CN108613996A - 快速分辨金属材料品种的方法 - Google Patents

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吴昌强
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Suzhou Meng Jiong Trade Co Ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials

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Abstract

本发明公开快速分辨金属材料品种的方法，包括X射线衍射仪，X射线在传播途中，与晶体中束缚较紧的电子相遇时，将发生经典散射，晶体由大量原子组成，每个原子又有多个电子，各电子所产生的经典散射线会相互干涉，使在某些方向获得加强，另一些方向则被削弱，电子散射线干涉的总结果被称为衍射，用于测定晶体结构，进行物相定性、定量的分析，精确测定点阵参数，也可用于测定材料的内应力、织构、晶粒大小，能够方便快速的对金属材料进行分析检测，分析检测的结果准确，便于在实际生产中进行应用。

Description

快速分辨金属材料品种的方法
技术领域
本发明涉及金属加工制备领域，特别是涉及快速分辨金属材料品种的方法。
背景技术
目前的金属材料中合金金属材料运用的更为广泛，一般的金属材料中基本上是由C、Si、Fe等元素组成。这些金属材料可以满足一般工业需求，但是在一些对金属材料的性能要求较高的领域而言，常规的金属材料还远远无法满足需求。我国的稀土资源位居世界前沿,稀土元素由于其自身特有的性能，将其渗入到钢铁中能够很好的提高钢铁的性能，因此，目前稀土在冶金工业方面的研究开始比较深入。
随着我国科学技术的迅速发展，航天、航空等技术有了显著进步，在这些技术领域中，对产品零部件的材料有着严格的要求。然而，产品在生产过程中可能会有材料出错的时候，有时会在已经生产了大量的成品后才发现产品有混料的现象，此时，若将所有产品都进行报废势必造成严重浪费。而采用现有的检测方法对产品的成分进行检测的话，不仅效率低，而且会损伤产品。因此，现有的检测方法无法对成品零部件进行有效的检测,存在着不足，不能满足社会实际的需求。
综上所述，针对现有技术的缺陷，特别需要快速分辨金属材料品种的方法，以解决现有技术的不足。
发明内容
针对现有的存在的不足，影响实际的使用，本发明提出快速分辨金属材料品种的方法，设计新颖，能够方便快速的对金属材料进行分析检测，分析检测的结果准确，便于在实际生产中进行应用。
为了实现上述目的，本发明的技术方案如下：
快速分辨金属材料品种的方法，包括X射线衍射仪，X射线在传播途中，与晶体中束缚较紧的电子相遇时，将发生经典散射，晶体由大量原子组成，每个原子又有多个电子，各电子所产生的经典散射线会相互干涉，使在某些方向获得加强，另一些方向则被削弱，电子散射线干涉的总结果被称为衍射，金属材料是由数量众多、取向混乱的微晶体组成，各微晶体中某种指数的晶面在空间占有各种方位，这与运动的单晶体某种晶面在不同瞬时占有不同位置的情况是相当的，因此这种几何布置也可获得衍射，用于测定晶体结构，进行物相定性、定量的分析，精确测定点阵参数，也可用于测定材料的内应力、织构、晶粒大小。
在本发明的X射线衍射仪连接有毫伏表，毫伏表的两根连接线上分别连接有热端检测探头与冷探头，热端检测探头外设有加热恒温套。
进一步，本发明金属材料在X射线照射转动的单晶体，通过以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录，该步骤是确定晶体的微观结构。
进一步，本发明在X射线衍射分析是以晶体结构为基础的，每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子的数目及位置，这些参数在X射线衍射中均有所反馈。
进一步，本发明金属材料为铜合金、铝合金或各种材质钢材。
进一步，本发明的述X射线衍射仪的回路中电势差为零时，则确定待检测的金属成品制件与探头为相同材料。
本发明的有益效果是：方法简单实用，无需将检测的试样搬运至实验室，也不会对检测的试样造成损伤，在极大的提高了检测效率的同时，保证了检测的安全性，操作快捷，结果准确，效益显著，能够快速的对金属材料进行分析检测，设计新颖，是一种很好的创新方案。
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面进一步阐述本发明。
快速分辨金属材料品种的方法，包括X射线衍射仪，X射线在传播途中，与晶体中束缚较紧的电子相遇时，将发生经典散射，晶体由大量原子组成，每个原子又有多个电子，各电子所产生的经典散射线会相互干涉，使在某些方向获得加强，另一些方向则被削弱，电子散射线干涉的总结果被称为衍射，金属材料是由数量众多、取向混乱的微晶体组成，各微晶体中某种指数的晶面在空间占有各种方位，这与运动的单晶体某种晶面在不同瞬时占有不同位置的情况是相当的，因此这种几何布置也可获得衍射，用于测定晶体结构，进行物相定性、定量的分析，精确测定点阵参数，也可用于测定材料的内应力、织构、晶粒大小。
X射线衍射仪连接有毫伏表，毫伏表的两根连接线上分别连接有热端检测探头与冷探头，热端检测探头外设有加热恒温套。金属材料在X射线照射转动的单晶体，通过以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录，该步骤是确定晶体的微观结构。X射线衍射分析是以晶体结构为基础的，每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子的数目及位置，这些参数在X射线衍射中均有所反馈。金属材料为铜合金、铝合金或各种材质钢材。述X射线衍射仪的回路中电势差为零时，则确定待检测的金属成品制件与探头为相同材料。
金属材料的常规分析在力学性能方面主要有拉伸、压缩、弯曲、剪切、硬度、成形等试验方法，在化学成分方面，主要有化学分析方法和光谱分析方法，内部组织结构方面主要是光学显微镜分析，对于金属材料的常规生产检验和质量控制，根据检验的结构的能够快速的分辨出金属的品种，以及金属表面和内部更细微的组织结构。
本发明的有益效果是：方法简单实用，无需将检测的试样搬运至实验室，也不会对检测的试样造成损伤，在极大的提高了检测效率的同时，保证了检测的安全性，操作快捷，结果准确，效益显著，能够快速的对金属材料进行分析检测，设计新颖，是一种很好的创新方案。
本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。

Claims (6)

1.快速分辨金属材料品种的方法，其特征在于：包括X射线衍射仪，X射线在传播途中，与晶体中束缚较紧的电子相遇时，将发生经典散射，晶体由大量原子组成，每个原子又有多个电子，各电子所产生的经典散射线会相互干涉，使在某些方向获得加强，另一些方向则被削弱，电子散射线干涉的总结果被称为衍射，金属材料是由数量众多、取向混乱的微晶体组成，各微晶体中某种指数的晶面在空间占有各种方位，这与运动的单晶体某种晶面在不同瞬时占有不同位置的情况是相当的，因此这种几何布置也可获得衍射，用于测定晶体结构，进行物相定性、定量的分析，精确测定点阵参数，也可用于测定材料的内应力、织构、晶粒大小。
2.根据权利要求1所述快速分辨金属材料品种的方法，其特征在于：X射线衍射仪连接有毫伏表，毫伏表的两根连接线上分别连接有热端检测探头与冷探头，热端检测探头外设有加热恒温套。
3.根据权利要求1所述快速分辨金属材料品种的方法，其特征在于：金属材料在X射线照射转动的单晶体，通过以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录，该步骤是确定晶体的微观结构。
4.根据权利要求1所述快速分辨金属材料品种的方法，其特征在于：X射线衍射分析是以晶体结构为基础的，每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子的数目及位置，这些参数在X射线衍射中均有所反馈。
5.根据权利要求1所述快速分辨金属材料品种的方法，其特征在于：金属材料为铜合金、铝合金或各种材质钢材。
6.根据权利要求1所述快速分辨金属材料品种的方法，其特征在于：X射线衍射仪的回路中电势差为零时，则确定待检测的金属成品制件与探头为相同材料。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112304991A (zh) * 2019-07-31 2021-02-02 中央民族大学 利用电子衍射进行物相识别的方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7558371B2 (en) * 2007-10-18 2009-07-07 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method of generating X-ray diffraction data for integral detection of twin defects in super-hetero-epitaxial materials
CN103499596A (zh) * 2013-10-10 2014-01-08 贵州大学 快速分辨金属材料品种的方法及装置
CN203479730U (zh) * 2013-10-10 2014-03-12 贵州大学 快速分辨金属材料品种的装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7558371B2 (en) * 2007-10-18 2009-07-07 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method of generating X-ray diffraction data for integral detection of twin defects in super-hetero-epitaxial materials
CN103499596A (zh) * 2013-10-10 2014-01-08 贵州大学 快速分辨金属材料品种的方法及装置
CN203479730U (zh) * 2013-10-10 2014-03-12 贵州大学 快速分辨金属材料品种的装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BING7869: "金属材料的分析方法概述", 《HTTPS://WWW.DOC88.COM/P-7874000983985.HTML》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112304991A (zh) * 2019-07-31 2021-02-02 中央民族大学 利用电子衍射进行物相识别的方法
CN112304991B (zh) * 2019-07-31 2023-09-12 中央民族大学 利用电子衍射进行物相识别的方法

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