CN108548846A - 基于热图像ap聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法,运用涡流热成像平台对承压设备的亚表面缺陷进行可视化自动检测,具体讲,先对得到的热成像视频流数据,通过对数域处理,构建时间与温度的线性关系,然后通过计算出最大的标准差,提取缺陷可视化效果最好的热图像,接着,结合热传播的特点,通过“行归一化”消除热量在纵向上(与加热线圈垂直的方向)的不均匀,从而得到较好的承压设备亚表面缺陷可视化效果;为了将亚表面缺陷自动检测出来,引入了对数域AP聚类方法对处理的热图像进行聚类分析,这样不但使承压设备亚表面缺陷检测的可视化效果好,而且减少了人为的经验判断,方便实用,能满足工业检测的需求,具有一定的意义。
Description
技术领域
本发明属于材料缺陷检测技术领域,更为具体地讲,涉及一种基于热图像对数域AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法。
背景技术
承压设备是工业生产和制造中承受各种压力的设备。其主要包含高压管道、锅炉和压力容器,属于特种设备,安全要求高。承压设备如图1所示,截止到2015年,我国拥有近千万数量级别的承压设备,其中锅炉约60万台,压力容器约350万台,高压管道约45万公里。这些承压设备被运用在工业制造的各个行业,如石油、化工和电力等。承压设备的重要性使得其安全问题不容忽视。例如,在石油行业,大量的高压管道用于运输燃油、燃气和石油衍生产品。这些介质具有易燃易爆、剧毒和腐蚀性特点。高压管道又常处于高温、高压或潮湿等极端自然环境。介质的特殊性和工作环境的极端性,给高压管道的安全状态造成了极大的考验。高压管道易受到损伤,如:产生腐蚀孔洞和凹槽,产生疲劳裂纹等。一旦高压管道因为损伤发生泄漏,将会引起爆炸、火灾和大型环境污染等事故,对人民群众的什么财产造成巨大的损失。因此,工业越发达,对于承压设备的安全检测要求越多。承压设备的安全检测是具有极大的需求。
承压设备缺陷类型众多,如图1(a)所示的焊缝缺陷、如图1(b)所示的腐蚀孔洞,如图1(c)所示的疲劳裂纹,如图1(d)所示的腐蚀性凹槽、管壁等。承压设备的亚表面腐蚀性管壁是一种难以直接发现和检测的缺陷,需要提出相应的方法检测。
对这类缺陷常见的检测方法有:超声波检测法和射线检测法。超声波检测法,虽然检测精度较高,但需要接触承压设备,需要涂抹耦合剂,对检测的设备表面形状和粗糙程度要求较高,因此适用范围有限。射线检测是一种传统的检测方式,使用较为不便。其缺点是:有辐射、使用成本高、对检测设备尺寸有限制、对检测人员个人技能要求较高等。作为新兴的一种无损检测技术,红外热波检测技术具有不接触、快速、高效和可视化效果好等优点。为检测承压设备管壁的亚表面腐蚀缺陷,针对红外热图像,本发明提出了一种基于“对数域行归一化”和“AP聚类”的快速定性检测方法。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法,基于“对数域行归一化”来对被测试件的热图像进行处理,消除热传导纵向上的不均,以凸显亚表面缺陷。
为实现上述发明目的,本发明一种基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)、数据预处理
将获取的热图像序列O(t)调整为M×N×T的三维热图像序列O3D(t),其中,M和N分别表示热图像的行和列,T表示热图像的张数,t=1,2,3,…T;
(2)、构建O3D(t)的时间和温度线性关系
对三维热图像序列O3D(t)的时间轴和温度值取对数域计算,得到对数域热图像序列Oln(t),其中,第ln(t)帧热图像的第i行第j列像素点的像素值Oln,ij(t)=ln(O3D,ij(t));
(3)、计算对数域热图像序列Oln(t)中每一帧对数域热图像的标准差S(t);
其中,为Oln(t)中所有像素点像素值的平均值;
(4)、在对数域热图像序列Oln(t)中,选出标准差S(t)最大的一帧对数域热图像Oln(t),并记为OM;
(5)、对OM进行行归一化处理
对OM的每一行进行行归一化处理,得到归一化的对数域热图像OMN,其中,OMNij为OM中第i行第j列像素点的像素归一化值;
其中,OMimax和OMimin为OM中第i行像素点的像素最大值和像素最小值;
(6)、计算对数域热图像OMN中像素点间的相似度矩阵S,S=[s(i_j,k_l)]row×col,其中,i_j表示OMN中第i行的第j列的像素点,k_l表示OMN中第k行的第l列的像素点,i≠k,j≠l,row=col=M×N;s(i_j,k_l)表示第i行的第j列的像素点与第k行的第l列的像素点的相似度;
s(i_j,k_l)=-||OMNi_j-OMNk_l||2
其中,OMNi_j表示OMN第i行的第j列的像素点的像素值,OMNk_l表示OMN第k行的第l列的像素点的像素值;
(7)、设置最大迭代次数maxits,以及聚类中心不发生改变的连续迭代次数convits;设置阻尼系数λ,偏向参数p;
(8)、计算对数域热图像OMN中像素点间的吸引度矩阵R,R=[r(i_j,k_l)]row×col,其中,吸引度矩阵R中元素[r(i_j,k_l)]的值为:
(9)、计算对数域热图像OMN中像素点间的归属度矩阵A,A=[a(i_j,k_l)]row×col,其中,归属度矩阵A中元素a(i_j,k_l)的值为:
当i_j≠k_l时,
当i_j=k_l时,
(10)、计算第t次迭代后,矩阵R和矩阵A中r(t)(i_j,k_l)和a(t)(i_j,k_l)的值;
当i_j≠k_l时,
当i_j=k_l时,
再将r(t)(i_j,i_j)+a(t)(i_j,i_j)>0的像素点i_j作为聚类中心;
(11)、判断当前迭代次数t是否达到最大迭代次数maxits或达到迭代聚类中心不发生改变的次数convits,如果达到,则迭代停止,输出各个聚类中心;如果没有达到,则返回步骤(10);
(12)、根据各聚类中心对对数域热图像OMN进行AP聚类,得到对各聚类区域,再分别对各聚类区域中的像素点计算平均像素值,最后再对各聚类区域的平均像素值求取平均值,得到反映承压设备亚表面缺陷区域。
本发明的发明目的是这样实现的:
本发明基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法,运用涡流热成像平台对承压设备的亚表面缺陷进行可视化自动检测,具体讲,先对得到的热成像视频流数据,通过对数域处理,构建时间与温度的线性关系,然后通过计算出最大的标准差,提取缺陷可视化效果最好的热图像,接着,结合热传播的特点,通过“行归一化”消除热量在纵向上(与加热线圈垂直的方向)的不均匀,从而得到较好的承压设备亚表面缺陷可视化效果;为了将亚表面缺陷自动检测出来,引入了对数域AP聚类方法对处理的热图像进行聚类分析,这样不但使承压设备亚表面缺陷检测的可视化效果好,而且减少了人为的经验判断,方便实用,能满足工业检测的需求,具有一定的意义。
同时,本发明基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法还具有以下有益效果:
(1)、对承压设备的亚表面的缺陷热图像使用“对数域”和行归一化方法,解决了亚表面缺陷检测时,试件热量纵向(与加热线圈垂直的方向)上的不均匀的问题,使得亚表面缺陷可视化差的问题得以解决。
(2)、运用AP聚类自动提取亚表面缺陷区域。运用到对数域热图像OMN的AP聚类方法,无需提前输入聚类数目,即无需提前知道热图像中的亚表面缺陷数目这一先验知识。这与实际使用条件相契合,很好的解决了缺陷区域提取过程中缺陷数目未知的难题。
(3)、此外,本方法中,由于AP聚类方法鲁棒性好,对初始值不敏感,所以本方法具有提取的缺陷区域结果稳定的优点。
附图说明
图1是承压设备的各种缺陷示意图;
图2是本发明基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法图;
图3是被测试件(a)、(b)的示意图;
图4是被测试件(a)的尺寸示意图;
图5是被测试件(b)的尺寸示意图;
图6是被测试件(a)、(b)的原始红外热像图;
图7是原始红外热像图序列转换为三维热图像序列流程图;
图8是三种热图像对比图;
图9是通过本发明所述方法提取的热图像结果图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的具体实施方式进行描述,以便本领域的技术人员更好地理解本发明。需要特别提醒注意的是,在以下的描述中,当已知功能和设计的详细描述也许会淡化本发明的主要内容时,这些描述在这里将被忽略。
实施例
图2是本发明基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法图。
在本实施例中,如图1所示,本发明一种基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法,包括以下步骤:
S1、数据预处理
采集图3所示的被测试件(a)、(b)的红外热图像序列,具体尺寸分别如图4和图5所示。被测试件(a)、(b)的材料为钢,试件中设计了不同深度的亚表面缺陷。亚表面缺陷的深度分别是:被测试件(a)1mm-5mm和被测试件(b)5mm-9mm。
对被测试件(a)、(b)进行涡流加热5s,得到的原始红外热图像,如图6所示。从图6可以看到,在亚表面缺陷上方的热成像较为高亮,但是不是特别明显。
按照图7所示流程,将获取的原始热图像序列O(t)调整为M×N×T的三维热图像序列O3D(t),其中,M和N分别表示热图像的行和列,T表示热图像的张数,t=1,2,3,…T;
S2、构建O3D(t)的时间和温度线性关系
对三维热图像序列O3D(t)的时间轴和温度值取对数域计算,得到对数域热图像序列Oln(t),其中,第ln(t)帧热图像的第i行第j列像素点的像素值Oln,ij(t)=ln(O3D,ij(t));
S3、计算对数域热图像序列Oln(t)中每一帧对数域热图像的标准差S(t);
其中,为Oln(t)中所有像素点像素值的平均值;
S4、在对数域热图像序列Oln(t)中,选出标准差S(t)最大的一帧对数域热图像Oln(t),并记为OM;
S5、对OM进行行归一化处理
对OM的每一行进行行归一化处理,消除纵向上热量传导的不均匀,得到归一化的对数域热图像OMN,其中,OMNij为OM中第i行第j列像素点的像素归一化值;
其中,OMimax和OMimin为OM中第i行像素点的像素最大值和像素最小值;
在本实施例中,将被测试件(a)、(b)的“原始热图像”、“对数域处理后的热图像”和“对数域行归一化处理后的热图像”进行对比,其对比图如图8所示,通过对比发现,经过对数域处理后,“对数域处理后的热图像”比“原始热图像”的高亮区域得到加深,即亚表面缺陷区域显示的更明显。实验结果与理论相符,验证了对数域处理的有效性。再对比“对数域行归一化处理后的热图像”和“对数域处理后的热图像”,可以看到“对数域行归一化处理后的热图像”比“对数域处理后的热图像”在纵向上的热量分布更加均衡,这和理论分析的一致。实验结果与理论相符,因此本发明设计的算法可以运用于承压设备亚表面缺陷定性检测,本算法具有快速高效和可视化强的特点。
S6、计算对数域热图像OMN中像素点间的相似度矩阵S,S=[s(i_j,k_l)]row×col,像素点的相似度矩阵包含OMN中各个像素点之间的相似度,其值通过计算两个像素点的像素差得到,其中,i_j表示OMN中第i行的第j列的像素点,k_l表示OMN中第k行的第l列的像素点,i≠k,j≠l,row=col=M×N;s(i_j,k_l)表示第i行的第j列的像素点与第k行的第l列的像素点的相似度;
s(i_j,k_l)=-||OMNi_j-OMNk_l||2
其中,OMNi_j表示OMN第i行的第j列的像素点的像素值,OMNk_l表示OMN第k行的第l列的像素点的像素值;
S7、设置最大迭代次数maxits=1000次,以及聚类中心不发生改变的连续迭代次数convits=100;设置阻尼系数λ,λ满足:λ∈(0,1);设置偏向参数值p,p满足:
其中,s(i-j,i-j)表示相似度矩阵S中对角线上像素点的像素值。
在本实施例中,选取p=2×min(s(i_j,k_l)),λ=0.9。
S8、计算对数域热图像OMN中像素点间的吸引度矩阵R,R=[r(i_j,k_l)]row×col,其中,吸引度矩阵R中元素[r(i_j,k_l)]的值为:
S9、计算对数域热图像OMN中像素点间的归属度矩阵A,A=[a(i_j,k_l)]row×col,其中,归属度矩阵A中元素a(i_j,k_l)的值为:
当i_j≠k_l时,
当i_j=k_l时,
S10、计算第t次迭代后,矩阵R和矩阵A中r(t)(i_j,k_l)和a(t)(i_j,k_l)的值;
当i_j≠k_l时,
当i_j=k_l时,
再将r(t)(i_j,i_j)+a(t)(i_j,i_j)>0的像素点i_j作为聚类中心;
S11、判断当前迭代次数t是否达到最大迭代次数maxits或达到迭代聚类中心不发生改变的次数convits,如果达到,则迭代停止,输出各个聚类中心;如果没有达到,则返回步骤S10;
S12、根据各聚类中心对对数域热图像OMN进行AP聚类,得到对各聚类区域,如图8所示,AP聚类提取的缺陷区域实验结果再分别对各聚类区域中的像素点计算平均像素值,最后再对各聚类区域的平均像素值求取平均值,得到反映承压设备亚表面缺陷区域。
由图9可知,在“对数域行归一化”处理了热图像后,通过“AP聚类”可以很好的提取出热图像中的缺陷区域。即通过“对数域AP聚类”的方法可以很好的自动快速检测出承压设备的亚表面缺陷,可视化效果很好,从而验证了本发明的可行性。
尽管上面对本发明说明性的具体实施方式进行了描述,以便于本技术领域的技术人员理解本发明,但应该清楚,本发明不限于具体实施方式的范围,对本技术领域的普通技术人员来讲,只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本发明的精神和范围内,这些变化是显而易见的,一切利用本发明构思的发明创造均在保护之列。
Claims (2)
1.一种基于热图像AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)、数据预处理
将获取的热图像序列O(t)调整为M×N×T的三维热图像序列O3D(t),其中,M和N分别表示热图像的行和列,T表示热图像的张数,t=1,2,3,…T;
(2)、构建O3D(t)的时间和温度线性关系
对三维热图像序列O3D(t)的时间轴和温度值取对数域计算,得到对数域热图像序列Oln(t),其中,第ln(t)帧热图像的第i行第j列像素点的像素值Oln,ij(t)=ln(O3D,ij(t));
(3)、计算对数域热图像序列Oln(t)中每一帧对数域热图像的标准差S(t);
其中,为Oln(t)中所有像素点像素值的平均值;
(4)、在对数域热图像序列Oln(t)中,选出标准差S(t)最大的一帧对数域热图像Oln(t),并记为OM;
(5)、对OM进行行归一化处理
对OM的每一行进行行归一化处理,得到归一化的对数域热图像OMN,其中,OMNij为OM中第i行第j列像素点的像素归一一化值;
其中,OMimax和OMimin为OM中第i行像素点的像素最大值和像素最小值;
(6)、计算对数域热图像OMN中像素点间的相似度矩阵S,S=[s(i_j,k_l)]row×col,其中,i_j表示OMN中第i行的第j列的像素点,k_l表示OMN中第k行的第l列的像素点,i≠k,j≠l,row=col=M×N;s(i_j,k_l)表示第i行的第j列的像素点与第k行的第l列的像素点的相似度;
s(i_j,k_l)=-||OMNi_j-OMNk_l||2
其中,OMNi_j表示OMN第i行的第列的像素点的像素值,OMNk_l表示OMN第k行的第l列的像素点的像素值;
(7)、设置最大迭代次数maxits,以及聚类中心不发生改变的连续迭代次数convits;设置阻尼系数λ,偏向参数p;
(8)、计算对数域热图像OMN中像素点间的吸引度矩阵R,R=[r(i_j,k_l)]row×col,其中,吸引度矩阵R中元素[r(i_j,k_l)]的值为:
(9)、计算对数域热图像OMN中像素点间的归属度矩阵A,A=[a(i_j,k_l)]row×col,其中,归属度矩阵A中元素a(i_j,k_l)的值为:
当i_j≠k_l时,
当i_j=k_l时,
(10)、计算第t次迭代后,矩阵R和矩阵A中r(t)(i_j,k_l)和a(t)(i_j,k_l)的值;
当i_j≠k_l时,
当i_j=k_l时,
再将r(t)(i_j,i_j)+a(t)(i_j,i_j)>0的像素点i_j作为聚类中心;
(11)、判断当前迭代次数t是否达到最大迭代次数maxits或达到迭代聚类中心不发生改变的次数convits,如果达到,则迭代停止,输出各个聚类中心;如果没有达到,则返回步骤(10);
(12)、根据各聚类中心对对数域热图像OMN进行AP聚类,得到对各聚类区域,再分别对各聚类区域中的像素点计算平均像素值,最后再对各聚类区域的平均像素值求取平均值,得到反映承压设备亚表面缺陷区域。
2.根据权利要求1所述的一种基于热图像对数域AP聚类的承压设备亚表面缺陷提取方法,其特征在于,所述的阻尼系数λ满足:λ∈(0,1);所述的偏向参数值p的取值为:
其中,s(i-j,i-j)表示相似度矩阵S中对角线上像素点的像素值。
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