CN108761242A - 一种晶振测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种晶振测试装置，包括壳体，所述壳体内部的顶端固定连接有散热风扇，所述壳体的内壁固定连接有制冷器，所述制冷器的一端与连管连通，所述连管的一端与干燥器连通，所述干燥器的一端与软管连通，所述软管的表面开设有通孔，所述壳体的内壁固定安装有防尘网。本发明通过设置散热风机、制冷器和干燥器，通过散热风机垂直向下设置，然后通过制冷器进行制冷，通过干燥器对气体进行干燥，防止潮湿气体损坏电子元器件，散热效果优异，且通过设置的防尘网和导流板，在通过导流板的导出后，气体转折通过排气孔排出，既可以有效进行散热，同时可防止灰尘进入，进一步延长了该晶振测试装置的寿命。

Description

一种晶振测试装置

技术领域

本发明涉及晶振测试仪技术领域，具体为一种晶振测试装置。

背景技术

晶振测试仪，是通过使用微处理技术，实现了智能化测量的测试仪。该机最大的特点是采用倒数计数技术，测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；可进行PPM测量、偏差测量、上下限测量等；晶体振荡器(简称晶振)是各大通信系统中基础的元器件，也是系统中的基准时钟，其性能是否稳定直接决定系统的稳定性、频率特性等一系列指标，对于宇航、武器型号的项目而言，均需对元器件进行筛选，尤其是对于已经进入批产阶段的型号，晶振使用量多，除筛选外，还需对其进行老化，以使其性能稳定。

目前市场上生产晶振长时间使用散热效果不佳，因此所具有的缺点不足：

1.散热速率不足，导致老化速率较快；

2.固定安装不便，且工作时安装震动幅度较大。

发明内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种晶振测试装置，解决了现有的晶振测试仪使用效果不佳的问题。

（二）技术方案

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种晶振测试装置，包括壳体，所述壳体内部的顶端固定连接有散热风扇，所述壳体的内壁固定连接有制冷器，所述制冷器的一端与连管连通，所述连管的一端与干燥器连通，所述干燥器的一端与软管连通，所述软管的表面开设有通孔，所述壳体的内壁固定安装有防尘网，所述防尘网的正下方通过排气孔与壳体内部的导流板连通，所述壳体的内部固定安装有限位板，所述限位板的内壁固定连接有上套杆，所述上套杆的表面固定套接有弹簧，所述弹簧的底端固定套接有下套杆，所述下套杆的两侧壁固定连接有滑块，所述滑块滑动连接在滑槽的内部，所述下套杆的底端固定连接有吸盘。

优选的，所述扇热风扇的风向设置垂直向下，且散热风扇的一端与排气孔连通。

优选的，所述通孔等距离分布在软管的表面，且软管的拐角处不设置通孔。

优选的，所述导流板开设在壳体的内部交错开口分布，且通过排气孔与外界连通。

优选的，所述滑槽开设在限位板的内部，且限位板和滑槽仰视形状为圆弧状。

优选的，所述吸盘的数量有四个，且四个吸盘均匀分布在壳体底端的四角。

（三）有益效果

与现有技术相比，本发明提供了一种晶振测试装置，具备以下有益效果：

（1）本发明通过设置散热风机、制冷器和干燥器，通过散热风机垂直向下设置，然后通过制冷器进行制冷，通过干燥器对气体进行干燥，防止潮湿气体损坏电子元器件，散热效果优异，且通过设置的防尘网和导流板，在通过导流板的导出后，气体转折通过排气孔排出，既可以有效进行散热，同时可防止灰尘进入，进一步延长了该晶振测试装置的寿命。

（2）本发明通过设置上套杆、弹簧、下套杆和吸盘，通过吸盘方便该晶振测试装置进行吸附安装，且通过上套杆表面上固定套接的弹簧，在进行工作时减少了机械振动，同时减少机械振动而发出的噪音，进一步提高了该晶振测试装置的实用性。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明壳体内部结构俯视图；

图3为本发明图1中A处局部放大结构示意图。

图中：1、壳体；2、散热风扇；3、制冷器；4、连管；5、干燥器；6、软管；7、通孔；8、防尘网；9、导流板；10、排气孔；11、限位板；12、上套杆；13、弹簧；14、下套杆；15、滑块；16、滑槽；17、吸盘。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-3，一种晶振测试装置，包括壳体1，壳体1内部的顶端固定连接有散热风扇2，壳体1的内壁固定连接有制冷器3，制冷器3的一端与连管4连通，连管4的一端与干燥器5连通，干燥器5的一端与软管6连通，软管6的表面开设有通孔7，通过散热风机2垂直向下设置，然后通过制冷器3进行制冷，通过干燥器5对气体进行干燥，防止潮湿气体损坏电子元器件，散热效果优异，通孔7等距离分布在软管6的表面，且软管6的拐角处不设置通孔7，壳体1的内壁固定安装有防尘网8，防尘网8的正下方通过排气孔10与壳体1内部的导流板9连通，扇热风扇2的风向设置垂直向下，且散热风扇2的一端与排气孔10连通，在通过导流板9的导出后，气体转折通过排气孔10排出，既可以有效进行散热，同时可防止灰尘进入，进一步延长了该晶振测试装置的寿命，导流板9开设在壳体1的内部交错开口分布，且通过排气孔10与外界连通，壳体1的内部固定安装有限位板11，限位板11的内壁固定连接有上套杆12，上套杆12的表面固定套接有弹簧13，弹簧13的底端固定套接有下套杆14，下套杆14的两侧壁固定连接有滑块15，滑块15滑动连接在滑槽16的内部，滑槽16开设在限位板11的内部，且限位板11和滑槽16仰视形状为圆弧状，下套杆14的底端固定连接有吸盘17，吸盘17的数量有四个，且四个吸盘17均匀分布在壳体1底端的四角，通过吸盘17方便该晶振测试装置进行吸附安装，且通过上套杆12表面上固定套接的弹簧13，在进行工作时减少了机械振动，同时减少机械振动而发出的噪音，进一步提高了该晶振测试装置的实用性。

该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V市电电连接，并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备。

在使用时，通过吸盘17与固定物吸附固定，方便固定安装，进一步通过上套杆12表面固定套接的弹簧13和下套杆14进行缓冲，且同时滑块15在滑槽16的内部进行滑动进行限位，减少机械振动，减少机械噪音，进一步通过散热风扇2垂直向下吹风，然后通过制冷器3制冷，通过连管4通向干燥器5，然后干燥器5通过软管6将气体通过通孔7通向壳体1内部，然后通过排气孔10和导流板9进行导流，在进行散热的同时，通过防尘网8和导流板9的折状进行防尘作用。

综上所述，该晶振测试装置，通过设置散热风机2、制冷器3、干燥器5、导流板9、上套杆12、弹簧13、下套杆14和吸盘17，解决了现有的晶振测试仪使用效果不佳的问题。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种晶振测试装置，包括壳体（1），其特征在于：所述壳体（1）内部的顶端固定连接有散热风扇（2），所述壳体（1）的内壁固定连接有制冷器（3），所述制冷器（3）的一端与连管（4）连通，所述连管（4）的一端与干燥器（5）连通，所述干燥器（5）的一端与软管（6）连通，所述软管（6）的表面开设有通孔（7），所述壳体（1）的内壁固定安装有防尘网（8），所述防尘网（8）的正下方通过排气孔（10）与壳体（1）内部的导流板（9）连通，所述壳体（1）的内部固定安装有限位板（11），所述限位板（11）的内壁固定连接有上套杆（12），所述上套杆（12）的表面固定套接有弹簧（13），所述弹簧（13）的底端固定套接有下套杆（14），所述下套杆（14）的两侧壁固定连接有滑块（15），所述滑块（15）滑动连接在滑槽（16）的内部，所述下套杆（14）的底端固定连接有吸盘（17）。

2.根据权利要求1所述的一种晶振测试装置，其特征在于：所述扇热风扇（2）的风向设置垂直向下，且散热风扇（2）的一端与排气孔（10）连通。

3.根据权利要求1所述的一种晶振测试装置，其特征在于：所述通孔（7）等距离分布在软管（6）的表面，且软管（6）的拐角处不设置通孔（7）。

4.根据权利要求1所述的一种晶振测试装置，其特征在于：所述导流板（9）开设在壳体（1）的内部交错开口分布，且通过排气孔（10）与外界连通。

5.根据权利要求1所述的一种晶振测试装置，其特征在于：所述滑槽（16）开设在限位板（11）的内部，且限位板（11）和滑槽（16）仰视形状为圆弧状。

6.根据权利要求1所述的一种晶振测试装置，其特征在于：所述吸盘（17）的数量有四个，且四个吸盘（17）均匀分布在壳体（1）底端的四角。