CN108459234A - 增量式编码器断线检测电路 - Google Patents
增量式编码器断线检测电路 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108459234A CN108459234A CN201810421590.3A CN201810421590A CN108459234A CN 108459234 A CN108459234 A CN 108459234A CN 201810421590 A CN201810421590 A CN 201810421590A CN 108459234 A CN108459234 A CN 108459234A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- phases
- optocoupler
- connect
- phase
- differential
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
本发明提供了一种增量式编码器断线检测电路，包括差分端检测电阻和光耦检测单元组，所述光耦检测单元组与所述差分端检测电阻构成检测回路；所述差分端检测单元包括与编码器连接的A相差分端检测电阻、B相差分端检测电阻和Z相差分端检测电阻，所述光耦检测单元组包括A相光耦检测单元组、B相光耦检测单元组和Z相光耦检测单元组。本发明的有益效果在于：提供了一种采用由检测电阻、光耦器件和二极管组成的检测电路，检测电阻的电压变化反应到光耦器件的输入侧，光耦器件的输出侧输出对应的信号，从而控制通向CPU的电平发生变化，从而使CPU判断出当前编码器状态，杜绝了误判的可能，大大增加了检测电路的可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及机电检测电路领域，尤其是指一种增量式编码器断线检测电路。
背景技术
对于伺服驱动器等需要用到增量式编码器的场合，都是用连接线将编码器与机器连接。在使用过程中有可能出现：端子没接好、连接线断线或编码器内部问题导致的编码器断线故障，造成电机无法正常运行。严重时，甚至会造成电机失速等高危事故。目前采用软件实现断线检测的方案的可靠性不高，且占用CPU内部的大量资源，增加CPU功耗，甚至影响控制性能。目前市场上急切需要提供一种有效的，可靠的，低成本的解决方案。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：针对现有技术的不足，提供一种电路结构简单、可靠性高且成本低廉的增量式编码器断线检测电路。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种增量式编码器断线检测电路，包括差分端检测电阻和光耦检测单元组，所述光耦检测单元组与所述差分端检测电阻构成检测回路；所述差分端检测单元包括与编码器连接的A相差分端检测电阻、B相差分端检测电阻和Z相差分端检测电阻，所述光耦检测单元组包括A相光耦检测单元组、B相光耦检测单元组和Z相光耦检测单元组。
进一步的，所述A相差分端检测电阻的一端与编码器的A相差分信号输出正端连接，所述A相差分端检测电阻的另一端与编码器的A相差分信号输出负端连接；所述B相差分端检测电阻的一端与编码器的B相差分信号输出正端连接，所述B相差分端检测电阻的另一端与编码器的B相差分信号输出负端连接；所述Z相差分端检测电阻的一端与编码器的Z相差分信号输出正端连接，所述Z相差分端检测电阻的另一端与编码器的Z相差分信号输出负端连接。
进一步的，所述A相光耦检测单元组包括A相第一光耦和A相第二光耦，所述A相第一光耦的A相第一光耦输入端通过A相第一输入电阻与所述A相差分端检测电阻的一端连接，所述A相第一光耦的A相第一光耦输出端与所述A相差分端检测电阻的另一端连接，所述A相第二光耦的A相第二光耦输入端通过A相第二输入电阻与所述A相差分端检测电阻的另一端连接，所述A相第二光耦的A相第二光耦输出端与所述A相差分端检测电阻的一端连接；
所述B相光耦检测单元组包括B相第一光耦和B相第二光耦，所述B相第一光耦的B相第一光耦输入端通过B相第一输入电阻与所述B相差分端检测电阻的一端连接，所述B相第一光耦的B相第一光耦输出端与所述B相差分端检测电阻的另一端连接，所述B相第二光耦的B相第二光耦输入端通过B相第二输入电阻与所述B相差分端检测电阻的另一端连接，所述B相第二光耦的B相第二光耦输出端与所述B相差分端检测电阻的一端连接；
所述Z相光耦检测单元组包括Z相第一光耦和Z相第二光耦，所述Z相第一光耦的Z相第一光耦输入端通过Z相第一输入电阻与所述Z相差分端检测电阻的一端连接，所述Z相第一光耦的Z相第一光耦输出端与所述Z相差分端检测电阻的另一端连接，所述Z相第二光耦的Z相第二光耦输入端通过Z相第二输入电阻与所述Z相差分端检测电阻的另一端连接，所述Z相第二光耦的Z相第二光耦输出端与所述Z相差分端检测电阻的一端连接。
进一步的，所述A相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述A相第一光耦的输出侧输出端与A相二极管的负极连接，所述A相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述A相第二光耦的输出侧输出端与A相二极管的负极连接，所述A相二极管的负极通过A相下拉电阻与地连接；
所述B相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述B相第一光耦的输出侧输出端与B相二极管的负极连接，所述B相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述B相第二光耦的输出侧输出端与B相二极管的负极连接，所述B相二极管的负极通过B相下拉电阻与地连接；
所述Z相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述Z相第一光耦的输出侧输出端与Z相二极管的负极连接，所述Z相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述Z相第二光耦的输出侧输出端与Z相二极管的负极连接，所述Z相二极管的负极通过Z相下拉电阻与地连接。
进一步的，所述A相二极管的正极与差分信号断线检测电路的A相输出端连接；
所述B相二极管的正极与差分信号断线检测电路的B相输出端连接；
所述Z相二极管的正极与差分信号断线检测电路的Z相输出端连接。
进一步的，差分信号断线检测电路的A相输出端对地连接有A相滤波电容；
差分信号断线检测电路的B相输出端对地连接有B相滤波电容；
差分信号断线检测电路的Z相输出端对地连接有Z相滤波电容。
进一步的，所述A相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接；
所述B相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接；
所述Z相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接。
进一步的，差分信号断线检测电路的输出端对地连接有滤波电容。
本发明的有益效果在于：提供了一种采用由检测电阻、光耦器件和二极管组成的检测电路，检测电阻的电压变化反应到光耦器件的输入侧，光耦器件的输出侧输出对应的信号，从而控制通向CPU的电平发生变化，从而使CPU判断出当前编码器状态，杜绝了误判的可能，大大增加了检测电路的可靠性。
附图说明
下面结合附图详述本发明的具体结构：
图1为本发明的电路结构原理图。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
实施例1
请参阅图1，一种增量式编码器断线检测电路，包括差分端检测电阻和光耦检测单元组，所述光耦检测单元组与所述差分端检测电阻构成检测回路；所述差分端检测单元包括与编码器连接的A相差分端检测电阻、B相差分端检测电阻和Z相差分端检测电阻，所述光耦检测单元组包括A相光耦检测单元组、B相光耦检测单元组和Z相光耦检测单元组。
进一步的，所述A相差分端检测电阻的一端与编码器的A相差分信号输出正端连接，所述A相差分端检测电阻的另一端与编码器的A相差分信号输出负端连接；所述B相差分端检测电阻的一端与编码器的B相差分信号输出正端连接，所述B相差分端检测电阻的另一端与编码器的B相差分信号输出负端连接；所述Z相差分端检测电阻的一端与编码器的Z相差分信号输出正端连接，所述Z相差分端检测电阻的另一端与编码器的Z相差分信号输出负端连接。
进一步的，所述A相光耦检测单元组包括A相第一光耦和A相第二光耦，所述A相第一光耦的A相第一光耦输入端通过A相第一输入电阻与所述A相差分端检测电阻的一端连接，所述A相第一光耦的A相第一光耦输出端与所述A相差分端检测电阻的另一端连接，所述A相第二光耦的A相第二光耦输入端通过A相第二输入电阻与所述A相差分端检测电阻的另一端连接，所述A相第二光耦的A相第二光耦输出端与所述A相差分端检测电阻的一端连接；
所述B相光耦检测单元组包括B相第一光耦和B相第二光耦，所述B相第一光耦的B相第一光耦输入端通过B相第一输入电阻与所述B相差分端检测电阻的一端连接，所述B相第一光耦的B相第一光耦输出端与所述B相差分端检测电阻的另一端连接，所述B相第二光耦的B相第二光耦输入端通过B相第二输入电阻与所述B相差分端检测电阻的另一端连接，所述B相第二光耦的B相第二光耦输出端与所述B相差分端检测电阻的一端连接；
所述Z相光耦检测单元组包括Z相第一光耦和Z相第二光耦，所述Z相第一光耦的Z相第一光耦输入端通过Z相第一输入电阻与所述Z相差分端检测电阻的一端连接，所述Z相第一光耦的Z相第一光耦输出端与所述Z相差分端检测电阻的另一端连接，所述Z相第二光耦的Z相第二光耦输入端通过Z相第二输入电阻与所述Z相差分端检测电阻的另一端连接，所述Z相第二光耦的Z相第二光耦输出端与所述Z相差分端检测电阻的一端连接。
进一步的，所述A相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述A相第一光耦的输出侧输出端与A相二极管的负极连接，所述A相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述A相第二光耦的输出侧输出端与A相二极管的负极连接，所述A相二极管的负极通过A相下拉电阻与地连接；
所述B相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述B相第一光耦的输出侧输出端与B相二极管的负极连接，所述B相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述B相第二光耦的输出侧输出端与B相二极管的负极连接，所述B相二极管的负极通过B相下拉电阻与地连接；
所述Z相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述Z相第一光耦的输出侧输出端与Z相二极管的负极连接，所述Z相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述Z相第二光耦的输出侧输出端与Z相二极管的负极连接，所述Z相二极管的负极通过Z相下拉电阻与地连接。
进一步的，差分信号断线检测电路的输出端对地连接有滤波电容。
本实施例中，根据编码器或者接收电路的不同，差分信号的电平幅值可以为任意数值，但是正压和负压的幅值的绝对值都相同。本实施例以5V的电平幅值，A相的A+和A-的信号处理单元为例说明整个电路的原理。
A+和A-为A相的差分信号，其中正压为5V，负压为-5V，只要A+和A-正常，光耦U1和U2就有一个导通，D1的负极为高电平。若A+和A-有一个信号断线，由于电阻R11的存在，A+和A-的信号就为同电平，光耦U1和U2都不导通，此时D1的负极为低电平，向CPU输出的信号OUT输出也被拉低为低电平，CPU判定目前的状态为编码器断线状态。
当差分信号为正压5V时，U1光耦导通，由U1的4脚输入的高电平输出至U1的3脚，此时U2光耦不导通，但是U2的3脚与U1的3脚相连，U2的4脚与U1的4脚相连，所以D1的负极为高电平；
当差分信号为负压-5V时，U2光耦导通，由U2的4脚输入的高电平输出至U1的3脚，此时U1光耦不导通，但是U1的3脚与U2的3脚相连，U1的4脚与U2的4脚相连，所以D1的负极为高电平。
当A-或者A+断线，由于R11的存在，A-与A+的信号为同电平，光耦U1和U2都不能导通，VCC不能通过U1或U2与D1的负极连接，此时D1的负极在下拉电阻R1的作用下，为低电平，从而将D1的正极电压拉低至低电平，即CPU对应的检测脚为低电平，此时CPU判定为故障状态。
B相、Z相的电路原理与A相相同。
从上述描述可知，本发明的有益效果在于：提供了一种采用由检测电阻、光耦器件和二极管组成的检测电路，检测电阻的电压变化反应到光耦器件的输入侧，光耦器件的输出侧输出对应的信号，从而控制通向CPU的电平发生变化，从而使CPU判断出当前编码器状态，杜绝了误判的可能，大大增加了检测电路的可靠性。
实施例2
在实施例1的基础上，所述A相二极管的正极与差分信号断线检测电路的A相输出端连接；
所述B相二极管的正极与差分信号断线检测电路的B相输出端连接；
所述Z相二极管的正极与差分信号断线检测电路的Z相输出端连接。
进一步的，差分信号断线检测电路的A相输出端对地连接有A相滤波电容；
差分信号断线检测电路的B相输出端对地连接有B相滤波电容；
差分信号断线检测电路的Z相输出端对地连接有Z相滤波电容。
本实施例中，将每一相分别引出，可具体检测到某一相的断线故障。
实施例3
在实施例1的基础上，所述A相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接；
所述B相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接；
所述Z相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接。
进一步的，差分信号断线检测电路的输出端对地连接有滤波电容。
本实施例中，将三相检测输出脚连接在一起，可以节省CPU的检测针脚。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种增量式编码器断线检测电路，其特征在于：包括差分端检测电阻和光耦检测单元组，所述光耦检测单元组与所述差分端检测电阻构成检测回路；所述差分端检测单元包括与编码器连接的A相差分端检测电阻、B相差分端检测电阻和Z相差分端检测电阻，所述光耦检测单元组包括A相光耦检测单元组、B相光耦检测单元组和Z相光耦检测单元组。
2.如权利要求1所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：所述A相差分端检测电阻的一端与编码器的A相差分信号输出正端连接，所述A相差分端检测电阻的另一端与编码器的A相差分信号输出负端连接；所述B相差分端检测电阻的一端与编码器的B相差分信号输出正端连接，所述B相差分端检测电阻的另一端与编码器的B相差分信号输出负端连接；所述Z相差分端检测电阻的一端与编码器的Z相差分信号输出正端连接，所述Z相差分端检测电阻的另一端与编码器的Z相差分信号输出负端连接。
3.如权利要求2所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：所述A相光耦检测单元组包括A相第一光耦和A相第二光耦，所述A相第一光耦的A相第一光耦输入端通过A相第一输入电阻与所述A相差分端检测电阻的一端连接，所述A相第一光耦的A相第一光耦输出端与所述A相差分端检测电阻的另一端连接，所述A相第二光耦的A相第二光耦输入端通过A相第二输入电阻与所述A相差分端检测电阻的另一端连接，所述A相第二光耦的A相第二光耦输出端与所述A相差分端检测电阻的一端连接；
所述B相光耦检测单元组包括B相第一光耦和B相第二光耦，所述B相第一光耦的B相第一光耦输入端通过B相第一输入电阻与所述B相差分端检测电阻的一端连接，所述B相第一光耦的B相第一光耦输出端与所述B相差分端检测电阻的另一端连接，所述B相第二光耦的B相第二光耦输入端通过B相第二输入电阻与所述B相差分端检测电阻的另一端连接，所述B相第二光耦的B相第二光耦输出端与所述B相差分端检测电阻的一端连接；
所述Z相光耦检测单元组包括Z相第一光耦和Z相第二光耦，所述Z相第一光耦的Z相第一光耦输入端通过Z相第一输入电阻与所述Z相差分端检测电阻的一端连接，所述Z相第一光耦的Z相第一光耦输出端与所述Z相差分端检测电阻的另一端连接，所述Z相第二光耦的Z相第二光耦输入端通过Z相第二输入电阻与所述Z相差分端检测电阻的另一端连接，所述Z相第二光耦的Z相第二光耦输出端与所述Z相差分端检测电阻的一端连接。
4.如权利要求3所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：所述A相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述A相第一光耦的输出侧输出端与A相二极管的负极连接，所述A相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述A相第二光耦的输出侧输出端与A相二极管的负极连接，所述A相二极管的负极通过A相下拉电阻与地连接；
所述B相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述B相第一光耦的输出侧输出端与B相二极管的负极连接，所述B相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述B相第二光耦的输出侧输出端与B相二极管的负极连接，所述B相二极管的负极通过B相下拉电阻与地连接；
所述Z相第一光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述Z相第一光耦的输出侧输出端与Z相二极管的负极连接，所述Z相第二光耦的输出侧输入端与电源正极连接，所述Z相第二光耦的输出侧输出端与Z相二极管的负极连接，所述Z相二极管的负极通过Z相下拉电阻与地连接。
5.如权利要求4所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：所述A相二极管的正极与差分信号断线检测电路的A相输出端连接；
所述B相二极管的正极与差分信号断线检测电路的B相输出端连接；
所述Z相二极管的正极与差分信号断线检测电路的Z相输出端连接。
6.如权利要求5所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：差分信号断线检测电路的A相输出端对地连接有A相滤波电容；
差分信号断线检测电路的B相输出端对地连接有B相滤波电容；
差分信号断线检测电路的Z相输出端对地连接有Z相滤波电容。
7.如权利要求4所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：所述A相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接；
所述B相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接；
所述Z相二极管的负极与差分信号断线检测电路的输出端连接。
8.如权利要求7所述的增量式编码器断线检测电路，其特征在于：差分信号断线检测电路的输出端对地连接有滤波电容。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810421590.3A CN108459234A (zh) | 2018-05-04 | 2018-05-04 | 增量式编码器断线检测电路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810421590.3A CN108459234A (zh) | 2018-05-04 | 2018-05-04 | 增量式编码器断线检测电路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN108459234A true CN108459234A (zh) | 2018-08-28 |
Family
ID=63215185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201810421590.3A Pending CN108459234A (zh) | 2018-05-04 | 2018-05-04 | 增量式编码器断线检测电路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN108459234A (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110161360A (zh) * | 2019-05-30 | 2019-08-23 | 宁波安信数控技术有限公司 | 一种增量式编码器断线检测系统及方法 |
| CN110672957A (zh) * | 2019-10-14 | 2020-01-10 | 广东博智林机器人有限公司 | 编码器信号故障检测装置及方法 |
| CN111795714A (zh) * | 2019-04-03 | 2020-10-20 | 深圳市正弦电气股份有限公司 | 一种无uvw磁极信号的abz差分编码器检测电路 |
| CN110161360B (zh) * | 2019-05-30 | 2024-07-09 | 宁波安信数控技术有限公司 | 一种增量式编码器断线检测系统及方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103048584A (zh) * | 2012-12-28 | 2013-04-17 | 北京科诺伟业科技有限公司 | 一种增量式编码器断线检测电路 |
| CN103076527A (zh) * | 2012-12-26 | 2013-05-01 | 深圳市汇川技术股份有限公司 | 增量式编码器断线检测电路 |
| CN206378141U (zh) * | 2016-12-26 | 2017-08-04 | 杭州之山智控技术有限公司 | 基于双向光耦的编码器信号故障检测电路 |
| CN107255766A (zh) * | 2017-06-30 | 2017-10-17 | 深圳市英威腾电气股份有限公司 | 一种增量式编码器的断线检测电路及其连接电路 |
| CN206975153U (zh) * | 2017-11-27 | 2018-02-06 | 深圳市麦格米特驱动技术有限公司 | 一种编码器故障检测电路 |
| CN207215933U (zh) * | 2017-06-30 | 2018-04-10 | 深圳市英威腾电气股份有限公司 | 一种增量式编码器的断线检测电路 |
-
2018
- 2018-05-04 CN CN201810421590.3A patent/CN108459234A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103076527A (zh) * | 2012-12-26 | 2013-05-01 | 深圳市汇川技术股份有限公司 | 增量式编码器断线检测电路 |
| CN103048584A (zh) * | 2012-12-28 | 2013-04-17 | 北京科诺伟业科技有限公司 | 一种增量式编码器断线检测电路 |
| CN206378141U (zh) * | 2016-12-26 | 2017-08-04 | 杭州之山智控技术有限公司 | 基于双向光耦的编码器信号故障检测电路 |
| CN107255766A (zh) * | 2017-06-30 | 2017-10-17 | 深圳市英威腾电气股份有限公司 | 一种增量式编码器的断线检测电路及其连接电路 |
| CN207215933U (zh) * | 2017-06-30 | 2018-04-10 | 深圳市英威腾电气股份有限公司 | 一种增量式编码器的断线检测电路 |
| CN206975153U (zh) * | 2017-11-27 | 2018-02-06 | 深圳市麦格米特驱动技术有限公司 | 一种编码器故障检测电路 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111795714A (zh) * | 2019-04-03 | 2020-10-20 | 深圳市正弦电气股份有限公司 | 一种无uvw磁极信号的abz差分编码器检测电路 |
| CN110161360A (zh) * | 2019-05-30 | 2019-08-23 | 宁波安信数控技术有限公司 | 一种增量式编码器断线检测系统及方法 |
| CN110161360B (zh) * | 2019-05-30 | 2024-07-09 | 宁波安信数控技术有限公司 | 一种增量式编码器断线检测系统及方法 |
| CN110672957A (zh) * | 2019-10-14 | 2020-01-10 | 广东博智林机器人有限公司 | 编码器信号故障检测装置及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN201084002Y (zh) | Plc数字量输入接口电路 | |
| CN108459234A (zh) | 增量式编码器断线检测电路 | |
| CN106130537B (zh) | 一种1oo2d功能安全数字量输出电路 | |
| CN208299783U (zh) | 数字量信号采集电路 | |
| CN101710251A (zh) | 单片机死机复位电路、装置及方法 | |
| CN204789923U (zh) | 一种故障检测电路 | |
| CN109406862B (zh) | 一种兼容高低有效电平的开关量检测电路 | |
| CN208445540U (zh) | 一种基于功能安全设计的汽车p档按键开关电路 | |
| CN105973274B (zh) | 一种信号检测电路及装置 | |
| CN203275598U (zh) | 用于专变采集终端的继电器开路检测装置 | |
| CN203688642U (zh) | 一种掉电检测电路 | |
| CN207215933U (zh) | 一种增量式编码器的断线检测电路 | |
| CN201788261U (zh) | 一种开关量检测电路 | |
| CN109090710A (zh) | 一种雾化器阻值检测电路 | |
| CN209877285U (zh) | 一种用于判断压缩机的运行状态的电路 | |
| CN203337786U (zh) | 电能表负荷开关检测电路 | |
| CN202110215U (zh) | 电能表用继电器开合闸检测电路 | |
| CN201359629Y (zh) | 直流电源接地报警装置 | |
| CN206906827U (zh) | 一种触点供电型高压带电显示闭锁装置 | |
| CN102269804A (zh) | 开关量探测器的检测方法及装置 | |
| CN202383233U (zh) | 汽车低压差分信号电缆的诊断电路 | |
| CN210038065U (zh) | 一种能够判断断路器断零和断相的电路结构 | |
| CN204031026U (zh) | 一种ecm电机 | |
| CN101452036B (zh) | 直流电源接地报警装置 | |
| CN208417028U (zh) | 一种直流风扇停转故障检测电路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20180828 |