CN108630952A - 电极制造方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电极制造方法和装置。算出涂布前厚度测定装置(17)中的标记(11a)间的长度L和涂布后厚度测定装置(18)中的标记(11a)间的长度L’的长度,算出长度比。基于算出长度比,对涂布后厚度测定装置(18)的测定厚度数据的测定位置进行补正。将补正了测定位置的补正涂布后厚度信息的测定点间用线段连接得到的补正涂布后厚度插补线上的涂布前厚度信息的各测定位置处的值,确定为各测定位置处的涂布后厚度,从该值算出与涂布前厚度之差,当算出涂布厚度为规定范围内时,判断为合格品。

Description

电极制造方法和装置
技术领域
本发明涉及对电极基材涂布电极墨水来制造电极的电极制造方法和装置。
背景技术
制造燃料电池中使用的电极的电极制造装置一般通过边搬运碳纸等电极基材边涂布电极墨水的方式进行制造。电极根据电极墨水的涂布厚度而对电池性能造成影响,因此需要测定电极墨水的涂布厚度从而进行合格品判定。
日本特开2011-196755号公报中记载的放射线测定装置具备放射线源和传感器,基于从放射线源透过电极基材而到达传感器的放射线的强度,检测电极基材的涂布厚度。
在日本特开2011-196755号公报中记载的放射线测定装置中,分别检测电极基材的涂布部分和非涂布部分,根据其差值算出涂布厚度。但并非是对相同位置上的涂布部分和非涂布部分的厚度进行检测。因此,当电极基材的厚度不均匀时,无法准确地算出涂布厚度。
此外,在电极制造中,采用所谓的辊对辊制造方法。但在该制造方法中,对长条的电极基材施加张力而进行从卷出辊至卷取辊的搬运,因此在搬运途中有时在电极基材中产生拉伸。产生这样的拉伸时,与上述情况相同,难以检测相同位置处的厚度,因而无法算出准确的涂布厚度。
发明内容
本发明是鉴于上述的情况而作出的,目的在于提供能够算出涂布厚度的电极制造方法和装置。
用于解决问题的方式
本发明的电极制造方法是在搬运以第一间隔实施了标记的电极基材的同时涂布电极墨水来制造电极的电极制造方法,其特征在于,具备:
涂布前厚度信息生成步骤,在该步骤中,在相邻的2个标记间,以小于所述第一间隔的第二间隔测定涂布所述电极墨水前的所述电极基材的厚度,来生成多个涂布前厚度信息,所述涂布前厚度信息包含相对于该2个标记中的一个的测定位置的信息;
涂布步骤,其在所述涂布前厚度信息生成步骤之后,在所述电极基材上涂布所述电极墨水;
涂布后厚度信息生成步骤,在该步骤中,在所述2个标记间,以小于所述第一间隔的第三间隔测定涂布了所述电极墨水的部分的所述电极基材的厚度,来生成多个涂布后厚度信息,所述涂布后厚度信息包含相对于所述2个标记中的与所述涂布前厚度信息生成步骤相同的一个的测定位置的信息;
长度比算出步骤,在该步骤中,检测所述涂布前厚度信息生成步骤与所述涂布后厚度信息生成步骤各自中的所述2个标记间的长度,并算出所述涂布前厚度信息生成步骤与所述涂布后厚度信息生成步骤中的另一个生成步骤中的所述2个标记间的长度相对于一个生成步骤中的所述2个标记间的长度之比;
测定位置补正步骤,在该步骤中,将所述另一个生成步骤中的多个厚度信息中的每一个的测定位置信息除以在所述长度比算出步骤中算出的所述长度之比来进行补正,从而作为所述另一个生成步骤中的多个补正厚度信息来得到;
涂布厚度算出步骤,在该步骤中,将与所述一个生成步骤中的所述涂布前厚度信息/涂布后厚度信息的测定位置对应的所述另一个生成步骤中的所述电极基材的厚度确定为对所述另一个生成步骤中的多个所述补正厚度信息的测定位置间进行线性插补而得到的补正厚度插补线上的值,并算出所确定的所述另一个生成步骤中的厚度与该测定位置中的所述一个生成步骤中的所述电极基材的厚度之差来作为涂布厚度;以及
判断步骤,在该步骤中,在所述涂布厚度算出步骤中算出的所述涂布厚度为规定范围内时,判断为合格品,在为所述规定范围外时,判断为不合格品。
根据本发明,检测以第二间隔测定涂布电极墨水前的电极基材的厚度的涂布前厚度信息生成步骤以及以第三间隔测定涂布了电极墨水的部分的电极基材的厚度的涂布后厚度信息生成步骤中的每一者中的标记间的长度,算出长度之比,基于所算出的长度比,对涂布后厚度信息生成步骤中生成的涂布后厚度信息(或涂布前厚度信息生成步骤中生成的涂布前厚度信息的测定位置信息)的测定位置信息进行补正。
通过下述方式算出涂布厚度:将多个补正涂布后厚度信息(或补正涂布前厚度信息)之间用线连接从而进行线性插补,生成补正涂布后厚度插补线(或补正涂布前厚度插补线)后,将该线上的点的值确定为涂布后厚度(或涂布前厚度),取涂布前厚度信息(或涂布后厚度信息)的测定位置中的所述线上的值与涂布前厚度(或涂布后厚度)之差。通过这样的方法,能够算出考虑了电极基材的搬运方向的拉伸的测定厚度,因此能够算出准确的涂布厚度。由此,能够准确地进行基于涂布厚度的合格品判定。
此外,优选的是,具备:不合格品标记步骤,在该步骤中,在所述判断步骤中判断为不合格品时,对涂布了所述电极墨水的所述电极基材的判断为不合格品的部分,实施不合格品标记。
根据该构成,能够清楚地显示合格品判定的结果。
本发明的电极制造装置在搬运以第一间隔实施了标记的电极基材的同时涂布电极墨水来制造电极,其特征在于,具备:
涂布前厚度信息生成单元,其在相邻的2个标记间,以小于所述第一间隔的第二间隔测定涂布所述电极墨水前的所述电极基材的厚度,来生成多个涂布前厚度信息,所述涂布前厚度信息包含相对于该2个标记中的一个的测定位置的信息;
涂布单元,其在通过所述涂布前厚度信息生成单元生成涂布前厚度信息后,对所述电极基材涂布电极墨水;
涂布后厚度信息生成单元,其在所述2个标记间,以小于所述第一间隔的第三间隔测定涂布了所述电极墨水的部分的所述电极基材的厚度,来生成多个涂布后厚度信息,所述涂布后厚度信息包含相对于所述2个标记中的与所述涂布前厚度信息生成单元相同的一个的测定位置的信息;
长度比算出单元,其检测所述涂布前厚度信息生成单元与所述涂布后厚度信息生成单元各自中的所述2个标记间的长度,并算出所述涂布前厚度信息生成单元与所述涂布后厚度信息生成单元中的另一个生成单元中的所述2个标记间的长度相对于一个生成单元中的所述2个标记间的长度之比;
测定位置补正单元,其将所述另一个生成单元中的多个厚度信息中的每一个的测定位置信息除以通过所述长度比算出单元算出的所述长度之比来进行补正,从而作为所述另一个生成单元中的多个补正厚度信息来得到;
涂布厚度算出单元,其将与所述一个生成单元中的所述涂布前厚度信息/涂布后厚度信息的测定位置对应的所述另一个生成单元中的所述电极基材的厚度确定为对所述另一个生成单元中的多个所述补正厚度信息的测定位置间进行线性插补而得到的补正厚度插补线上的值,并算出所确定的所述另一个生成单元中的厚度、与该测定位置中的所述一个生成单元中的所述电极基材的厚度之差来作为涂布厚度;以及
判断单元,其在通过所述涂布厚度算出单元算出的所述涂布厚度为规定范围内时,判断为合格品,在为所述规定范围外时,判断为不合格品。
根据本发明,检测以第二间隔测定涂布电极墨水前的电极基材的厚度的涂布前厚度信息生成单元、与以第三间隔测定涂布了电极墨水的部分的电极基材的厚度的涂布后厚度信息生成单元中的每一者中的标记间的长度,算出各自的长度之比,基于所算出的长度比,对通过涂布后厚度信息生成单元生成的涂布后厚度信息的测定位置信息(或通过涂布前厚度信息生成单元生成的涂布前厚度信息的测定位置信息)进行补正,能够通过上述算出方法算出考虑了电极基材的搬运方向的伸长的测定厚度。由此,能够算出准确的涂布厚度。
发明效果
根据本发明,能够准确地算出涂布厚度。
附图说明
图1是示出本发明的电极制造装置的侧视图。
图2是示出电极制造装置的主要部分的立体图。
图3是示出电极制造装置的电构成的框图。
图4是示出涂布前的电极片厚度测定数据的图。
图5是示出涂布后的电极片厚度测定数据的图。
图6是示出涂布前的电极片厚度测定数据、与涂布后且补正后的电极片厚度测定数据的图。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的实施方式进行说明。
如图1和图2所示,电极制造装置10具备:供给电极片11(电极基材)的供给部12、搬运通过供给部12供给的电极片11的第1搬运辊13和第2搬运辊14、和在电极片11上涂布电极墨水15的涂布模具16。电极片11例如由CP(碳纸)构成。
电极制造装置10具备:测定通过涂布模具16涂布电极墨水15前的电极片11的厚度的涂布前厚度测定装置17、测定通过涂布模具16涂布电极墨水15后的电极片11的厚度的涂布后厚度测定装置18、激光印字装置19、和综合控制电极制造装置10的控制装置20(参照图3)。
供给部12具备:插入辊状的电极片11中的旋转轴12a、和使该旋转轴12a进行旋转的供给用电机12b(参照图3)。供给用电机12b通过控制装置20而被控制驱动。
第1搬运辊13通过第1搬运用电机21(参照图3)而旋转,第2搬运辊14通过第2搬运用电机22(参照图3)而旋转。第1,第2搬运用电机21,22通过控制装置20而被控制驱动。
电极片11被夹持于第1搬运辊13与第2搬运辊14之间而被搬运。在第1搬运辊13的端部,以90°间距形成4个用于对电极片11的端部施加标记11a的刃状的标记部13a。
当第1搬运辊13旋转而使标记部13a与电极片11抵接时,对电极片11的端部施加标记11a(压印)。标记部13a以90°间距形成,在电极片11上,以规定的第一间隔D1被施加标记11a。
涂布模具16喷出电极墨水15,使得电极墨水15以规定的厚度涂布于电极片11上。
涂布前厚度测定装置17例如是公知的X射线式厚度计,根据从X射线管照射的X射线透过电极片11时的衰减量,测定电极片11的厚度。涂布前厚度测定装置17具备检测标记11a的传感器17a(参照图3)。
涂布前厚度测定装置17通过控制装置20而被控制驱动,在小于第一间隔D1的第二间隔D2(参照图4)中,测定电极片11的厚度。
涂布后厚度测定装置18例如是与涂布前厚度测定装置17相同的X射线式厚度计,测定通过涂布模具16涂布了电极墨水15的部分的电极片11的厚度。涂布后厚度测定装置18具备检测标记11a的传感器18a(参照图3)。
涂布后厚度测定装置18通过控制装置20而被控制驱动,以小于第一间隔D1的第三间隔D3(参照图5)测定电极片11的厚度。
激光印字装置19通过激光对电极片11施加印字,通过控制装置20而被控制驱动。
[电极制造步骤]
通过电极制造装置10制造电极时,首先,控制装置20驱动供给部12的供给用电机12b,使插入辊状的电极片11中的旋转轴12a旋转。通过旋转轴12a的旋转,沿着搬运方向供给辊状的电极片11。控制装置20控制供给用电机12b的驱动,从而以规定速度供给电极片11。
向第1搬运辊13和第2搬运辊14搬运从供给部12供给的电极片11。
控制装置20驱动第1搬运用电机21,使第1搬运辊13沿着顺时针方向旋转,驱动第2搬运用电机22,使第2搬运辊14沿着逆时针方向旋转。
夹持于第1搬运辊13与第2搬运辊14之间的电极片11通过利用第1,第2搬运用电机21,22而旋转的第1,第2搬运辊13,14从而被搬运。在该搬运时,标记部13a与电极片11抵接,对电极片11的端部施加标记11a。将连续搬运电极片11、并且连续旋转第2搬运辊14时,在电极片11上以第一间隔D1施加标记11a。
被施加了标记11a的电极片11被搬运至涂布前厚度测定装置17。
涂布前厚度测定装置17以小于第一间隔D1的第二间隔D2测定涂布电极墨水15前的电极片11的厚度。涂布前厚度测定装置17通过传感器17a检测标记11a,将标记检测信息发送至控制装置20。
在本实施方式中,以施加了标记11a的时点处的第一间隔D1的1/10的间隔成为第二间隔D2的方式进行设定。此外,涂布前厚度测定装置17在施加了标记11a的位置处进行测定。即,在涂布前厚度测定装置17中,在相邻的2个标记11a间测定10次电极片11的厚度(涂布前厚度信息生成步骤)。
涂布前厚度测定装置17将所测定的测定厚度数据发送至控制装置20。该测定厚度数据中包含测定位置信息。该测定位置信息表示各测定点处的从施加了标记11a的位置起算的距离。
通过涂布前厚度测定装置17测定了厚度的电极片11被搬运至涂布模具16。涂布模具16喷出电极墨水15,使得电极墨水15以规定的厚度涂布于电极片11上(涂布步骤)。
通过涂布模具16涂布了电极墨水15的电极片11形成为电极25,被搬运至涂布后厚度测定装置18。在该搬运中,电极墨水15被干燥。
涂布后厚度测定装置18以小于第一间隔D1的第三间隔D3测定通过涂布模具16涂布了电极墨水15的部分的电极25的厚度(涂布后厚度信息生成步骤)。需要说明的是,在本实施方式中,第三间隔D3是与第二间隔D2相同的间隔,但也可以为不同的间隔。
涂布后厚度测定装置18通过传感器18a检测标记11a,将标记检测信息发送至控制装置。此外,涂布后厚度测定装置18在施加了标记11a的位置处进行测定。
涂布后厚度测定装置18将所测定的测定厚度数据发送至控制装置20。该测定厚度数据中包含测定位置信息。该测定位置信息表示各测定点处的从施加了标记11a的位置起算的距离。
如图4所示,从涂布前厚度测定装置17发送的测定厚度数据是从最初的标记11a的位置(图4中的左侧)起以等间隔(第二间隔D2)进行了厚度测定(测定位置(0)~(9))、且在第二个标记11a的位置(图4中的右侧)处进行了厚度测定(测定位置(00))的数据。
如图5所示,从涂布后厚度测定装置18发送的测定厚度数据是从最初的标记11a的位置(图5中的左侧)起以等间隔(与第二间隔D2相同的第三间隔D3)进行了厚度测定的数据(测定位置(0’)~(10’))。需要说明的是,在涂布后,由于因对电极片11施加的张力而产生拉伸,因此第10个测定点(测定位置(10’))是偏离第二个标记11a的位置(图5中的右侧)的位置。
控制装置20基于来自涂布前厚度测定装置17的传感器17a的标记检测信息,算出涂布前厚度测定装置17中的标记11a间的长度L。此外,控制装置20基于来自涂布后厚度测定装置18的传感器18a的标记检测信息,算出涂布后厚度测定装置18中的标记11a间的长度L’。
控制装置20算出涂布前厚度测定装置17中的标记11a间的长度L、与涂布后厚度测定装置18中的标记11a间的长度L’的长度比(长度比算出步骤)。并且,如图6所示,控制装置20基于算出长度比,对从涂布后厚度测定装置18发送的测定厚度数据的测定位置进行补正(压缩)(测定位置补正步骤)。即,通过将涂布后厚度信息的测定位置除以涂布后的标记11a间的长度L’相对于涂布前的标记11a间的长度L之比、即L’/L,来进行补正。
因此,通过第三间隔D3/(L’/L),算出对从涂布后厚度测定装置18发送的测定厚度数据的测定位置进行了补正后的各测定位置的补正间隔Dr。
进一步,将如上所述地补正了测定位置的补正涂布后厚度信息的测定点间用线段连接(线性插补),由此得到补正涂布后厚度插补线。
控制装置20在算出电极片11上的电极墨水15的涂布厚度时,将涂布前厚度信息的各测定位置处的上述补正涂布后厚度插补线上的值确定为各测定位置处的涂布后厚度(设定涂布后厚度),根据该值算出与涂布前厚度之差,作为电极片11上的电极墨水15的涂布厚度(涂布厚度算出步骤)。在各测定点进行该涂布厚度算出处理。
控制装置20判定所算出的电极片11上的电极墨水15的涂布厚度(以下称为算出涂布厚度)是否为预先设定的规定范围内,为规定范围内时,判断为合格品(判断步骤)。
另一方面,算出涂布厚度并非在规定范围内时,控制装置20判断为不合格品,驱动激光印字装置19,对该部分的电极片11的端部印字表示其为不合格品的例如NG标记(不合格品标记步骤)。需要说明的是,电极制造装置10中可以不包括激光印字装置19。
由卷取装置(未图示)卷取通过激光印字装置19的电极25。
像这样,即使在电极片11沿着搬运方向拉伸的情况下,也能够算出电极片11上的电极墨水15的涂布厚度,基于该算出涂布厚度,能够进行合格品判定。
在上述实施方式中,通过电极制造装置10的第1搬运辊13上设置的标记部13a,对电极片11施加标记11a,但在预先对电极片11上施加有标记11a的情况中,可以删除标记部13a。此外,进行标记时,其方法可以适当进行变更。
在上述实施方式中,由X射线式厚度计构成涂布前厚度测定装置17和涂布后厚度测定装置18。但不限定于此,只要是能够测定厚度的方式即可。例如,可以通过线传感器测定由放射线源发射的放射线,基于其测定结果算出厚度。
上述实施方式中,进行补正以使涂布后的厚度测定位置对准涂布前的厚度测定位置,但也可以与其相反地,使涂布前的厚度测定位置对准涂布后的厚度测定位置进行补正。进一步,不必在标记位置处进行厚度测定,只要得到对于标记而言的厚度测定位置信息即可。

Claims (3)

1.一种电极制造方法,其是在搬运以第一间隔实施了标记的电极基材的同时涂布电极墨水来制造电极的电极制造方法,该电极制造方法的特征在于,具备:
涂布前厚度信息生成步骤,在该步骤中,在相邻的2个标记间,以小于所述第一间隔的第二间隔测定涂布所述电极墨水前的所述电极基材的厚度,来生成多个涂布前厚度信息,所述涂布前厚度信息包含相对于该2个标记中的一个的测定位置的信息;
涂布步骤,其在所述涂布前厚度信息生成步骤之后,在所述电极基材上涂布所述电极墨水;
涂布后厚度信息生成步骤,在该步骤中,在所述2个标记间,以小于所述第一间隔的第三间隔测定涂布了所述电极墨水的部分的所述电极基材的厚度,来生成多个涂布后厚度信息,所述涂布后厚度信息包含相对于所述2个标记中的与所述涂布前厚度信息生成步骤相同的一个的测定位置的信息;
长度比算出步骤,在该步骤中,检测所述涂布前厚度信息生成步骤与所述涂布后厚度信息生成步骤各自中的所述2个标记间的长度,并算出所述涂布前厚度信息生成步骤与所述涂布后厚度信息生成步骤中的另一个生成步骤中的所述2个标记间的长度相对于一个生成步骤中的所述2个标记间的长度之比;
测定位置补正步骤,在该步骤中,将所述另一个生成步骤中的多个厚度信息中的每一个的测定位置信息除以在所述长度比算出步骤中算出的所述长度之比来进行补正,从而作为所述另一个生成步骤中的多个补正厚度信息来得到;
涂布厚度算出步骤,在该步骤中,将与所述一个生成步骤中的所述涂布前厚度信息/涂布后厚度信息的测定位置对应的所述另一个生成步骤中的所述电极基材的厚度确定为对所述另一个生成步骤中的多个所述补正厚度信息的测定位置间进行线性插补而得到的补正厚度插补线上的值,并算出所确定的所述另一个生成步骤中的厚度与该测定位置中的所述一个生成步骤中的所述电极基材的厚度之差来作为涂布厚度;以及
判断步骤,在该步骤中,在所述涂布厚度算出步骤中算出的所述涂布厚度为规定范围内时,判断为合格品,在为所述规定范围外时,判断为不合格品。
2.根据权利要求1所述的电极制造方法,其特征在于,
所述电极制造方法具备不合格品标记步骤,在该步骤中,在所述判断步骤中判断为不合格品时,对涂布了所述电极墨水的所述电极基材的判断为不合格品的部分,实施不合格品标记。
3.一种电极制造装置,其在搬运以第一间隔实施了标记的电极基材的同时涂布电极墨水来制造电极,其特征在于,具备:
涂布前厚度信息生成单元,其在相邻的2个标记间,以小于所述第一间隔的第二间隔测定涂布所述电极墨水前的所述电极基材的厚度,来生成多个涂布前厚度信息,所述涂布前厚度信息包含相对于该2个标记中的一个的测定位置的信息;
涂布单元,其在通过所述涂布前厚度信息生成单元生成涂布前厚度信息后,对所述电极基材涂布电极墨水;
涂布后厚度信息生成单元,其在所述2个标记间,以小于所述第一间隔的第三间隔测定涂布了所述电极墨水的部分的所述电极基材的厚度,来生成多个涂布后厚度信息,所述涂布后厚度信息包含相对于所述2个标记中的与所述涂布前厚度信息生成单元相同的一个的测定位置的信息;
长度比算出单元,其检测所述涂布前厚度信息生成单元与所述涂布后厚度信息生成单元各自中的所述2个标记间的长度,并算出所述涂布前厚度信息生成单元与所述涂布后厚度信息生成单元中的另一个生成单元中的所述2个标记间的长度相对于一个生成单元中的所述2个标记间的长度之比;
测定位置补正单元,其将所述另一个生成单元中的多个厚度信息中的每一个的测定位置信息除以通过所述长度比算出单元算出的所述长度之比来进行补正,从而作为所述另一个生成单元中的多个补正厚度信息来得到;
涂布厚度算出单元,其将与所述一个生成单元中的所述涂布前厚度信息/涂布后厚度信息的测定位置对应的所述另一个生成单元中的所述电极基材的厚度确定为对所述另一个生成单元中的多个所述补正厚度信息的测定位置间进行线性插补而得到的补正厚度插补线上的值,并算出所确定的所述另一个生成单元中的厚度与该测定位置中的所述一个生成单元中的所述电极基材的厚度之差来作为涂布厚度;以及
判断单元,其在通过所述涂布厚度算出单元算出的所述涂布厚度为规定范围内时,判断为合格品,在为所述规定范围外时,判断为不合格品。
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