CN108279655B - Aoi测试数据解析系统及其方法 - Google Patents

Aoi测试数据解析系统及其方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108279655B
CN108279655B CN201810091056.0A CN201810091056A CN108279655B CN 108279655 B CN108279655 B CN 108279655B CN 201810091056 A CN201810091056 A CN 201810091056A CN 108279655 B CN108279655 B CN 108279655B
Authority
CN
China
Prior art keywords
aoi
unit
equipment
data
analysis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201810091056.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108279655A (zh
Inventor
赵立辉
李建党
黄中义
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taicang T&W Electronics Co Ltd
Original Assignee
Taicang T&W Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taicang T&W Electronics Co Ltd filed Critical Taicang T&W Electronics Co Ltd
Priority to CN201810091056.0A priority Critical patent/CN108279655B/zh
Publication of CN108279655A publication Critical patent/CN108279655A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108279655B publication Critical patent/CN108279655B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41865Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by job scheduling, process planning, material flow
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/32Operator till task planning
    • G05B2219/32252Scheduling production, machining, job shop
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)

Abstract

本发明涉及一种AOI测试数据解析系统及其方法,包括相互连接的AOI解析部分和文件服务器,且所述的文件服务器连接AOI设备,所述的AOI解析部分连接MES数据系统,且所述的AOI设备连接SMT线体,且所述的AOI设备用于对SMT线体上生产的产品进行检查,并生成对应的AOI测试日志传输至所述的文件服务器,由所述的文件服务器进行存储;所述的AOI解析部分用于对文件服务器中获取到的AOI测试日志进行解析,获取所需数据存入到MES数据系统。采用该系统和方法,能够解析AOI测试日志并将重要的数据提取转换成MES数据系统中过站使用数据的方法,并提供了解决现有业务需求过程中遇到的效能问题以及AOI设备连接到的文件服务器数据解析与AOI图像分析同步进行时的资源冲突问题,使得企业可以大大提高效率,降低人力成本。

Description

AOI测试数据解析系统及其方法
技术领域
本发明涉及系统联机技术在SMT车间的应用,具体是指一种AOI测试数据解析系统及其方法。
背景技术
随着智能制造的战略深入,以及工厂对人力成本的望而却步,各公司都在绞尽脑汁的提高自动化,信息化的水平,以期降低成本,提高生产效率。通过本技术可以实现对人力的替代。
AOI(Automatic Optic Inspection),全称是自动光学检测,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。
SMT(Surface Mount Technology),全称是表面组装技术(表面贴装技术)。
下面对AOI的数据文件的内容进行说明:
(1)Omron AOI文件
Figure BDA0001563714830000011
Figure BDA0001563714830000021
(2)Omaron AOI不良信息:
Figure BDA0001563714830000022
(3)KY AOI(双轨)过站信息:
Figure BDA0001563714830000023
(4)KYAOI(双轨)不良信息:
Figure BDA0001563714830000024
Figure BDA0001563714830000031
对系统的数据量进行评估,具体参见以下:
A、KY型AOI设备的数据量大概在10K左右,Omron型AOI设备的txt的数据量大概150k左右,Omron型AOI设备的CSV大概在15k左右。
B、一天生产100K,按2连板计算,每天会产生50K条数据。
C、Omron型AOI设备的占20/28=72%,KY型AOI设备占28%。
综上所述,车间有6台OMRONAOI文件服务器,有4台KY AOI文件服务器时,一天的数据量为50000×72%×(150+15)KB+50000×28%×10KB=6080000KB=5.8G。
由上述可知,需要一种方法,对AOI设备产生的数据进行分析和处理。
发明内容
本发明的目的是克服上述现有技术中的缺点,提供了一种能够对AOI测试日志中的数据进行处理、并将重要的数据提取转换成MES数据系统中过站使用数据的方法的AOI测试数据解析系统及其方法。
为了实现上述的目的,本发明的AOI测试数据解析系统及其方法具体如下:
该AOI测试数据解析系统,其主要特点是,包括相互连接的AOI解析部分和文件服务器,且所述的文件服务器连接AOI设备,所述的AOI解析部分连接MES数据系统,且所述的AOI设备连接SMT线体,且
所述的AOI设备用于对SMT线体上生产的产品进行检查,并生成对应的AOI测试日志传输至所述的文件服务器,由所述的文件服务器进行存储;
所述的AOI解析部分用于对文件服务器中获取到的AOI测试日志进行解析,获取所需数据存入到MES数据系统。
较佳地,所述的AOI解析部分包括复制单元、删除单元、解析单元和控制单元,且所述的复制单元、删除单元和解析单元均与控制单元相连接,且
控制单元,用于控制所述的复制单元、删除单元、解析单元;
复制单元,用于根据控制单元的控制,复制文件服务器中待解析的AOI测试日志到对应的新建文件夹;
删除单元,用于根据控制单元的控制,对新建文件夹中解析成功的AOI测试日志进行删除操作;
解析单元,用于根据控制单元的控制,用于对新建文件夹中的AOI测试日志进行解析操作,并将解析后获取的数据上抛到MES数据系统。
更佳地,所述的AOI解析部分还包括判断单元,用于根据控制单元的控制,判断删除单元是否成功进行删除操作,判断解析单元是否成功进行解析操作,以及判断待解析的AOI测试日志所对应的AOI设备的类型。
更佳地,所述的控制单元中设置有用于进行解析操作的表项,包括:
AOI设备与SMT线体对应表项,用于将AOI设备与该AOI设备连接的SMT线体一一对应;
AOI设备对MES数据系统不良代码对应表项,用于将AOI测试日志中出现的不良代码与不良原因一一对应。
基于上述AOI测试数据解析系统实现AOI测试数据解析的方法,其主要特点是,包括以下步骤:
(1)所述的AOI解析部分识别AOI设备型号,并根据AOI设备型号进行文件解析;
(2)所述的AOI解析部分从解析后的文件中提取相关数据存储到MES数据系统中。
较佳地,所述的步骤(1)包括以下步骤:
(1.1)通过判断单元对该AOI测试日志对应的AOI设备的类型进行判断,若是Omron型AOI设备,则进入步骤(1.2),若是KY 3D型AOI设备,则进入步骤(1.3),或是其他类型的AOI设备,则预留不做处理;
(1.2)通过复制单元复制该Omron型AOI设备输出的AOI测试日志中的TXT文件到新建文件夹中;
(1.3)通过解析单元对新建文件夹中的文件进行解析,获取其中的过站记录和/或不良记录。
更佳地,Omron型AOI设备对应的新建文件夹和KY 3D型AOI设备对应的新建文件夹中都包括CSV文件,且所述的步骤(2)包括以下步骤:
通过所述的解析单元解析Omron型AOI设备对应的新建文件夹中的CSV文件,获取其中的不良记录,并将其存入MES数据系统;
通过所述的解析单元解析Omron型AOI设备对应的新建文件夹中的TXT文件,获取其中的过站记录,并将其存入MES数据系统;
通过所述的解析单元解析KY 3D型AOI设备对应的新建文件夹中的CSV文件,获取其中的过站记录和不良记录,并将两者存入到MES数据系统。
更佳地,所述的方法还包括:
所述的AOI解析部分通过控制单元控制所述的删除单元对两种新建文件夹中的文件进行删除操作;以及
所述的AOI解析部分通过控制单元控制所述的判断单元对文件的删除操作的成功与否和解析操作的成功与否进行判定。
更佳地,所述AOI解析部分还对判断单元输出的解析操作未成功的文件进行再解析。
更佳地,所述的步骤(1.1)之前还包括:
(1.0)在所述的控制单元中设置供解析模块进行解析操作的表项,所述的表项包括:
AOI设备与SMT线体对应表项,用于将AOI设备与该AOI设备连接的SMT线体一一对应;
AOI设备对MES数据系统不良代码对应表项,用于将AOI测试日志中出现的不良代码与不良原因一一对应。
采用了本发明的AOI测试数据解析系统及其方法,能够解析AOI测试日志并将重要的数据提取转换成MES数据系统中过站使用数据的方法,并提供了解决现有业务需求过程中遇到的效能问题,使得企业可以大大提高效率,降低人力成本。
附图说明
图1为本发明的AOI解析整体设计架构图。
图2为本发明的SMT业务流程图及AOI的解析工序。
图3为本发明的AOI设备名和“SMT线体”对应基础表。
图4为本发明的AOI设备名和MES不良代码对应表。
图5为本发明的AOI数据搜集功能流程。
图6为同一个产品先后两次经过本发明中的AOI解析程式的处理逻辑。
图7为本发明的AOI解析程序首页。
图8为AOI测试日志中同一联板的不同产品ISN序号读取不全时的解决方案。
图9为本发明的AOI解析程序配置页面。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的技术内容,特举以下实施例详细说明。
该AOI测试数据解析系统,其中,包括相互连接的AOI解析部分和文件服务器,且所述的文件服务器连接AOI设备,所述的AOI解析部分连接MES数据系统,且所述的AOI设备连接SMT线体,且
所述的AOI设备用于对SMT线体上生产的产品进行检查,并生成对应的AOI测试日志传输至所述的文件服务器,由所述的文件服务器进行存储;
所述的AOI解析部分用于对文件服务器中获取到的AOI测试日志进行解析,获取所需数据存入到MES数据系统。
在一种较佳的实施例中,所述的AOI解析部分包括复制单元、删除单元、解析单元和控制单元,且所述的复制单元、删除单元和解析单元均与控制单元相连接,且
控制单元,用于控制所述的复制单元、删除单元、解析单元;
复制单元,用于根据控制单元的控制,复制文件服务器中待解析的AOI测试日志到对应的新建文件夹;
删除单元,用于根据控制单元的控制,对新建文件夹中解析成功的AOI测试日志进行删除操作;
解析单元,用于根据控制单元的控制,用于对新建文件夹中的AOI测试日志进行解析操作,并将解析后获取的数据上抛到MES数据系统。
在具体实施例中,复制单元只是把“AOI测试日志”按照一定的规则(比如1小时内的数据,且该时间参数优选为可在配置界面中设定)复制到“新的文件夹”,以防止在源文件夹中“AOI测试日志解析操作”跟“影像读取操作”发生资源读取的冲突。这是因为对AOI测试日志解析成功后会有一个删除操作,如果进行删除操作时,源文件夹中的影像文件还在被读取,则会发生资源冲突。
在一种更佳的实施例中,所述的AOI解析部分还包括判断单元,用于根据控制单元的控制,判断删除单元是否成功进行删除操作,判断解析单元是否成功进行解析操作,以及判断待解析的AOI测试日志所对应的AOI设备的类型。
在一种更佳的实施例中,所述的控制单元中设置有用于进行解析操作的表项,包括:
AOI设备与SMT线体对应表项,用于将AOI设备与该AOI设备连接的SMT线体一一对应;
AOI设备对MES数据系统不良代码对应表项,用于将AOI测试日志中出现的不良代码与不良原因一一对应。
基于上述AOI测试数据解析系统实现AOI测试数据解析的方法,其主要特点是,包括以下步骤:
(1)所述的AOI解析部分识别AOI设备型号,并根据AOI设备型号进行文件解析;
(2)所述的AOI解析部分从解析后的文件中提取相关数据存储到MES数据系统中。
在一种较佳的实施例中,所述的步骤(1)包括以下步骤:
(1.1)通过判断单元对该AOI测试日志对应的AOI设备的类型进行判断,若是Omron型AOI设备,则进入步骤(1.2),若是KY 3D型AOI设备,则进入步骤(1.3),或是其他类型的AOI设备,则预留不做处理;
(1.2)通过复制单元复制该Omron型AOI设备输出的AOI测试日志中的TXT文件到新建文件夹中;
(1.3)通过解析单元对新建文件夹中的文件进行解析,获取其中的过站记录和/或不良记录。
在一种更佳的实施例中,Omron型AOI设备对应的新建文件夹和KY 3D型AOI设备对应的新建文件夹中都包括CSV文件,且所述的步骤(2)包括以下步骤:
通过所述的解析单元解析Omron型AOI设备对应的新建文件夹中的CSV文件,获取其中的不良记录,并将其存入MES数据系统;
通过所述的解析单元解析Omron型AOI设备对应的新建文件夹中的TXT文件,获取其中的过站记录,并将其存入MES数据系统;
通过所述的解析单元解析KY 3D型AOI设备对应的新建文件夹中的CSV文件,获取其中的过站记录和不良记录,并将两者存入到MES数据系统。
在一种更佳的实施例中,所述的方法还包括:
所述的AOI解析部分通过控制单元控制所述的删除单元对两种新建文件夹中的文件进行删除操作;以及
所述的AOI解析部分通过控制单元控制所述的判断单元对文件的删除操作的成功与否和解析操作的成功与否进行判定。
在一种更佳的实施例中,所述AOI解析部分还对判断单元输出的解析操作未成功的文件进行再解析。
在一种更佳的实施例中,所述的步骤(1.1)之前还包括:
(1.0)在所述的控制单元中设置供解析模块进行解析操作的表项,所述的表项包括:
AOI设备与SMT线体对应表项,用于将AOI设备与该AOI设备连接的SMT线体一一对应;
AOI设备对MES数据系统不良代码对应表项,用于将AOI测试日志中出现的不良代码与不良原因一一对应。
在一种具体实施例中,所述的方法至少具有以下步骤:
(1)建立AOI设备名和SMT线体的对应基础表项,此处需要在MES系统中提前设定好。以便解析程序可以通过AOI设备中设定的“设备名称”来解析所在的“生产线”信息;
(2)建立AOI和MES不良代码对应表项,此处需要在MES系统中提前设定好。以便解析程序可以把AOI设备中原厂固定的“不良代码”解析转换成厂内MES系统中通用的”不良代码”信息。
(3)使用AOI解析部分中的复制单元和解析单元。
在具体实施例中,AOI设备对SMT线体产出的产品的检查是基于产品上的ISN(Internal Serial Number)编号进行的,因此,建议将该AOI解析部分基于车间的文件服务器进行设置,供使用者随时监控软件运行状态。且当公司网络出现异常时,复制单元复制后的TXT文件和CSV文件仍保存在文件服务器上,待公司网络恢复后,解析单元解析出来的数据可以继续上传MES数据系统。
请参阅图7,在具体实施例中,对AOI数据解析程式的界面首页的UI进行设计,该界面首页的设计需求为:
(1)AOI测试日志仅保留前20笔,其他的保存在该系统的根目录中;
(2)具有开启按钮,在点按该按钮后自动开始对AOI测试日志中的数据进行解析;
在具体实施例中,若已知SMT线体生产的联板上的任一产品的产品编号ISN,都可以按照一定的算法计算出这一联板上所有的产品的产品编号(ISN)。
针对AOI设备只能扫描到一个ISN条码的情况,需要根据识别到的ISN条码计算出其他产品的ISN条码,并一起过站,如果结果为NG,则仅上传不良的ISN,其他的推算出相应ISN编号后以PASS状态处理。
请参阅图8,当AOI设备只能扫描到一个产品编号的条码时,需要根据识别到的产品编号ISN追溯到这一联板上的其他产品,并一起过站。如果结果为NG,则仅上传不良的ISN,其他的推算出相应ISN编号后以PASS状态处理。
当AOI设备可以识别一个生产出来的联板上所有ISN时,依次分别处理。AOI在读取ISN时并非全部都能读取到,有时可能只读取一个,这时后台解析程序会根据其中一个解析到的ISN通过算法计算出同一个联板上的所有ISN,并针对这些ISN分别做发站(过站)处理。
请参阅图9,解析AOI设备测试数据的系统的配置界面的UI设计需求说明:
(1)设置有“源文件备份路径”和“备份多少分钟内的数据”,且上述两个选项可以为空;
(2)系统解析成功后,将对应的文件解析到“解析成功后的备份路径”,并删除该“解析路径”下的文件。
该系统的处理逻辑如下:
一、针对“过站记录”和“不良记录”等不同文件的同步问题:
(1)先对TXT文件进行解析,过站记录表中所有的ISN进入后先预设成“Pass”状态;
(2)对CSV文件进行解析后,针对不良的产品修改过站记录表中的“产品状态”,并插入不良记录到“不良记录表”中;
二、针对解析方案的探讨:
在另一种具体实施例中,不通过新建文件夹进行相应的解析操作,而是直接在AOI测试日志存储的源文件夹中进行解析,是否解析成功的状态由数据系统后台标识来控制,在具体实施例中,包含一级目录和二级目录的解析状态和是否成功的状态。
AOI测试日志会被设定自动存储在开放特定共享目录的远程文件服务器上,且不同型号的AOI设备产生的文件一般都会有多级目录,比如Omron型AOI设备,会同时产生两个文件,一个是过站信息文件,一个是不良信息文件,这两个文件并非放在同一个文件夹,而是分别放在一级目录和二级目录内,以示区分。其中二级目录内还会有大量的影像数据。
E.g:
OMRON型AOI设备:解析过站信息\\172.30.140.58\ShareData\InspectionResult;
OMRON型AOI设备:解析不良信息\\172.30.140.58\imscsv。
在具体实施例中,“新建文件夹”是用户手动在文件服务器上建立的,由用户自行命名,之后将新建的文件夹对应的目录设定在图9所示的复制单元中,复制单元就是根据此文件夹进行数据转存的。只有将数据转存后解析工作和AOI设备本身的图像分析工作才不会有资源冲突。
请参照图5、6,在本发明的一个具体实施例中,包括以下步骤:
(1)建立文件服务器,开启文件共享服务;
(2)设定AOI设备产生文件的路径,将AOI设备产生的文件存放在远端的文件服务器的共享目录中,且此共享目录可以允许多个AOI设备使用;
(3)使用复制单元和删除单元,定期将AOI设备产生的文件复制到一个临时路径(新建文件夹),比如复制过去2小时内产生的数据,并定期删除已经复制过的文件,比如删除10天前的数据,以降低服务器压力,提高解析速度;
(4)使用解析单元定期解析临时文件夹(新建文件夹)中的数据,并将解析后的数据上传至MES数据系统;解析完后删除临时文件夹中解析完成的文件,解析不成功则下次继续Retry;
(5)开发MES数据系统发站使用的底层程序procedure供AOI测试数据解析系统调用,用于单片发站和批量发站。
请参见图6,可通过该AOI测试数据解析系统对AOI测试日志进行两次检查操作,记录通过检查的为PASS,不通过检查的为Fail,当AOI设备的AOI测试日志中的数据第一次PASS,第二次PASS时,该产品直接忽略,不做任何处理;而第一次PASS,第二次Fail时,需要将该产品按不良品处理;第一次FAIL,第二次PASS时,按良品处理;第一次FAIL,第二次Fail时,按不良品处理。
在具体实施例中,可将AOI测试数据解析系统分为两大部分,第一部分是文件服务器的架设,对多少SMT线体配置一个文件服务器进行设置,基本上可以配置每3条SMT线体配置一个文件服务器,这样效能和投入成本最合理,第二部分是软件的开发,共2个基础资料设定表单和复制单元、解析单元等的组成。
采用了本发明的AOI测试数据解析系统及其方法,能够解析AOI测试日志并将重要的数据提取转换成MES数据系统中过站使用数据的方法,并提供了解决现有业务需求过程中遇到的效能问题,使得企业可以大大提高效率,降低人力成本。
在此说明书中,本发明已参照其特定的实施例作了描述。但是,很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围。因此,说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。

Claims (7)

1.一种AOI测试数据解析系统,其特征在于,包括相互连接的AOI解析部分和文件服务器,且所述的文件服务器连接AOI设备,所述的AOI解析部分连接MES数据系统,且所述的AOI设备连接SMT线体,且
所述的AOI设备用于对SMT线体上生产的产品进行检查,并生成对应的AOI测试日志传输至所述的文件服务器,由所述的文件服务器进行存储;
所述的AOI解析部分用于对文件服务器中获取到的AOI测试日志进行解析,获取所需数据存入到MES数据系统;
所述的AOI解析部分包括复制单元、删除单元、解析单元和控制单元,且所述的复制单元、删除单元和解析单元均与控制单元相连接,且
控制单元,用于控制所述的复制单元、删除单元、解析单元;
复制单元,用于根据控制单元的控制,复制文件服务器中待解析的AOI测试日志到对应的新建文件夹;
删除单元,用于根据控制单元的控制,对新建文件夹中解析成功的AOI测试日志进行删除操作;
解析单元,用于根据控制单元的控制,用于对新建文件夹中的AOI测试日志进行解析操作,并将解析后获取的数据上抛到MES数据系统;
所述的AOI解析部分还包括判断单元,用于根据控制单元的控制,判断删除单元是否成功进行删除操作,判断解析单元是否成功进行解析操作,以及判断待解析的AOI测试日志所对应的AOI设备的类型。
2.根据权利要求1所述的AOI测试数据解析系统,其特征在于,所述的控制单元中设置有用于进行解析操作的表项,包括:
AOI设备与SMT线体对应表项,用于将AOI设备与该AOI设备连接的SMT线体一一对应;
AOI设备对MES数据系统不良代码对应表项,用于将AOI测试日志中出现的不良代码与不良原因一一对应。
3.一种基于权利要求1至2中任一项所述的AOI测试数据解析系统实现AOI测试数据解析的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)所述的AOI解析部分识别AOI设备型号,并根据AOI设备型号进行文件解析;具体包括以下步骤:
(1.1)通过判断单元对该AOI测试日志对应的AOI设备的类型进行判断,若是Omron型AOI设备,则进入步骤(1.2),若是KY 3D型AOI设备,则进入步骤(1.3),或是其他类型的AOI设备,则预留不做处理;
(1.2)通过复制单元复制该Omron型AOI设备输出的AOI测试日志中的TXT文件到新建文件夹中;
(1.3)通过解析单元对新建文件夹中的文件进行解析,获取其中的过站记录和/或不良记录;
(2)所述的AOI解析部分从解析后的文件中提取相关数据存储到MES数据系统中。
4.根据权利要求3所述的基于AOI测试数据解析系统实现AOI测试数据解析的方法,其特征在于,Omron型AOI设备对应的新建文件夹和KY 3D型AOI设备对应的新建文件夹中都包括CSV文件,且所述的步骤(2)包括以下步骤:
通过所述的解析单元解析Omron型AOI设备对应的新建文件夹中的CSV文件,获取其中的不良记录,并将其存入MES数据系统;
通过所述的解析单元解析Omron型AOI设备对应的新建文件夹中的TXT文件,获取其中的过站记录,并将其存入MES数据系统;
通过所述的解析单元解析KY 3D型AOI设备对应的新建文件夹中的CSV文件,获取其中的过站记录和不良记录,并将两者存入到MES数据系统。
5.根据权利要求3所述的基于AOI测试数据解析系统实现AOI测试数据解析的方法,其特征在于,所述的方法还包括:
所述的AOI解析部分通过控制单元控制所述的删除单元对两种新建文件夹中的文件进行删除操作;以及
所述的AOI解析部分通过控制单元控制所述的判断单元对文件的删除操作的成功与否和解析操作的成功与否进行判定。
6.根据权利要求3所述的基于AOI测试数据解析系统实现AOI测试数据解析的方法,其特征在于,所述AOI解析部分还对判断单元输出的解析操作未成功的文件进行再解析。
7.根据权利要求3所述的基于AOI测试数据解析系统实现AOI测试数据解析的方法,其特征在于,所述的步骤(1.1)之前还包括:
(1.0)在所述的控制单元中设置供解析模块进行解析操作的表项,所述的表项包括:
AOI设备与SMT线体对应表项,用于将AOI设备与该AOI设备连接的SMT线体一一对应;
AOI设备对MES数据系统不良代码对应表项,用于将AOI测试日志中出现的不良代码与不良原因一一对应。
CN201810091056.0A 2018-01-30 2018-01-30 Aoi测试数据解析系统及其方法 Active CN108279655B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810091056.0A CN108279655B (zh) 2018-01-30 2018-01-30 Aoi测试数据解析系统及其方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810091056.0A CN108279655B (zh) 2018-01-30 2018-01-30 Aoi测试数据解析系统及其方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108279655A CN108279655A (zh) 2018-07-13
CN108279655B true CN108279655B (zh) 2021-06-04

Family

ID=62805768

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810091056.0A Active CN108279655B (zh) 2018-01-30 2018-01-30 Aoi测试数据解析系统及其方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108279655B (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102147758A (zh) * 2011-03-16 2011-08-10 深圳创维数字技术股份有限公司 一种待测设备自动编译及配置方法、装置、系统
CN104091248A (zh) * 2014-07-31 2014-10-08 武钢集团昆明钢铁股份有限公司 一种钢坯精整信息管理系统与方法
CN104700217A (zh) * 2015-03-17 2015-06-10 歌尔声学股份有限公司 采集测试数据的方法及系统

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102147758A (zh) * 2011-03-16 2011-08-10 深圳创维数字技术股份有限公司 一种待测设备自动编译及配置方法、装置、系统
CN104091248A (zh) * 2014-07-31 2014-10-08 武钢集团昆明钢铁股份有限公司 一种钢坯精整信息管理系统与方法
CN104700217A (zh) * 2015-03-17 2015-06-10 歌尔声学股份有限公司 采集测试数据的方法及系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN108279655A (zh) 2018-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106610854B (zh) 一种模型更新方法及装置
CN108170447A (zh) 芯片在线自动烧录方法和系统
CN111552632A (zh) 一种接口测试方法及装置
CN105245392A (zh) 基线检查修复方法及装置
CN109634846B (zh) 一种etl软件测试方法和装置
CN113010413A (zh) 一种接口自动化测试方法和装置
CN108279655B (zh) Aoi测试数据解析系统及其方法
CN117539849A (zh) 异构数据库的数据迁移方法及装置、存储介质、电子装置
CN110807000B (zh) 一种文件修复方法、装置、电子设备和存储介质
CN112579699A (zh) 业务数据处理链路的质量监控方法、系统及存储介质
CN117575488A (zh) 一种生产配方的管理方法、系统及装置
CN115358607B (zh) 一种订单工艺一键复制维护的方法、装置和存储介质
CN117850706B (zh) 一种计算机数据存储方法及系统
CA3114250C (en) Machine assisted data aggregation
CN114004583B (zh) 部件信息处理方法、装置、计算机设备和存储介质
CN116303104A (zh) 自动化流程缺陷筛查管理方法、系统和可读存储介质
CN117851487A (zh) 数据采集方法、装置、电子设备和存储介质
CN112764740A (zh) 一种基于Shell的应用在系统间文件交互中的处理方法
CN116319333A (zh) 一种电网调度控制系统的配置文件自动检查方法及系统
CN116010393A (zh) 一种数据治理方法、系统、设备和介质
CN115795098A (zh) 一种平台数据处理的方法和装置
CN115801415A (zh) 一种旁路验证系统及其验证方法和装置
CN115776508A (zh) 一种埋点校验方法及系统
CN114186891A (zh) 基于mes系统的过程质量巡检单自动生成方法
CN117312274A (zh) 一种数据库检测修复方法、系统、存储介质及设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant