CN108663383A - 一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置 - Google Patents

一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN108663383A
CN108663383A CN201810610073.0A CN201810610073A CN108663383A CN 108663383 A CN108663383 A CN 108663383A CN 201810610073 A CN201810610073 A CN 201810610073A CN 108663383 A CN108663383 A CN 108663383A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detection
circuit board
resistance
pin
diode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN201810610073.0A
Other languages
English (en)
Inventor
任军
唐伟童
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hefei Hengshuo Semiconductor Co Ltd
Original Assignee
Hefei Hengshuo Semiconductor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hefei Hengshuo Semiconductor Co Ltd filed Critical Hefei Hengshuo Semiconductor Co Ltd
Priority to CN201810610073.0A priority Critical patent/CN108663383A/zh
Publication of CN108663383A publication Critical patent/CN108663383A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N2021/95638—Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置，包括用于进行数据总控与处理的主控CPU、用于给系统提供电能的电源模块、用于显示数据信息的显示屏、用于检测电路板通电状态检测的通电检测模块、用于进行电路板外观检测的扫描仪、用于规定电路板以便于检测的机械手、用于检测电路板引脚功能的引脚检测模块、用于手动输入数据以及查看检测记录的触控键盘、用于打印不同种类标签的标签打印机和用于显示数据信息的显示屏，本发明基于人工智能的电路板检测方法及检测装置通过设置不同的检测装置，能够快速的完成对电路板的分步检测，且对检测不合格的产品进行分类标记，方便工作人员的后期排查，整个装置智能化程度高，使用方便，检测快速。

Description

一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置
技术领域
本发明涉及检测技术领域，具体是一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置。
背景技术
自动光学检测(AOI,Automated Optical Inspection)为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉做为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、晶体管与PCB工业制程上，在民生用途则可延伸至保全系统。自动光学检查是工业制程中常见的代表性手法，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵，因为是非接触式检查，所以可在中间工程检查半成品。通过使用AOI作为减少缺陷的工具，在装配工艺过程的早期查找和消除错误，以实现良好的过程控制。早期发现缺陷将避免将坏板送到随后的装配阶段，AOI将减少修理成本将避免报废不可修理的电路板。一般AOI在对电路板进行检测前需要对检测的目标进行编程，比如焊点的大小、位置等检测参数，使AOI根据编程的检测参数对待检测电路板进行检测。现有技术中是通过编程人员手动来编程，编程人员需自行确定检测区域、检测项目、检测标准等检测参数。但是，这种手动编程的方法使得检测参数的设置与工人操作经验有关，不能保证相同的品质标准，从而导致对电路板检测的准确率低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种基于人工智能的电路板检测方法，包含以下步骤：
A、外观检测：采用扫描仪扫描电路板的正反两面，查找是否存在缺失点；检查结果为是，则进入步骤B进行缺失点的排查，如果不是则进入步骤C进行引脚检查；
B、对检测到的缺失点进行判断，当判断缺失点是原设计的贯穿孔时，跳过此处缺失点，进行下一缺失点判断，当判断缺失点是非原设计的贯穿孔时，则判断为电路板本体损坏；
C、引脚检查：检测引脚的导通状态，当检测引脚导通良好时，进入步骤D进行通电检测，当检测引脚导通不良时，则判断电路板引脚损坏；
D、通电检测：给电路板通入驱动电压，检测其功能完整性，当检测电路板的功能完整时，此电路板定义为合格，当检测电路板的功能缺失时，则判定此电路板的功能损坏。
一种基于人工智能的电路板检测装置，包括用于进行数据总控与处理的主控CPU、用于给系统提供电能的电源模块、用于显示数据信息的显示屏、用于检测电路板通电状态检测的通电检测模块、用于进行电路板外观检测的扫描仪、用于规定电路板以便于检测的机械手、用于检测电路板引脚功能的引脚检测模块、用于手动输入数据以及查看检测记录的触控键盘、用于打印不同种类标签的标签打印机和用于显示数据信息的显示屏，所述主控CPU通过I/0接口分别连接电源模块、显示屏、通电检测模块、扫描仪、机械手、引脚检测模块、出口键盘、标签打印机和显示屏。电源模块包括变压器W、保险丝FU、瞬态电压抑制二极管D5和整流桥T；其特征在于，所述变压器W的初级端的一端连接保险丝F1，保险丝F1的另一端连接开关S1，开关S1的另一端连接220V交流电，变压器W的初级端的另一端连接220V交流电的另一端，变压器W的次级端的一端连接二极管D1的负极、二极管D2的正极、瞬态电压抑制二极管D5和整流桥T的1端口，变压器W的次级端的另一端连接电容C3、电容C4、瞬态电压抑制二极管D5的另一端和整流桥T的3端口，整流桥T的2端口连接电容C1和电阻R1，电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的1引脚，芯片IC1的2引脚连接电容C2、二极管D4的正极和MCU，芯片IC1的3引脚接地，电容C1的另一端连接电阻R5、电阻R9、电阻R10、电容C2、电容C4、电容C6、二极管D1的正极，三极管VT1的发射极、整流桥T的4端口和蓄电池E1的负极，电阻R2的另一端连接单向晶闸管RT的阴极和电阻R9的另一端，二极管D2的负极连接电阻R3、电阻R6、电容C3的另一端和电位器RP1的一个固定端，电阻R3的另一端连接二极管D3的正极，二极管D3的负极连接蓄电池E1的正极和开关S2，开关S2的另一端连接单向晶闸管RT的阳极，电位器RP1的另一个固定端连接电阻R4和电位器RP1的滑动端，电阻R4的另一端连接电阻R5的另一端和三极管VT1的基极，三极管VT1的集电极连接电阻R8，电阻R8的另一端连接单向晶闸管RT的控制极，电阻R7的另一端连接电阻R6的另一端。
作为本发明的优选方案：所述芯片IC1为7805型三端稳压集成电路。
作为本发明的优选方案：所述主控CPU为STC89C52型单片机。
作为本发明的优选方案：所述通电检测模块设有3.3V、5V、9V、12V以及24V直流检测电压。
作为本发明的优选方案：所述显示屏为液晶显示器。
作为本发明的优选方案：所述瞬态电压抑制二极管D5的型号为XESD12VT23-3。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明基于人工智能的电路板检测方法及检测装置通过设置不同的检测装置，能够快速的完成对电路板的分步检测，且对检测不合格的产品进行分类标记，方便工作人员的后期排查，整个装置智能化程度高，使用方便，检测快速。
附图说明
图1为基于人工智能的电路板检测方法及检测装置的结构框图。
图2为电源模块的电路图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-2，一种基于人工智能的电路板检测方法，包含以下步骤：
A、外观检测：采用扫描仪扫描电路板的正反两面，查找是否存在缺失点；检查结果为是，则进入步骤B进行缺失点的排查，如果不是则进入步骤C进行引脚检查；
B、对检测到的缺失点进行判断，当判断缺失点是原设计的贯穿孔时，跳过此处缺失点，进行下一缺失点判断，当判断缺失点是非原设计的贯穿孔时，则判断为电路板本体损坏；
C、引脚检查：检测引脚的导通状态，当检测引脚导通良好时，进入步骤D进行通电检测，当检测引脚导通不良时，则判断电路板引脚损坏；
D、通电检测：给电路板通入驱动电压，检测其功能完整性，当检测电路板的功能完整时，此电路板定义为合格，当检测电路板的功能缺失时，则判定此电路板的功能损坏。
本发明设计的电路板检测装置包括用于进行数据总控与处理的主控CPU、用于给系统提供电能的电源模块、用于显示数据信息的显示屏、用于检测电路板通电状态检测的通电检测模块、用于进行电路板外观检测的扫描仪、用于规定电路板以便于检测的机械手、用于检测电路板引脚功能的引脚检测模块、用于手动输入数据以及查看检测记录的触控键盘、用于打印不同种类标签的标签打印机和用于显示数据信息的显示屏，所述主控CPU通过I/0接口分别连接电源模块、显示屏、通电检测模块、扫描仪、机械手、引脚检测模块、出口键盘、标签打印机和显示屏。其中，电源模块包括变压器W、保险丝FU、瞬态电压抑制二极管D5和整流桥T；其特征在于，所述变压器W的初级端的一端连接保险丝F1，保险丝F1的另一端连接开关S1，开关S1的另一端连接220V交流电，变压器W的初级端的另一端连接220V交流电的另一端，变压器W的次级端的一端连接二极管D1的负极、二极管D2的正极、瞬态电压抑制二极管D5和整流桥T的1端口，变压器W的次级端的另一端连接电容C3、电容C4、瞬态电压抑制二极管D5的另一端和整流桥T的3端口，整流桥T的2端口连接电容C1和电阻R1，电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的1引脚，芯片IC1的2引脚连接电容C2、二极管D4的正极和MCU，芯片IC1的3引脚接地，电容C1的另一端连接电阻R5、电阻R9、电阻R10、电容C2、电容C4、电容C6、二极管D1的正极，三极管VT1的发射极、整流桥T的4端口和蓄电池E1的负极，电阻R2的另一端连接单向晶闸管RT的阴极和电阻R9的另一端，二极管D2的负极连接电阻R3、电阻R6、电容C3的另一端和电位器RP1的一个固定端，电阻R3的另一端连接二极管D3的正极，二极管D3的负极连接蓄电池E1的正极和开关S2，开关S2的另一端连接单向晶闸管RT的阳极，电位器RP1的另一个固定端连接电阻R4和电位器RP1的滑动端，电阻R4的另一端连接电阻R5的另一端和三极管VT1的基极，三极管VT1的集电极连接电阻R8，电阻R8的另一端连接单向晶闸管RT的控制极，电阻R7的另一端连接电阻R6的另一端。
本发明的工作原理是：如图2所示的系统对电路板进行检测，检测方法如上所述，依次进行外观检查、引脚检查以及通电检查，当检测到不合格的时候，标签打印机会根据检测结果打印出与之对应的标签并将其贴在该电路板上，方便供人员进行分类排查。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (8)

1.一种基于人工智能的电路板检测方法，其特征在于，包含以下步骤：
A、外观检测：采用扫描仪扫描电路板的正反两面，查找是否存在缺失点；检查结果为是，则进入步骤B进行缺失点的排查，如果不是则进入步骤C进行引脚检查；
B、对检测到的缺失点进行判断，当判断缺失点是原设计的贯穿孔时，跳过此处缺失点，进行下一缺失点判断，当判断缺失点是非原设计的贯穿孔时，则判断为电路板本体损坏；
C、引脚检查：检测引脚的导通状态，当检测引脚导通良好时，进入步骤D进行通电检测，当检测引脚导通不良时，则判断电路板引脚损坏；
D、通电检测：给电路板通入驱动电压，检测其功能完整性，当检测电路板的功能完整时，此电路板定义为合格，当检测电路板的功能缺失时，则判定此电路板的功能损坏。
2.一种基于人工智能的电路板检测装置，其特征在于，包括用于进行数据总控与处理的主控CPU、用于给系统提供电能的电源模块、用于显示数据信息的显示屏、用于检测电路板通电状态检测的通电检测模块、用于进行电路板外观检测的扫描仪、用于规定电路板以便于检测的机械手、用于检测电路板引脚功能的引脚检测模块、用于手动输入数据以及查看检测记录的触控键盘、用于打印不同种类标签的标签打印机和用于显示数据信息的显示屏，所述主控CPU通过I/0接口分别连接电源模块、显示屏、通电检测模块、扫描仪、机械手、引脚检测模块、出口键盘、标签打印机和显示屏。
3.根据权利要求2所述的一种基于人工智能的电路板检测装置，其特征在于，所述电源模块包括变压器W、保险丝FU、瞬态电压抑制二极管D5和整流桥T；其特征在于，所述变压器W的初级端的一端连接保险丝F1，保险丝F1的另一端连接开关S1，开关S1的另一端连接220V交流电，变压器W的初级端的另一端连接220V交流电的另一端，变压器W的次级端的一端连接二极管D1的负极、二极管D2的正极、瞬态电压抑制二极管D5和整流桥T的1端口，变压器W的次级端的另一端连接电容C3、电容C4、瞬态电压抑制二极管D5的另一端和整流桥T的3端口，整流桥T的2端口连接电容C1和电阻R1，电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的1引脚，芯片IC1的2引脚连接电容C2、二极管D4的正极和MCU，芯片IC1的3引脚接地，电容C1的另一端连接电阻R5、电阻R9、电阻R10、电容C2、电容C4、电容C6、二极管D1的正极，三极管VT1的发射极、整流桥T的4端口和蓄电池E1的负极，电阻R2的另一端连接单向晶闸管RT的阴极和电阻R9的另一端，二极管D2的负极连接电阻R3、电阻R6、电容C3的另一端和电位器RP1的一个固定端，电阻R3的另一端连接二极管D3的正极，二极管D3的负极连接蓄电池E1的正极和开关S2，开关S2的另一端连接单向晶闸管RT的阳极，电位器RP1的另一个固定端连接电阻R4和电位器RP1的滑动端，电阻R4的另一端连接电阻R5的另一端和三极管VT1的基极，三极管VT1的集电极连接电阻R8，电阻R8的另一端连接单向晶闸管RT的控制极，电阻R7的另一端连接电阻R6的另一端。
4.根据权利要求3所述的一种基于人工智能的电路板检测装置，其特征在于，所述芯片IC1为7805型三端稳压集成电路。
5.根据权利要求2所述的一种基于人工智能的电路板检测装置，其特征在于，所述主控CPU为STC89C52型单片机。
6.根据权利要求2所述的一种基于人工智能的电路板检测装置，其特征在于，所述通电检测模块设有3.3V、5V、9V、12V以及24V直流检测电压。
7.根据权利要求2所述的一种基于人工智能的电路板检测装置，其特征在于，所述显示屏为液晶显示器。
8.根据权利要求3所述的一种基于人工智能的电路板检测装置，其特征在于，所述瞬态电压抑制二极管D5的型号为XESD12VT23-3。
CN201810610073.0A 2018-06-13 2018-06-13 一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置 Withdrawn CN108663383A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810610073.0A CN108663383A (zh) 2018-06-13 2018-06-13 一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810610073.0A CN108663383A (zh) 2018-06-13 2018-06-13 一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108663383A true CN108663383A (zh) 2018-10-16

Family

ID=63775760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810610073.0A Withdrawn CN108663383A (zh) 2018-06-13 2018-06-13 一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108663383A (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111257768A (zh) * 2020-03-31 2020-06-09 台州市椒江南屯电子有限公司 一种带有标记功能的蓄电池检测设备
CN112444528A (zh) * 2020-11-05 2021-03-05 精华电子(苏州)有限公司 一种提高生产效率的pcb板筛选装置及其筛选方法
CN113837209A (zh) * 2020-06-23 2021-12-24 乐达创意科技股份有限公司 改良机器学习使用数据进行训练的方法及系统
CN114035632A (zh) * 2021-11-08 2022-02-11 北京耐德佳显示技术有限公司 一种显示系统的低温启动电路及低温启动方法
US11935221B2 (en) 2019-11-27 2024-03-19 AT&S (Chongqing) Company Limited User interface for judgment concerning quality classification of displayed arrays of component carriers

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11935221B2 (en) 2019-11-27 2024-03-19 AT&S (Chongqing) Company Limited User interface for judgment concerning quality classification of displayed arrays of component carriers
CN111257768A (zh) * 2020-03-31 2020-06-09 台州市椒江南屯电子有限公司 一种带有标记功能的蓄电池检测设备
CN113837209A (zh) * 2020-06-23 2021-12-24 乐达创意科技股份有限公司 改良机器学习使用数据进行训练的方法及系统
CN112444528A (zh) * 2020-11-05 2021-03-05 精华电子(苏州)有限公司 一种提高生产效率的pcb板筛选装置及其筛选方法
CN114035632A (zh) * 2021-11-08 2022-02-11 北京耐德佳显示技术有限公司 一种显示系统的低温启动电路及低温启动方法
CN114035632B (zh) * 2021-11-08 2022-11-11 北京耐德佳显示技术有限公司 一种显示系统的低温启动电路及低温启动方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108663383A (zh) 一种基于人工智能的电路板检测方法及检测装置
CN105242423B (zh) Tft-lcd彩膜玻璃基板的检测和修复方法及其系统
US11947345B2 (en) System and method for intelligently monitoring a production line
CN105184793A (zh) 一种电能表样品外观及pcb板元件检测方法
CN106443418A (zh) 一种智能电表pcba自动测试装置
CN108182844A (zh) 用于转辙机控制道岔综合实训的考核装置及其方法
CN111798405A (zh) 一种基于深度学习的套管红外图像的故障诊断方法
CN109433635A (zh) 兼容拆回电能表与新表的自动化检定系统
CN104680905A (zh) 一种应用于实验教学的教学过程自动监测系统和监测方法
CN107133725A (zh) 一种电路板的自动化生产管理系统
CN102609730A (zh) 基于动静触头接触比例的刀闸状态合位可靠性判别方法
CN106898177A (zh) 一种单片机实验硬件在线模拟及自动评价方法
TWI755953B (zh) 自動檢測系統及其操作方法
CN206096669U (zh) 液晶模组测试设备
CN206470220U (zh) 电路板检测系统
CN104390982A (zh) 一种用于smt首件检测的测试方法
CN205620509U (zh) 一种双功能电路维修测试仪
CN207457645U (zh) 一种lcd探针检测装置及lcd aoi设备
CN108957281A (zh) 一种光伏接线盒二极管特性检测装置
CN203224588U (zh) 连接线检测仪
CN209102851U (zh) 一种光伏接线盒综合测试系统
CN104914349B (zh) 一种数码管老化筛选与检测装置及其工作方法
CN208782894U (zh) 自动检测手机中板结构缺失的精密模组
CN101950506A (zh) 智能型数控机床装调与维修实训考核平台及考核方法
CN105548210A (zh) 基于机器视觉的美标电源延长线的检测方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20181016