CN108627718A

CN108627718A - 测试和测量设备和操作方法

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Publication number: CN108627718A
Application number: CN201711389054.1A
Authority: CN
Inventors: 托比亚斯·弗雷德
Original assignee: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Current assignee: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Priority date: 2017-03-23
Filing date: 2017-12-20
Publication date: 2018-10-09
Anticipated expiration: 2037-12-20
Also published as: EP3379268B1; CN108627718B; EP3379268A1; US10768263B2; US20180275241A1

Abstract

本发明提供了用于测试被测电子设备(150、250、350)的测试和测量设备(100、200、300)，所述测试和测量设备(100、200、300)包括：测试控制器(101、201、301)，被配置为基于相应用户提供的配置参数(102、202、302)来控制所述测试和测量设备(100、200、300)与所述被测电子设备(150、250、350)执行测试；以及存储设备(103、203、303)，其耦接到所述测试控制器(101、201、301)，其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为针对每次测试在存储设备(103、203、303)中自动存储包括用户提供的配置参数(102、202、302)的参数集。此外，本发明提供了一种用于操作测试和测量设备(100、200、300)的操作方法。

Description

测试和测量设备和操作方法

技术领域

本发明涉及一种测试和测量设备。本发明还涉及用于操作测试和测量设备的相应操作方法。

背景技术

尽管原则上适用于任何测试或测量系统，但本发明及其基本问题将在下文中结合示波器进行描述。

现代示波器允许用户根据相应的测量任务来调整示波器的各种不同的配置参数。

因此，用户可以针对每个测量任务配置示波器。此外，用户可以手动存储示波器的配置并手动检索存储的配置。

在这种背景下，本发明解决的问题是提供示波器配置的改进的管理。

发明内容

本发明通过具有权利要求1的特征的测试和测量设备以及通过具有权利要求11的特征的用于操作测试和测量设备的操作方法来实现该目的。

一种用于测试被测电子设备的测试和测量设备，所述测试和测量设备包括测试控制器，所述测试控制器被配置为控制所述测试和测量设备基于用户提供的相应配置参数来与被测电子设备执行测试；以及包括耦接到所述测试控制器的存储设备，其中所述测试控制器被配置为针对每次测试在存储设备中自动存储包括所述用户提供的配置参数的参数集。

一种用于操作测试和测量设备的操作方法，所述方法包括：接收用于与被测电子设备进行测试的用户提供的配置参数；基于接收的用户提供的配置参数执行与被测电子设备的测试；以及针对每次测试自动存储包括用户提供的配置参数的参数集。

本发明基于以下发现：用户在示波器中手动创建和存储配置是很麻烦的。

因此，本发明提供了一种测试和测量设备，其对不同的用户提供的配置执行自动管理。

通常在进行测试之前，用户将设置测试，即根据他的需要配置所述测试和测量设备。

现在，在本发明中，测试控制器针对每次用户发起的测试在存储设备中自动存储用户提供的配置参数集，而不是等待用户告诉测试控制器存储一组配置参数。

因此存储设备将包含已经用测试和测量设备执行的测试的配置或配置参数集。据了解，测试控制器可以验证在两次测试之间是否发生了任何参数变化。如果没有参数被改变，则测试控制器可以跳过第二次测试而不存储新的参数集。

因此，本发明的测试和测量设备允许容易地恢复用户以前可能已经使用的测试和测量设备的任何配置，而不需要明确地存储或保存配置。

本发明的其它实施例是其它从属权利要求以及参考附图的以下描述的主题。

在可能的实施例中，测试控制器可以被配置为将在相应测试期间记录的至少一条测量曲线的图像与所述用户提供的配置参数一起存储。

如果用户提供的设置或参数被自动存储，则它们可以例如由测试控制器贴上日期和时间标记，以便区分它们。然而，当用户正在寻找特定的测试配置时，可能很难搜索和识别简单的日期和时间标记，特别是在具有大量的这种标记的情况下。

在记录测量曲线之后存储测量曲线的图像(例如测试和测量设备的显示器的屏幕截图)可以为这组配置参数提供视觉标记。因此，可以向用户呈现图像(替代标记列表或与标记列表一起)，然后用户可以基于相应的图像来选择相应的测试配置。

此外，用户可以例如通过键盘、在屏幕或硬件上、或经由任何其他输入为单个参数集提供标记。

在可能的实施例中，测试和测量设备可以包括被配置为显示所存储的参数集的表示的显示设备。此外，测试和测量设备可以包括用户输入设备，该用户输入设备被配置为接收用户对所显示的表示之一的选择，其中，测试控制器可以被配置成基于用户选择来加载用户提供的相应配置参数集。

如上所述，所述表示可以包括用于相应的参数集的日期和时间标记。此外，该表示还可以包括单独或与日期和时间标记组合的相应的参数集的存储图像。

用户输入可以例如包括硬件输入，例如按钮、拨号和开关。另外或作为替代，用户输入可以包括例如包括在测试和测量设备的显示设备中的触摸屏设备。

在用户选择参数集中的一个之后，例如通过在(触摸)屏幕上选择相应的图像，测试控制器可以加载相应的参数来配置测试和测量设备。

在可能的实施例中，测试控制器可以被配置为将测量的测量结果与相应的参数集一起存储，并且还被配置为基于测量结果动态地生成相应的参数集的表示。

测试控制器可以例如当在相应测试的第一次执行期间生成原始测量曲线时，基于存储的测量结果生成测量曲线。

在可能的实施例中，测试和测量设备可以包括在显示设备上显示的标签式界面，其中标签式界面的每个标签可以包括所存储的参数集的表示之一。

在标签式界面中，每个标签可以包括例如相应的参数集的图像。另外，例如，可以显示参数集的最相关参数的简短列表。

因此，通过简单地选择其中一个标签，用户可以快速获得关于相应的参数集的概述。

在可能的实施例中，当选择标签时，测试控制器可以被配置为自动加载相应的参数集并且根据加载的参数集来配置测试和测量设备。

利用简单选择的标签自动加载参数集允许在操作过程中快速配置测试和测量设备。此外，通过简单地在不同的标签之间切换，不同参数集之间的快速切换是可能的。

参数集的其他类型的快捷方式也是可能的。这样的快捷方式可以包括硬件按钮和拨号或者屏幕上的按钮。

在可能的实施例中，标签式接口可以在每一个标签中包括测试和测量设备的完全操作显示。

完全操作显示是指测试和测量设备的显示，因为该显示通常在测试和测量设备的正常操作期间向用户呈现。

因此，通过在标签之间切换，不仅可以向用户通知关于特定的参数集。而且，测试和测量设备将被置于与测量过程中相同的状态，并且用户可以开始使用测试和测量设备，如同在第一次执行的测量期间一样。

在可能的实施例中，测试和测量设备可以包括新的参数集用户输入，其中测试控制器可以被配置为在选择新的参数集输入之后创建新的参数集，并将用户设置的任何参数存储在新的参数集中。

新的参数集输入可以例如是新的标签功能输入，其可以是标签式界面中的最后一个标签指示符。测试控制器可以例如当选择新的标签功能输入时，创建一个新的标签，并将用户在新创建的标签中设置的参数存储在新的参数集中。

新的参数集输入还可以包括任何其他类型的输入，例如，硬件或屏幕上的按钮。

使用新的参数集输入，用户可以直接通知测试控制器应该启动新的参数集，并且下面的输入应该被视为新创建的参数集的参数。

因此没有必要对测试控制器自动存储的参数集进行测试。

在可能的实施例中，测试控制器可以被配置为，当存储设备的容量耗尽时，从存储设备中删除最老的参数集，并且将新的参数集存储在存储设备中。

存储设备可以看作是具有预定义容量的一种先输入先输出(或删除)的存储设备。应该理解的是，在这种情况下，术语存储设备不仅指专用硬件存储设备。存储设备例如也可以是存储在RAM或硬盘上的数据结构或文件。

在可能的实施例中，测试和测量设备可以包括被配置为接收关于相应的参数集的用户输入的标注用户输入，其中测试控制器可以被配置为在接收到用户输入之后将相应的参数集标注为永久的，并且当从存储设备中删除最老的参数集时，跳过标注为永久的参数集。

这允许即使在存储设备的容量已经耗尽的情况下用户依然可以保留重要的配置。此外，当向用户示出所有参数集时，测试控制器可以示出标注为永久性第一的参数集。

附图说明

为了更完整地理解本发明及其优点，现参考结合附图的以下描述。下面通过使用在附图的示意图中说明的示例实施例来详细解释本发明，附图中：

图1示出了根据本发明的测试和测量设备的实施例的框图；

图2示出了根据本发明的测试和测量设备的另一实施例的框图；

图3示出了根据本发明的测试和测量设备的另一实施例的框图；以及

图4示出了根据本发明的操作方法的实施例的流程图。

附图旨在提供对本发明的实施例的进一步理解。它们示出了实施例，并结合描述一起帮助解释本发明的原理和构思。参照附图，将清楚其他实施例和所提及的许多优点。附图中的元件不一定按比例示出。

在附图中，除非另有说明，否则在每种情况下的相似的、功能上等同的和同样操作的元件、特征和部件被表示为相似的附图标记。

具体实施方式

图1示出了用于测试被测电子设备150的测试和测量设备100的框图。测量设备100可以例如是示波器或矢量网络测试仪或任何其他类型的测试或测量设备。

测量设备100包括耦接到存储设备103的测试控制器101。此外，测试控制器101例如从用户接收配置参数102。尽管没有明确地示出，但是可以理解的是，测量设备100可以包括对于执行与被测设备150的测试和/或测量所必需的任何其他元件。这些元件可以例如是电源、振荡器、信号发生器、放大器、衰减器、滤波器、模-数转换器等。存储设备103可以是任何类型的存储器，例如像RAM、EEPROM、硬盘、固态硬盘、USB驱动器、SD卡或甚至远程网络存储器。特别是在非易失性存储器的情况下，显然下面描述的功能在测量设备100的重新启动之后也将是可用的。

测试控制器101可以是测量设备100的中央控制单元，并且控制测量设备100的所有元件(例如，控制信号发生器)产生可以向被测设备150发送的测试信号104，或控制模数转换器记录来自被测设备150的测试信号104。测试控制器101还可以执行对所记录的测试信号104的评估并提供相应的用户反馈。测试控制器101可以例如包括处理单元、微控制器、CPLD、FPGA、ASIC和/或任何其他类型的可编程逻辑器件。

在执行与被测设备150的任何测量或测试之前，用户可以向测试控制器101提供用于相应测试的配置参数102。通常，用户将为他需要执行的每次测试提供这样的配置参数102。

在接收到一组配置参数102之后，用户可以例如用测量设备100开始测试。测试控制器101然后将配置参数102自动地存储在存储设备103中，使得稍后可以由用户检索到配置参数102并在进一步的测试中重新使用。

通过自动存储用测量设备100执行的单次测试的配置参数102，测试控制器101提供配置参数102的自动管理，并且不需要来自用户的手动干预。

图2示出了另一测试和测量设备200的框图。测试和测量设备200基于测试和测量设备100并且包括耦接到测试控制器201的显示设备205。此外，测试控制器201不仅在存储设备203中存储配置参数202，还存储表示配置参数202的相应的参数集的图像206。显示设备205可以例如是测试和测量设备200的LCD屏幕。

图像206可以例如示出测试期间记录的测量曲线207，其是相应参数集的基础。备选地，图像206可以示出在测试期间示出的显示设备205的完整内容的屏幕截图。

用户现在可以(例如，经由未单独示出的用户输入)激活参数集选择过程。在用户激活该选择过程之后，测试控制器201可以将配置参数202的参数集与相应的图像206一起加载，并向用户提供相应的参数集的表示208、209。

在显示设备205中，示出了两个表示208、209，一个标记有“标记X”，另一个标记有“标记Y”。标记可以例如由用户提供或从配置参数202导出。此外，标记可以例如由用户可为测试提供的任何标记导出，所述标记(例如，轴标记)是配置参数202和图像206的基础。

虽然没有明确示出，但是可以理解，可以提供任何类型的用户输入(例如按动按钮)，该用户输入在存在多于两个表示的情况下，允许用户滚动表示208，209的列表。此外，可以提供允许用户扩缩或缩放所述表示的用户输入。用户可以例如选择在显示设备205上一次仅示出一个表示208、209。然后，当用户向前或向后按下按钮时，单个表示208、209可以像图形操作系统上的窗口一样进行切换。用户还可以选择在显示设备205上显示三个或四个或更多个表示208、209。

在本实施例中，显示设备205还包括触摸屏形式的用户输入设备210。触摸屏210可以向测试控制器201转发用户选择211。然后，测试控制器201将从存储设备203加载相应的配置参数202并相应地配置测试和测量设备200。

在这种情况下的配置还可以包括：可以恢复包括测量值和显示设备205中的显示内容的完整状态。在这种情况下，必要的数据将与配置参数202和图像206一起存储。

图3示出了测试和测量设备300的框图。测试和测量设备300基于测试和测量设备200，并且还包括测试控制器301、存储设备303和具有触摸屏310的显示设备305。

测试和测量设备300包括在显示设备305上显示的标签式界面312。在这种情况下的标签式是指以标签方式组织测试和测量设备300的不同测试设置或配置。标签可以包括大内容部分和小标题部分，例如包括针对标签的标记。在图3中示出了两个标签313，一个标记为“标记X”，另一个标记为“标记Y”。

当用户选择标签313中的一个时，显示设备305可以示出配置参数302的参数集的表示。然而，测试控制器301也可以被配置成一旦用户选择了标签，就并行地管理测试和测量设备300的不同配置，或者加载所述测试和测量设备300的完整配置。

这意味着用户可以利用标签313的单个选择，在测试和测量设备300的完全不同的配置之间进行切换。利用快速切换能力，测试和测量设备300可以像两个或更多个单独的测试和测量设备300一样被用户使用，而不需要用户提供多个测试和测量设备300，以有效地工作并且连续地在被测设备350上执行不同测试。

标签式界面312提供两个另外的用户输入314和315。新的参数集用户输入314允许用户在标签式界面312中打开新的标签。新标签可以表示测试和测量设备300的配置，该配置可以例如预加载标准配置值作为起点。然后，用户可以执行他需要进行测量的配置，并且即使用户没有开始测试，测试控制器301也将自动存储配置参数302。

最后，标签标题包括标注用户输入315，所述标注用户输入315用于将标签和相应的配置参数302和图像306标注为永久的。

存储设备303可以具有有限的容量。这意味着当存储设备303的容量被耗尽时，测试控制器301最终将不得不自动移除配置参数302和图像306。测试控制器301可以采用先输入-先删除方案，其中最老的参数集(即，具有相应图像306的配置参数302)被首先删除。

然而，与参数集的存在时间无关，参数集对于用户可能是特别重要的。因此，用户可以将这样的参数集标注为“永久的”，这将防止测试控制器301删除相应的参数集。

为了清楚起见，在下面对基于图4的方法的描述中，将保持以上在基于图1至图3的装置的描述中使用的附图标记。

图4示出了用于操作测试和测量设备100、200、300的操作方法的流程图。

该方法包括接收S1用于与被测电子设备150、250、350进行测试的用户提供的配置参数102、202、302，并且基于接收的用户提供的配置参数102、202、302来执行S2与被测电子设备150、250、350进行的测试。此外，该方法包括针对每次测试自动存储S3参数集，该参数集包括用户提供的配置参数102、202、302。

存储S3可以包括将在相应测试期间记录的至少一条测量曲线207、307的图像206、306与用户提供的配置参数102、202、302一起存储。测量曲线207、307可以例如被嵌入在测试和测量设备100、200、300的显示设备的屏幕截图中。代替图像206、306，可以将测量的测量结果与相应的参数集一起存储，并且可以基于测量结果针对相应的参数集动态地生成表示208、209。

为了简化所存储的配置参数102、202、302的选择，可以显示所存储的参数集的表示208、209，并且可以针对所显示的表示208、209中的一个接收用户选择211、311。在接收到用户选择211、311之后，基于用户选择211、311来加载用户提供的相应的配置参数集102、202、302。

表示208、209也可以显示在标签式界面312中，其中标签式界面312的每个标签313包括存储的参数集的表示208、209中的一个。

利用标签式界面312，当标签313被选择时，可以自动加载相应的参数集，并且可以根据加载的参数集来配置测试和测量设备100、200、300。

另外，标签式界面312可以在每一个标签313中包括测试和测量设备100、200、300的完全操作显示。

即使没有进行任何测试，也可以在接收到来自用户的新的参数集输入后，创建新的参数集，并且可以存储用户在新创建的参数集中设置的各个参数。

保存参数集的存储器容量有限。因此，当存储设备103、203、303的容量被耗尽时，可以从存储设备103、203、303中删除最老的参数集，并且可以将新的参数集存储在存储设备103、203、303中。

为了防止删除重要参数集，可以由用户提供关于相应的参数集的标注用户输入315。接收到标注用户输入315之后，相应的参数集被标注为永久的。当从存储设备103、203、303中删除最老的参数集时，标注为永久的参数集将被跳过。

虽然本文已经图示和描述了具体实施例，但是本领域普通技术人员将理解，存在各种备选和/或等同实现。应当理解，一个或多个示例实施例仅是示例性的，并在任何情况下不旨在限制范围、适用性或配置。相反，上述发明内容和详细描述将为本领域技术人员提供用于实现至少一个示例性实施例的方便的路线图，应当理解，可以对在示例性实施例中描述的元件的功能和布置进行各种改变，而不脱离所附权利要求及其合法等同物所述的范围。通常，本申请旨在涵盖本文所讨论的具体实施例的任何修改或变化。

在上述具体描述中，出于简化本公开的目的，在一个或更多个示例中将各种特征进行分组。应当理解，上述描述旨在是说明性的，而不是限制性的。它旨在涵盖本发明的精神和范围内的备选方案、修改和等同物。当浏览上述说明书时，许多其它示例对于本领域技术人员将是显而易见的。

在上述说明书中使用的具体命名用于提供对本发明的透彻理解。然而，根据本文提供的说明书，本领域技术人员将清楚，特定细节并不是为了实施本发明所必须的。因此，呈现本发明特定实施例的以上描述是为了示出和描述的目的。它们不旨在是穷尽的或者将本发明限制到所公开的确切形式；显然，鉴于上述教导，许多修改和变化是可能的。对实施例的选择和描述是为了最好地解释本发明的原理及其实际应用，从而使得本领域的其他技术人员能够最佳地利用本发明以及具有适合于预期特定用途的各种修改的各种实施例。贯穿说明书，术语“包括”和“其中”分别用作相应术语“包括”和“其中”的简化英语等同物。此外，术语“第一”、“第二”和“第三”等仅用作标记，且不旨在对其对象施加数值要求或对其对象的重要性建立特定排序。

参考标记列表

100，200，300 测试和测量设备

101，201，301 测试控制器

102，202，302 配置参数

103，203，303存储器设备

104，204，304 测试信号

205，305 显示设备

206，306 图像

207，307 测量曲线

208，209 表示

210，310 用户输入设备

211，311 用户选择

312 标签式界面

313 标签

314 新参数集用户输入

315 标注用户输入

150，250，350 被测电子设备

Claims

1.一种用于测试被测电子设备(150、250、350)的测试和测量设备(100、200、300)，所述测试和测量设备(100、200、300)包括：

测试控制器(101、201、301)，被配置为基于相应的用户提供的配置参数(102、202、302)来控制所述测试和测量设备(100、200、300)与所述被测电子设备(150、250、350)执行测试，以及

存储设备(103、203、303)，耦接到所述测试控制器(101、201、301)，

其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为针对每次测试在所述存储设备(103、203、303)中自动存储包括所述用户提供的配置参数(102、202、302)的参数集。

2.根据权利要求1所述的测试和测量设备(100、200、300)，其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为将在相应测试期间记录的至少一条测量曲线(207、307)的图像(206、306)与所述用户提供的配置参数(102、202、302)一起存储。

3.根据前述权利要求中任一项所述的测试和测量设备(100、200、300)，包括被配置为显示所存储的参数集的表示(208、209)的显示设备(205、305)，以及

包括被配置为接收所显示的表示(208、209)中的一个的用户选择(211、311)的用户输入设备(210、310)，

其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为基于所述用户选择(211、311)加载相应的参数集。

4.根据权利要求3所述的测试和测量设备(100、200、300)，其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为将测量的测量结果与相应的参数集一起存储，并且还被配置为基于所述测量结果动态地生成相应的参数集的表示(208、209)。

5.根据权利要求3和4中任一项所述的测试和测量设备(100、200、300)，包括显示在所述显示设备(205、305)上的标签式界面(312)，其中所述标签式界面(312)的每个标签(313)包括所存储的参数集的所述表示(208、209)中的一个。

6.根据权利要求5所述的测试和测量设备(100、200、300)，其中，当选择标签(313)时，所述测试控制器(101、201、301)被配置为自动加载相应的参数集并根据所加载的参数集来配置所述测试和测量设备(100、200、300)。

7.根据前述权利要求5和6中任一项所述的测试和测量设备(100、200、300)，其中，所述标签式界面(312)在所述标签(313)中的每一个中包括所述测试和测量设备(100、200、300)的完全操作显示。

8.根据前述权利要求中任一项所述的测试和测量设备(100、200、300)，包括新的参数集用户输入(314)，其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为在选择新的参数集输入后创建新的参数集，并将用户设置的任何参数存储到新的参数集中。

9.根据前述权利要求中的任一项所述的测试和测量设备(100、200、300)，其中，所述测试控制器(101、201、301)被配置为当所述存储设备(103、203、303)的容量被耗尽时，从所述存储设备(103、203、303)中删除最老的参数集，并且将新的参数集存储在所述存储设备(103、203、303)中。

10.根据权利要求9所述的测试和测量设备(100、200、300)，包括被配置为接收关于相应的参数集的用户输入的标注用户输入(315)，其中所述测试控制器(101、201、301)被配置为在接收到所述用户输入之后将相应的参数集标注为永久的，并且当从所述存储设备(103、203、303)中删除所述最老的参数集时，跳过标注为永久的所述参数集。

11.一种用于操作测试和测量设备(100、200、300)的操作方法，所述方法包括：

接收用户提供的配置参数(102、202、302)用于与被测电子设备(150、250、350)进行测试，

基于接收的用户提供的配置参数(102、202、302)，与所述被测电子设备(150、250、350)执行测试，以及

针对每次测试自动存储包括所述用户提供的配置参数(102、202、302)的参数集，特别地，其中存储包括将在相应测试期间记录的至少一条测量曲线(207、307)的图像(206、306)与所述用户提供的配置参数(102、202、302)一起存储。

12.根据权利要求11所述的操作方法，包括：显示所存储的参数集的表示(208、209)，接收所显示的表示(208、209)之一的用户选择(211、311)；以及基于所述用户选择(211、311)加载用户提供的相应的配置参数集(102、202、302)，并且特别包括将测量的测量结果与相应的参数集一起存储，并且基于所述测量结果动态地生成相应的参数集的表示(208、209)。

13.根据权利要求12所述的操作方法，包括显示标签式界面(312)，其中所述标签式界面(312)的每个标签(313)包括所存储的参数集的所述表示(208、209)中的一个。

14.根据权利要求13所述的操作方法，其中，当选择标签(313)时，相应的参数集被自动加载，并且根据所加载的参数集配置所述测试和测量设备(100、200、300)，和/或其中所述标签式界面(312)在每个标签(313)中包括所述测试和测量设备(100、200、300)的完全操作显示。

15.根据前述权利要求11至14中任一项所述的操作方法，包括：在接收新的参数集输入之后创建新的参数集，并将用户设置的任何参数存储在新创建的参数集中；和/或

其中当所述存储设备(103、203、303)的容量被耗尽时，从所述存储设备(103、203、303)中删除最老的参数集，并且将新的参数集存储在所述存储设备(103、203、303)中，并日特别包括接收关于相应参数集的标注用户输入(315)，其中在接收到所述标注用户输入(315)之后将相应的参数集标注为永久的，并且当从所述存储设备(103、203、303)中删除所述最老的参数集时，跳过标注为永久的所述参数集。