CN108540342A - 测试方法、装置及设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试方法、装置及设备,涉及通信技术领域,该方法应用于OTA测试系统,包括:获取用于测试待测终端的多个测试位置;其中,不同测试位置的方位角和/或倾斜角不同;确定多个测试位置的测试顺序;测试顺序中相邻的两个测试位置仅有一个角不同;按照确定的测试顺序对待测终端进行测试,得到待测终端在各测试位置上的测试数据。本发明能够有效提升测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其是涉及一种测试方法、装置及设备。
背景技术
传统的OTA(Over-The-Air,空中)测试通常将待测终端放入OTA暗室内的转台上,在对待测终端进行测试的过程中,转台可以将待测终端旋转到不同的测试位置,并测量得到待测终端在各测试位置的测试数据;其中,每个测试位置都对应一个Phi角度(方位角)和一个Theta角度(倾斜角)。然而现有的OTA测试方法中,测试位置的切换顺序并不合理,致使所需测试时间较长,测试效率较低。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种测试方法、装置及设备,以缩短OTA测试用时,提升测试效率。
第一方面,本发明实施例提供了一种测试方法,包括:获取用于测试待测终端的多个测试位置;其中,不同测试位置的方位角和/或倾斜角不同;确定多个所述测试位置的测试顺序;所述测试顺序中相邻的两个所述测试位置仅有一个角不同;按照确定的所述测试顺序对所述待测终端进行测试,得到所述待测终端在各所述测试位置上的测试数据。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,上述获取用于测试待测终端的多个测试位置的步骤,包括:获取待测试的方位角范围和两个相邻方位角之间的第一角度间隔,根据方位角范围和第一角度间隔确定各个方位角;获取待测试的倾斜角范围和两个相邻倾斜角之间的第二角度间隔,根据倾斜角范围和第二角度间隔确定各个倾斜角;基于确定的各个方位角和各个倾斜角,确定用于测试待测终端的多个测试位置。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,上述确定多个测试位置的测试顺序的步骤,包括:将多个测试位置划分为N个测试组;其中,N等于倾斜角个数;每个测试组所包含的测试位置的倾斜角相同但方位角不同;不同测试组对应的倾斜角不同;确定N个测试组的组测试顺序;其中,组测试顺序中的测试组按照倾斜角由小到大的顺序排列;根据组测试顺序,确定各个测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;子测试顺序中的测试位置按照方位角由小到大排列或者按照方位角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的方位角相同;且1≤i≤N-1;基于子测试顺序和组测试顺序,确定多个测试位置的测试顺序。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式,其中,上述确定多个测试位置的测试顺序的步骤,包括:将多个测试位置划分为M个测试组;其中,M等于方位角个数;每个测试组所包含的测试位置的方位角相同但倾斜角不同;不同测试组对应的方位角不同;确定M个测试组的组测试顺序;其中,组测试顺序中的测试组按照方位角由小到大的顺序排列;根据组测试顺序,确定各个测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;子测试顺序中的测试位置按照倾斜角由小到大排列或者按照倾斜角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的倾斜角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的倾斜角相同;且1≤i≤M-1;基于子测试顺序和组测试顺序,确定多个测试位置的测试顺序。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式,其中,上述按照确定的测试顺序对待测终端进行测试的步骤,包括:控制转台按照测试顺序将待测终端依次旋转至各测试位置,并获取待测终端在各测试位置的测试数据。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式,其中,上述方法还包括;根据待测终端在各测试位置上的测试数据,确定待测终端的发射性能和/或灵敏度性能。
第二方面,本发明实施例还提供一种测试装置,包括:位置获取模块,用于获取用于测试待测终端的多个测试位置;其中,不同测试位置的方位角和/或倾斜角不同;顺序确定模块,用于确定多个测试位置的测试顺序;测试顺序中相邻的两个测试位置仅有一个角不同;测试模块,用于按照确定的测试顺序对待测终端进行测试,得到待测终端在各测试位置上的测试数据。
结合第二方面,本发明实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式,其中,上述顺序确定模块用于:将多个测试位置划分为N个测试组;其中,N等于倾斜角个数;每个测试组所包含的测试位置的倾斜角相同但方位角不同;不同测试组对应的倾斜角不同;确定N个测试组的组测试顺序;其中,组测试顺序中的测试组按照倾斜角由小到大的顺序排列;根据组测试顺序,确定各个测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;子测试顺序中的测试位置按照方位角由小到大排列或者按照方位角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的方位角相同;且1≤i≤N-1;基于子测试顺序和组测试顺序,确定多个测试位置的测试顺序。
结合第二方面,本发明实施例提供了第二方面的第二种可能的实施方式,其中,上述顺序确定模块用于:将多个测试位置划分为M个测试组;其中,M等于方位角个数;每个测试组所包含的测试位置的方位角相同但倾斜角不同;不同测试组对应的方位角不同;确定M个测试组的组测试顺序;其中,组测试顺序中的测试组按照方位角由小到大的顺序排列;根据组测试顺序,确定各个测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;子测试顺序中的测试位置按照倾斜角由小到大排列或者按照倾斜角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的倾斜角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的倾斜角相同;且1≤i≤M-1;基于子测试顺序和组测试顺序,确定多个测试位置的测试顺序。
第三方面,本发明实施例还提供一种测试设备,包括存储器以及处理器,存储器用于存储支持处理器执行上述第一方面任一项的方法的程序,处理器被配置为用于执行存储器中存储的程序。
本发明实施例提供了一种测试方法、装置及设备,能够确定获取的方位角和/或倾斜角不同的多个测试位置的测试顺序,其中,该测试顺序中相邻的两个测试位置仅有一个角不同;从而可按照确定的测试顺序对待测终端进行测试,得到待测终端在各测试位置上的测试数据。本发明实施例能够对多个测试位置的测试顺序进行合理设置,使相邻的两个测试位置仅有一个角不同,每次仅需切换一个角度即可至下一测试位置,节约了切换时间,进一步缩短了测试时间,有效提升了测试效率。
本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种转台的侧视图;
图2为本发明实施例提供的一种转台的俯视图;
图3为本发明实施例提供的一种测试方法的流程图;
图4为本发明实施例提供的一种测试顺序的确定方法流程图;
图5为本发明实施例提供的一种测试装置的结构框图;
图6为本发明实施例提供的一种测试设备的结构示意图。
图标:
10-水平支架;20-竖直支架;100-转台;200-待测终端。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
考虑到现有的OTA测试方法由于测试位置的顺序设置并不合理,导致测试效率较低,为改善此问题,本发明实施例提供了一种测试方法、装置及设备,可应用于OTA测试场景。为便于理解,以下对本发明实施例进行详细介绍,
本发明实施例提及的测试方法、装置及设备可用于OTA测试系统中,OTA测试系统主要包括暗室、设置于暗室外的基站仿真器、频谱分析仪、主控计算机等,其中暗室内设置有转台、暗室天线等。OTA测试系统的具体结构可参照相关技术,在此不再赘述。由于需要通过转台将待测终端旋转至不同的测试位置,为便于理解,以下仅对转台的结构以及工作原理进行详细说明。
参照图1所示的一种转台的侧视图,示出了转台100,转台100上设置有竖直支架20和水平支架10;其中,图1中还简单示意了固定在水平支架10上的待测终端200。为便于理解,本实施例还提供了图2所示的一种转台的俯视图;在图2中示意出了转台100上固定待测终端200的水平支架10。当然,图1和图2仅是为便于理解的示意性简图,实际应用时,转台还可以包括更多或更少的部件,转台在转动过程中,可以由电机等驱动部件进行控制,使竖直支架和水平支架能够自动旋转;而且转台的水平支架和竖直支架的旋转角速度大小、旋转过程中何时停止或何时开始等均可采用相关器件进行控制。
转台的具体工作原理为:竖直支架可沿着转台的圆周边进行转动,其中,竖直支架可以简称为Theta转动轴,竖直支架转动的角度可以用Theta角表示,诸如,该Theta角通常可以是0度到180度之间,当然,也可以为0度到360度之间,或者是设定的其它角度范围,在此不进行限制。水平支架可绕自身轴(具体可以是以竖直支架为轴)进行转动;其中,水平支架可以简称为Phi转动轴,水平支架转动的角度可以用Phi角表示,诸如,该Phi角通常可以是0度到360度之间,或者是设定的其它角度范围,在此不进行限制。由图1和图2可见,转台可随着水平支架和竖直支架的旋转运动,而将待测终端转至不同的测试位置;可以理解的是,每个测试位置对应的Phi角和/或Theta角不同。OTA测试过程也是获取待测终端在每个测试位置的测试数据的过程,由于测试位置的数量有多个,测试位置的测试顺序也是影响测试效率的关键因素所在。而在现有技术中,经常涉及到两个相邻的测试位置的Phi角和Theta角均不同,诸如,Theta角为0度时,Phi角以45度为步长进行0~360度范围内的测试,Phi角测试到315度时,需要Theta角切换到45度,然后Phi角从315度再切换到0度并继续进行0~360范围内的测试,这样每次在Theta角切换时,都需要同时改变Theta角和Phi角,切换两个角需耗费较多的时间,测试效率较低。
本实施例首先提供了一种测试方法,参见图3所示一种测试方法的流程图,该方法应用于OTA测试系统,该方法具体可以由诸如计算机、控制器等智能终端执行,该方法包括:
步骤S302,获取用于测试待测终端的多个测试位置;其中,不同测试位置的方位角和/或倾斜角不同。也即,不同测试位置可能仅有一个角不同,也可能两个角都不同。待测终端可以为天线,也可以为手机、平板电脑或其它包含有天线的电子设备,转台可将待测终端依次运动到不同的Theta角度(即倾斜角)和Phi角度(即方位角)。
步骤S304,确定多个测试位置的测试顺序;该测试顺序中相邻的两个测试位置仅有一个角不同。也即,给多个测试位置进行排序的依据为:相邻的两个测试位置仅有一个角不同。如果每次仅改变一个角,便可缩短不同测试位置之间的切换时间。
步骤S306,按照确定的测试顺序对待测终端进行测试,得到待测终端在各测试位置上的测试数据。也即,按照确定的测试顺序将待测终端切换至各测试位置,并进行测试。具体的,可以控制转台按照测试顺序将待测终端依次旋转至各测试位置,并获取待测终端在各测试位置的测试数据。实际应用中,每当所述待测终端旋转至一个当前测试位置时,获取待测终端在当前测试位置的测试数据;在当前测试位置的测试数据获取完毕后,再将待测终端旋转至下一测试位置进行测试,直至测试顺序中的最后一个测试位置测试完毕。在实际应用中,测试数据可以为接收功率测试值或者发射功率测试值,当然也可以为其它OTA测试系统中所需的其它参数,可根据实际需求而设置,在此不进行限制。
本发明实施例提供的上述测试方法,能够确定获取的方位角和/或倾斜角不同的多个测试位置的测试顺序,其中,该测试顺序中相邻的两个测试位置仅有一个角不同;进而可按照确定的测试顺序对待测终端进行测试,得到待测终端在各测试位置上的测试数据。本发明实施例能够对多个测试位置的测试顺序进行合理设置,使相邻的两个测试位置仅有一个角不同,每次仅需切换一个角度即可至下一测试位置,节约了切换时间,进一步缩短了测试时间,有效提升了测试效率。
考虑到发射性能和灵敏度性能是反映待测终端的关键指标,本实施例提供的上述方法还包括;根据待测终端在各测试位置上的测试数据,确定待测终端的发射性能和/或灵敏度性能。在该方法中,测试数据可以为接收功率测试值或者发射功率测试值。在实际应用中,可以将各测试位置上测试所得的发射功率测试值采用TRP(Total Radiated Power,总辐射功率)算法确定待测终端的发射性能,也可以将各测试位置上测试所得的接收功率测试值采用TIS(Total Isotropic Sensitivity,总全向灵敏度)算法确定灵敏度性能。当然,以上仅为示例,不局限于仅分析确定待测终端的发射性能和灵敏度性能,OTA测试中所需的任何测试数据或基于该测试数据进行分析所得的分析结果均包含在本实施例的保护范围之内。
在实际应用中,本实施例给出了一种获取用于测试待测终端的多个测试位置的具体实施方式,包括如下步骤:
(1)获取待测试的方位角范围和两个相邻方位角之间的第一角度间隔,根据方位角范围和第一角度间隔确定各个方位角。方位角范围可以为0~360度,当然也可以是其它任意的角度范围,根据每次测量要求不同,设定的方位角范围不同;第一角度间隔可以根据需求而灵活设置,诸如设置为20度、30度、45度、60度或者其它角度,角度间隔也可以解释为步长。基于确定的第一角度间隔(步长)以及方位角范围,即可确定各个方位角,诸如,以45度为步长,方位角范围为0~360度,则各个方位角分别为0度、45度、90度、135度、180度、225度、270度和315度。
(2)获取待测试的倾斜角范围和两个相邻倾斜角之间的第二角度间隔,根据倾斜角范围和第二角度间隔确定各个倾斜角。倾斜角范围可以为0~180度,当然也可以是其它任意的角度范围,根据每次测量的要求不同,设定的倾斜角范围不同,第二角度间隔根据需求而灵活设置,诸如设置为20度、30度、45度、60度或者其它角度。基于确定的第二角度间隔(步长)以及倾斜角范围,即可确定各个倾斜角,诸如,以45度为步长,倾斜角范围为0~180度,则各个倾斜角分别为0度、45度、90度和135度。
(3)基于确定的各个方位角和各个倾斜角,确定用于测试待测终端的多个测试位置。通过确定了测试范围,测试的步长就可以确定每个测试位置的方位角和倾斜角。将确定的方位角和倾斜角两两组合,即可得到多个方位角和/或倾斜角不同的测试位置。
在实际应用中,本实施例提供了两种确定多个测试位置的测试顺序的具体实施方式:
方式一:
参照图4所示的一种测试顺序的确定方法流程图,包括如下步骤:
步骤S402,将多个测试位置划分为N个测试组。其中,N等于倾斜角个数;每个测试组所包含的测试位置的倾斜角相同但方位角不同;不同测试组对应的倾斜角不同。
步骤S404,确定N个测试组的组测试顺序。其中,组测试顺序中的测试组按照倾斜角由小到大的顺序排列。
步骤S406,根据组测试顺序,确定各个测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;子测试顺序中的测试位置按照方位角由小到大排列或者按照方位角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的方位角相同;且1≤i≤N-1。
步骤S408,基于子测试顺序和组测试顺序,确定多个测试位置的测试顺序。
通过上述方式,即可确保所得到的测试顺序中,相邻的两个测试位置仅有一个角不同。
为了便于理解,在此举例说明,假定倾斜角范围是0~180度,方位角范围是0~360度;第一角度间隔和第二角度间隔均为45度,也即以45度为步长,确定待测试的倾斜角(Theta)为0度、45度、90度和135度;确定待测试的方位角(Phi)为0度、45度、90度、135度、180度、225度、270度和315度。参见表1所示的第一种测试顺序表。
表1:第一种测试顺序表
如表1所示,将所有的测试位置划分为4个测试组(也即,N=4),分别对应Theta=0度的第一测试组、Theta=45度的第二测试组、Theta=90度的第三测试组、Theta=135度的第四测试组;每个测试组都包含Phi=0度、Phi=45度、Phi=90度、Phi=135度、Phi=180度、Phi=225度、Phi=270度和Phi=315度。组测试顺序按照倾斜角由小到大顺序排列,排列顺序为第一测试组、第二测试组、第三测试组和第四测试组。确定组测试顺序后,即可确定各组测试顺序中所包含的Phi角的子测试顺序。第一测试组(Theta为0度)中令Phi由小到大排列,也即Phi从0度开始测试到315度,第一测试组对应的子测试顺序为表1中的1~8;第一测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角(Phi=315度)与第二测试组(Theta=45度)对应的子测试顺序的第一次测试位置的方位角相同,此时相当于确定了第二个测试组中子测试顺序的第一个测量位置(Phi=315度),因此令Phi由小到大排列,也即Phi从315度开始测试到0度,第二测试组对应的子测试顺序为表1中的9~16;第二个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角(Phi=0度)与第三测试组(Theta=90度)对应的子测试顺序的第一个测试位置的方位角相同,此时相当于确定了第三个测试组中子测试顺序的第一个测量位置(Phi=0度),进而令Phi由小到大排列,也即Phi从0度开始测试到315度,第二测试组对应的子测试顺序为表1中的17~24,同理,最后再确定第四测试组(Theta为135度)对应的子测试顺序为Phi从315度开始测试到0度,对应表1中的25~32。
表1中完整示意出了由4个Theta角、8个倾斜角组合而成的32个测试位置的测试顺序1~32;以便于在OTA测试过程中,可控制转台直接按照表1所示的测试顺序将待测终端从第1个测试位置旋转至第32个测试位置,并获取各个测试位置对应的测试数据即可。采用上述测试顺序,每个测试位置在切换至下一个测试位置时只改变一个角度,诸如组内切换时Theta固定,只改变Phi角,切换至下个测试组的衔接位置时Phi角固定,只改变Theta角。通过这种方式,可以避免每次需要切换两个角度而耗时较长的问题,有效减少了切换时间,提高了测试效率。
方式二:
上述方式一主要是基于倾斜角确定测试组,本方式与方式一相比,主要是基于方位角确定测试组;具体可包括如下步骤:
(1)将多个测试位置划分为M个测试组。其中,M等于方位角个数;每个测试组所包含的测试位置的方位角相同但倾斜角不同;不同测试组对应的方位角不同。
(2)确定M个测试组的组测试顺序。其中,组测试顺序中的测试组按照方位角由小到大的顺序排列。
(3)根据组测试顺序,确定各个测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;子测试顺序中的测试位置按照倾斜角由小到大排列或者按照倾斜角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的倾斜角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的倾斜角相同;且1≤i≤M-1;
(4)基于子测试顺序和组测试顺序,确定多个测试位置的测试顺序。
通过上述方式,即可确保所得到的测试顺序中,相邻的两个测试位置仅有一个角不同。
为便于理解,同时与方式一的示例相对应,仍旧设定待测试的倾斜角(Theta)为0度、45度、90度和135度;确定待测试的方位角(Phi)为0度、45度、90度、135度、180度、225度、270度和315度。参见表2所示的第二种测试顺序表。
表2:第二种测试顺序表
如表2所示,将所有的测试位置划分为8个测试组(也即,M=8),分别为Phi=0度的第一测试组、Phi=45度的第二测试组…依次类推直至Phi=315度的第八测试组;每个测试组都包含Theta=0度、Theta=45度、Theta=90度和Theta=135度。组测试顺序按照方位角由小到大顺序排列,排列顺序为第一测试组、第二测试组…顺至第八测试组。确定组测试顺序后,即可确定各组测试顺序中所包含的Theta角的子测试顺序。第一测试组(Phi=0度)中令Theta由小到大排列,也即Theta从0度开始测试到135度,第一测试组对应的子测试顺序为表2中的1~4;第一测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角(Theta=135度)与第二测试组(Phi=45度)对应的子测试顺序的第一次测试位置的方位角相同,此时相当于确定了第二个测试组中子测试顺序的第一个测量位置(Theta=135度),因此令Theta由大到小排列,也即Theta从135度开始测试到0度,第二测试组对应的子测试顺序为表2中的5~8;后续其它测试组对应子测试顺序也是同理可得,具体可参照表2所示的各测试位置对应的顺序号,在此不再赘述。
表2中完整示意出了由4个Theta角、8个倾斜角组合而成的32个测试位置的测试顺序1~32;以便于在OTA测试过程中,可控制转台直接按照表2所示的测试顺序将待测终端从第1个测试位置旋转至第32个测试位置,并获取各个测试位置对应的测试数据即可。采用上述测试顺序,每个测试位置在切换至下一个测试位置时只改变一个角度,诸如组内切换时Phi固定,只改变Theta角,切换至下个测试组的衔接位置时Theta角固定,只改变Phi角。通过这种方式,可以避免每次需要切换两个角度而耗时较长的问题,有效减少了切换时间,提高了测试效率。
综上所述,本实施例提供的上述测试方法,通过对多个测试位置的测试顺序进行合理设置,使相邻的两个测试位置仅有一个角不同,每次仅需切换一个角度即可至下一测试位置,能够较好地节约切换时间,进一步缩短测试时间,从而有效提升了测试效率。
对应于前述测试方法,本实施例又提供了一种测试装置,该装置应用于OTA测试系统,参照图5所示的一种测试装置的结构框图,包括:
位置获取模块502,用于获取用于测试待测终端的多个测试位置;其中,不同测试位置的方位角和/或倾斜角不同;
顺序确定模块504,用于确定多个测试位置的测试顺序;测试顺序中相邻的两个测试位置仅有一个角不同;
测试模块506,用于按照确定的测试顺序对待测终端进行测试,得到待测终端在各测试位置上的测试数据。
本发明实施例提供的上述测试装置,能够确定获取的方位角和/或倾斜角不同的多个测试位置的测试顺序,其中,该测试顺序中相邻的两个测试位置仅有一个角不同;从而可按照确定的测试顺序对待测终端进行测试,得到待测终端在各测试位置上的测试数据。本发明实施例能够对多个测试位置的测试顺序进行合理设置,使相邻的两个测试位置仅有一个角不同,每次仅需切换一个角度即可至下一测试位置,节约了切换时间,进一步缩短了测试时间,有效提升了测试效率。
在具体实施时,上述位置获取模块502进一步用于:获取待测试的方位角范围和两个相邻方位角之间的第一角度间隔,根据所述方位角范围和所述第一角度间隔确定各个方位角;获取待测试的倾斜角范围和两个相邻倾斜角之间的第二角度间隔,根据所述倾斜角范围和所述第二角度间隔确定各个倾斜角;基于确定的各个所述方位角和各个所述倾斜角,确定用于测试待测终端的多个测试位置。在一种实施方式中,上述顺序确定模块504用于:
将多个测试位置划分为N个测试组;其中,N等于倾斜角个数;每个测试组所包含的测试位置的倾斜角相同但方位角不同;不同测试组对应的倾斜角不同;
确定N个测试组的组测试顺序;其中,组测试顺序中的测试组按照倾斜角由小到大的顺序排列;
根据组测试顺序,确定各个测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;子测试顺序中的测试位置按照方位角由小到大排列或者按照方位角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的方位角相同;且1≤i≤N-1;
基于子测试顺序和组测试顺序,确定多个测试位置的测试顺序。
在另一种实施方式中,上述顺序确定模块504用于:
将多个测试位置划分为M个测试组;其中,M等于方位角个数;每个测试组所包含的测试位置的方位角相同但倾斜角不同;不同测试组对应的方位角不同;
确定M个测试组的组测试顺序;其中,组测试顺序中的测试组按照方位角由小到大的顺序排列;
根据组测试顺序,确定各个测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;子测试顺序中的测试位置按照倾斜角由小到大排列或者按照倾斜角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的倾斜角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的倾斜角相同;且1≤i≤M-1;
基于子测试顺序和组测试顺序,确定多个测试位置的测试顺序。
进一步,本实施例还提供了另一种测试装置,在前述测试装置的基础上,还包括连接在测试模块之后的性能确定模块,用于根据待测终端在各个待测位置上的测试数据,确定待测终端的发射性能和/或灵敏度性能。
本实施例所提供的装置,其实现原理及产生的技术效果和前述实施例相同,为简要描述,装置实施例部分未提及之处,可参考前述方法实施例中相应内容。
对应于前述测试方法,本实施例还提供了一种测试设备,包括存储器以及处理器,存储器用于存储支持处理器执行前述任一项测试方法的程序,处理器被配置为用于执行存储器中存储的程序。该测试设备可直接应用于OTA测试系统中。
进一步,本实施例还提供了一种计算机存储介质,用于储存为本实施例提供的测试方法所用的计算机软件指令。
图6为本发明实施例提供的一种测试设备的结构示意图,包括:处理器60,存储器61,总线62和通信接口63,处理器60、通信接口63和存储器61通过总线62连接;处理器60用于执行存储器61中存储的可执行模块,例如计算机程序。
其中,存储器61可能包含高速随机存取存储器(RAM,Random Access Memory),也可能还包括非不稳定的存储器(non-volatile memory),例如至少一个磁盘存储器。通过至少一个通信接口63(可以是有线或者无线)实现该系统网元与至少一个其他网元之间的通信连接,可以使用互联网,广域网,本地网,城域网等。
总线62可以是ISA总线、PCI总线或EISA总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,图6中仅用一个双向箭头表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
其中,存储器61用于存储程序,处理器60在接收到执行指令后,执行程序601,前述本发明实施例任一实施例揭示的流过程定义的装置所执行的方法可以应用于处理器60中,或者由处理器60实现。
处理器60可能是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。在实现过程中,上述方法的各步骤可以通过处理器60中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器60可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,简称CPU)、网络处理器(Network Processor,简称NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital SignalProcessing,简称DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,简称ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成,或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器,闪存、只读存储器,可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器61,处理器60读取存储器61中的信息,结合其硬件完成上述方法的步骤。
本发明实施例所提供的测试方法、装置及设备的计算机程序产品,包括存储了处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读存储介质,所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法,具体实现可参见方法实施例,在此不再赘述。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上所述实施例,仅为本发明的具体实施方式,用以说明本发明的技术方案,而非对其限制,本发明的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种测试方法,其特征在于,所述方法应用于OTA测试系统,所述方法包括:
获取用于测试待测终端的多个测试位置;其中,不同测试位置的方位角和/或倾斜角不同;
确定多个所述测试位置的测试顺序;所述测试顺序中相邻的两个所述测试位置仅有一个角不同;
按照确定的所述测试顺序对所述待测终端进行测试,得到所述待测终端在各所述测试位置上的测试数据。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取用于测试待测终端的多个测试位置的步骤,包括:
获取待测试的方位角范围和两个相邻方位角之间的第一角度间隔,根据所述方位角范围和所述第一角度间隔确定各个方位角;
获取待测试的倾斜角范围和两个相邻倾斜角之间的第二角度间隔,根据所述倾斜角范围和所述第二角度间隔确定各个倾斜角;
基于确定的各个所述方位角和各个所述倾斜角,确定用于测试待测终端的多个测试位置。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定多个所述测试位置的测试顺序的步骤,包括:
将多个所述测试位置划分为N个测试组;其中,N等于倾斜角个数;每个所述测试组所包含的测试位置的倾斜角相同但方位角不同;不同所述测试组对应的倾斜角不同;
确定N个所述测试组的组测试顺序;其中,所述组测试顺序中的测试组按照倾斜角由小到大的顺序排列;
根据所述组测试顺序,确定各个所述测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;所述子测试顺序中的测试位置按照方位角由小到大排列或者按照方位角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的方位角相同;且1≤i≤N-1;
基于所述子测试顺序和所述组测试顺序,确定多个所述测试位置的测试顺序。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定多个所述测试位置的测试顺序的步骤,包括:
将多个所述测试位置划分为M个测试组;其中,M等于方位角个数;每个所述测试组所包含的测试位置的方位角相同但倾斜角不同;不同所述测试组对应的方位角不同;
确定M个所述测试组的组测试顺序;其中,所述组测试顺序中的测试组按照方位角由小到大的顺序排列;
根据所述组测试顺序,确定各个所述测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;所述子测试顺序中的测试位置按照倾斜角由小到大排列或者按照倾斜角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的倾斜角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的倾斜角相同;且1≤i≤M-1;
基于所述子测试顺序和所述组测试顺序,确定多个所述测试位置的测试顺序。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述按照确定的所述测试顺序对所述待测终端进行测试的步骤,包括:
控制转台按照所述测试顺序将所述待测终端依次旋转至各测试位置,并获取所述待测终端在各所述测试位置的测试数据。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括;
根据所述待测终端在各所述测试位置上的测试数据,确定所述待测终端的发射性能和/或灵敏度性能。
7.一种测试装置,其特征在于,所述装置应用于OTA测试系统,所述装置包括:
位置获取模块,用于获取用于测试待测终端的多个测试位置;其中,不同测试位置的方位角和/或倾斜角不同;
顺序确定模块,用于确定多个所述测试位置的测试顺序;所述测试顺序中相邻的两个所述测试位置仅有一个角不同;
测试模块,用于按照确定的所述测试顺序对所述待测终端进行测试,得到所述待测终端在各所述测试位置上的测试数据。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述顺序确定模块用于:
将多个所述测试位置划分为N个测试组;其中,N等于倾斜角个数;每个所述测试组所包含的测试位置的倾斜角相同但方位角不同;不同所述测试组对应的倾斜角不同;
确定N个所述测试组的组测试顺序;其中,所述组测试顺序中的测试组按照倾斜角由小到大的顺序排列;
根据所述组测试顺序,确定各个所述测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;所述子测试顺序中的测试位置按照方位角由小到大排列或者按照方位角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的方位角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的方位角相同;且1≤i≤N-1;
基于所述子测试顺序和所述组测试顺序,确定多个所述测试位置的测试顺序。
9.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述顺序确定模块用于:
将多个所述测试位置划分为M个测试组;其中,M等于方位角个数;每个所述测试组所包含的测试位置的方位角相同但倾斜角不同;不同所述测试组对应的方位角不同;
确定M个所述测试组的组测试顺序;其中,所述组测试顺序中的测试组按照方位角由小到大的顺序排列;
根据所述组测试顺序,确定各个所述测试组中所包含的测试位置的子测试顺序;所述子测试顺序中的测试位置按照倾斜角由小到大排列或者按照倾斜角由大到小排列;其中,第i个测试组对应的子测试顺序中的最后一个测试位置的倾斜角与第i+1个测试组对应的子测试顺序中的第一个测试位置的倾斜角相同;且1≤i≤M-1;
基于所述子测试顺序和所述组测试顺序,确定多个所述测试位置的测试顺序。
10.一种测试设备,其特征在于,包括存储器以及处理器,所述存储器用于存储支持处理器执行权利要求1至6任一项所述方法的程序,所述处理器被配置为用于执行所述存储器中存储的程序。
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