CN108733530B - 一种内存插拔力测试装置，机构及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种内存插拔力测试装置，机构及方法，拔插力传感器实时测量拔插力度的物理信号转变为可测量的电信号输出给处理器；处理器获取拔插力传感器实时测量的拔插力并通过显示屏显示，同时将当前的拔插力和拔插操作时间储存至存储器；处理器将获取拔插力通过语音提示模块播放，提示用户，当拔插力超过预设值至通过语音提示模块发出报警提示，避免了用力过大而造成内存槽或内存条损坏。内存插拔力测试机构可以对内存条的插置进行测试，对内存插槽进行测试，用预设的测试次数实现测试数据采集，判断内存插槽的设置是否合理。

Description

一种内存插拔力测试装置，机构及方法

技术领域

本发明涉及内存测试领域，尤其涉及一种内存插拔力测试装置，机构及方法。

背景技术

内存部件是服务器重要三大件之一，内存的运行稳定性对计算机运行的稳定性起着重要作用，所以内存性能可靠性的保障至关重要。内存的性能与搭配的内存槽有不可分割的关系。通常内存通过内存槽与计算机或服务器进行连接通信数据，内存的金手指在多次拔插使用，如果拔插力度过大，或插入位置不当，直接影响了内存与内存槽的接触紧密度，这就对内存的性能可靠性造成很大的隐患。计算机或服务器在进行内存测试，或内存选型测试时，需要将内存与内存槽的多次插接搭配，选出适合服务器或计算机使用的内存。在多次插接搭配的过程中，均要控制拔插力度，即要能够将内存插入至内存槽内，并且内存与内存槽接触紧密，还可以避免用力过大而造成内存槽或内存条损坏，如何合理的控制内存拔插力是当前丞待解决的技术问题。

发明内容

为了克服上述现有技术中的不足，本发明提供一种内存插拔力测试装置，包括：装置本体和内存条连接装置；装置本体上设有显示屏和内存拔插力测试控制按键；装置本体的一端设置有拔插段，拔插段上设置有拔插力传感器；

装置本体内部设有主板，主板上设置有语音提示模块、处理器、通信模块、IO接口模块、存储器和用于给装置本体元件供电的供电电池；

语音提示模块，显示屏，拔插力传感器，通信模块以及存储器分别与处理器连接；

内存拔插力测试控制按键通过IO接口模块与处理器连接；

拔插力传感器用于实时测量拔插力度的物理信号转变为可测量的电信号输出给处理器；处理器获取拔插力传感器实时测量的拔插力并通过显示屏显示，同时将当前的拔插力和拔插操作时间储存至存储器；处理器将获取拔插力通过语音提示模块播放，提示用户，当拔插力超过预设值至通过语音提示模块发出报警提示；

内存条连接装置设有连接段和与连接段相连接的用于插接内存条的内存连接槽；

拔插段与连接段采用可拆卸方式连接。

优选地，拔插段与连接段分别采用硬质橡胶材料制作；

拔插段与连接段采用过盈配合连接。

优选地，拔插段与连接段分别采用硬质橡胶材料制作；

拔插段设置有外螺纹，连接段设置有与外螺纹相适配的内螺纹，拔插段与连接段通过螺纹方式连接配合。

优选地，通信模块包括RS485通讯接口、CAN网通讯接口、以太网通讯接口、RS232通讯接口。

优选地，装置本体还包括：微信客户端；

微信客户端用于使装置本体与微信端通信连接，将装置本体的数据信息传输至微信端，使多个装置本体之间以及用户终端通过微信端，获取内存插拔力测试数据。

优选地，主板上还设置有测试初始设置电路，直流变压电路以及稳压电路；

装置本体上设有测试初始控制按键；

测试初始控制按键通过测试初始设置电路连接处理器，用于根据接收的测试初始指令对处理器进行测试初始化设置；

供电电池，测试初始控制按键，直流变压电路，稳压电路，测试初始设置电路以及处理器依次连接；

测试初始控制按键用于获取用户输入的测试初始设置控制指令，并达到预设的按压时长后，使供电电池给测试初始设置电路供电实现对处理器测试初始设置。

优选地，测试初始设置电路包括：初始电阻R1、初始电阻R2、初始电阻R3，初始电容C1，初始电容C2，初始二极管VD、初始三级管Q；初始电阻R3的第一端、初始电容C1的正极均与测试初始设置电路输入端连接；初始电容C1的负极与初始电阻R1的一端、初始二极管VD的阴极连接；初始电阻R1的另一端与初始电阻R2的一端、初始三级管Q的b极连接；初始三级管Q的c极与初始电容C2的第一端连接；初始电阻R3的第二端、初始二极管VD的阳极、初始电阻R2的第二端、初始三级管Q的e极、初始电容C2的第二端均接地。

一种内存插拔力测试机构，包括：内存插拔力测试装置，内存条以及内存条插槽；

内存条安置到内存条连接装置的内存连接槽，且内存条的金手指延伸出内存连接槽外部；

内存条的金手指通过内存插拔力测试装置安装到内存条插槽内部。

一种内存插拔力测试方法，方法包括：

将装置本体的拔插段与内存条连接装置的连接段采用可拆卸方式连接；

按压测试初始控制按键并保持预设时长；

供电电池依次通过测试初始控制按键，直流变压电路以及稳压电路给测试初始设置电路供电，对处理器进行测试初始化设置；

经过预设时长后，在显示屏上显示初始化设置完成；

将内存条安置到内存条连接装置的内存连接槽内，内存条的金手指及靠近金手指部分的内存条本体延伸出内存连接槽外部；

通过内存插拔力测试装置将内存条插置到内存条插槽上，在插置过程中实时显示插置力，并以语音提示；当插置力超过预设值至通过语音提示模块发出报警提示；

将内存条插槽的卡扣与内存条进行卡持固定；

固定后将内存插拔力测试装置从内存条上拔出。

优选地，方法包括：

将装置本体的拔插段与内存条连接装置的连接段采用可拆卸方式连接；

按压测试初始控制按键并保持预设时长；

供电电池依次通过测试初始控制按键，直流变压电路以及稳压电路给测试初始设置电路供电，对处理器进行测试初始化设置；

经过预设时长后，在显示屏上显示初始化设置完成；

将内存条安置到内存条连接装置的内存连接槽内；

将内存条插槽的卡扣与内存条进行脱离，脱离后，通过内存插拔力测试装置将内存条从内存条插槽拔出；

在拔出过程中实时显示拔出力，并以语音提示。

从以上技术方案可以看出，本发明具有以下优点：

拔插力传感器实时测量拔插力度的物理信号转变为可测量的电信号输出给处理器；处理器获取拔插力传感器实时测量的拔插力并通过显示屏显示，同时将当前的拔插力和拔插操作时间储存至存储器；处理器将获取拔插力通过语音提示模块播放，提示用户，当拔插力超过预设值至通过语音提示模块发出报警提示，避免了用力过大而造成内存槽或内存条损坏。内存插拔力测试机构可以对内存条的插置进行测试，对内存插槽进行测试，用预设的测试次数实现测试数据采集，判断内存插槽的设置是否合理。

测试初始设置电路可以起到对每个测试过程进行归位，初始化设置，防止每个测试过程之间的数据造成影响。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为内存插拔力测试装置结构示意图；

图2为内存插拔力测试装置结构示意图；

图3为内存条连接装置示意图；

图4为内存连接槽示意图；

图5为测试初始设置电路图；

图6为内存插拔力测试机构结构示意图。

具体实施方式

本发明提供一种内存插拔力测试装置，如图1至4所示，包括：装置本体1和内存条连接装置5；装置本体1上设有显示屏2和内存拔插力测试控制按键3；装置本体1的一端设置有拔插段4，拔插段4上设置有拔插力传感器；

装置本体1内部设有主板，主板上设置有语音提示模块、处理器11、通信模块、IO接口模块、存储器和用于给装置本体1元件供电的供电电池12；语音提示模块，显示屏2，拔插力传感器，通信模块以及存储器分别与处理器11连接；内存拔插力测试控制按键3通过IO接口模块与处理器11连接；拔插力传感器用于实时测量拔插力度的物理信号转变为可测量的电信号输出给处理器11；处理器11获取拔插力传感器实时测量的拔插力并通过显示屏2显示，同时将当前的拔插力和拔插操作时间储存至存储器；处理器11将获取拔插力通过语音提示模块播放，提示用户，当拔插力超过预设值至通过语音提示模块发出报警提示；内存条连接装置5设有连接段6和与连接段6相连接的用于插接内存条的内存连接槽7；

拔插段4与连接段6采用可拆卸方式连接。

其中，拔插段4与连接段6分别采用硬质橡胶材料制作；

拔插段4与连接段6采用过盈配合连接。

或者，拔插段4与连接段6分别采用硬质橡胶材料制作；拔插段4设置有外螺纹，连接段6设置有与外螺纹相适配的内螺纹，拔插段4与连接段6通过螺纹方式连接配合。

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将运用具体的实施例及附图，对本发明保护的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利保护的范围。

本发明提供的实施例中，通信模块包括RS485通讯接口、CAN网通讯接口、以太网通讯接口、RS232通讯接口。

装置本体1还包括：微信客户端；微信客户端用于使装置本体与微信端通信连接，将装置本体的数据信息传输至微信端，使多个装置本体之间以及用户终端通过微信端，获取内存插拔力测试数据。

这里可能会使用便于描述的空间相对性术语，例如“在…下”、“下方”、“下部”、“以上”、“上方”等来描述如图中所示的一个元件或特征与另一个元件或特征的关系。应当理解，空间相对性术语意在包括图中所示取向之外的使用或工作中的器件不同取向。例如，如果将图中的器件翻转过来，被描述为在其他元件或特征“下”或“下方”的元件将会朝向其他元件或特征的“上方”。于是，示范性术语“下方”可以包括上方和下方两种取向。可以使器件采取其他取向(旋转90度或其他取向)，这里所用的空间相对术语作相应解释。

本发明提供的实施例中，如图5所示，主板上还设置有测试初始设置电路，直流变压电路14以及稳压电路15；装置本体1上设有测试初始控制按键13；测试初始控制按键13通过测试初始设置电路连接处理器11，用于根据接收的测试初始指令对处理器11进行测试初始化设置；供电电池12，测试初始控制按键13，直流变压电路14，稳压电路15，测试初始设置电路以及处理器11依次连接；测试初始控制按键13用于获取用户输入的测试初始设置控制指令，并达到预设的按压时长后，使供电电池12给测试初始设置电路供电实现对处理器11测试初始设置。

测试初始设置电路包括：初始电阻R1、初始电阻R2、初始电阻R3，初始电容C1，初始电容C2，初始二极管VD、初始三级管Q；初始电阻R3的第一端、初始电容C1的正极均与测试初始设置电路输入端连接；初始电容C1的负极与初始电阻R1的一端、初始二极管VD的阴极连接；初始电阻R1的另一端与初始电阻R2的一端、初始三级管Q的b极连接；初始三级管Q的c极与初始电容C2的第一端连接；初始电阻R3的第二端、初始二极管VD的阳极、初始电阻R2的第二端、初始三级管Q的e极、初始电容C2的第二端均接地。

测试初始设置电路采用初始电容C1作测试初始延时设置，也加上了初始二极管VD与初始电容C1构成回路，加快初始电容C1的电荷释放，从而保证了在较短的时间进行下一次测试初始延时设置，使得测试初始设置电路的工作可靠性较高。在测试初始控制按键被按下预设时长后，测试初始设置电路上电，就会给初始电容C1充电，在给初始电容C1充电的过程中，电路中的电流是可以通过初始电容C1，初始三极管Q的b极是有瞬间电压，瞬间电压大于0.7V，从而初始三极管Q瞬间导通，与处理器连接的电位也瞬间被拉低，当处理器检测到电位被拉成低电平状态时，做出测试初始设置响应。当初始电容C1充满电之后，初始电容C1相当于一个开路，这时候初始三极管Q被截止，测试初始设置过程结束。处理器进行当前拔插力测试。

如果在硬件中实现，本发明涉及一种装置，例如可以作为处理器11或者集成电路装置，诸如集成电路芯片或芯片组。可替换地或附加地，如果软件或固件中实现，所述技术可实现至少部分地由计算机可读的数据存储介质，包括指令，当执行时，使处理器11执行一个或更多的上述方法。例如，计算机可读的数据存储介质可以存储诸如由处理器11执行的指令。

本发明还提供一种内存插拔力测试机构，如图6所示，包括：内存插拔力测试装置，内存条8以及内存条插槽9；内存条8安置到内存条连接装置5的内存连接槽7，且内存条8的金手指延伸出内存连接槽7外部；内存条8的金手指通过内存插拔力测试装置安装到内存条插槽9内部。

本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等如果存在是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

本发明还提供一种内存插拔力测试方法，在对内存进行插置过程中，方法包括：

将装置本体的拔插段与内存条连接装置的连接段采用可拆卸方式连接；按压测试初始控制按键并保持预设时长；供电电池依次通过测试初始控制按键，直流变压电路以及稳压电路给测试初始设置电路供电，对处理器进行测试初始化设置；经过预设时长后，在显示屏上显示初始化设置完成；将内存条安置到内存条连接装置的内存连接槽内，内存条的金手指及靠近金手指部分的内存条本体延伸出内存连接槽外部；通过内存插拔力测试装置将内存条插置到内存条插槽上，在插置过程中实时显示插置力，并以语音提示；当插置力超过预设值至通过语音提示模块发出报警提示；将内存条插槽的卡扣与内存条进行卡持固定；固定后将内存插拔力测试装置从内存条上拔出。

当然在这个过程可以对内存条的插置进行测试，对内存插槽进行测试，用预设的测试次数实现测试数据采集，判断内存插槽的设置是否合理。

在拔取方式中，方法包括：

将装置本体的拔插段与内存条连接装置的连接段采用可拆卸方式连接；按压测试初始控制按键并保持预设时长；供电电池依次通过测试初始控制按键，直流变压电路以及稳压电路给测试初始设置电路供电，对处理器进行测试初始化设置；经过预设时长后，在显示屏上显示初始化设置完成；将内存条安置到内存条连接装置的内存连接槽内；将内存条插槽的卡扣与内存条进行脱离，脱离后，通过内存插拔力测试装置将内存条从内存条插槽拔出；在拔出过程中实时显示拔出力，并以语音提示。

同样可以对内存条的插置进行测试，对内存插槽进行测试，用预设的测试次数实现测试数据采集，判断内存插槽的设置是否合理。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (3)

1.一种内存插拔力测试方法，其特征在于，方法采用内存插拔力测试机构，机构包括：内存插拔力测试装置、内存条（8）以及内存条插槽（9）；

内存条（8）安置到内存条连接装置（5）的内存连接槽（7），且内存条（8）的金手指延伸出内存连接槽（7）外部；

内存条（8）的金手指通过内存插拔力测试装置安装到内存条插槽（9）内部；

内存插拔力测试装置包括：装置本体（1）和内存条连接装置（5）；装置本体（1）上设有显示屏（2）和内存拔插力测试控制按键（3）；装置本体（1）的一端设置有拔插段（4），拔插段（4）上设置有拔插力传感器；

装置本体（1）内部设有主板，主板上设置有语音提示模块、处理器（11）、通信模块、IO接口模块、存储器和用于给装置本体（1）元件供电的供电电池（12）；装置本体（1）还包括：微信客户端；装置本体（1）上设有测试初始控制按键（13）；

语音提示模块，显示屏（2），拔插力传感器，通信模块以及存储器分别与处理器（11）连接；

内存拔插力测试控制按键（3）通过IO接口模块与处理器（11）连接；

拔插力传感器用于实时测量拔插力度的物理信号转变为可测量的电信号输出给处理器（11）；处理器（11）获取拔插力传感器实时测量的拔插力并通过显示屏（2）显示，同时将当前的拔插力和拔插操作时间储存至存储器；处理器（11）将获取拔插力通过语音提示模块播放，提示用户，当拔插力超过预设值时通过语音提示模块发出报警提示；

内存条连接装置（5）设有连接段（6）和与连接段（6）相连接的用于插接内存条的内存连接槽（7）；

拔插段（4）与连接段（6）采用的可拆卸连接方式包括：拔插段（4）与连接段（6）分别采用硬质橡胶材料制作，拔插段（4）与连接段（6）采用过盈配合连接；或，拔插段（4）设置有外螺纹，连接段（6）设置有与外螺纹相适配的内螺纹，拔插段（4）与连接段（6）通过螺纹方式连接配合；

微信客户端用于使装置本体与微信端通信连接，将装置本体的数据信息传输至微信端，使多个装置本体之间以及用户终端通过微信端，获取内存插拔力测试数据；

主板上还设置有测试初始设置电路，直流变压电路（14）以及稳压电路（15）；

测试初始控制按键（13）通过测试初始设置电路连接处理器（11），用于根据接收的测试初始指令对处理器（11）进行测试初始化设置；

供电电池（12），测试初始控制按键（13），直流变压电路（14），稳压电路（15），测试初始设置电路以及处理器（11）依次连接；

测试初始控制按键（13）用于获取用户输入的测试初始设置控制指令，并达到预设的按压时长后，使供电电池（12）给测试初始设置电路供电实现对处理器（11）测试初始设置；

测试初始设置电路包括：初始电阻R1、初始电阻R2、初始电阻R3，初始电容C1，初始电容C2，初始二极管VD、初始三级管Q ；初始电阻R3的第一端、初始电容C1的正极均与测试初始设置电路输入端连接；初始电容C1的负极与初始电阻R1的一端、初始二极管VD的阴极连接；初始电阻R1的另一端与初始电阻R2的一端、初始三级管Q的b极连接；初始三级管Q的c极与初始电容C2的第一端连接；初始电阻R3的第二端、初始二极管VD的阳极、初始电阻R2的第二端、初始三级管Q的e 极、初始电容C2的第二端均接地；

内存插拔力测试方法包括：

将装置本体的拔插段与内存条连接装置的连接段采用可拆卸方式连接；

按压测试初始控制按键并保持预设时长；

供电电池依次通过测试初始控制按键，直流变压电路以及稳压电路给测试初始设置电路供电，对处理器进行测试初始化设置；

经过预设时长后，在显示屏上显示初始化设置完成；

将内存条安置到内存条连接装置的内存连接槽内，内存条的金手指及靠近金手指部分的内存条本体延伸出内存连接槽外部；

通过内存插拔力测试装置将内存条插置到内存条插槽上，在插置过程中实时显示插置力，并以语音提示；当插置力超过预设值时通过语音提示模块发出报警提示；

将内存条插槽的卡扣与内存条进行卡持固定；

固定后将内存插拔力测试装置从内存条上拔出。

2.根据权利要求1所述的内存插拔力测试方法，其特征在于，

通信模块包括：RS485 通讯接口、或CAN 网通讯接口、或以太网通讯接口、或RS232 通讯接口。

3.根据权利要求1所述的内存插拔力测试方法，其特征在于，方法包括：

将装置本体的拔插段与内存条连接装置的连接段采用可拆卸方式连接；

按压测试初始控制按键并保持预设时长；

供电电池依次通过测试初始控制按键，直流变压电路以及稳压电路给测试初始设置电路供电，对处理器进行测试初始化设置；

经过预设时长后，在显示屏上显示初始化设置完成；

将内存条安置到内存条连接装置的内存连接槽内；

将内存条插槽的卡扣与内存条进行脱离，脱离后，通过内存插拔力测试装置将内存条从内存条插槽拔出；

在拔出过程中实时显示拔出力，并以语音提示。