CN108732445A - 后盖检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本公开是关于一种后盖检测方法及装置，该方法包括：针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。该技术方案可以从谐振频率和反射系数两方面来检测待检测后盖对天线的影响，能提升后盖检测的准确度，防止不良品后盖混入良品中。

Description

后盖检测方法及装置

技术领域

本公开涉及终端技术领域，尤其涉及后盖检测方法及装置。

背景技术

由于智能终端的后盖的材质不同，其介电常数也不同，因此对于智能终端的整机的天线性能也会有不同程度的影响。目前的后盖检测算法是装上后盖后检测天线谐振点的实际谐振频偏，若测试出实际谐振频率和理论标准谐振频率之间的差值在正确的范围内时，判定该后盖是合格的；该差值不在正确的范围内时，判定该后盖是不良的。

发明内容

本公开实施例提供后盖检测方法及装置。所述技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种后盖检测方法，包括：

针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

在一个实施例中，所述针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数，包括：

针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

获取所述对应曲线在预设频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段内谐振点处的反射系数为标准反射系数；

根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围。

在一个实施例中，所述检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际反射系数，包括：

针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；

根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数。

在一个实施例中，所述针对终端中的每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，包括：

针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

在一个实施例中，所述根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围，包括：

确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种后盖检测装置，包括：

获取模块，用于针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

检测模块，用于在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

确定模块，用于在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

在一个实施例中，所述获取模块包括：

第一获取子模块，用于针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

第二获取子模块，用于获取所述对应曲线在预设频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段内谐振点处的反射系数为标准反射系数；

确定子模块，用于根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围。

在一个实施例中，所述检测模块包括：

检测子模块，用于针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；

第三获取子模块，用于根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数。

在一个实施例中，所述第一获取子模块，用于针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

在一个实施例中，所述确定子模块，用于确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种后盖检测装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

根据本公开实施例的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机指令，所述计算机指令被处理器执行时实现上述方法中的步骤。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本实施例可以针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；然后在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；这样就可以在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格；如此，从谐振频率和反射系数两方面来检测待检测后盖对天线的影响，能提升后盖检测的准确度，防止不良品后盖混入良品中。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测方法的流程图。

图2是根据一示例性实施例示出的一种天线的谐振频率和反射系数之间的对应曲线的示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的一种检测频率起止范围的划定示意图。

图4是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测方法的流程图。

图5是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测装置的框图。

图6是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测装置的框图。

图7是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测装置的框图。

图8是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测装置的框图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

目前，后盖的检测是单从后盖对天线谐振点的谐振频率的影响来判断的，但是谐振点的谐振频率都在合格的范围内时，谐振点反射系数可能会很大，此时天线端的能量大部分将被反射回来，天线性能仍然很差，这种后盖也是不良的，应该予以剔除。

本实施例为了解决上述问题，本实施例可以针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，才确定所述待检测后盖合格，如此，从谐振频率和反射系数两方面来检测待检测后盖对天线的影响，能提升后盖检测的准确度，防止不良品后盖混入良品中。

图1是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测方法的流程图，如图1所示，该后盖检测方法用于检测仪等检测设备中，包括以下步骤101-103：

在步骤101中，针对每一根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数。

在步骤102中，在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数。

在步骤103中，在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

这里，由于天线极其敏感，检测仪在检测时需要将工装、待检测后盖都放置在屏蔽环境中，该工装包括智能终端的电子结构，将待检测后盖压在工装上可以模拟装上后盖的智能终端，该智能终端上可能会设置三根或三根以上的天线，本实施例需要检测该待检测后盖对每根天线的性能的影响来确定待检测后盖是否合格。

这里，本实施例中检测仪在检测该待检测后盖对每根天线的性能的影响时，主要检测盖上后盖后，每根天线在预设频段(如工作频段)上的谐振点的谐振频率和反射系数，如果谐振频率和反射系数均在正确范围内，则表明该待检测后盖合格，如果某个天线在某个预设频段内的谐振点的谐振频率或反射系数不在正确范围内，则表明该待检测后盖不良对该天线有一定不良影响，后盖不良。

这里，检测仪在判断每根天线在预设频段内的谐振频率和反射系数是否在正确范围内时，首先需要获取每根天线的每个检测频率起止范围，该检测频率起止范围为检测该根天线的谐振点的范围，该检测频率起止范围包括预设频段；然后，检测仪还需要获取该根天线在该检测频率起止范围的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数，该根天线在该检测频率起止范围的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数可以作为参考来判断装配上待检测后盖后，该根天线在该检测频率起止范围的谐振点的谐振频率和反射系数是否在正确范围。

这里，针对每一根天线，检测仪可以获取该根天线的各个检测频率起止范围，以及在每个检测频率起止范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数。检测仪在检测某待检测后盖时，可以在工装上装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数，然后，判断每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和该天线在该检测频率起止范围内的谐振点的标准谐振频率之间的差值是否均在对应的预设频率范围内，以及每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际反射系数和该天线在该检测频率起止范围内的谐振点的标准反射系数之间的差值是否均在对应的预设系数范围内。如果每个所述实际谐振频率和所述标准谐振频率之间的差值均在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和所述标准反射系数之间的差值均在对应的预设系数范围内，则确定该待检测后盖合格；若有一个实际谐振频率和对应的标准谐振频率之间的差值不在对应的预设频率范围内或者有一个实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值不在预设系数范围内，则确定该待检测后盖不合格。

这里需要说明的是，预设频率范围与标准谐振频率对应，各个标准谐振频率所对应的预设频率范围可以是相同的，也可以是不同的；预设系数范围与标准反射系数对应，各个标准谐振频率所对应的预设频率范围可以是相同的，也可以是不同的。

示例的，假设该智能终端内设置有两根天线即天线1和天线2，检测仪获取到天线1的检测频率起止范围11内的谐振点的标准谐振频率f(11)和标准反射系数m(11)、检测频率起止范围12内的谐振点的标准谐振频率f(12)和标准反射系数m(12)、检测频率起止范围13内的谐振点的标准谐振频率f(13)和标准反射系数m(13)，获取天线2的检测频率起止范围21内的谐振点的标准谐振频率f(21)和标准反射系数m(21)、检测频率起止范围22内的谐振点的标准谐振频率f(22)和标准反射系数m(22)、检测频率起止范围23内的谐振点的标准谐振频率f(23)和标准反射系数m(23)。

这里，对于待检测后盖，检测仪可以在装配上待检测后盖后，需要检测天线1在检测频率起止范围11内的谐振点的实际谐振频率f*(11)和实际反射系数m*(11)；检测天线1在检测频率起止范围12内的谐振点的实际谐振频率f*(12)和实际反射系数m*(12)；检测天线1在检测频率起止范围13内的谐振点的实际谐振频率f*(13)和实际反射系数m*(13)；检测天线2在检测频率起止范围21内的谐振点的实际谐振频率f*(21)和实际反射系数m*(21)；检测天线2在检测频率起止范围22内的谐振点的实际谐振频率f*(22)和实际反射系数m*(22)；检测天线2在检测频率起止范围23内的谐振点的实际谐振频率f*(23)和实际反射系数m*(23)。

这里，检测仪需要判断每个实际谐振频率和对应的标准谐振频率之间的差值是否在对应的预设频率范围内，即判断Δf(11)＝f*(11)–f(11)、Δf(12)＝f*(12)–f(12)、Δf(13)＝f*(13)–f(13)、Δf(21)＝f*(21)–f(21)、Δf(22)＝f*(22)–f(22)、Δf(23)＝f*(23)–f(23)，是否在对应的预设频率范围内；并判断每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值是否在对应的预设系数范围内，即判断Δm(11)＝m*(11)–m(11)、Δm(12)＝m*(12)–m(12)、Δm(13)＝m*(13)–m(13)、Δm(121)＝m*(21)–m(21)、Δm(22)＝m*(22)–m(22)、Δm(23)＝m*(23)–m(23)，是否在对应的预设系数范围内；如果Δf(11)、Δf(12)、Δf(13)、Δf(21)、Δf(22)、Δf(23)以及Δm(11)、Δm(12)、Δm(13)、Δm(21)、Δm(22)、Δm(23)均在对应的容许范围内，则表明智能终端盖上该后盖后，天线的谐振频率和反射系数均在正常范围内，天线性能良好，该后盖是正常的。当然，如果Δf(11)、Δf(12)、Δf(13)、Δf(21)、Δf(22)、Δf(23)以及Δm(11)、Δm(12)、Δm(13)、Δm(21)、Δm(22)、Δm(23)中有一项不在对应的容许范围内，则表明智能终端盖上该后盖后，天线性能不好，该后盖是不良品。

本实施例可以针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；然后在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；这样就可以在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格；如此，从谐振频率和反射系数两方面来检测待检测后盖对天线的影响，能提升后盖检测的准确度，防止不良品后盖混入良品中。

在一种可能的实施方式中，上述后盖检测方法中的在步骤101可以实现为以下步骤A1至A3。

在步骤A1中，针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

在步骤A2中，获取所述对应曲线在预设频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段内谐振点处的反射系数为标准反射系数。

在步骤A3中，根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围。

这里，针对一根天线来说，检测仪需要先获取该天线的标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，这里所述的标准是指天线具有该对应曲线表现的特性时可以在工作频率内正常工作，示例的，图2是根据一示例性实施例示出的一种天线的谐振频率和反射系数之间的对应曲线的示意图，该对应曲线的横坐标为谐振频率，纵坐标为反射系数，从图2中可以看出从100KHz到8.5GHz的频率区间里，共出现至少4个比较明显的Peak(峰值)，该Peak处的点称为谐振点，若如图2所示天线工作的低频、中频、高频里的各一个该谐振点，则表明该对应曲线属于标准的对应曲线，如果在天线工作的低频、中频、高频中有一个没有谐振点，则需要调整工装，重新获取标准的对应曲线。

这里，假设图2所示的对应曲线为标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，假设智能终端的天线不工作在大于4GHz的频率中，故对于谐振频率大于4GHz的谐振波不测试，则检测仪可以获取对应曲线在小于等于4GHz频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段即小于等于4GHz的频段内的谐振点处的反射系数为标准反射系数，如图2所示，即获取到谐振点1处谐振频率为标准谐振频率，谐振点1处的反射系数为标准反射系数；谐振点2处谐振频率为标准谐振频率，谐振点2处的反射系数为标准反射系数；谐振点3处谐振频率为标准谐振频率，谐振点3处的反射系数为标准反射系数。

这里，检测仪还可以根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围，示例的，图3是根据一示例性实施例示出的一种检测频率起止范围的划定示意图，如图3所示，该天线有3个检测频率起止范围，第一个检测频率起止范围为谐振点1处的谐振频率的左右即窗口1起止频率，第二个检测频率起止范围为谐振点2处的谐振频率的左右即窗口2起止频率，第三个检测频率起止范围为谐振点3处的谐振频率的左右即窗口3起止频率。

由上所述，检测仪可以针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；如图3所示，检测频率起止范围为窗口1起止频率，其范围内的谐振点的标准谐振频率为谐振点1处的谐振频率，其范围内的谐振点的标准反射系数为谐振点1处的反射系数；检测频率起止范围为窗口2起止频率，其范围内的谐振点的标准谐振频率为谐振点2处的谐振频率，其范围内的谐振点的标准反射系数为谐振点2处的反射系数；检测频率起止范围为窗口3起止频率，其范围内的谐振点的标准谐振频率为谐振点3处的谐振频率，其范围内的谐振点的标准反射系数为谐振点3处的反射系数。

本实施例可以针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；获取所述对应曲线的预设频段内的谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线的预设频段内的谐振点处的反射系数为标准反射系数；根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围；如此获取到天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数。

在一种可能的实施方式中，上述后盖检测方法中的步骤102中的检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际反射系数可以实现为以下步骤B1和B2。

在步骤B1中，在预设时间段内在每个检测频率起止范围内采样多个反射系数。

在步骤B2中，根据所述多个反射系数，得到所述实际反射系数。

这里，在实际检测中，反射系数的幅度常常有不稳定的，震荡的现象，本实施例为了确定反射系数的值，针对每个检测起止频率，检测仪可以在预设时间段内多次检测该检测频率起止范围内的反射系数，如此得到多个反射系数；然后，根据该多个反射系数，得到所述实际反射系数，示例的，可以是应用平均法，如对这多个反射系数进行数学平均值计算，得到实际反射系数。

本实施例可以针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；然后根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数，如此可以获取准确的实际反射系数，进而保证后盖检测的准确性。

在一种可能的实施方式中，上述后盖检测方法中的步骤A1可以实现为以下步骤A11和A12。

在步骤A11中，针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

在步骤A12中，根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

这里，检测仪可以针对每一根天线，在安装样本后盖后，检测所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，示例的，该样本后盖可以有100个左右，检测仪检测到各个样本后盖对应的对应曲线后，可以对这些对应曲线进行迭代处理，得到标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

这里需要说明的是，如果在该标准的对应曲线中，天线某个工作频段内中没有谐振点，则需要调整工装，重新获取标准的对应曲线。

本实施例可以针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定方法快捷准确。

在一种可能的实施方式中，上述后盖检测方法中的步骤A3可以实现为以下步骤A31。

在步骤A31中，确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

这里，检测仪在确定标准谐振频率后，可以确定与标准谐振频率的差值小于预设值f的频率所在的范围为检测频率起止范围，即该检测频率起止范围F可以是|标准谐振频率-F|<f，即F为(标准谐振频率-f，标准谐振频率+f)，该f是预设的，示例的，该f可以是200MHz左右。

本实施例可以确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围，确定方式简单快捷。

下面通过几个实施例详细介绍实现过程。

图4是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测方法的流程图，如图4所示，该后盖检测方法可以由检测仪等检测设备实现，包括步骤401-406。

在步骤401中，针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

在步骤402中，根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

在步骤403中，获取所述对应曲线的预设频段内的谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线的预设频段内的谐振点处的反射系数为标准反射系数。

在步骤404中，确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

在步骤405中，在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数。

其中，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际反射系数，包括：针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数。

在步骤406中，在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

下述为本公开装置实施例，可以用于执行本公开方法实施例。

图5是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测装置的框图，该装置可以通过软件、硬件或者两者的结合实现成为电子设备的部分或者全部。如图5所示，该后盖检测装置包括：

获取模块501，用于针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

检测模块502，用于在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

确定模块503，用于在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

作为一种可能的实施例，图6是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测装置的框图，如图6所示，上述公开的后盖检测装置还可以把所述获取模块501配置成包括第一获取子模块5011、第二获取子模块5012和确定子模块5013，其中：

第一获取子模块5011，用于针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

第二获取子模块5012，用于获取所述对应曲线在预设频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段内谐振点处的反射系数为标准反射系数；

确定子模块5013，用于根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围。

作为一种可能的实施例，图7是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测装置的框图，如图7所示，上述公开的后盖检测装置还可以把所述检测模块502配置成包括检测子模块5021和第三获取子模块5022，其中：

检测子模块5021，用于针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；

第三获取子模块5022，用于根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数。

作为一种可能的实施例，上述公开的后盖检测装置中，所述第一获取子模块5011，用于针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

作为一种可能的实施例，上述公开的后盖检测装置中，所述确定子模块5013，用于确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

图8是根据一示例性实施例示出的一种后盖检测装置的框图，该装置适用于检测设备。

装置800可以包括以下一个或多个组件：处理组件801，存储器802，电源组件803，多媒体组件804，音频组件805，输入/输出(I/O)接口806，传感器组件807，以及通信组件808。

处理组件801通常控制装置800的整体操作，诸如与显示，检测，数据通信和记录操作相关联的操作。处理组件801可以包括一个或多个处理器820来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件801可以包括一个或多个模块，便于处理组件801和其他组件之间的交互。例如，处理组件801可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件804和处理组件801之间的交互。

存储器802被配置为存储各种类型的数据以支持在装置800的操作。这些数据的示例包括用于在装置800上操作的任何应用程序或方法的指令。存储器802可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件803为装置800的各种组件提供电力。电源组件803可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置800生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件804包括在所述装置800和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。

音频组件805被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件805包括一个麦克风(MIC)，当装置800处于操作模式，如记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器802或经由通信组件808发送。在一些实施例中，音频组件805还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O的接口806为处理组件801和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件807包括一个或多个传感器，用于为装置800提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件807可以检测到装置800的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置800的显示器和小键盘，传感器组件807还可以检测装置800或装置800一个组件的位置改变，用户与装置800接触的存在或不存在，装置800方位或加速/减速和装置800的温度变化。传感器组件807可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件807还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件807还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件808被配置为便于装置800和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置800可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件808经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件808还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置800可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器802，上述指令可由装置800的处理器820执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

本实施例提供了一种计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由装置800的处理器执行时实现以下步骤：

针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

所述存储介质中的指令被处理器执行时还可以实现以下步骤：

所述针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数，包括：

针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

获取所述对应曲线在预设频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段内谐振点处的反射系数为标准反射系数；

根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围。

所述存储介质中的指令被处理器执行时还可以实现以下步骤：

所述检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际反射系数，包括：

针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；

根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数。

所述存储介质中的指令被处理器执行时还可以实现以下步骤：

所述针对终端中的每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，包括：

针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

所述存储介质中的指令被处理器执行时还可以实现以下步骤：

所述根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围，包括：

确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

本实施例还提供了一种后盖检测装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

所述处理器还可以被配置为：

所述针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数，包括：

针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

获取所述对应曲线在预设频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段内谐振点处的反射系数为标准反射系数；

根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围。

所述处理器还可以被配置为：

所述检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际反射系数，包括：

针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；

根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数。

所述处理器还可以被配置为：

所述针对终端中的每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，包括：

针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

所述处理器还可以被配置为：

所述根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围，包括：

确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (12)

1.一种后盖检测方法，其特征在于，包括：

针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数，包括：

针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

获取所述对应曲线在预设频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段内谐振点处的反射系数为标准反射系数；

根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际反射系数，包括：

针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；

根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述针对终端中的每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，包括：

针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围，包括：

确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

6.一种后盖检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

检测模块，用于在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

确定模块，用于在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述获取模块包括：

第一获取子模块，用于针对每一根天线，获取标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；

第二获取子模块，用于获取所述对应曲线在预设频段内谐振点处的谐振频率为标准谐振频率，所述对应曲线在预设频段内谐振点处的反射系数为标准反射系数；

确定子模块，用于根据每个所述标准谐振频率，确定每个检测频率起止范围。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：

检测子模块，用于针对每个检测频率起止范围，在预设时间段内多次检测得到所述检测频率起止范围内的谐振点的反射系数；

第三获取子模块，用于根据多次检测到的谐振点的反射系数，得到所述实际反射系数。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述第一获取子模块，用于针对每一根天线，在安装样本后盖后，获取所述样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线；根据各个样本后盖对应的谐振频率和反射系数之间的对应曲线，确定标准的谐振频率和反射系数之间的对应曲线。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述确定子模块，用于确定与所述标准谐振频率的差值绝对值小于预设值的频率所在的范围为检测频率起止范围。

11.一种后盖检测装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

针对每根天线，获取所述天线的每个检测频率起止范围及其范围内的谐振点的标准谐振频率和标准反射系数；

在装配上待检测后盖后，检测每个天线在每个检测频率起止范围内的谐振点的实际谐振频率和实际反射系数；

在每个所述实际谐振频率和对应的所述标准谐振频率之间的差值在对应的预设频率范围内且每个所述实际反射系数和对应的所述标准反射系数之间的差值在对应的预设系数范围内时，确定所述待检测后盖合格。

12.一种计算机可读存储介质，存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令被处理器执行时实现权利要求1至5任一项所述方法中的步骤。