等参数，偶尔会有部分参数读取不到的情况，则只显示正常读取到的参数;或下发参数设 置，更改当前显微镜工作参数。
9.一种测量方法，其特征在于:其利用根据权利要求8所述的一种TWAIN标准显微测量 系统，其特征在于:测量步骤为： 51) 图像采集模块实时采集图像数据； 52) 通过用户界面模块操作选择显微镜设备进行连接，同时可通过设备设置模块查看 设备属性或设置设备属性，也可通过画笔预设模块设置画笔，等进行都是测量前的准备； 53) 利用直线测定算法进行测量； 54) 通过快捷工具模块导出测量结构，或通过数据储存模块存储当前测量结构或其他 参数； 55) 通过测定资讯模块查看测量结果详情。
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