CN108776312A - 一种电池测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及电池测试技术领域,提供了一种电池测试装置,包括箱体,所述箱体内安装有用于将各种不同型号的电池的性能信号转换成统一信号的信号转换电路板、用于接收所述统一信号并进行处理的主控CPU电路板以及用于接收所述主控CUP电路板的指令并控制输出信号的控制电路板,所述主控CPU电路板上设有信号处理电路,所述信号处理电路包括STM32F103RCT6芯片,所述信号转换电路板以及所述信号控制电路板均与所述STM32F103RCT6芯片电连接。本发明通过信号转换电路板可以在不同型号的电池性能的型号传入处理电路中之前就先一步进行信号转换,减轻了主控CPU板的运行压力,从而极大地提升了测试效率。

Description

一种电池测试装置
技术领域
本发明涉及电池测试技术领域,具体为一种电池测试装置。
背景技术
电池测试通常是对电池的电流、电压、容量、内阻、充电、放电温度、电池循环寿命等性能信息进行测试。在测试时一部分依赖于测试设备内的电路来实现测试,另一部分依赖于与测试箱配合的电脑来发出指令。
现有技术中的测试设备在测试时速度较慢,特别是在测试不同型号的电池以及多数量的电池时,其内置的电路反应缓慢,导致测试效率低下。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电池测试装置,通过信号转换电路板可以在不同型号的电池性能的型号传入处理电路中之前就先一步进行信号转换,减轻了主控CPU板的运行压力,从而极大地提升了测试效率。
为实现上述目的,本发明实施例提供如下技术方案:一种电池测试装置,包括箱体,所述箱体内安装有用于将各种不同型号的电池的性能信号转换成统一信号的信号转换电路板、用于接收所述统一信号并进行处理的主控CPU 电路板以及用于接收所述主控CUP电路板的指令并控制输出信号的控制电路板,所述主控CPU电路板上设有信号处理电路,所述信号处理电路包括 STM32F103RCT6芯片,所述信号转换电路板以及所述信号控制电路板均与所述STM32F103RCT6芯片电连接。
进一步,所述信号处理电路还包括用于数据信息存储并保存硬件设置的基本信息和校正系数的U102芯片,所述U102芯片的第六引脚、第五引脚以及第七引脚分别与所述STM32F103RCT6芯片的第三十八引脚、第三十七引脚以及第九引脚一一对应电连接。
进一步,所述主控CPU电路板上设有用于确定所有电路的基准电压的U105芯片。
进一步,所述信号控制电路板上设有信号控制电路,所述信号控制电路包括用于将电脑端的数字信号转换为电流电压来控制功率输出的U301芯片和U501芯片,所述U301芯片和所述U501芯片构成数据控制回路单元,所述U301芯片的第二引脚、第十六引脚、第十五引脚以及第九引脚分别与所述 STM32F103RCT6芯片的第十引脚、第十一引脚、第十四引脚以及第十五引脚一一对应电连接;所述U501芯片为CD4049芯片。
进一步,所述信号控制电路还包括U103芯片,所述U103芯片的第五引脚、第六引脚以及第七引脚分别与所述STM32F103RCT6芯片的五十七引脚、五十八引脚以及五十九引脚一一对应电连接,所述U103芯片为ULN2003芯片。
进一步,所述信号转换电路板上设有信号采集电路,所述信号采集电路包括用于将采集的信号传递至所述信号控制电路中的U108芯片,所述U108 芯片的第十引脚、第十一引脚、第十四引脚以及第十三引脚分别与U103芯片的第十五引脚、第十六引脚、第十三引脚以及第十四引脚一一对应电连接。
进一步,所述信号采集电路还包括U106芯片,所述U106芯片的第十八引脚、第十九引脚以及第二十引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第四十一引脚、第四十引脚以及第三十就引脚一一对应电连接,且所述U106芯片的第十三引脚以及第十六引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第四十五引脚以及第四十四引脚电连接;所述U106芯片与所述U108芯片通过运算放大器电连接。
进一步,所述箱体内还安装有用于控制功率输入输出的继电器功率电路板,所述继电器功率电路板与所述主控CPU电路板电连接。
进一步,所述控制电路板上还设有用于接收所述主控CPU电路板传来的指令并进行转换的数据转换器芯片,所述箱体内还安装有用于将所述数据转换器芯片转换好的数据通过隔离通信发送至电脑端的通信电路板。
进一步,所述箱体设有可根据工作状态发出不同颜色光或不同形式光的灯座组件。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:通过信号转换电路板可以在不同型号的电池性能的型号传入处理电路中之前就先一步进行信号转换,减轻了主控CPU板的运行压力,从而极大地提升了测试效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种电池测试装置的抽屉结构藏在箱体内时的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的一种电池测试装置的抽屉结构抽出时的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的一种电池测试装置的爆炸图;
图4为本发明实施例提供的一种机架安装了电池测试装置的结构示意图;
图5为本发明实施例提供的一种电池测试装置的内部电路模块示意图;
图6为本发明实施例提供的一种电池测试装置的信号处理电路图;
图7为本发明实施例提供的一种电池测试装置的供电电路图;
图8为本发明实施例提供的一种电池测试装置的信号采集电路图;
图9为本发明实施例提供的一种电池测试装置的信号控制电路图;
图10为本发明实施例提供的一种电池测试装置的通信电路图;
图11为本发明实施例提供的一种电池测试装置的面板灯输出电路图;
图12为本发明实施例提供的一种电池测试装置的面板灯CPU处理电路图;
图13为本发明实施例提供的一种电池测试装置的面板灯控制电路图;
附图标记中:10-箱体上盖;11-箱体下盖;12-脚垫;13-开口;14-通孔; 15-液晶显示屏;16-AC电源接口;17-电源开关;18-变压器;19-纽扣电池;20-抽屉底;21-夹具;22-抽屉支架;23-滑轨;24-抽屉板;25-亚克力面板; 40-信号转换电路板;41-主控CPU电路板;42-继电器功率电路板;50-灯圈; 51-光控制电路板;52-导光块;60-航插板;61-接口;70-风扇;71-第一散热口;72-第二散热口;80-侧挂件;30-架体;31-测试箱;32-第一安装位;33- 第二安装位;34-第三安装位;35-万向轮;36-锁止件。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一:
请参阅图1-图3,本发明实施例提供一种电池测试箱,包括箱体,用于夹持电池并传输电池性能信息的若干夹具21。其中,箱体由箱体上盖10和箱体下盖11围合而成,所述箱体设有抽屉结构,所述抽屉结构包括可抽出或藏入箱体的抽屉底20,各所述夹具21均水平固定安装在所述抽屉底20上;所述箱体内还安装有用于接收各所述夹具21所传输来的电池性能信息并进行测试的测试模块。在本实施例中,通过将抽屉结构应用到本测试箱31中,能够保证在测试电池时,电池能够被藏在箱体内,从而避免了一切会在测试的过程中触碰到电池的可能,使得电池的在被测试时处于一个相对稳定且安全的状态,提升了测试的精准度。另外,将用来夹持电池并传输电池性能信息的夹具21水平固定在抽屉底20上,使得测试时电池永远处于端平的状态,避免了电池从夹具21上脱落,进一步提升了测试的精准度,该夹具21通常测试的是纽扣电池19。当各所述夹具21将电池的性能信息采集到后传输给测试模块,由测试模块对其进行测试处理。抽屉结构中有两个抽屉支架22,分别安装在箱体的内相对两侧,它们能够支起抽屉底20。
优化上述抽屉结构,所述抽屉结构还包括用于将所述抽屉底20锁在所述箱体内的锁止组件以及用于将解锁后的所述抽屉底20推出所述箱体的解锁组件。在本实施例中,通过该锁止组件可以便于将抽屉底20锁在箱体内,防止抽屉底20自由从箱体中滑出,通过解锁组件可以便于在需要抽出抽屉底20 时,可以较为便捷地将抽屉底20推出。
进一步优化上述抽屉结构,所述锁止组件包括磁铁,所述抽屉底20安装有可吸附在所述磁铁上的铁块。在本实施例中,锁止的方式是通过磁铁来吸附,实际操作中,将抽屉底20推入箱体内,抽屉底20上的铁块会被磁铁吸附,从而将抽屉底20锁在箱体内。除此以外,也可以采用卡接的方式来锁止,类似于弹簧笔的锁止方式。
进一步优化上述抽屉结构,所述解锁组件包括一端与所述抽屉底20连接且另一端可与所述箱体的内侧壁抵接的弹簧,与所述箱体的内侧壁挤压后的所述弹簧的弹力大于所述磁铁的吸力。在本实施例中,通过弹簧的弹力来打开铁块与磁铁之间的连接,正常情况下,弹簧处于正常状态,不具备推力或是推力不足以打开磁铁与铁块之间的连接,当需要抽出抽屉底20时,只需要向箱体内部按压抽屉结构,给弹簧一个压缩力,此时的力会大于磁铁的吸力,当停止施加力后,弹簧就会把抽屉底20弹出。可以根据实际情况选择一根或多根弹簧。
继续优化上述抽屉结构,所述抽屉结构还包括设于所述箱体两内侧壁上的滑轨23,所述抽屉底20的两侧均安设有可于每一所述滑轨23内滑动的滑轮。在本实施例中,通过滑轨23滑轮的配合可以便于解锁后的抽屉底20轻松地抽出和推入。
作为本发明实施例的优化方案,各所述夹具21均为测试夹,每一所述测试夹与电池的接触部位均设有防滑槽。在本实施例中,这些夹具21均为专门测试电池的测试夹,当然也可以自制夹子,用导线传递信号。在每个测试夹与电池接触的部位都设防滑槽,可以增大夹持电池的摩擦力,当测试的电池的类型较大时也能够稳定地将电池夹持住。该防滑槽由若干条彼此平行的凹槽组成,优选的,还可以在该部位安装橡胶防滑垫。
作为本发明实施例的优化方案,请参阅图3,所述测试模块包括用于将各种不同的型号的电池性能信号转换成统一信号的信号转换电路板40,各所述夹具21均安装在所述信号转换电路板40上,且均与所述信号转换电路板40电连接。在本实施例中,通过该信号转换电路板40可以将各种不同型号的电池的信息都转换成统一的信号供主控CPU电路板41来测试,因此主控CPU电路板41就只需要能够测试一种信号就可以了,节省了成本。
进一步优化上述测试模块,请参阅图3,所述测试模块还包括用于接收所述统一信号并处理的主控CPU电路板41,所述主控CPU电路板41安装在所述箱体内。在本实施例中,该主控CPU电路板41为本测试模块的核心电路板,其芯片能够接收上述信号转换板传递而来的统一信号然后进行测试处理,它也安装在箱体内。
优化主控CPU电路板41,请参阅图5和图6,所述主控CPU电路板41 上设有信号处理电路,该信号处理电路既可以处理所述统一信号,又可以用于解析由电脑端下发的指令并发送至其他工作电路。所述信号处理电路包括主控芯片、U102芯片、U105芯片、JP04芯片、JP06芯片以及78M05UM8 芯片,所述主控芯片采用STM32F103RCT6芯片,其中所述U102芯片的第六引脚、第五引脚以及第七引脚分别与所述STM32F103RCT6芯片的第三十八引脚、第三十七引脚以及第九引脚一一对应电连接,其用于数据信息存储,并保存硬件设置的基本信息和校正系数。所述U105芯片用于确定所有电路的基准电压,也就是所有的测试和测量的标准信息线。所述JP04芯片的第二引脚和第三引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第四十六引脚和第四十九引脚一一对应电连接。所述JP06芯片的第二引脚与所述STM32F103RCT6芯片的第十七引脚电连接。所述JP06芯片的第三引脚与所述78M05UM8芯片的第三引脚电连接。
进一步优化上述测试模块,请参阅图5、图6和图9,所述测试模块还包括信号控制电路板,所述信号控制电路板上设有信号控制电路,该信号控制电路用于获取所述主控CPU板传来的指令,并由数据转换器芯片转换后输出信号至工作电路中来实现硬件上的开闭环控制电流电压大小。该信号控制电路包括U301芯片、U501芯片、U103芯片、U104芯片以及U109芯片。其中, U301芯片和U501芯片构成数据控制回路单元,用于将电脑端的数字信号转换为电流电压来控制功率部分输出,U301芯片的第二引脚、第十六引脚、第十五引脚以及第九引脚分别与所述STM32F103RCT6芯片的第十引脚、第十一引脚、第十四引脚以及第十五引脚一一对应电连接,所述U501芯片为 CD4049芯片。U103芯片的第五引脚、第六引脚以及第七引脚分别与所述 STM32F103RCT6芯片的五十七引脚、五十八引脚以及五十九引脚一一对应电连接,U103芯片的第一引脚、第二引脚以及第三引脚分别与所述 STM32F103RCT6芯片第五十一引脚、第五十二引脚以及第五十三引脚一一对应电连接,U103芯片为ULN2003芯片。U104芯片的第一引脚与所述 STM32F103RCT6芯片的第二十六引脚电连接,U104芯片的第三引脚和第二引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第二十四引脚和第二十五引脚电连接,U104芯片的第五引脚和第四引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第二十二引脚和第二十三引脚电连接,U104芯片的第七引脚与所述STM32F103RCT6芯片的第二十引脚电连接,U104芯片为ULN2003芯片。U109芯片的第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚以及第七引脚分别与 STM32F103RCT6芯片的第三十六引脚、第三十五引脚、第三十四引脚、第三十三引脚、第三十引脚、第二十九引脚以及第二十七引脚一一对应电连接, U109芯片为ULN2003芯片。
优化上述信号转换电路板40,请参阅图5、图6和图8,所述信号转换电路板40上设有用于采集并转换电池当前的电压电流大小信号的信号采集电路,所述信号采集电路包括U108芯片和U106芯片。其中,所述U108芯片的第十引脚、第十一引脚、第十四引脚以及第十三引脚分别与U103芯片的第十五引脚、第十六引脚、第十三引脚以及第十四引脚一一对应电连接,用于将采集的信号传递至信号控制电路中。所述U106芯片的第十八引脚、第十九引脚以及第二十引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第四十一引脚、第四十引脚以及第三十就引脚一一对应电连接,所述U106芯片的第十三引脚以及第十六引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第四十五引脚以及第四十四引脚电连接。所述U108芯片与所述U106芯片通过运算放大器电连接。
继续优化上述测试模块,请参阅图3,所述测试模块还包括用于控制功率输入输出的继电器功率电路板42,所述继电器功率电路板42与所述主控CPU 电路板41电连接。在本实施例中,该继电器功率电路板42能够控制功率的输入输出,为主控CPU电路板41提供输入输出功率,同样其也安装在箱体内。
继续优化上述测试模块,请参阅图5、图6和图10,所述测试模块还包括通信电路板,所述通信电路板上设有用于将上述数据转换器芯片转换好的数据通过隔离通信发送至电脑端的通信电路,以实现与电脑端的交互,便于测试信息在电脑端的呈现。优选的,该通信电路包括U401芯片、DC1芯片以及JL1芯片,所述JL1芯片的第一引脚和第二引脚均与所述U401芯片的第十三引脚电连接,所述JL1芯片的第三引脚和第四引脚均与所述U401芯片的第十二引脚电连接,所述DC1芯片的第四引脚与所述JL1芯片的第六引脚电连接,所述JL1芯片的第五引脚与STM32F103RCT6芯片的第五十引脚电连接。
继续优化上述测试模块,请参阅图5和图7,所述测试模块还包括电源电路板,所述电源电路板上设有用于给整体电路供电,提供稳定可靠的低纹波分离电源的供电电路。该供电电路可以提供5V、12V以及15V的电压。
作为本发明实施例的优化方案,请参阅图3,所述箱体底部安装有用于防止所述箱体滑动的若干脚垫12。在本实施例中,安装这些脚垫12可以增强箱体的防滑效果,使得箱体可以稳定地放置在台面上。
实施例二:
请参阅图3,继续优化上述箱体,箱体有一个侧面具有开口13,上述抽屉结构还包括在藏入箱体内时能够盖住该开口13的抽屉板24,该抽屉板24 的大小与开口13相等,因此在处于锁止状态时,抽屉板24与箱体具有开口 13的这一侧面为一个整体。优选的,该抽屉板24的前面安装有亚克力面板 25。
继续优化上述箱体,请参阅图3,箱体还具有可根据工作状态发出不同颜色光或不同形式光的灯座组件,用于指示当前的测试状态。
优化上述灯座组件,请参阅图1-图3,所述灯座组件均包括若干灯圈50 以及用于控制各灯圈50发光的光控电路板,所述光控电路板与所述测试模块电连接,测试模块能够给该光控电路板指令。在抽屉板24上具有若干通孔14,各所述灯圈50与各所述通孔14一一对应,每一所述灯圈50均位于其对应的通孔14处,如此设计,灯圈50发出的光容易透出箱体被观察到。各灯圈50 和光控电路板均设于所述箱体内。优选的,灯圈50和通孔14的数量均有八个,且一字排开,这八个灯圈50均与所述光控电路板电连接。如此光控电路板可以控制这八个灯圈50发出十六种彩色光,发光的颜色及闪烁的状态可以表示当前电池测试的工作状态,例如,恒流充电,灯圈50为红色,并且顺时针旋转;恒流放电,灯圈50为绿色,逆时针旋转;静置时,灯圈50为橙色,并且呈呼吸式闪烁等。
进一步优化上述灯座组件,请参阅图1和图2,所述灯座组件还包括与各所述灯圈50对应的导光块52,每一所述导光块52安装在所述灯圈50靠近所述通孔14的一侧,这些导光块52可以增强发光的强度,更容易被人们观察。
优化上述光控电路板,所述光控电路板上设有面板灯CPU处理电路、面板灯控制电路以及面板灯输出电路。其中,所述面板灯CPU处理电路用于接收所述主控CPU电路板41的信号并处理后传递给面板灯控制电路,所述面板灯控制电路用于根据所述所述面板灯CPU处理电路发出的信号向所述面板灯输出电路发出输出指令,所述面板灯输出电路用于接收所述输出指令并驱使灯圈50发光。
优化上述面板灯CPU处理电路,请参阅图6和图12,其包括UM3芯片、 U101芯片、JP04芯片以及JP05芯片,其中,所述UM3芯片采用LM1117芯片。所述U101芯片的第十一引脚和第十二引脚分别与所述STM32F103RCT6 芯片的第三十八引脚和第三十七引脚电连接。
优化上述面板灯控制电路,请参阅图12和图13,其包括串联的U1-U8 八个芯片,分别用来控制八个通道。所述U1芯片的第十一引脚和第十三引脚分别与所述U101芯片的第八引脚和第九引脚电连接。
优化上述面板灯输出电路,请参阅图11和图13,所述面板灯输出电路包括若干三色晶片,各所述三色晶片依次电连接在每一所述U1芯片的第四引脚至第九引脚、第十六至第二十一引脚中。
继续优化上述箱体,请参阅图3,所述箱体内还设有航插板60,所述航插板60具有若干接口6161,各所述接口6161与各所述通孔14一一对应,每一所述接口6161由对应的所述通孔14处伸至所述箱体外。这几个接口6161 可以与电池连接,这里的电池就不限制于纽扣电池19了,任何电池都可以通过它来连接后进行测试,只需要更换接头即可。上述主控CPU电路板41和继电器功率电路板42均与所述航插板60电连接,如此就可以通过电脑上的软件来根据需要控制主控CPU电路板41和继电器功率板。八个灯圈50、八个通孔14以及八个接口6161代表着八个检测通道。
实施例三:
继续优化上述箱体,请参阅图1-3,所述箱体具有通孔14的侧面上安装有一块液晶显示屏15,上述信号转换电路板40、主控CPU电路板41、以及继电器功率电路板42均与该液晶显示屏15电连接,该液晶显示屏15能够显示电压量程、电流量程、箱号、检测通道的编号及通信状态等内容。显示的信息与主控CPU电路板41、继电器以及电脑软件同步。
实施例四:
继续优化上述箱体,请参阅图2和图3,箱体具有AC电源接口6116以及电源开关17,所述电源开关17设在所述箱体具有抽屉板24的侧面上。AC 电源用于给箱体内的各零部件供电,在启动本系统时,就打开电源开关17,停止时就关闭电源开关17。
进一步优化上述箱体,请参阅图3,箱体内安装有变压器18,所述变压器18的高压侧与所述AC电源接口6116电连接,所述主控CPU电路板41、所述继电器功率电路板42、所述光控制电路板51、所述信号转换电路板40 均与所述变压器18的低压侧电连接。在本实施例中,在箱体内设置变压器18,可以将市电转换为箱体内各零部件所能够使用的电。
实施例五:
继续优化上述箱体,请参阅图3,所述箱体内安装有用于散热的散热组件。在测试过程中,抽屉结构是藏入在箱体内的,此时箱体是一个相对封闭的空间,那么各零部件工作时产生的热量就会被锁在箱体内,随着时间的积累,温度会越来预高,而影响到各零部件的使用寿命。因此设此散热组件能够有效地对箱体进行散热。
优化上述散热组件,请参阅图3,所述散热组件包括风扇70以及第一散热口71,所述风扇70设于所述箱体内,所述第一散热口71设于所述箱体的其中一个侧面上,所述风扇70的背部正对所述第一散热口71。在本实施例中,风扇70在工作时,一方面会吹动箱体内的空气,使得空气流通,进而降低箱体内的温度,另一方面一部分热量会被风扇70吸引从第一散热口71处排除箱体外。
继续优化散热组件,请参阅图3,所述散热组件还包括设于所述箱体的另外两个侧面上的第二散热口72。在本实施例中,当箱体内的空气在吹动后,热量也可以由这两个侧面散到箱体外。优选的,第一散热口71和两个第二散热口72均为网状结构,即能够散热又能够防止异物进入到箱体内。
继续优化上述散热组件,所述散热组件还包括用于检测所述箱体内温度的温度传感器以及用于控制所述风扇70转动的控制器,所述控制器与所述温度传感器电连接。温度传感器能够实时感应箱体内的温度,并将温度信号传递至控制器,控制器为现有器件,它能够在投入使用时预先设定温度临界点,当温度信号达到该临界点时,即控制风扇70转动,而当箱体温度降低后,低于预先设定的温度临界点,就停止给风扇70供电,如此可以节省能源。
实施例六:
继续优化上述箱体,在箱体的相对两侧边安装侧挂件80,在整个测试系统中,还可以包括用于搁置箱体的机架,所述机架上具有供所述侧挂件80安装的第一安装位32,第一安装位32也可以有两个,通过这两个侧挂件80和两个第一安装位32的配合,可以便于本箱体安装在机架上。优选的,所述侧挂件80与所述第一安装位32之间为可拆卸连接,例如,可以通过螺钉固定,也可以通过卡扣固定,在需要拆下更换时可较为方便。
优化上述机架,所述机架为一种可拼接且可拆卸的机架,由多个架体30 形成。该机架包括水平拼接结构以及竖直拼接结构,使得相邻的两个架体30 可水平拼接,也可以竖直拼接。在本实施例中,用户可以根据本测试箱31的台数的数量以及测试环境的不同来选择是水平拼接还是竖直拼接,可以避免现有技术中机架尺寸固定而带来的资源浪费。例如,有五台测试箱31,当测试场地的高度足够容纳五台测试箱31,且用户也能够够得着最上方的箱体时,则可采用竖直拼接,拼接五个架体30,然后将五台箱体安装在对应的及架体 30上即可,再如,有十台测试箱31,此时全部竖直拼接已经不太现实,即使场地高度能够容纳竖直方向上摆放十台箱体,最上方的几台箱体用户也不容易操作,此时即可采用水平拼接的方式,或者是将十个架体30分为五个一组,然后再将十台箱体安装在对应的架体30上即可。
优化上述水平拼接结构,所述水平拼接结构包括设于每一所述架体的相对两侧第三连接件和第四连接件,相邻的两个所述架体通过所述第三连接件和所述第四连接件拼接,它们之间可以互相配合,即本机架与另一机架配合。其中第三连接件为两个卡槽,第四连接件为可对应插入两个所述卡槽的卡块,即采用卡接的方式将相邻的两个架体30连接起来。当然,除此以外,也可以采用螺钉螺栓的方式连接。这都是可拆卸的连接方式。
优化上述竖直拼接结构,所述竖直拼接结构包括设在架体30顶部和底部的第一连接件和第二连接件,第一连接件和第二连接件的数量可有多个,使之更为牢靠的连接。例如它们的数量有四个,这些连接件安装在机架的四个角落,通过卡接或者是螺纹连接的方式进行连接。同样它们也都是可拆卸的连接方式。
继续优化上述机架,所述机架还包括用于安装电脑的电脑支架,所述架体30的两侧均设有供所述电脑支架可拆卸安装的若干第二安装位33。如此设计,可以直接将一体机安装在电脑支架上,便于实时操作。作为本实施例的一个优选的方案,在有多个架体30时,在架体30的同一侧,每一所述第二安装位33均位于相邻的两个所述第一安装位32之间,如此安装好电脑后,电脑离测试箱31不远,便于使用者一边操作本测试箱31,一边操作电脑。
进一步优化上述方案,电脑支架与架体30之间的可拆卸连接可以采用螺纹连接,也可以采用卡接。
继续优化上述架体30,所述架体30的顶部也设有供所述电脑支架可拆卸安装的若干第三安装位34。用户可以根据需要选择电脑支架的安装。
继续优化上述机架,所述机架还包括用于搁置电池的若干电池托盘,各电池托盘与各架体30一一对应,每一所述电池托盘与其对应的架体30之间为可拆卸连接。
继续优化上述机架,所述架体30底部设有若干万向轮35。可以便于机架移动到指定的位置。作为本实施例的一个优选的方案,每一所述万向轮35上均安装有锁止件36,可以在移动到指定的位置后通过该锁止件36将其锁止,避免其自由滑动。
实施例七:
本发明实施例还提供一种电池测试装置,包括用于测试电池性能的电池测试箱以及上述的一种机架,所述电池测试箱的相对两侧均设有侧挂件,所述第一安装位有两个,两个所述侧挂件分别可拆卸地安装在两个所述第一安装位上。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种电池测试装置,包括箱体,其特征在于:所述箱体内安装有用于将各种不同型号的电池的性能信号转换成统一信号的信号转换电路板、用于接收所述统一信号并进行处理的主控CPU电路板以及用于接收所述主控CUP电路板的指令并控制输出信号的控制电路板,所述主控CPU电路板上设有信号处理电路,所述信号处理电路包括STM32F103RCT6芯片,所述信号转换电路板以及所述信号控制电路板均与所述STM32F103RCT6芯片电连接。
2.如权利要求1所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述信号处理电路还包括用于数据信息存储并保存硬件设置的基本信息和校正系数的U102芯片,所述U102芯片的第六引脚、第五引脚以及第七引脚分别与所述STM32F103RCT6芯片的第三十八引脚、第三十七引脚以及第九引脚一一对应电连接。
3.如权利要求1所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述主控CPU电路板上设有用于确定所有电路的基准电压的U105芯片。
4.如权利要求1所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述信号控制电路板上设有信号控制电路,所述信号控制电路包括用于将电脑端的数字信号转换为电流电压来控制功率输出的U301芯片和U501芯片,所述U301芯片和所述U501芯片构成数据控制回路单元,所述U301芯片的第二引脚、第十六引脚、第十五引脚以及第九引脚分别与所述STM32F103RCT6芯片的第十引脚、第十一引脚、第十四引脚以及第十五引脚一一对应电连接;所述U501芯片为CD4049芯片。
5.如权利要求4所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述信号控制电路还包括U103芯片,所述U103芯片的第五引脚、第六引脚以及第七引脚分别与所述STM32F103RCT6芯片的五十七引脚、五十八引脚以及五十九引脚一一对应电连接,所述U103芯片为ULN2003芯片。
6.如权利要求5所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述信号转换电路板上设有信号采集电路,所述信号采集电路包括用于将采集的信号传递至所述信号控制电路中的U108芯片,所述U108芯片的第十引脚、第十一引脚、第十四引脚以及第十三引脚分别与U103芯片的第十五引脚、第十六引脚、第十三引脚以及第十四引脚一一对应电连接。
7.如权利要求6所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述信号采集电路还包括U106芯片,所述U106芯片的第十八引脚、第十九引脚以及第二十引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第四十一引脚、第四十引脚以及第三十就引脚一一对应电连接,且所述U106芯片的第十三引脚以及第十六引脚分别与STM32F103RCT6芯片的第四十五引脚以及第四十四引脚电连接;所述U106芯片与所述U108芯片通过运算放大器电连接。
8.如权利要求1所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述箱体内还安装有用于控制功率输入输出的继电器功率电路板,所述继电器功率电路板与所述主控CPU电路板电连接。
9.如权利要求1所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述控制电路板上还设有用于接收所述主控CPU电路板传来的指令并进行转换的数据转换器芯片,所述箱体内还安装有用于将所述数据转换器芯片转换好的数据通过隔离通信发送至电脑端的通信电路板。
10.如权利要求1所述的一种电池测试装置,其特征在于:所述箱体设有可根据工作状态发出不同颜色光或不同形式光的灯座组件。
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