CN108801849A - 一种等静压石墨外观参数快速检测方法 - Google Patents

一种等静压石墨外观参数快速检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种等静压石墨外观参数快速检测方法，包括以下步骤：S1：物料准备：对需要进行外观检测的等静压石墨的质量进行称量并在称量完成后将外观检测的等静压石墨传送至外形检测地点D1；S2：形状检测：利用图像采集装置采集S1中所述的传送至外形检测地点D1的等静压石墨的形状信息，并将等静压石墨的形状信息传输至图形分析装置；S3：体积计算：利用图形分析装置对S2中所述的等静压石墨的形状信息进行分析并得出等静压石墨的体积。本发明设计合理，实用性高，能够快速对的等静压石墨的密度和外形进行检测，并可对密度和外形不合格的等静压石墨进行回收，节省成本，检测效率高。

Description

一种等静压石墨外观参数快速检测方法
技术领域
本发明涉及石墨外观参数检测技术领域，尤其涉及一种等静压石墨外观参数快速检测方法。
背景技术
等静压石墨是上世纪40年代发展起来的一种新型石墨材料，具有一系列优异的性能。等静压石墨的耐热性好，在惰性气氛下，随着温度的升高，其机械强度反而升高，与普通石墨相比，结构精细致密，而且均匀性好；热膨胀系数很低，具有优异的抗热震性能。经检索，申请公布号为CN102998311A的专利文件公开了一种等静压石墨外观参数快速检测系统及检测方法，检测系统包括外观尺寸检测子系统和外观形状及完整度检测子系统，外观尺寸检测子系统包括采集单元和处理单元，光电发射器发出的光线照射到被测等静压石墨上，光电接收器接收通过被测等静压石墨后的光线，通过处理单元处理后得出产品的外观尺寸；外观形状及完整度检测子系统包括旋转机构、CCD移动导轨、CCD探头和图像处理单元，CCD探头在被测等静压石墨上以一定频率摄制图像，传送到图像处理单元处理后找出被测等静压石墨的瑕疵。这种设计具有检测时间短、数据精准，无粉尘污染，使用简单等优点。
上述设计还存在不足之处，等静压石墨在生产过程中容易出现外形损伤和内部裂纹甚至是中空，其中内部裂纹和中空将降低等静压石墨的密度，但是上述设计不便于对等静压石墨的外形和密度进行检测，不利于人们的使用，因此我们提出了一种等静压石墨外观参数快速检测方法用于解决上述问题。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种等静压石墨外观参数快速检测方法。
本发明提出的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，包括以下步骤：
S1：物料准备：对需要进行外观检测的等静压石墨的质量进行称量并在称量完成后将外观检测的等静压石墨传送至外形检测地点D1；
S2：形状检测：利用图像采集装置采集S1中所述的传送至外形检测地点D1的等静压石墨的形状信息，并将等静压石墨的形状信息传输至图形分析装置；
S3：体积计算：利用图形分析装置对S2中所述的等静压石墨的形状信息进行分析并得出等静压石墨的体积；
S4：密度计算：利用S3中所述的等静压石墨的体积信息和S1中所述等静压石墨的质量计算得出等静压石墨的密度数值Q1；
S5：设定密度偏差范围：设定等静压石墨密度的合格范围Q2；
S6：密度对比：将S4中所述的等静压石墨的密度数值Q1与S5中等静压石墨密度的合格范围Q2进行对比并判断等静压石墨的密度数值Q1是否合格；
S7：初步筛选：将S6中所述的不合格的等静压石墨传送至原料仓D2，将S6中所述的合格的等静压石墨传送至内部检测地点D3；
S8：超声探测：利用超声检测装置对S7中所述的传送至内部检测地点D3的等静压石墨进行超声信号探测；
S9：超声结果分析：对S8中所述的超声信息探测结果进行分析并判断出等静压石墨的表层和内部是否存在裂纹；
S10：二级筛选：将S9中所述的存在裂纹的等静压石墨传送至原料仓D2，将S9中所述的未存在裂纹的等静压石墨传送至产品包装地点D4。
优选的，所述S1、S7、S8和S10中，在对等静压石墨进行传送时选用材质为PU的传送带。
优选的，所述S1中，在对等静压石墨进行称量前需要将等静压石墨放置与烘箱内，直至等静压石墨内的水份完全挥发。
优选的，所述S1中，在对等静压石墨的质量进行称量时选用一台电子天平，将等静压石墨放置在电子天平上进行称量。
优选的，所述S2中，在对等静压石墨的外形信息进行采集时选用型为SONYXC-ST30CE的图像采集装置。
优选的，所述S1、S7、S8和S10中，在对等静压石墨进行传送时，传送速度应小于1米/秒。
优选的，所述S8中，选用型号为MSZ27-UE2000的超声检测装置对等静压石墨进行超声探测。
优选的，所述S7和S10中，在将等静压石墨传送至原料仓D2后，利用粉碎装置对等静压石墨进行粉碎处理，在粉碎过程中粉碎装置需接地。
优选的，所述S7中，内部检测地点D3与外形检测地点D1之间的距离应小于15米。
优选的，所述S10中，在将未存在裂纹的等静压石墨传输至产品包装地点D4后在等静压石墨外侧包裹防静电薄膜并打包在包装箱内。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
（1）、通过电子天平称量出等静压石墨的质量信息，并通过图像采集装置测得等静压石墨的体积信息，从而可快速的得出等静压石墨的密度数值Q1并与等静压石墨的密度合格范围Q2进行对比，以筛选出密度不合格的等静压石墨；
（2）、通过选用材质为PU的传送带来对等静压石墨进行短距离传送，能够防止等静压石墨在传送过程中发生破损，进而通过等静压石墨的良品率；
（3）、通过超声检测装置能够对等静压石墨的内部结构进行超声探测，防止等静压石墨内部出现裂纹，保障了等静压石墨内部结构紧密，进而提高等静压石墨的品质。
本发明设计合理，实用性高，能够快速对的等静压石墨的密度和外形进行检测，并可对密度和外形不合格的等静压石墨进行回收，节省成本，检测效率高。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步解说。
实施例
本实施例中提出了一种等静压石墨外观参数快速检测方法，包括以下步骤：
S1：物料准备：对需要进行外观检测的等静压石墨的质量进行称量并在称量完成后将外观检测的等静压石墨传送至外形检测地点D1；
S2：形状检测：利用图像采集装置采集S1中所述的传送至外形检测地点D1的等静压石墨的形状信息，并将等静压石墨的形状信息传输至图形分析装置；
S3：体积计算：利用图形分析装置对S2中所述的等静压石墨的形状信息进行分析并得出等静压石墨的体积；
S4：密度计算：利用S3中所述的等静压石墨的体积信息和S1中所述等静压石墨的质量计算得出等静压石墨的密度数值Q1；
S5：设定密度偏差范围：设定等静压石墨密度的合格范围Q2；
S6：密度对比：将S4中所述的等静压石墨的密度数值Q1与S5中等静压石墨密度的合格范围Q2进行对比并判断等静压石墨的密度数值Q1是否合格；
S7：初步筛选：将S6中所述的不合格的等静压石墨传送至原料仓D2，将S6中所述的合格的等静压石墨传送至内部检测地点D3；
S8：超声探测：利用超声检测装置对S7中所述的传送至内部检测地点D3的等静压石墨进行超声信号探测；
S9：超声结果分析：对S8中所述的超声信息探测结果进行分析并判断出等静压石墨的表层和内部是否存在裂纹；
S10：二级筛选：将S9中所述的存在裂纹的等静压石墨传送至原料仓D2，将S9中所述的未存在裂纹的等静压石墨传送至产品包装地点D4。
本实施例中，S1、S7、S8和S10中，在对等静压石墨进行传送时选用材质为PU的传送带，S1中，在对等静压石墨进行称量前需要将等静压石墨放置与烘箱内，直至等静压石墨内的水份完全挥发，S1中，在对等静压石墨的质量进行称量时选用一台电子天平，将等静压石墨放置在电子天平上进行称量，S2中，在对等静压石墨的外形信息进行采集时选用型为SONYXC-ST30CE的图像采集装置，S1、S7、S8和S10中，在对等静压石墨进行传送时，传送速度应小于1米/秒，S8中，选用型号为MSZ27-UE2000的超声检测装置对等静压石墨进行超声探测，S7和S10中，在将等静压石墨传送至原料仓D2后，利用粉碎装置对等静压石墨进行粉碎处理，在粉碎过程中粉碎装置需接地，S7中，内部检测地点D3与外形检测地点D1之间的距离应小于15米，S10中，在将未存在裂纹的等静压石墨传输至产品包装地点D4后在等静压石墨外侧包裹防静电薄膜并打包在包装箱内，通过电子天平称量出等静压石墨的质量信息，并通过图像采集装置测得等静压石墨的体积信息，从而可快速的得出等静压石墨的密度数值Q1并与等静压石墨的密度合格范围Q2进行对比，以筛选出密度不合格的等静压石墨；通过选用材质为PU的传送带来对等静压石墨进行短距离传送，能够防止等静压石墨在传送过程中发生破损，进而通过等静压石墨的良品率；通过超声检测装置能够对等静压石墨的内部结构进行超声探测，防止等静压石墨内部出现裂纹，保障了等静压石墨内部结构紧密，进而提高等静压石墨的品质，本发明设计合理，实用性高，能够快速对的等静压石墨的密度和外形进行检测，并可对密度和外形不合格的等静压石墨进行回收，节省成本，检测效率高。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，包括以下步骤；
S1：物料准备：对需要进行外观检测的等静压石墨的质量进行称量并在称量完成后将外观检测的等静压石墨传送至外形检测地点D1；
S2：形状检测：利用图像采集装置采集S1中所述的传送至外形检测地点D1的等静压石墨的形状信息，并将等静压石墨的形状信息传输至图形分析装置；
S3：体积计算：利用图形分析装置对S2中所述的等静压石墨的形状信息进行分析并得出等静压石墨的体积；
S4：密度计算：利用S3中所述的等静压石墨的体积信息和S1中所述等静压石墨的质量计算得出等静压石墨的密度数值Q1；
S5：设定密度偏差范围：设定等静压石墨密度的合格范围Q2；
S6：密度对比：将S4中所述的等静压石墨的密度数值Q1与S5中等静压石墨密度的合格范围Q2进行对比并判断等静压石墨的密度数值Q1是否合格；
S7：初步筛选：将S6中所述的不合格的等静压石墨传送至原料仓D2，将S6中所述的合格的等静压石墨传送至内部检测地点D3；
S8：超声探测：利用超声检测装置对S7中所述的传送至内部检测地点D3的等静压石墨进行超声信号探测；
S9：超声结果分析：对S8中所述的超声信息探测结果进行分析并判断出等静压石墨的表层和内部是否存在裂纹；
S10：二级筛选：将S9中所述的存在裂纹的等静压石墨传送至原料仓D2，将S9中所述的未存在裂纹的等静压石墨传送至产品包装地点D4。
2.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S1、S7、S8和S10中，在对等静压石墨进行传送时选用材质为PU的传送带。
3.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S1中，在对等静压石墨进行称量前需要将等静压石墨放置与烘箱内，直至等静压石墨内的水份完全挥发。
4.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S1中，在对等静压石墨的质量进行称量时选用一台电子天平，将等静压石墨放置在电子天平上进行称量。
5.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S2中，在对等静压石墨的外形信息进行采集时选用型为SONYXC-ST30CE的图像采集装置。
6.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S1、S7、S8和S10中，在对等静压石墨进行传送时，传送速度应小于1米/秒。
7.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S8中，选用型号为MSZ27-UE2000的超声检测装置对等静压石墨进行超声探测。
8.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S7和S10中，在将等静压石墨传送至原料仓D2后，利用粉碎装置对等静压石墨进行粉碎处理，在粉碎过程中粉碎装置需接地。
9.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S7中，内部检测地点D3与外形检测地点D1之间的距离应小于15米。
10.根据权利要求1所述的一种等静压石墨外观参数快速检测方法，其特征在于，所述S10中，在将未存在裂纹的等静压石墨传输至产品包装地点D4后在等静压石墨外侧包裹防静电薄膜并打包在包装箱内。
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