CN108322224A - 检测电路 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种检测电路，该检测电路包含列线、行线、开关组件、电容及处理单元。开关组件分别设置于对应的列线与对应的行线之间。当开关组件被按压时相对应的列线与行线彼此电性接触。电容分别设置于每一列线的一端。处理单元电性连接列线设有电容的一端以及行线的一端，并用以将扫描信号依序输出至每一行线。当其中一行线发送扫描信号且检测到第一列线接收到此扫描信号时，处理单元根据对应第一列线的电容的充电时间来判断对应一第一开关组件是否被导通，第一开关组件对应到对应该其中一行线以及该第一列线，本申请键盘按键可任意排列而不需特别设计，且可有效判断鬼键是否产生，实现多键同时按压技术。

Description

检测电路

技术领域

本申请涉及一种检测电路，特别涉及一种可检测键盘鬼键的电路及方法。

背景技术

一般计算机键盘或电话键盘通常由多条扫描线(scan line)及多条回扫线(return line)形成的矩阵所构成，当用户按下键盘按键时，对应的扫描线及回扫线将电性接触以形成回路，而通过检测每组回路的电压差即可得知按键是否按下。然而，当同时按下三个按键时，若此三个按键构成2×2矩阵，则对应的两扫描线及两扫描线将形成四组回路，则系统将误判为有四个按键被同时压下，其中，被误判的第四个按键即称为鬼键(ghostkey)。

在传统键盘制造上，必须刻意排列键盘按键，以预防可能用到的组合键产生鬼键，而此将使得整体键盘的布线延长且复杂，并造成线路阻抗上升等缺点。

发明内容

为了有效检测鬼键，并使键盘线路简化，在本申请的一实施例中提出一种检测电路。检测电路包含多个列线、多个行线、多个开关组件、多个电容及处理单元。此些行线与此些列线交错排列。多个开关组件分别设置于此些列线中对应的一列线与此些行线中对应的一行线之间，当该些开关组件被导通时相对应的该些列线与该些行线彼此电性接触。多个电容分别设置于每一列线的一端。处理单元电性连接此些列线设有电容的一端以及电性连接此些行线的一端，并用以将多个扫描信号依序输出至每一行线。当此些行线的其中一行线发送此些扫描信号的其中一扫描信号且处理单元检测到此些列线中第一列线接收到此其中一扫描信号时，处理单元根据此些电容中对应第一列线的第一电容被充电至预设电压值的第一充电时间来判断此些开关组件当中的一第一开关组件是否被导通，该第一开关组件对应该其中一行线以及该第一列线。

在本申请的另一实施例中，当该第一充电时间大于一门槛值时，该处理单元判断对应的该第一开关组件未被导通。

在本申请的另一实施例中，当该第一充电时间不大于该门槛值且该些列线中一第二列线接收到该其中一扫描信号时，该处理单元计算该些电容中对应该第二列线的一第二电容被充电至该预设电压值的一第二充电时间，并将该第一充电时间与该第二充电时间比较，以判断对应的该第一开关组件是否被导通。

在本申请的另一实施例中，当该第一充电时间大于该第二充电时间一预设差值时，该处理单元判断对应的该第一开关组件未被导通。

在本申请的另一实施例中，当该第一充电时间不大于该门槛值且该些列线中有至少另外两列线接收到该其中一扫描信号时，该处理单元计算该些电容中对应该至少另外两列线的至少两电容分别被充电至该预设电压值的至少两充电时间，并将该第一充电时间与该至少两充电时间中最低者进行比较，当该第一充电时间大于该至少两充电时间中最低者一预设差值时，该处理单元判断对应的该第一开关组件未被导通。

此外，在本申请的另一实施例中提出一种检测电路。检测电路包含多个列线、多个行线、多个开关组件、多个电容及处理单元。此些行线与此些列线交错排列。多个开关组件分别设置于此些列线中对应的一列线与此些行线中对应的一行线之间，当该些开关组件被导通时相对应的该些列线与该些行线彼此电性接触。多个电容分别设置于每一列线的一端。处理单元电性连接此些列线设有此些电容的一端以及电性连接此些行线的一端，并用以输出第一扫描信号至此些行线中的第一行线及输出第二扫描信号至此些行线中的第二行线。当此些列线中第一列线及第二列线皆接收到第一扫描信号及第二扫描信号时，处理单元进一步根据此些电容中对应第一列线的第一电容经第一扫描信号充电至预设电压值的第一充电时间判断该些开关组件当中的一第一开关组件是否被导通，该第一开关组件对应该第一行线以及该第一列线。

在本申请的另一实施例中，当该第一充电时间大于一门槛值时，该处理单元判断该第一开关组件未被导通。

在本申请的另一实施例中，当该第一充电时间不大于该门槛值时，该处理单元计算该些电容中对应该第二列线的一第二电容经该第一扫描信号充电至该预设电压值的一第二充电时间，并将该第一充电时间与该第二充电时间比较，以判断该第一开关组件是否被导通。

在本申请的另一实施例中，当该第一充电时间大于该第二充电时间一预设差值时，该处理单元判断该第一开关组件未被导通。

在本申请的另一实施例中，当该第一充电时间不大于该门槛值且该些列线中有该第二列线及一第三列线皆接收到该第一扫描信号时，该处理单元计算该些电容中对应该第二列线的一第二电容经该第一扫描信号充电至该预设电压值的一第二充电时间以及计算该些电容中对应该第三列线的一第三电容经该第一扫描信号充电至该预设电压值的一第三充电时间，并将该第一充电时间与该第二充电时间及该第三充电时间中最低者进行比较，当该第一充电时间大于该第二充电时间及该第三充电时间中最低者一预设差值时，该处理单元判断该第一开关组件未被导通。

通过本申请的教示，键盘按键可任意排列而不需特别设计，且可有效判断鬼键是否产生，实现多键同时按压(Multi-key rollover)技术。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本申请的一实施例的检测电路示意图；

图2为本申请的另一实施例的检测电路示意图；

图3A为本申请的一实施例的检测电路信号走向示意图；

图3B为本申请的另一实施例的检测电路信号走向示意图；

图4为本申请的又一实施例的检测电路信号走向示意图；

图5为本申请的一实施例的检测方法流程图；

图6为本申请的再一实施例的检测电路信号走向示意图；

图7为本申请的一实施例的电容充电波形图；

图8为本申请提供的一实施例的检测电路信号走向示意图。

【符号说明】

100：检测电路

110：处理单元

120：行线

130：列线

140：按键

500：检测方法

710、720：波形

C1、C2、C3、C4：电容

M1、M2、M3、M4、M5、M6：开关组件

R1：第一行线

R2：第二行线

S1：第一列线

S2：第二列线

Scan1：第一扫描信号

Scan2：第二扫描信号

S510、S520、S530、S540：步骤

S550、S560、S570、S580：步骤

T1：第一充电时间

T2：第二充电时间

△T：差值。

具体实施方式

下文所举实施例配合所附图式作详细说明，但所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用来限定本发明，而结构操作的描述非用以限制其执行的顺序，任何由组件重新组合的结构，所产生具有均等功效的装置，皆为本发明揭示内容所涵盖的范围。

此外，附图仅仅用以示意性地加以说明，并未依照其真实尺寸进行绘制。而关于本文中所使用的”电性连接”或”电性耦接”，可指二或多个组件实体地电性接触或间接地电性接触。

在全篇说明书与申请专利范围所使用的用词(terms)，除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在此公开的内容中与特殊内容中的平常意义。某些用以描述本申请的用词将于下或在此说明书的别处讨论，以提供本领域技术人员在有关本申请的描述上额外的引导。

请参阅图1，图1为本申请的一实施例的检测电路100示意图。检测电路100例如为应用在计算机键盘、电话键盘或遥控器等输入设备以检测鬼键，其具有处理单元110、多条行线120、多条列线130及多个开关组件，其中所述多个开关组件可以分别对应输入设备的多个按键140。处理单元110例如为微处理器，用以判断所述多个开关组件中是否有开关组件被导通(closed)；或者，在一具体实施例中，处理单元110用以判断所述多个按键140中是否有按键被按压，以进一步产生输入数据至例如计算机或电视等。

行线120例如为扫描线(scan line)，而列线130例如为回扫线(return line)。在每一列线130的一端设有电容(例如C1～C4)。处理单元110电性连接各列线130设有电容C1～C4的一端以及电性连接各行线120的一端，并依序输出扫描信号至每一行线120，以及检测每一列线130是否接收到来自行线120的扫描信号。

行线120与列线130垂直交错排列以形成多个交错点，然行线120与列线130并不直接电性接触。开关组件则分别设置于列线130中对应的一列线与行线120中对应的一行线之间，即，开关组件的数量为行线120的行数乘以列线130的列数。当其中一个开关组件被导通时，以使对应的一行线及一列线彼此电性接触，由此，处理单元110输出至行线120的扫描信号可被传递至列线130。在一实施例中，按键140则分别设置于列线130中对应的一列线与行线120中对应的一行线之间，即，按键140的数量为行线120的行数乘以列线130的列数。每一个按键140包含键帽以及开关组件。举例来说，开关组件可以是机械式的切换开关或薄膜开关(membrane switch)等，而各按键140的开关组件具有一电阻值。在本文所述的实施例中，各按键140的开关组件具有大致上相同的电阻值。当其中一个按键140的键帽受到外力按压时，此一按键140的开关组件将被导通，以使对应的一行线及一列线彼此电性接触，藉此，处理单元110输出至行线120的扫描信号可被传递至列线130。

具体来说，当处理单元110输出一扫描信号至其中一行线时，处理单元110开始依序检测每一列线130的电压/电压差。当其中一列线接收到扫描信号时，表示此其中一行线及此其中一列线之间有电性接触，则可推知对应此其中一行线及此其中一列线的其中一开关组件可能被导通(closed)。而当每一列线都检测完毕后，处理单元110才进一步继续输出另一扫描信号至另一行线，并同样依序检测每一列线130的电压/电压差。重复此扫描及检测过程，直至整个装置被处理完毕即为一扫描周期。

应理解的是，图1中检测电路100的行线120、列线130及/或开关组件、按键140的数量仅是用以示意，实际数量根据实际产品而有不同，本申请并不加以限制。

为方便进一步说明，下文将仅以例如二行线及二列线的检测电路为例作说明。请参阅图2，图2为本申请的一实施例的检测电路200示意图。图2中，检测电路200例如为检测电路100的一部分，其具有处理单元110、第一行线S1、第二行线S2、第一列线R1及第二列线R2。

在第一行线S1与第一列线R1之间设有对应一第一按键的开关组件M1，在第二行线S2与第一列线R1之间设有对应第二按键的开关组件M2，在第一行线S1与第二列线R2之间设有对应第三按键的开关组件M3，而在第二行线S2与第二列线R2之间设有对应的第四按键的开关组件M4。四个开关组件M1～M4分别对应到图1中不同的按键140。为了说明上的简便，图2仅示意性的绘示四个按键140对应的四个开关组件M1～M4，实际上图1中所有的按键140均有相似的结构。

如图2所示，第一列线R1的一端设有第一电容C1，而第二列线R2的一端设有第二电容C2。处理单元110分别电性连接第一列线R1设有第一电容C1的一端及第二列线R2设有第二电容C2的一端，以及分别电性连接第一行线S1及第二行线S2的一端。

当四个按键的开关组件M1～M4任一者受到外力按压时，将使对应的行线及列线形成一组回路。举例来说，当第一按键被按压而相应的开关组件M1导通时，对应的第一行线S1及对应的第一列线R1将电性接触以形成回路，而处理单元110输出至第一行线S1的第一扫描信号Scan1将被导通至第一列线R1，并回到处理单元110，如图3A所示，Scan为扫描。

或者，当第二按键被按压而相应的开关组件M2导通时，对应的第二行线S2及对应的第一列线R1将电性接触以形成回路，而处理单元110输出至第二行线S2的第二扫描信号Scan2将被导通至第一列线R1，并回到处理单元110，如图3B所示。藉此，处理单元110可以推断按键的开关组件M1～M4何者处于被按压的导通状态。一般情况下，检测上述回路是否形成可以准确知道每一个按键的开关组件M1～M4各自是否处于被导通的状态。

然而，当多个开关组件同时被导通时，可能形成非正常的回路，则可能发生误判，导致实际上未被导通的开关组件也被误认为已形成回路。在一具体实施例中，在计算机键盘、电话键盘或遥控器等输入设备，当多个按键同时被按压时，可能形成非正常的回路，则可能发生误判，导致实际上未被按压的按键也被误认为已形成回路，这样未实际按压却被误判的按键称为鬼键。

请参阅图4，其为一实施例中当其中三个按键的开关组件M2～M4同时因按压而导通的示意图。在图4的实施例中为第二按键、第三按键以及第四按键同时被按压使开关组件M2～M4同时导通。

当开关组件M2～M4同时因按压而导通时，第二行线S2与第一列线R1形成一回路代表第二按键被按压而开关组件M2导通，第一行线S1与第二列线R2形成另一回路代表第三按键被按压而开关组件M3导通，第二行线S2与第二列线R2形成再一回路，代表第四按键被按压而开关组件M4导通。上述三组回路均可正确感测到第二按键、第三按键及第四按键被按压的状态。

需要注意的是，如图4所示的实施例，此时第一按键并未被按压而开关组件M1未导通，即开关组件M1处于未被导通的開路状态(open)。此时若从第一行线S1发送第一扫描信号Scan1，则第一扫描信号Scan1将通过按键M3流向第二列线R2，接着通过按键M4进入第二行线S2，并在进一步通过按键M2进入第一列线R1。也就是说，由第一行线S1进入的第一扫描信号Scan1可以到达第一列线R1，形成又一个回路。上述回路并非因为第一按键被按压而形成，而是因为其他三个按键被按压而导致，若单就此回路存在便判断第一按键被按压，则可能导致例如鬼键的误判现象。

因此，处理单元110发出第一扫描信号Scan1至第一行线S1时，第一列线R1可间接接收到此第一扫描信号Scan1，使得处理单元110误判对应第一行线S1及第一列线R1的第一按键(对应开关组件M1)也处于按压状态，形成鬼键。简单来说，当实际同时按压的按键例如为第二按键、第三按键及第四按键(对应开关组件M2～M4)时，处理单元110将判断同时按压的按键为第一按键至第四按键(对应开关组件M1～M4)。

为了检测何者为真实的输入以及何者为鬼键，处理单元110可通过计算对应每一按键的电容(第一电容C1及第二电容C2)的充电时间来判断。详细的检测流程请参阅图5所示本申请的一实施例的检测方法500流程图。检测方法500具有步骤S510、S520、S530、S540、S550、S560、S570、S580等。

在步骤S510中，处理单元110首先检测各列线是否接收到来自行线的扫描信号，以判断是否有开关组件被导通。当检测到其中一列线接收到当前行线对应的扫描信号时，处理单元110进入步骤S520计算当前在列线的电容经扫描信号充电至预设电压值的第一充电时间T1。并接者于步骤S530判断第一充电时间T1是否大于门槛值，当第一充电时间大于门槛值时，则进入步骤S580判定对应当前行线及当前列线的当前开关组件未被导通，因此，对应当前行线及当前列线的当前按键为鬼键。

举例来说，当图4实施例中的处理单元110因接收到第一行线S1与第一列线R1形成的回路所传回的第一扫描信号Scan1时，将进一步判断对应第一行线S1与第一列线R1的第一按键(对应开关组件M1)是否为有按压的按键。因此，处理单元110将量测第一列线R1上的第一电容C1经第一扫描信号Scan1充电至预设电压值的第一充电时间T1。其中电容充电时间计算公式如下公式一：

公式一中，t为充电时间，R为电容充电路径中的电阻值，C为电容量，ε为充电电压(即第一扫描信号Scan1)，Vc为电容的端电压。由公式一可知，电阻值R与充电时间t成正比，即当扫描信号所经过的路径上的电阻值R越大，电容充电时间t将越长。因此，当按键M1为鬼键的情况下，第一扫描信号Scan1必须通过三个开关组件M2～M4才能进入第一列线R1以对第一电容C1进行充电时，使第一电容C1被充电至预设电压值(例如3V)的时间将因为三个开关组件M2～M4的本身的加总电阻值而被延长。而在第一按键不为鬼键的情形下(也就是第一按键实际上被按压使开关组件M1导通的情况)，因为第一扫描信Scan1只需经过开关组件M1即可进入第一列线R1，故第一电容C1被充电至预设电压值的时间将明显小于第一按键为鬼键时的情形。

通过上述理论，可针对充电时间设定门槛值作为判断基准，其中当充电时间大于门槛值时，即可推知开关组件M1未被导通(对应第一按键为鬼键)。然应理解，门槛值的设定与按键的类型、材质及电容大小相关，而线材(行线、列线)本身的等效阻抗较按键的阻抗为小，故对电容充电时间的影响远不及按键阻抗造成的影响。

接着，若检测方法500在步骤S530中发现第一充电时间T1不大于门槛值时，因为计算时间过程可能因为扫描信号不稳定等状况而产生误差，故仍需再作进一步判断，以确保误判机率可以减至最低。因此，在步骤S540中，处理单元110将进一步检测同时间点是否有另一列线接收到同一行线的扫描信号。当有另一列线接收到同一行线的扫描信号时，处理单元110在步骤S550计算此另一列在线的电容经扫描信号充电至预设电压值的第二充电时间T2。其中因为行线的等效阻抗较低，对电容充电时间影响较小，故在同一行线中，不同列线对应的按键若均为实际被按压，则对应的电容充电时间将大致相同，反之，当充电时间差异较大时，则表示存在鬼键。

因此，检测方法500在步骤S560计算第一充电时间T1是否大于第二充电时间T2一预设差值以上。当于步骤S560判断第一充电时间T1大于第二充电时间T2一预设差值以上时，则同样进入步骤S580判断对应第一充电时间T1的当前按键为鬼键，反之，当第一充电时间T1不大于第二充电时间T2一预设差值以上时，则进入步骤S570判断对应第一充电时间T1的当前开关组件M1被导通(对应第一按键不为鬼键)。其中，所述预设差值与按键类型、材质及电容大小相关，其可依实际应用作调整，本申请并不设限。

举例而言，当图4实施例中对应第一按键(对应开关组件M1)的第一电容C1的第一充电时间T1小于门槛值时，处理单元110可进一步计算同样接收到同一行线的扫描信号的另一列在线的电容被充电至预设电压值的充电时间。在此实施例中，第二列线R2通过按键M3接收到第一行线S1的第一扫描信号Scan1，故处理单元110计算当前第二列线R2对应的第二电容C2被充电至预设电压值的充电时间。

此处请一并参照图6，图6为一实施例中当第三按键被按压使开关组件M3导通时的示意图。如图6所示，第一扫描信号Scan1通过按键M3以对第二列线R2上的第二电容C2充电，当处理单元110接收到第二列线R2传回第一扫描信号Scan1时，处理单元110计算第二电容C2被充电至预设电压值的第二充电时间T2。接着，处理单元110将第一充电时间T1与第二充电时间T2比较。

其中，在图6中第二电容C2经第一扫描信号Scan1充电的路径中只经过单一按键，也就是第三按键(对应开关组件M3)，而假设第一按键为实际按压，则其对应的第一电容C1经第一扫描信号Scan1充电的路径也只经过单一开关组件M1，则第一充电时间T1将近似于第二充电时间T2。然而，当第一按键为鬼键时，所对应的第一电容C1经第一扫描信号Scan1充电的路径必须经过三个开关组件M3、M4及M2，如图4所示，此使得充电路径中的电阻值提高许多。故根据前述公式一可推知第一充电时间T1将大于第二充电时间T2。通过上述判断机制，可有效检测出鬼键的存在。

更进一步来说，请参阅图7、图4和图6的检测电路200中第一电容C1及第二电容C2于同一扫描周期中分别经第一扫描信号Scan1充电的实际充电示波图。其中假设预设电压值为3V，波形710为第一电容C1的充电波形，而波形720为第二电容C2的充电波形。由图7中可明显看出，第一按键(未实际按压，鬼键)对应的第一充电时间T1减去第二按键(实际按压)对应的第二充电时间T2的差值△T为25.714微秒(μs)，亦即第一充电时间T1较第二充电时间T2慢了25.714微秒(μs)。因此，透过此时间差(差值△T)可区别出实际按压按键与鬼键。

此外，倘若步骤S540中，处理单元110检测到有另外两个以上的列线同时间点接收到同一行线对应的扫描信号时，则处理单元110可于步骤S550分别计算每一列线对应的电容被充电至预设电压值的充电时间，并于步骤S560以最低的充电时间(充电时间最快)与第一充电时间T1作比较及进行后续步骤。

举例来说，请见图8，图8绘示了检测电路800，其中检测电路800为检测电路100的一部分。相较于第4、6图绘示图4和图6的检测电路200，检测电路800更绘示了第三列线R3。第三列线R3与第一行线S1之间设有第五按键(对应开关组件M5)，而第三列线R3与第二行线S2之间设有第六按键(对应开关组件M6)。其中第五按键为实际按压，开关组件M5被导通，使得第一行线S1的第一扫描信号Scan1导通至第三列线R3。

在步骤S540中，处理单元110将检测到第二列线R2及第三列线R3皆有接收到来自第一行线S1的第一扫描信号Scan1，因此于步骤S550计算第二列线R2的第二电容C2被充电至预设电压值的第二充电时间T2及第三列线R3的第三电容C3被充电至预设电压值的第三充电时间T3。接着，于步骤S560将第一充电时间T1与第二充电时间T2及第三充电时间T3中较低的一者进行比较，以进行后续步骤。

而倘若步骤S560计算出第一充电时间T1与第二充电时间T2(或第三充电时间T3)的差值小于预设差值时，则处理单元110即可进行步骤S570判定当前开关组件被导通(对应当前按键不为鬼键，而为实际按压的按键)。由此，每当检测电路100/200的处理单元110检测到任一列线接收到扫描信号时，可通过检测方法500判断当前对应的开关组件是否被导通。在一具体实施例中，每当检测电路100/200的处理单元110检测到任一列线接收到扫描信号时，可通过检测方法500判断当前对应的按键是否为鬼键。因此，不论按键位于键盘上的位置为何，皆可透过本申请教示的技术来判断按键是否为鬼键，则按键于键盘上的设置位置并不受到任何限制而可任意排列，不再需考虑以往可能因为组合键产生鬼键而特地设计特殊的按键摆设方式。

值得一提的是，鬼键的形成必定发生于三个以上按键的按压，且此三个按键所对应的行线及列线必须形成2×2矩阵(对应四个按键)，如图4所示。即，鬼键只会发生于两列线于同一扫描周期中皆接收到同样的两行线对应的两扫描信号时，才有可能存在鬼键。举例来说，如图4和图6所示，其中因为第二按键、第三按键以及第四按键(对应开关组件M2～M4)受按压，使第一列线R1将接收到来自第一行线R1的第一扫描信号Scan1及来自第二行线R2的第二扫描信号Scan2，而第二列线R2也接收到来自第一行线R1的第一扫描信号Scan1及来自第二行线R2的第二扫描信号Scan2，故鬼键形成。

因此，为了加速键盘扫描速度，检测方法在可能潜在鬼键的情形下才作进一步检测。即，检测方法在同一扫描周期中检测到有两列线皆接收到同样的两行线对应的两扫描信号时，再对此两列线及两行线对应的四个按键分别进一步执行检测方法500，使检测电路100/200不需于每次检测到信号时皆计算对应的电容的充电时间。

以图4和图6的检测电路200为例，如同前述，因为第二按键、第三按键以及第四按键(对应开关组件M2～M4)被按压，故处理单元110可检测到第一列线R1及第二列线R2皆有接收到第一扫描信号Scan1及第二扫描信号Scan2。而因为第一列线R1及第二列线R2皆接收到同样的两行线对应的两扫描信号，使处理单元110判断有可能存在鬼键，故进一步针对第一列线R1及第二列线R2分别与第一行线S1及第二行线S2对应的第一按键至第四按键(对应开关组件M1～M4)执行检测方法500。

通过本申请的教示，可有效判断鬼键的键盘被提出，且仅需使用少量电子组件，使键盘电路精简不复杂，进而避免线路阻抗过大，此外，键盘按键也可任意排列不受限制。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替。

Claims (10)

1.一种检测电路，其特征在于，包含：

多个列线；

多个行线，与该些列线交错排列；

多个开关组件，分别设置于该些列线中对应的一列线与该些行线中对应的一行线之间，当该些开关组件被导通时相对应的该些列线与该些行线彼此电性接触；

多个电容，分别设置于每一该些列线的一端；以及

一处理单元，电性连接该些列线设有该些电容的一端以及电性连接该些行线的一端，并用以将多个扫描信号依序输出至每一该些行线，

其中当该些行线的其中一行线发送该些扫描信号的其中一扫描信号且该处理单元检测到该些列线中一第一列线接收到该其中一扫描信号时，该处理单元根据该些电容中对应该第一列线的一第一电容被充电至一预设电压值的一第一充电时间来判断该些开关组件当中的一第一开关组件是否被导通，该第一开关组件对应该其中一行线以及该第一列线。

2.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，当该第一充电时间大于一门槛值时，该处理单元判断对应的该第一开关组件未被导通。

3.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，当该第一充电时间不大于该门槛值且该些列线中一第二列线接收到该其中一扫描信号时，该处理单元计算该些电容中对应该第二列线的一第二电容被充电至该预设电压值的一第二充电时间，并将该第一充电时间与该第二充电时间比较，以判断对应的该第一开关组件是否被导通。

4.如权利要求3所述的检测电路，其特征在于，当该第一充电时间大于该第二充电时间一预设差值时，该处理单元判断对应的该第一开关组件未被导通。

5.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，当该第一充电时间不大于该门槛值且该些列线中有至少另外两列线接收到该其中一扫描信号时，该处理单元计算该些电容中对应该至少另外两列线的至少两电容分别被充电至该预设电压值的至少两充电时间，并将该第一充电时间与该至少两充电时间中最低者进行比较，当该第一充电时间大于该至少两充电时间中最低者一预设差值时，该处理单元判断对应的该第一开关组件未被导通。

6.一种检测电路，其特征在于，包含：

多个列线；

多个行线，与该些列线交错排列；

多个开关组件，分别设置于该些列线中对应的一列线与该些行线中对应的一行线之间，当该些开关组件被导通时相对应的该些列线与该些行线彼此电性接触；

多个电容，分别设置于每一该些列线的一端；以及

一处理单元，电性连接该些列线设有该些电容的一端以及电性连接该些行线的一端，并用以输出一第一扫描信号至该些行线中一第一行线及输出一第二扫描信号至该些行线中一第二行线，

其中当该些列线中一第一列线及一第二列线皆接收到该第一扫描信号及该第二扫描信号时，该处理单元根据该些电容中对应该第一列线的一第一电容经该第一扫描信号充电至一预设电压值的一第一充电时间来判断该些开关组件当中的一第一开关组件是否被导通，该第一开关组件对应该第一行线以及该第一列线。

7.如权利要求6所述的检测电路，其特征在于，当该第一充电时间大于一门槛值时，该处理单元判断该第一开关组件未被导通。

8.如权利要求7所述的检测电路，其特征在于，当该第一充电时间不大于该门槛值时，该处理单元计算该些电容中对应该第二列线的一第二电容经该第一扫描信号充电至该预设电压值的一第二充电时间，并将该第一充电时间与该第二充电时间比较，以判断该第一开关组件是否被导通。

9.如权利要求8所述的检测电路，其特征在于，当该第一充电时间大于该第二充电时间一预设差值时，该处理单元判断该第一开关组件未被导通。

10.如权利要求6所述的检测电路，其特征在于，当该第一充电时间不大于该门槛值且该些列线中有该第二列线及一第三列线皆接收到该第一扫描信号时，该处理单元计算该些电容中对应该第二列线的一第二电容经该第一扫描信号充电至该预设电压值的一第二充电时间以及计算该些电容中对应该第三列线的一第三电容经该第一扫描信号充电至该预设电压值的一第三充电时间，并将该第一充电时间与该第二充电时间及该第三充电时间中最低者进行比较，当该第一充电时间大于该第二充电时间及该第三充电时间中最低者一预设差值时，该处理单元判断该第一开关组件未被导通。