CN108510924A - 显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开是关于一种显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质，涉及电子技术领域，所述显示面板包括：像素阵列，其包括多个子像素，所述多个子像素之间的间隙处具有通孔；以及，光电检测单元，其包括光电检测阵列，所述光电检测阵列对穿过所述通孔射入的光线进行检测。本公开中安装有该显示面板的终端在进行光电检测时，无需在该显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔，而是可以直接通过该显示面板中的光电检测阵列来进行光电检测，从而可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

Description

显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质

技术领域

本公开涉及电子技术领域，尤其涉及一种显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

随着电子技术的飞速发展，诸如手机、平板电脑等终端的功能越来越强大。为了能够实时感应外界环境光线，以据此调整终端的面板中显示区域的亮度，终端中往往设置有光电检测器，来对外界环境光线进行检测。

目前，如图1所示，终端一般会在面板中除显示区域之外的部分区域上设置开孔，在该开孔的下方配置光电检测器。外界环境光线穿过该开孔射入终端后可以被该光电检测器所检测。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种显示面板、光电检测方法、装置及计算机可读存储介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种显示面板，所述显示面板包括：

像素阵列，其包括多个子像素，所述多个子像素之间的间隙处具有通孔；以及，

光电检测单元，其包括光电检测阵列，所述光电检测阵列对穿过所述通孔射入的光线进行检测。

可选地，所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影的至少一部分落入所述像素阵列之内。

可选地，所述通孔中设置有透光材料。

可选地，所述多个子像素为所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素。

可选地，所述光电检测单元被配置以形成用于光电检测器的检测电路的部分。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种光电检测方法，应用于安装有上述第一方面所述的显示面板的终端，所述方法包括：

从所述多个子像素中确定多个目标子像素，所述多个目标子像素为位于所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素；

通过所述光电检测阵列检测穿过所述通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征；

根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征，确定所述终端的外界环境光线的光谱特征。

可选地，所述确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，包括：

确定所述多个目标子像素的像素值；

根据所述像素值确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

可选地，所述根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征，确定所述终端的外界环境光线的光谱特征，包括：

使用所述第二光谱特征对所述第一光谱特征进行反卷积，得到所述终端的外界环境光线的光谱特征。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种光电检测装置，应用于安装有上述第一方面所述的显示面板的终端，所述装置包括：

第一确定模块，用于从所述多个子像素中确定多个目标子像素，所述多个目标子像素为位于所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素；

第二确定模块，用于通过所述光电检测阵列检测穿过所述通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征；

第三确定模块，用于根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征，确定所述终端的外界环境光线的光谱特征。

可选地，所述第二确定模块包括：

第一确定子模块，用于确定所述多个目标子像素的像素值；

第二确定子模块，用于根据所述像素值确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

可选地，所述第三确定模块包括：

反卷积子模块，用于使用所述第二光谱特征对所述第一光谱特征进行反卷积，得到所述终端的外界环境光线的光谱特征。

根据本公开实施例的第四方面，提供一种光电检测装置，应用于安装有上述第一方面所述的显示面板的终端，所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行上述第二方面所述方法的步骤。

根据本公开实施例的第四方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有指令，所述指令被处理器执行时实现上述第二方面所述方法的步骤。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

在本公开实施例中，显示面板包括像素阵列和光电检测单元，像素阵列包括的多个子像素之间的间隙处具有通孔，光电检测单元包括的光电检测阵列对穿过该通孔射入的光线进行检测。安装有该显示面板的终端在进行光电检测时，无需在该显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔，而是可以直接通过该显示面板中的光电检测阵列来进行光电检测，从而可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种终端的结构示意图。

图2A是根据一示例性实施例示出的第一种显示面板的结构示意图。

图2B是根据一示例性实施例示出的一种像素阵列的结构示意图。

图2C是根据一示例性实施例示出的一种光电检测单元的结构示意图。

图2D是根据一示例性实施例示出的一种光线穿过通孔的结构示意图。

图2E是根据一示例性实施例示出的第二种显示面板的结构示意图。

图2F是根据一示例性实施例示出的一种光电检测阵列的结构示意图。

图2G是根据一示例性实施例示出的第三种显示面板的结构示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的一种光电检测方法的流程图。

图4A是根据一示例性实施例示出的另一种光电检测方法的流程图。

图4B是根据一示例性实施例示出的另一种终端的结构示意图。

图5A是根据一示例性实施例示出的一种光电检测装置的框图。

图5B是根据一示例性实施例示出的一种第二确定模块的框图。

图5C是根据一示例性实施例示出的一种第三确定模块的框图。

图6是根据一示例性实施例示出的另一种光电检测装置的框图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。

为了便于理解，在对本公开实施例进行详细的解释说明之前，先对本公开实施例涉及的应用场景进行介绍。

随着电子技术的飞速发展，诸如手机、平板电脑等终端的功能越来越强大。为了能够实时感应外界环境光线，以据此调整终端的面板中显示区域的亮度，终端中往往设置有光电检测器，来对外界环境光线进行检测。目前，如图1所示，终端一般会在面板中除显示区域之外的部分区域上设置开孔，在该开孔的下方配置光电检测器。外界环境光线穿过该开孔射入终端后可以被该光电检测器所检测。由于该开孔在该面板上会占用一定的面积，所以导致显示区域在该面板上占用的面积受限，降低了终端的屏占比，阻挡了终端向全面屏趋势的发展，且影响终端的美观程度。为此，本公开实施例提供了一种显示面板，来增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观程度。

接下来将结合附图对本公开实施例提供的显示面板进行详细说明。

图2A是根据一示例性实施例示出的一种显示面板的结构示意图，参见图2A，该显示面板包括：像素阵列1和光电检测单元2。

其中，参见图2B，像素阵列1包括多个子像素11，该多个子像素11之间的间隙处具有通孔12；

其中，参见图2C，光电检测单元2包括光电检测阵列21；

其中，参见图2D，光电检测阵列21对穿过通孔12射入的光线进行检测。

需要说明的是，像素阵列1用于显示画面，像素阵列1中包括多个像素，每个像素由多个能够发出不同颜色光线的子像素构成，如每个像素可以由一个能够发出红光的R子像素、一个能够发出绿光的G子像素和一个能够发出蓝光的B子像素构成。

另外，像素阵列1包括的多个子像素11中每相邻两个子像素11之间存在间隙，该间隙中设置有通孔12，通孔12可以透过该显示面板外部的光线。实际应用中，通孔12可以为光学微孔，该光学微孔是指能够透过光线且人眼不可见的微小的孔。并且，通孔12中还可以设置有透光材料，即使用透光材料填充通孔12，避免制备该显示面板的过程中其他材料堵塞通孔12。透光材料是指光线可以透过的材料，如透光材料可以是光纤材料等。

需要说明的是，光电检测单元2用于对照射到光电检测阵列21上的光线进行检测。该显示面板外部的光线可以穿过通孔12射入该显示面板后被光电检测阵列21所检测。

另外，在该显示面板正常放置时，像素阵列1可以位于该显示面板中的上方区域，光电检测阵列21可以位于该显示面板中的下方区域，只要保证该显示面板外部的光线可以经过通孔12即可。

再者，该显示面板可以为OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)面板，由于OLED面板中的像素阵列可以自发光，发出的光线可以直接射出OLED面板，而不会向内照射到光电检测阵列21上，从而对该光电检测单元2检测外界环境光线的影响较小。

安装有该显示面板的终端在进行光电检测时，无需在该显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔，而是可以直接通过该显示面板中的光电检测阵列21来进行光电检测，从而可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

需要说明的是，光电检测单元2被配置以形成用于光电检测器的检测电路的部分。光电检测器用于检测光线，此时光电检测单元2可以通过光电检测阵列21来检测外界环境光线。

其中，参见图2E，光电检测阵列21在像素阵列1所在平面上的正投影的至少一部分落入像素阵列1之内。

需要说明的是，光电检测阵列21在像素阵列1所在平面上的正投影可以部分或者全部落入像素阵列1之内，此时光电检测阵列21和像素阵列1均可以位于该显示面板中的同一区域。由于像素阵列1位于该显示面板中用于显示画面的显示区域，所以光电检测阵列21也可以位于该显示面板中的显示区域，从而可以有效避免光电检测阵列21对该显示面板中除显示区域之外的部分区域的占用，进而可以进一步增大显示区域在该显示面板上占用的面积，增大屏占比，提高显示性能。

其中，多个子像素11为光电检测阵列21在像素阵列1所在平面上的正投影内的子像素11。

需要说明的是，设置通孔12是为了使得光线可以穿过该显示面板被光电检测阵列21所检测，因此，发光电检测阵列21在像素阵列1所在平面上的正投影内的子像素11之间的间隙处需要设置有通孔12，也即是，多个子像素11为光电检测阵列21在像素阵列1所在平面上的正投影内的子像素11。

其中，参见图2F，光电检测阵列21包括多个光电检测器211；

其中，参见图2G，多个光电检测器211中的至少一个光电检测器211_a与通孔12之间设置有目标滤光材料。

需要说明的是，目标滤光材料用于滤除外界环境光线。由于目标滤光材料可以滤除外界环境光线，因此该显示面板外部的光线经过目标滤光材料后只剩下子像素11发出的光线，此时至少一个光电检测器211_a检测到的光线即为光电检测阵列21在像素阵列1所在平面上的正投影内的子像素发出的光线。

在本公开实施例中，显示面板包括像素阵列和光电检测单元，像素阵列包括的多个子像素之间的间隙处具有通孔，光电检测单元包括的光电检测阵列对穿过该通孔射入的光线进行检测。安装有该显示面板的终端在进行光电检测时，无需在该显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔，而是可以直接通过该显示面板中的光电检测阵列来进行光电检测，从而可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

接下来将结合附图对本公开实施例提供的光电检测方法进行详细说明。

图3是根据一示例性实施例示出的一种光电检测方法的流程图，如图3所示，该方法应用于安装有上述图2A-图2G任一显示面板的终端，该方法包括以下步骤。

在步骤301中，从多个子像素中确定多个目标子像素，多个目标子像素为位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素。

在步骤302中，通过光电检测阵列检测穿过通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

在步骤303中，根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征。

在本公开实施例中，将多个子像素中位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素确定为目标子像素，由于多个子像素之间的间隙处设置有通孔，因此外界环境光线和目标子像素发出的光线穿过该通孔射入后可以被光电检测阵列所检测。此时，可以通过光电检测阵列检测穿过该通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征。如此，使得该光电检测阵列即使设置在显示面板的显示区域中，也能实现对外界环境光线的准确检测，且由于无需在该显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔来进行光电检测，所以可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

可选地，确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，包括：

确定多个目标子像素的像素值；

根据像素值确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

可选地，根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征，包括：

使用第二光谱特征对第一光谱特征进行反卷积，得到终端的外界环境光线的光谱特征。

上述所有可选技术方案，均可按照任意结合形成本公开的可选实施例，本公开实施例对此不再一一赘述。

图4A是根据一示例性实施例示出的一种光电检测方法的流程图，下面将结合图4A对图3实施例提供的光电检测方法进行展开说明。如图4A所示，该方法应用于安装有上述图2A-图2G任一显示面板的终端，该方法包括以下步骤。

在步骤401中，从多个子像素中确定多个目标子像素。

需要说明的是，多个目标子像素为位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素。

由于通孔设置于像素阵列包括的多个子像素之间的间隙处，所以不止有外界环境光线可以穿过该通孔射入，该多个子像素发出的光线也可能会穿过该通孔射入。因而为了便于后续去除该多个子像素发出的光线在检测外界环境光线时的影响，可以先确定出该多个子像素中发出的光线能够穿过该通孔射入的子像素，也即是确定位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素。

例如，如图4B所示，假设光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影在显示面板中的显示区域中的目标区域，即光电检测阵列设置于目标区域的下方，此时可以将像素阵列中位于目标区域内的子像素确定为目标子像素。

在步骤402中，通过光电检测阵列检测穿过通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

需要说明的是，光谱特征为用于指示光线性质的特征，如光谱特征可以为光线的频率、波长、光强、振幅等，此时第一光谱特征即为光电检测阵列检测到的光线的频率、波长、光强、振幅等，第二光谱特征即为多个目标子像素发出的光线的频率、波长、光强、振幅等。

另外，由于光电检测阵列检测的是穿过通孔射入的光线的第一光谱特征，且外界环境光线和多个目标子像素发出的光线均可以穿过通孔射入而被光电检测阵列检测到，因此第一光谱特征往往是外界环境光线和多个目标子像素发出的光线的混合光线的光谱特征。

其中，确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征的实现过程可以为：确定多个目标子像素的像素值，然后根据该像素值确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

需要说明的是，多个目标子像素的像素值可以指示多个目标子像素发出的光线的颜色，因而根据该像素值可以确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。多个目标子像素的像素值可以根据多个目标子像素中当前正在发出不同颜色光线的子像素的数量确定，如多个目标子像素的像素值可以根据多个目标子像素中正在发出红光的R子像素的数量、正在发出绿光的G子像素的数量和正在发出蓝光的B子像素的数量确定。

其中，根据该像素值确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征时，可以从存储的像素值与光谱特征之间的对应关系中，获取该像素值对应的光谱特征作为第二光谱特征。

当然，在实际应用中，当光线检测阵列包括多个光电检测器，且该多个光电检测器中的至少一个光电检测器与该通孔之间设置有目标滤光材料时，步骤402的实现过程可能还存在如下的实现方式：

通过多个光电检测器中除该至少一个光电检测器之外的光电检测器检测穿过该通孔射入的光线的第一光谱特征，通过该至少一个光电检测器检测多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

需要说明的是，穿过该通孔射入的光线经过目标滤光材料后，外界环境光线将被滤除，只剩下子像素发出的光线，因而该至少一个光电检测器检测到的光线即为多个目标子像素发出的光线，此时即可直接通过该至少一个光电检测器检测多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。而该多个光电检测器中除该至少一个光电检测器之外的光电检测器检测到的光线依旧是穿过该通孔射入的光线，因而可以通过多个光电检测器中除该至少一个光电检测器之外的光电检测器检测穿过通孔射入的光线的第一光谱特征。

值得说明是，通过在该多个光电检测器中的至少一个光电检测器与该通孔之间设置目标滤光材料，可以直接通过该至少一个光电检测器直接检测多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，不需要再进行复杂计算，从而可以节省处理资源，且可以提高检测速度。

在步骤403中，根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征。

需要说明的是，穿过该通孔射入的光线为外界环境光线和多个目标子像素发出的光线的混合光线，也即第一光谱特征为该混合光线的光谱特征，此时第一光谱特征可以为外界环境光线的光谱特征和多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征的卷积，外界环境光线的光谱特征可以为外界环境光线的频率、波长、光强、振幅等。

其中，步骤403的实现过程可以为：使用第二光谱特征对第一光谱特征进行反卷积，得到终端的外界环境光线的光谱特征。

需要说明的是，由于第一光谱特征是外界环境光线的光谱特征和第二光谱特征的卷积，因此外界环境光线的光谱特征为第一光谱特征与第二光谱特征的反卷积。

其中，使用第二光谱特征对第一光谱特征进行反卷积，得到终端的外界环境光线的光谱特征的实现过程可以为：按照如下公式使用第二光谱特征对第一光谱特征进行反卷积，得到终端的外界环境光线的光谱特征：

其中，L(f)为终端的外界环境光线的光谱特征，S(f)为第一光谱特征，O(f)为第二光谱特征，IDFT为逆傅里叶变换，DFT为傅里叶变换。

在本公开实施例中，将多个子像素中位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素确定为目标子像素，由于多个子像素之间的间隙处设置有通孔，因此外界环境光线和目标子像素发出的光线穿过该通孔射入后可以被光电检测阵列所检测。此时，可以通过光电检测阵列检测穿过该通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征。如此，使得该光电检测阵列即使设置在显示面板的显示区域中，也能实现对外界环境光线的准确检测，且由于无需在该显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔来进行光电检测，所以可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

图5A是根据一示例性实施例示出的一种光电检测装置的框图。参见图5A，该装置应用于安装有上述图2A-图2G任一显示面板的终端，该装置包括第一确定模块501，第二确定模块502和第三确定模块503。

第一确定模块501，用于从多个子像素中确定多个目标子像素，多个目标子像素为位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素。

第二确定模块502，用于通过光电检测阵列检测穿过通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

第三确定模块503，用于根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征。

可选地，参见图5B，第二确定模块502包括：

第一确定子模块5021，用于确定多个目标子像素的像素值。

第二确定子模块5022，用于根据像素值确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

可选地，参见图5C，第三确定模块503包括：

反卷积子模块5031，用于使用第二光谱特征对第一光谱特征进行反卷积，得到终端的外界环境光线的光谱特征。

在本公开实施例中，将多个子像素中位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素确定为目标子像素，由于多个子像素之间的间隙处设置有通孔，因此外界环境光线和目标子像素发出的光线穿过该通孔射入后可以被光电检测阵列所检测。此时，可以通过光电检测阵列检测穿过该通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征。如此，使得该光电检测阵列即使设置在显示面板的显示区域中，也能实现对外界环境光线的准确检测，且由于无需在显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔来进行光电检测，所以可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

图6是根据一示例性实施例示出的一种光电检测装置600的框图。例如，装置600可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图6，装置600可以包括以下一个或多个组件：处理组件602，存储器604，电源组件606，多媒体组件608，音频组件610，输入/输出(I/O)的接口612，传感器组件614，以及通信组件616。

处理组件602通常控制装置600的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件602可以包括一个或多个处理器620来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件602可以包括一个或多个模块，便于处理组件602和其他组件之间的交互。例如，处理组件602可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件608和处理组件602之间的交互。

存储器604被配置为存储各种类型的数据以支持在装置600的操作。这些数据的示例包括用于在装置600上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器604可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件606为装置600的各种组件提供电源。电源组件606可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置600生成、管理和分配电源相关联的组件。

多媒体组件608包括在所述装置600和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件608包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置600处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件610被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件610包括一个麦克风(MIC)，当装置600处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器604或经由通信组件616发送。在一些实施例中，音频组件610还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口612为处理组件602和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件614包括一个或多个传感器，用于为装置600提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件614可以检测到装置600的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置600的显示器和小键盘，传感器组件614还可以检测装置600或装置600一个组件的位置改变，用户与装置600接触的存在或不存在，装置600方位或加速/减速和装置600的温度变化。传感器组件614可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件614还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件614还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件616被配置为便于装置600和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置600可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件616经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件616还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置600可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述图3或图4A所示实施例提供的方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器604，上述指令可由装置600的处理器620执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由终端的处理器执行时，使得终端能够执行一种光电检测方法，应用于安装有上述图2A-图2G任一显示面板的终端，所述方法包括：

从多个子像素中确定多个目标子像素，多个目标子像素为位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素；

通过光电检测阵列检测穿过通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征；

根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征。

可选地，确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，包括：

确定多个目标子像素的像素值；

根据像素值确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

可选地，根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征，包括：

使用第二光谱特征对第一光谱特征进行反卷积，得到终端的外界环境光线的光谱特征。

在本公开实施例中，将多个子像素中位于光电检测阵列在像素阵列所在平面上的正投影内的子像素确定为目标子像素，由于多个子像素之间的间隙处设置有通孔，因此外界环境光线和目标子像素发出的光线穿过该通孔射入后可以被光电检测阵列所检测。此时，可以通过光电检测阵列检测穿过该通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，根据第一光谱特征和第二光谱特征，确定终端的外界环境光线的光谱特征。如此，使得该光电检测阵列即使设置在显示面板的显示区域中，也能实现对外界环境光线的准确检测，且由于无需在显示面板中除显示区域之外的部分区域上专门设置开孔来进行光电检测，所以可以避免开孔对该显示面板的额外占用，避免显示区域在该显示面板上占用的面积受限，进而可以增大终端的屏占比，提高终端的显示性能，且提高终端的美观度。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (13)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：

像素阵列，其包括多个子像素，所述多个子像素之间的间隙处具有通孔；以及，

光电检测单元，其包括光电检测阵列，所述光电检测阵列对穿过所述通孔射入的光线进行检测。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影的至少一部分落入所述像素阵列之内。

3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述通孔中设置有透光材料。

4.如权利要求1-3任一所述的显示面板，其特征在于，所述多个子像素为所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素。

5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述光电检测单元被配置以形成用于光电检测器的检测电路的部分。

6.一种光电检测方法，其特征在于，应用于安装有上述权利要求1-5任一所述的显示面板的终端，所述方法包括：

从所述多个子像素中确定多个目标子像素，所述多个目标子像素为位于所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素；

通过所述光电检测阵列检测穿过所述通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征；

根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征，确定所述终端的外界环境光线的光谱特征。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征，包括：

确定所述多个目标子像素的像素值；

根据所述像素值确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

8.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征，确定所述终端的外界环境光线的光谱特征，包括：

使用所述第二光谱特征对所述第一光谱特征进行反卷积，得到所述终端的外界环境光线的光谱特征。

9.一种光电检测装置，其特征在于，应用于安装有上述权利要求1-5任一所述的显示面板的终端，所述装置包括：

第一确定模块，用于从所述多个子像素中确定多个目标子像素，所述多个目标子像素为位于所述光电检测阵列在所述像素阵列所在平面上的正投影内的子像素；

第二确定模块，用于通过所述光电检测阵列检测穿过所述通孔射入的光线的第一光谱特征，并确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征；

第三确定模块，用于根据所述第一光谱特征和所述第二光谱特征，确定所述终端的外界环境光线的光谱特征。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第二确定模块包括：

第一确定子模块，用于确定所述多个目标子像素的像素值；

第二确定子模块，用于根据所述像素值确定所述多个目标子像素发出的光线的第二光谱特征。

11.如权利要求9或10所述的装置，其特征在于，所述第三确定模块包括：

反卷积子模块，用于使用所述第二光谱特征对所述第一光谱特征进行反卷积，得到所述终端的外界环境光线的光谱特征。

12.一种光电检测装置，其特征在于，应用于安装有上述权利要求1-5任一所述的显示面板的终端，所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行权利要求6-8所述的任一项方法的步骤。

13.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有指令，其特征在于，所述指令被处理器执行时实现权利要求6-8所述的任一项方法的步骤。