CN108459245A - 一种智能型绝缘耐压测试电路 - Google Patents
一种智能型绝缘耐压测试电路 Download PDFInfo
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Abstract
本发明的目的在于提供一种智能型绝缘耐压测试电路,该电路解决了目前电力设备绝缘耐压检测中存在的自动化程度低、数据维护性及可信度差、安全性低、工作效率低的问题。一种智能型绝缘耐压测试电路,主要包括单片机控制部分,绝缘耐压功率驱动部分,功率输出部分,功率输出端口部分,输出状态采样部分和电源部分。通过PC机与单片机芯片及CPLD芯片的组合设计达到了检测电路根据被测试装置的试验项灵活配置目的;并对各项检测信息进行统一管理;通过电路设计使绝缘测试项与耐压测试项合并为一个电路输出,减少了检测连接步骤,提高了检测效率;通过智能化设计,减少了检测人员对检测环境的介入过程,提高了整个检测过程的安全性。
Description
技术领域
本发明主要涉及电力设备技术检验领域,具体来说涉及一种针对电气设备的智能型绝缘耐压电路。
背景技术
按照有关标准规定,要对各种应用于电力系统设备的绝缘和耐压性能指标进行检测,获得相应数据,用这些数据判断产品是否符合设计的要求,品质的优劣以及改进的目标和方向。另外,这些设备在长期使用后,由于各种因素的影响,导致其绝缘耐压性能下降,将会影响系统正常运行。所以必须对有隐患的设备进行检查和测试,找出故障原因和位置,进行修复。由此可见,绝缘耐压试验无论是对新设备的研制,还是对故障设备的检修,都是一个极其重要的环节。
绝缘特性试验的主要目的是:对电气设备定期进行绝缘预防性试验,即时发现设备绝缘材料遗留的或运行中产生的局部缺陷,便于掌握电气设备的运行状态及其绝缘完好性,判断电气设备能否继续投入运行,使设备始终保持较高的绝缘水平。长期以来,工频交流耐压试验是考核电力设备的绝缘强度,验证设备是否具有在电网可靠安全运行的必要条件。
目前,绝缘特性试验和工频交流耐压试验一直停滞在手工测量阶段,这种测量方法存在着以下几个问题:(1)根据试验的基本原理,用传统仪器或专用测试仪器来测量,多数采用指针式仪表,或者一些专用测试设备。这种试验方法从结构来看,一般为分立来看,无法同时处理大量的数据,没有数据库保存测试的各项参数,无法后期对设备的测试数据进行系统的分析;从查找故障的角度看,无法快速准确的找到故障原因和位置,不具备测试数据的跟踪和分析能力。(2)从安全性的角度看,操作人员有接触到高压电的危险,而且对仪器仪表的保护很欠缺,安全性差。(3)即便采用专业的绝缘耐压测试设备,也还是由人工判断测试结果,由于没有数据自动处理能力,工作效率较低,可信度差。
发明内容
本发明的目的在于提供一种智能型绝缘耐压测试电路,该电路解决了目前电力设备绝缘耐压检测中存在的自动化程度低、数据维护性及可信度差、安全性低、工作效率低的问题。通过PC机与单片机芯片及CPLD芯片的组合设计达到了检测电路根据被测试装置的试验项灵活配置的目的,并对各项检测信息进行统一管理。通过电路设计使绝缘测试项与耐压测试项合并为一个电路输出,减少了检测连接步骤,提高了检测效率。通过智能化设计,减少了检测人员对检测环境的介入过程,提高了整个检测过程的安全性。
本发明提供一种智能型绝缘耐压测试电路,主要包括单片机控制部分,绝缘耐压功率驱动部分,功率输出部分,功率输出端口部分,输出状态采样部分和输出电源部分。
所述单片机控制部分其特征在于:主要由单片机芯片、CPLD芯片及周边电路构成。单片机控制部分具备通信功能,能够使本发明完成与上位机进行指令交换,按照上位机的指令控制本发明其他功能模块,并将本发明工作状态上送上位机。所述CPLD芯片从属于单片机芯片,其功能在于执行单片机芯片发出的重复性较多的工作,减轻单片机芯片中断工作量,保证系统稳定,并通过接口芯片连接绝缘耐压功率驱动部分。所述周边电路包括电源芯片、复位芯片、EEPROM存储芯片、晶振、通信芯片、总线控制芯片、接口芯片等维持单片机控制部分基本功能的硬件环境。
所述绝缘耐压功率驱动部分其特征在于:与单片机控制部分的接口芯片连接,将单片机控制部分发出的SPI驱动信号通过隔离元件连接至DA芯片,将数字信号转换为交流模拟信号,经过隔直滤波后经运算放大后送至功率放大电路,由功率放大电路为功率输出部分提供交流驱动信号。
所述功率输出部分其特征在于:由推挽电路及高压线性变压器构成。所述推挽电路是由 PNP硅晶体管与NPN硅晶体管C级相连,PNP硅晶体管E级接高电平,NPN硅晶体管E级接低电平。考虑到驱动后级高压线性变压器电流较大,采用两个PNP并联,两个NPN并联方式连接。PNP硅晶体管与NPN硅晶体管C级相连后接入高压线性变压器原边一端,线性变压器原边另一端接NPN硅晶体管E级并接低电平。所述高压线性变压器由初级和次级两组线圈组成,两线圈分别有两引线输出,初级和次级线圈匝数比为1:100。
所述功率输出端口部分其特征在于:连接所述高压线性变压器次级线圈两引线输出端,由交直流切换电路,输出通断电路、输出测量电路、漏电流检测电路组成。
所述交直流切换电路其特征在于:由光耦隔离元件和小型耐高压触点继电器构成。光耦隔离元件输入原边连接单片机控制部分,副边分别接24V直流电压及小型耐高压触点继电器励磁线圈。小型耐高压触点继电器为双套触点机构,每套触点结构为一开一闭结构,即公共端引出脚、常闭触点引出脚、常开触点引出脚。高压线性变压器次级线圈输出一侧接继电器一套触点机构中的公共端引出脚,同一套触点机构中常开触点引出脚接至功率输出端口,两引脚间并联整流二极管,起到半波整流作用。小型耐高压触点继电器另一套触点中公共端引出脚接功率输出端口,常闭触点接RC滤波电路,RC滤波电路另一端接高压线性变压器次级输出另一引出线。其作用是通过小型耐高压触点继电器的双套触点切换,实现将交流输出电路切入半波整流实现交流电压输出与直流电压输出的目的。
所述输出通断电路其特征在于:由光耦隔离元件及小型耐高压触点继电器构成。其中继电器一个公共端引出脚与交直流切换电路中点继电器中接功率输出端口的公共端引出脚连接,常开触点与本发明输出端HV+连接。继电器另一套触点中公共端引出脚与RC滤波电路与高压线性变压器直接连接的位置相连接构成GND-N,同结构中常闭触点与连接至本发明输出端HV+ 之间跨接分压电阻。
所述输出测量电路其特征在于:由运算放大器的负反馈放大电路构成。负反馈放大电路输入端接高压输出端口并联的多颗串联电阻,此并联在高压输出端的串联电阻主要起到串联分压的作用,负反馈放大电路在此处采得测量电压后,将该测量电压放大后送至输出状态采样部分。
所述漏电流检测电路其特征在于:本发明输出端HV-串联连接两个4.3kΩ-5w电阻后接入两组串联分压电阻,然后接至本发明GND-N。两组串联分压电阻阻值不同,用以实现毫安级和微安级漏电流测量。两组串联电阻中分别串入两个小型耐高压继电器常开触点,并有单片机通过两个光耦隔离元件对两个小型耐高压继电器进行控制,实现不同串联分压电阻的选通。两组串联分压电阻与两颗串联的4.3k-5w电阻间引出测量两电压接至由运算放大器构成的负反馈放大电路,并将测得的漏电流电压信号送至输出状态部分。
所述输出状态采样部分其特征在于:由模拟量采集芯片构成主电路,负责采集功率输出端口部分中交直流切换电路中输出测量电路的输出电压及采集漏电流检测部分中的漏电流电压通过模数转换后送至单片机控制部分。
所述输出电源部分其主要特征在于:为单片机控制部分,绝缘耐压功率驱动部分,功率输出部分,功率输出端口部分,漏电流检测部分,输出状态采样部分提供多种电源。提供3.3V 直流电压对单片机控制部分中单片机及CPLD和周边基础电路供电,提供5V对单片机控制部分中对外接口芯片供电,3.3V和5V为共地系统;提供模拟5V直流电压为绝缘耐压功率驱动部分中DA芯片供电,+15V、-15V为绝缘耐压功率驱动部分中功率放大电路供电,模拟5V和 +15V、-15V为共地系统;提供+40V、-40V直流电源为功率输出部分中推挽电路供电,驱动线性变压器初级线圈;提供+10V、-10V直流电源为输出端口部分中漏电流检测电路及输出状态采样部分中的运放供电;提供5V-G模拟直流电压为输出状态采样部分电路中AD采样芯片供电。
在使用时单片机控制部分通过外部通信接口接收上位机指令开始工作。单片机控制部分中CPU将执行命令通过并口传递给CPLD,由CPLD通过接口芯片向耐压功率驱动部分中DA芯片持续输出一组SPI信号,DA芯片根据SPI信号要求向功放电路输出50Hz交流信号驱动功率输出部分推挽电路使高压线性变压器进行交流变换输出。通过高压线性变压器变比输出高压 50Hz交流检测电压信号,通过交直流切换电路选择是否进行整流滤波成直流高压信号,还是交流高压信号直接输出。通过输出通断电路决定本发明是否向外输出绝缘耐压测试电压。同时通过漏电流检测电路及输出测量电路对检测端口情况进行监视,通过输出状态采样部分将监视结果反馈至单片机控制部分中CPU芯片,并将状态及检测结果上送上位机进行后续数据的存贮和统计。
本发明的有益效果在于:
(1)通过将绝缘和耐压检测项目整合为一个检测系统,减少了检测工序,提高了工作效率。
(2)提高了绝缘、耐压实验项目的自动化水平。
(3)可以实现0-2500V以下任意交直流绝缘耐压的电压水平检测。
(4)摆脱了人工录入数据的麻烦,可以实时自动记录被检测设备的检测数据,提高了数据的可信度,便于后期数据维护、跟踪。
(5)可以减少人员对检测设备及被检测设备的接触,避免高压电触电危险,提高了检测系统的安全性。
(6)可以实现上位机联网,通过其它具有上位机联网的智能触点选择设备实现多组检测电之间、组组之间的多次重复检测及任意挑选组与组之间的检测顺序,实现多组检测一次完成,进一步提高工作效率。
附图说明
图1为本发明原理框图;
图2为本发明单片机控制部分原理框图;
图3为本发明绝缘耐压功率驱动部分原理图;
图4为本发明功率输出部分原理图;
图5为本发明功率输出端口部分原理图;
图6为本发明漏电流检测电路原理图;
图7为本发明输出状态采样部分原理图;
图8为本发明电源部分原理图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明一种智能型绝缘耐压测试电路的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施案例用于说明本发明,但是不用来限制本发明的范围。
图1为一种智能绝缘耐压测试电路原理框图,主要包括单片机控制部分、绝缘耐压功率驱动部分、功率输出部分、功率输出端口部分、输出状态采样部分、输出电源部分。其功能是:1、将绝缘测试项目与耐压测试项目由一个设计实现,对外实验端口唯一。2、能够由上位机控制进行绝缘测试项目与耐压测试项目的试验工作。3、能够对测试过程中的检测数据进行实时上送。
图2为单片机控制部分原理框图,主要由单片机芯片、CPLD芯片及周边电路构成。单片机控制芯片U1为MK10DX256LQ10R,通过8位数据总线及操作方式引脚RD#、WD#、CS-CPLD、 BUSY与CPLD芯片U2-EPM3128进行数据交换,U1与U2采用同一晶振X1-50MHZ。U2从属于U1,其功能在于执行单片机发出的重复性较多的工作,减轻单片机芯片中断工作量,保证系统稳定,并通过一个16位总线收发器接口芯片U3-SN74LVC16373A实现绝缘耐压功率驱动部分的控制信号及驱动信号的驱动3.3V到5V的转化。周边电路有EEPROM存储芯片 U4-EEPROM_24FC512、复位芯U7-TPS3705、电源芯片U5-SPX1117-3.3、电源芯片U6-TPS54331D。对外通信电路配置两个CAN网收发器元件U8和U9-SN65HVD232DR。接口芯片U3输出引脚SPI-CS、SPI-CLK、SPI-MOSI为绝缘耐压功率驱动部分中数模转换芯片提供驱动信号。 CS-AD7606#、SCLK-AD7606、CONVST、RST#、BUSY、DOUTA等信号对输出状态检测部分中AD7606 芯片进行控制和系统输出状态的串行读取。DC500V为功率输出端口部分中交直流切换电路中用于选择接入交流半波整流谐振回路的小型耐高压触点继电器驱动信号。HV-ON为功率输出端口部分中输出通断电路内部起到切除内外电路联系的小型耐高压触点继电器驱动信号。 RANGE1和RANGE2信号为功率输出端口部分中漏电流检测电路中接通不同精度采样回路的两个小型耐高压触点继电器驱动信号。
图3为绝缘耐压功率驱动部分原理图,SPI-CS、SPI-CLK、SPI-MOSI组成的SPI信号接入绝缘耐压功率驱动部分中隔离光耦U10、U11、U12原边,U10、U11、U12副边接入DA芯片U13- AD5660。SPI信号经U13-AD5660转换为模拟信号输出经π型及低通滤波将杂散噪声滤除后接至运算放大器U5A输入正级,经U5A运算放大器放大后,交流信号放大为输出±15V交流信号并送至由Q1、Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7、Q8、Q9、Q10、Q11、Q12三级管组成的功放电路,将±15V交流信号转换为±40V交流信号,经过一个共模电感L5_7448256033接入功率输出部分。
图4为功率输出部分原理图,PNP三极管FJL4215Q13与Q14并联后E极接+40V,B极接由本发明绝缘耐压驱动部分输出的OUT+交流信号,C极接NPN三级管FJL4315Q15与Q16并联后的C极。Q15和Q16的B极接Q13和Q14的B极,Q15和Q16的E极接-40V,C极公共端接至高压线性变压器原边1脚。高压线性变压器2脚接本发明绝缘耐压驱动部分输出OUT-。高压线性变压器副边经由引脚3、引脚4分别输出HV-AC+、HV-AC-至功率输出端口部分。
图5为功率输出端口部分原理图,其中交直流切换电路有高压线性变压器副边正极输出端HV-AC+接电感L7后连接小型耐高压触点继电器RL4的引脚6,引脚4、5短连,引脚7接整流二极管D16、D17后串联电阻R280、R279、R276、R277、R278接至RL4的第2引脚,对 HV-AC-通过稳压管D51和C169进行稳压滤波。RL4的第3引脚接至小型耐高压触点继电器RL5 的第3脚,RL5的第4脚经R125串联电感L6输出至HV+,即本实施例测试输出端正极。RL5的第4脚串联电阻R282、R135、R345接至GND-G。RL5的第6脚接至高压新型变压器副边第4 脚输出负端HC-AC-。电容C92与电阻R296串联后并联在二极管D16负极与HV-AC-之间,同时并联电阻R127。小型耐高压触点继电器RL4第1引脚接光耦元件OP6副边第4引脚,光耦元件OP6副边第6引脚接24V2,小型耐高压触点继电器RL4第8引脚接GND2,第1引脚与第 8引脚间并联二极管V14。光耦元件OP6第1引脚接3.3V,第3引脚接串联电阻R119后单片机控制电路中CPLD芯片引脚。输出通断电路包括有一个小型耐高压触点继电器RL5第1引脚接光耦元件OP7副边第4引脚,光耦元件OP7副边第6引脚接24V2,小型耐高压触点继电器RL5 第8引脚接GND2,第1引脚与第8引脚间并联二极管V15。光耦元件OP7第1引脚接3.3V, 第3引脚接串联电阻R1136后单片机控制电源中CPLD芯片引脚。输出测量电路包括有电阻R282 与R135之间对GND-G连接电容C175,经串联电阻R133后接OP2277运算放大器芯片U31的第 5引脚,第7引脚串联电阻R311后对GND-G串联连接稳压管D54、D55后输出至HV-IN,共系统对输出电压进行采集。电路中小型耐高压触点继电器RL4由单片机控制部分中CPLD芯片 EPM3128A根据CPU得到的上位机测试指令进行控制,完成是否将高压新型变压器输出的交流信号通过继电器触点动作后的逻辑关系切换至由D16、D17、C92、R296、R127、R280、R279、 R276、R277、R278、D51、C169组成的半波整流滤波回路,获得DC500V的检测电压,实现具备绝缘检测项目的实验电压条件。或者直接将高压线性变压器输出的高压交流检测信号直接输出,实现具备耐压检测项目的实验电压条件。小型高耐压触点继电器RL5由单片机控制部分中CPLD芯片EPM3128A根据CPU得到的上位机测试指令进行控制,完成是否将最终获得的检测电压输出本实施案例至被检测设备。
图6为功率输出端口部分中漏电流检测部分原理图,检测电压HV+经由本实施案例外部被检测回路接至本实施案例HV-。经串联电阻R83、R88接至三组串联电阻电路,通过其中两组电阻串联电路中可以通过RL2、RL6两个DSP继电器的常开触点机进行选通,实现三组串联电路可以实现0.75-15微安、15-300微安、0.3-100毫安的漏电流不同精度的测量。其中,0.75-15 微安电路由电阻R103构成,电阻两端分别接电阻R88一端,另一端接GND-G;15-300微安电路由继电器RL2的一个常开触点、电阻R101、电阻102构成,常开触点的第5引脚接电阻R88 一端,常开触点的第8引脚与电阻R101、R102串联后接GND-G;0.3-100毫安电路由继电器 RL6的一个常开触点、电阻R90、电阻104构成,常开触点的第5引脚接电阻R88一端,常开触点的第8引脚与电阻R90、R104串联后接GND-G。继电器RL2的第1引脚接光耦OP3副边的第4引脚,继电器RL2的第16引脚接GND2,光耦OP3的第6引脚接24V2,光耦OP3原边第1 引脚接3.3V,原边第3引脚经电阻R100接至单片机控制部分中CPLD芯片引脚RANGE2。继电器RL6的第1引脚接光耦OP5副边的第4引脚,继电器RL6的第16引脚接GND2,光耦OP5的第6引脚接24V2,光耦OP5原边第1引脚接3.3V,原边第3引脚经电阻R111接至单片机控制部分中CPLD芯片引脚RANGE1。CPLD芯片根据具体检测项目对不同漏电流精度的测量电路进行切换。电阻R88连接三个漏电流精度测量电路的同时,经电容C168、C167、电阻R91组成的对GND-G的π型滤波后将电阻R88与三个漏电流精度电路连接处的电压值送入OP2277运算放大器U31的输入正极第3引脚。U31输出第1脚连接负极输入脚第2引脚构成负反馈放大器,并由U31的第1引脚通过电阻R264将采集电压信号HV-SMP送至输出状态采样部分,输出位置对GND-G串联正负向两颗稳压管D41、D42,用于防止HV-SMP瞬间出现的过压情况对输出状态采样部分的损害。
图7为输出状态采样部分原理图,主要由U20模拟量采集芯片AD7606及外围元件等组成,其主要作用是对输出端口部分提供的HV-IN测量电压、漏电流检测部分提供的HV-SMP测量电压、电源部分提供在高压部分使用的电源系统±10V-G、5V-G的电压值进行模拟量采样,将结果串行信号DOUTA及AD7606工作状态信号BUSY经隔离光耦送至单片机控制单元中CPLD芯片进行监控。同时CPLD芯片对AD7606的控制信号,CONVST、CS-AD7606#、SCLK-AD7606、RST# 经光耦送至高压区的AD7606。
图8为电源部分原理图,电路主要由四个电源模块U28、U32,U42、U43主要拓扑组成。为绝缘耐压功率驱动部分提供5VA、±15V、±40V直流电压,为功率输出部分提供±40V直流电压。两个电源模块U28和U32型号为V300C48C75WLB,输入端采用并联DC220V直流电压方式,通过光耦OP1、OP9完成单片机控制部分中CPLD芯片通过PWR信号对两个电源模块PC脚的接-IN脚的控制,判断两模块是否输出的工作状态。两个电源模块输出采用串联结构并通过输出控制脚上电阻配置达到±40V、±15V直流电压的输出需求。U43形成拓扑结构为输出状态采样部分中AD芯片及周边控制电路提供直流5V电源5V-A。U44电源管理芯片MAX845ESA第3引脚与第4引脚短连后接单片机控制部分中工作电源地,使芯片工作频率工作在535kHz。 T1、T2小型高频变压器PH9185.11NL原边采用两联方式连接,第1引脚短连后接U44的第1 引脚,第3引脚短连后接U44第8引脚,第2引脚短连后接U44第6引脚。T1、T2小型高频变压器PH9185.11NL副边采用串联方式连接,由D24、D25、D26、D27四个二极管构成双向整流电路,得到±10V直流电压。+10V及GND-G接至U42-TPS54331电源DC/DC芯片,根据该芯片手册电路得到直流电压5V-G,供输出状态采样部分中AD7606数字部分供电使用。
在使用时单片机控制部分通过外部通信接口接收上位机指令开始工作。单片机控制部分中CPU将执行命令通过并口传递给CPLD,由CPLD通过总线控制芯片及信号隔离光耦元件向缘耐压功率驱动部分中DA芯片持续输出一组SPI信号,DA芯片根据SPI信号要求向功放电路输出50Hz交流信号驱动功率输出部分推挽电路使高压线性变压器进行交流变换输出。通过高压线性变压器变比输出高压50Hz交流检测电压信号,通过交直流切换电路选择是否进行整流滤波成直流高压信号,还是交流高压信号直接输出。通过输出通断电路决定本发明是否向外输出绝缘耐压测试电压。同时通过漏电流检测电路及输出测量电路对检测端口情况进行监视,通过输出状态采样部分将监视结果反馈至单片机控制部分中CPU芯片,并将状态及检测结果上送上位机进行后续数据的存贮和统计。
以上所述仅为本发明的一种实施案例,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,开可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:包括单片机控制部分,绝缘耐压功率驱动部分,功率输出部分,功率输出端口部分,输出状态采样部分和电源部分。
2.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:单片机控制部分主要由单片机芯片、CPLD芯片及周边电路构成,其中所述CPLD芯片从属于单片机芯片,其功能在于执行单片机芯片发出的重复性较多的工作,并通过接口芯片连接绝缘耐压功率驱动部分。所述周边电路包括电源芯片、复位芯片、EEPROM存储芯片、晶振、通信芯片、总线控制芯片等维持单片机控制部分基本功能的硬件环境。
3.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述绝缘耐压功率驱动部分与单片机控制部分的接口芯片连接,将单片机控制部分发出的SPI驱动信号通过隔离元件连接至DA芯片,将数字信号转换为交流模拟信号,经过隔直滤波后经运算放大后送至功率放大电路,由功率放大电路为功率输出部分提供交流驱动信号。
4.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述功率输出部分由推挽电路及高压线性变压器构成,所述推挽电路是由PNP硅晶体管与NPN硅晶体管C级相连,PNP硅晶体管E级接高电平,NPN硅晶体管E级接低电平,考虑到驱动后级高压线性变压器电流较大,采用两个PNP并联,两个NPN并联方式连接,PNP硅晶体管与NPN硅晶体管C级相连后接入高压线性变压器原边一端,线性变压器原边另一端接NPN硅晶体管E级并接低电平,所述高压线性变压器由初级和次级两组线圈组成,两线圈分别有两引线输出,初级和次级线圈匝数比为1:100。
5.如权利要求4所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述功率输出端口部分连接所述高压线性变压器次级线圈两引线输出端,由交直流切换电路,输出通断电路、输出测量电路和漏电流检测电路组成。
6.如权利要求5所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述输出测量电路由运算放大器的负反馈放大电路构成,负反馈放大电路输入端接高压输出端口并联的多颗串联电阻,此并联在高压输出端的串联电阻主要起到串联分压的作用,负反馈放大电路在此处采得测量电压后,将该测量电压放大后送至输出状态采样部分。
7.如权利要求5所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述漏电流检测部分包括电阻、光耦隔离元件和高压继电器,输出端HV-串联连接两颗4.3kΩ-5w电阻后接入两组串联分压电阻,两组串联分压电阻阻值不同,用以实现毫安级和微安级漏电流测量,两组串联电阻中分别串入两个小型耐高压继电器常开触点,并有单片机通过两个光耦隔离元件对两个小型耐高压继电器进行控制,实现不同串联分压电阻的选通,两组串联分压电阻与两颗串联的4.3k-5W电阻间引出测量两电压接至由运算放大器构成的负反馈放大电路,并将测得的漏电流电压信号送至输出状态采样部分。
8.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述输出状态采样部分由模拟量采集芯片构成主电路,负责采集功率输出端口部分中输出测量电路的输出电压及采集漏电流检测部分中的漏电流电压,并通过模数转换后送至单片机控制部分。
9.如权利要求1所述的所述一种智能型绝缘耐压测试电路,其特征在于:所述输出电源部分为单片机控制部分,绝缘耐压功率驱动部分,功率输出部分,功率输出端口部分,漏电流检测部分,输出状态采样部分提供多种电源。
Priority Applications (1)
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