CN108267467A - 一种便携式多用途x射线分析仪 - Google Patents

一种便携式多用途x射线分析仪 Download PDF

Info

Publication number
CN108267467A
CN108267467A CN201810253549.XA CN201810253549A CN108267467A CN 108267467 A CN108267467 A CN 108267467A CN 201810253549 A CN201810253549 A CN 201810253549A CN 108267467 A CN108267467 A CN 108267467A
Authority
CN
China
Prior art keywords
connecting plate
groove
ray
diffraction
sample stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201810253549.XA
Other languages
English (en)
Inventor
张伟民
王典洪
倪效勇
熊德云
杨勇奇
徐朝玉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
China University of Geosciences
Original Assignee
China University of Geosciences
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China University of Geosciences filed Critical China University of Geosciences
Priority to CN201810253549.XA priority Critical patent/CN108267467A/zh
Publication of CN108267467A publication Critical patent/CN108267467A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G01N23/2076Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明涉及一种便携式多用途X射线分析仪,包括底架,底架上侧面安装有固定架,固定架包括第一连接板、第二连接板、顶板和若干支撑架,固定架顶板位置安装X射线管,X射线管下端部穿过第二连接板且其方向竖直向下,第二连接板下侧面安装有荧光探测器,荧光探测器上侧面设有样品放置台,第一连接板上侧面从上至下依次安装有荧光实验装置、铅板和快门,第一连接板下侧面从上至下依次安装有位移台和衍射实验装置,衍射实验装置下方底架上安装真空腔,且真空腔内设有衍射光谱探测器,X射线管发射的X射线可以照射样品放置台中样品并被荧光探测器接收进行荧光实验,也可以穿过铅板照射至衍射实验装置内进行衍射实验,结构简单且操作便捷。

Description

一种便携式多用途X射线分析仪
技术领域
本发明涉及材料行业分析领域,具体涉及一种便携式多用途X射线分析仪。
背景技术
目前对材料进行荧光分析和衍射分析时,都需要购买荧光分析仪和衍射分析仪,这些设备价格比较贵,其中衍射分析的设备多采用衍射仪法,但是采用这种方式的设备体积大,仅限于实验室环境分析,对于在野外、海洋、现场环境的检测分析是不太适用的。
发明内容
有鉴于此,本发明的公开了一种便携式多用途X射线分析仪,结构简单且小型化,同时可以进行荧光分析实验又能进行衍射分析实验。
本发明的提供一种便携式多用途X射线分析仪,包括底架,所述底架上侧安装有固定架,所述固定架包括通过若干支撑架从下至上平行设置有一第一连接板、一第二连接板和一顶板,所述顶板下侧安装与所述顶板下侧面互为角度的一X射线管,所述X射线管下端部竖直向下地穿过所述第二连接板,所述第二连接板下侧面安装有一荧光探测器,所述第一连接板上侧通过一长螺栓固定安装一荧光实验装置,所述荧光实验装置包括一第一滑槽和一第一样品台,所述第一滑槽中部设有一贯穿的圆孔,所述第一样品台可在所述第一滑槽内滑动以开合所述圆孔,当所述第一样品台闭合所述圆孔时,所述第一样品台位于所述X射线管下方以接收所述X射线管发出的X射线,且其开口方向与所述荧光探测器探头方向相对,用以将照射在所述第一样品台中实验样品的X射线反射入所述荧光探测器;
所述荧光实验装置与所述第一连接板间从上至下依次安装有铅板和快门,所述长螺栓另一端穿过所述第一连接板固定安装有一中空的位移台,所述位移台底部固设有一衍射实验装置,所述衍射实验装置包括一第二滑槽和一第二样品台,所述铅板、所述第一连接板和所述第二滑槽均设有可供X射线通过的通孔,当所述第一样品台打开所述圆孔时,所述X射线可通过所述通孔依次穿过所述圆孔、所述铅板、所述快门、所述第一连接板和所述位移台照射在所述第二样品台中;
所述衍射实验装置正下方底架上安装一真空腔,所述真空腔顶部密封安装一法兰,且所述真空腔内设有一衍射光谱探测器,从所述快门进入的X射线照射在所述第二样品台内的晶体粉末上发生衍射,并被所述衍射光谱探测器接收形成衍射花样来确定晶体结构。
进一步地,所述底架上表面设有一圈凹槽,所述凹槽内安装有一可对固定架进行密封的防护罩,所述防护罩右侧设有一窗口,用于抽取所述第一样品台以开合所述圆孔或更换第二样品台内的晶体粉末,所述窗口前后两侧的防护罩右侧面设有一对平行设置的滑槽,所述滑槽内穿插有一可竖向移动的滑块以开合所述窗口。
进一步地,所述第一滑槽和所述第二滑槽的结构相同,所述第一滑槽和所述第二滑槽均包括一滑槽连接板和位于所述滑槽连接板两端的滑槽块,所述滑槽块相对一侧设有凹槽,两个所述凹槽及其间距形成一滑道,所述第一样品台可在所述第一滑槽形成的滑道内移动,所述第二样品台可在所述第二滑槽形成的滑道内移动。
进一步地,所述第二滑槽内的滑槽连接板顶部设有圆形凹槽,所述圆形凹槽中心处贯穿设有所述通孔,所述圆形凹槽内设有一圆片,所述第二滑槽内的滑槽连接板上固定设有一用于固定所述圆片的圆片盖。
进一步地,每一所述滑槽块内均对称设有一对贯穿的通道,所述通道与所述滑槽块上所述凹槽一侧相交于开口A,所述通道与所述滑槽块背离所述凹槽一侧相交于开口B,所述通道内设有一圆球,位于开口B一侧的所述滑槽块侧面上固定安装有一挡板,所述圆球和所述挡板间均设有一弹簧,所述开口A的直径小于所述圆球的直径,所述开口B的直径不小于所述圆球的直径,所述挡板挤压所述弹簧可将所述圆球推向所述开口A使所述圆球在所述凹槽内形成一突出。
进一步地,所述第一样品台包括一第一滑台和一样品放置台,所述第一滑台上侧面固设有所述样品放置台,所述样品放置台内放置用于发生荧光反应的实验样品,
所述第二样品台包括一第二滑台和一粉末环,所述粉末环内放置用于发生衍射的晶体粉末,所述第二滑台下侧面内设有一安置槽,所述安置槽顶部中心处设有一贯穿的透光孔,所述粉末环置于所述安置槽内且其上下两侧的所述安置槽内分别设有一衍射窗口A和一衍射窗口B。
进一步地,所述第一滑台和第二滑台的宽度与两所述凹槽的间距相同,且位于所述第一滑台和第二滑台宽度方向的侧面均设有与所述凹槽相配的凸起,所述凸起上设有与所述突出相配的限位槽。
进一步地,所述位移台为XY中空位移台,所述位移台包括从上至下依次安装的固定板、X轴导轨和Y轴导轨,所述的X轴导轨与所述固定板间安装有X轴行程可调旋钮,所述Y轴导轨与所述固定板间安装有Y轴行程可调旋钮。
进一步地,所述真空腔与所述衍射实验装置间具有一定间隔,所述真空腔顶部的法兰为铍窗制成。
进一步地,所述底架包括平行设置的第一底板和第二底板,所述第一底板和第二底板四个角均通过一竖直的地脚进行穿插固定,所述第一底板和所述第二底板间固定有一可为所述X射线管和所述荧光探测器通电的航空插头。
本发明提供的技术方案带来的有益效果是:本发明的便携式多用途X射线分析仪,既可以进行荧光实验对物质进行定性和定量分析,又能进行衍射实验对物质可进行物相分析、晶体结构分析,两者的综合能够得出更多的分析数据;同时通过防滑罩外的窗口对荧光实验装置中的所述第一滑台进行抽拉操作,就可以从荧光实验切换至衍射实验来操作,使得整个便携式多用途X射线分析仪设备小型化、便携式并且操作简单,可方便野外、海洋、现场环境的检测分析。
附图说明
图1是本发明实施例便携式多用途X射线分析仪的整体结构示意图;
图2是本发明实施例便携式多用途X射线分析仪的内部结构示意图;
图3是本发明实施例便携式多用途X射线分析仪中的荧光实验装置和衍射实验装置的连接结构爆炸图;
图4是图1中荧光实验装置的整体结构图;
图5是图4的结构爆炸图;
图6是图1中衍射实验装置的整体结构图;
图7是图6的结构爆炸图;
图8是图6的背面结构爆炸图。
图中:
1、底架;101、第一底板;102、第二底板;103、地脚;2、固定架;3、第一连接板;4、第二连接板;5、顶板;6、支撑架;7、X射线管;8、荧光探测器 9、荧光实验装置 91、第一滑槽92、第一样品台 921、第一滑台 922、样品放置台 93、第一吊环 10、铅板 11、快门 12、圆孔13、位移台 14、衍射实验装置 141、第二滑槽 142、第二样品台 1421、第二滑台 1422、粉末环 143、第二吊环 15、安置槽 151、透光孔 152、衍射窗口A 153、衍射窗口B 16、通孔 17、真空腔 18、防护罩 181、窗口 182、滑槽 183、滑块 19、滑槽连接板 20、滑槽块 201、凹槽202、通道 203、圆球 204、弹簧 205、挡板 21、凸起 211、限位槽 22、圆形凹槽 23、圆片24、圆片盖 25、航空插头。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地描述。
请参考图1和图2,本发明的实施例公开了一种便携式多用途X射线分析仪,包括底架1,所述底架1包括平行设置的第一底板101和第二底板102,所述第一底板101和第二底板102四个角均通过一竖直的地脚103进行穿插固定,通过对所述地脚103的调节,可以实现底架1在不同地面上的水平放置。所述底架1上侧面安装有固定架2,所述固定架1包括一第一连接板3、一第二连接板4、一顶板5和若干支撑架6,所述第一连接板3、所述第二连接板4和所述顶板5从下至上平行设置,且所述第一连接板3与所述底架1间、所述第二连接板4和所述第一连接板3间及所述顶板5和所述第二连接板4间四个角均通过所述支撑架6固定安装形成所述固定架2。所述支撑架6可为铝合金立柱,且铝合金立柱上下两端均通过角铁将所述支撑架6进行固定。所述固定架2内安装有一荧光实验装置9和一衍射实验装置14。
所述底架1上表面设有一圈凹槽,所述凹槽内安装有一可对固定架2进行密封的防护罩18,所述防护罩18右侧设有一窗口181,所述窗口181前后两侧的防护罩18右侧面设有一对平行设置的滑槽182,所述滑槽182内穿插有一可竖向移动的滑块183。这样可以保证在进行荧光实验或者衍射实验时可以在一个不透光且密闭的环境下进行,同时打开窗口181可以对所述荧光实验装置9和衍射实验装置15进行操作。
所述顶板5下侧面通过第一连接件安装一与所述顶板5下侧面互为角度的X射线管7,所述第一连接件可为X射线管角铁,X射线管角铁与所述顶板5下侧面之间的角度一般为68°,由此保证所述X射线管7下端部可以竖直向下,所述X射线管7下端部竖直向下地穿过所述第二连接板4,以此保证X射线管7射出的X射线能够竖直向下射出,所述第二连接板4和所述第一连接板3间构成荧光实验装置的区域,所述第二连接板4下侧面通过第二连接件安装有一荧光探测器8,所述第一连接板3上侧通过一长螺栓固定安装一荧光实验装置9。
请参考图4和图5,所述荧光实验装置9包括一第一滑槽91和一第一样品台92,所述第一滑槽91包括两个位于同一水平面内的滑槽块20,以及两所述滑槽块20底部安装的一滑槽连接板19,所述滑槽块20形状相同且左右两侧面位于同一竖直平面内,两所述滑槽块20对称设在所述滑槽连接板19上侧面前后两端,所述滑槽块20相对一侧设有凹槽201,两个所述凹槽201及其间距形成一滑道,在本实施方式中,所述凹槽201可为V型槽,由此所述滑道可形成一燕尾槽,每一所述滑槽块20内均对称设有一对贯穿的通道202,所述通道202与所述滑槽块20上所述凹槽201一侧相交于开口A,所述通道202与所述滑槽块20背离所述凹槽201一侧相交于开口B,所述通道202内设有一圆球203,所述滑槽块20背离所述凹槽201一侧的侧面上固定安装有一挡板205,每一所述圆球203和所述挡板205间均设有一弹簧204,所述开口A的直径小于所述圆球203的直径,所述开口B的直径不小于所述圆球203的直径,可将所述圆球203从开口B处放入所述通道202内,所述挡板205挤压所述弹簧204可将所述圆球203推向所述开口A形成一突出,在本实施方式中,所述开口A留下的空间能使所述圆球203露出的部分占整个体积的1/3,留在所述通道202内的部分占整体体积的2/3,所述第一滑台921的宽度与两所述凹槽201的间距相同,且位于所述第一滑台921宽度方向的两侧面均设有与所述凹槽201相配的凸起21,所述凸起21可为与上述V型槽相配的V型凸起,所述凸起21上设有与所述突出相配的限位槽211,所述限位槽211的形状可以所述圆球203突出所述开口A的形状相同,为圆球203整个体积的1/3,这样位于同一条直线上的圆球203就可以对位于同一直线上的所述限位槽211配合,从而对所述第一滑台921进行固定。
所述第一滑台921其中一侧固定安装一第一吊环93,所述第一吊环93和所述第一滑台921的连接处还设有一第一滑台挡块,同时两个所述滑槽块20位于所述第一吊环93这一侧面设有缺口,所述缺口的形状和所述第一滑台挡块两端的形状相配,所述第一滑台挡块的厚度加上所述第一滑台921的长度与所述滑槽块20的长度相同,所述第一滑台挡块、第一滑台921和所述滑槽块20的厚度相同,因此当推动所述第一吊环93使所述第一滑台921完全进入至滑道内时,两所述滑槽块20、所述第一滑台921及所述第一滑台挡板可以形成一个完整的立方体,整体性更佳。
所述第一滑槽91内的滑槽连接板19中心处设有一圆孔12,所述第一滑台921上侧面中心处固定设有所述样品放置台922,当所述第一滑台921完全进入至滑道内时,即两对所述限位槽211全部和两对圆球203配合接触,所述圆孔12被所述第一滑台921完全遮挡,此时所述样品放置台922开口方向与所述荧光探测器8探头方向相对,所述样品放置台922的纵截面为直角三角形,位于斜边的那一面为开口,此时X射线管7放射出的X射线从下端部射出,照射在所述样品放置台922中的实验样品,随后在所述样品放置台922内二次反射的X射线会被所述荧光探测器8所接收到,从而确定实验样品中的微量元素的种类和含量。
请参考图3、图6、图7和图8,所述荧光实验装置9四个角均通过一长螺栓穿插过所述第一连接板3下端固定安装有所述衍射实验装置14,所述衍射实验装置14包括一第二滑槽141和一第二样品台142,所述荧光实验装置9与所述第一连接板3上侧面间从上至下依次安装有一铅板10和一快门11,所述第一连接板3下侧面与所述衍射实验装置14间固定安装有一位移台13,所述第一连接板3、所述第二滑槽141和所述铅板10上均设有可供X射线通过的通孔16,特别地,所述铅板10上的通孔16为一个很微小的孔,具体可为直径100μm的微孔,由于铅材料对X射线有很好的吸收作用,这样X射线通过微孔之后可保证仅有很少量的X射线从微孔中穿过进行衍射实验。当进行衍射实验时,还需手动拉动所述第一吊环93将所述第一滑台921移出所述滑道,直至只有一对所述限位槽211和一对圆球203配合接触时或所述第一滑台921完全被抽出时,所述圆孔12和所述第一滑台921纵向错开,而使得所述圆孔12打开使得X射线可以穿过所述荧光实验装置9继续向下照射。
所述第二滑槽141和所述第一滑槽91的结构相同,在本实施方式中,所述第二滑槽141内的滑槽连接板19顶部设有一圆形凹槽22,所述圆形凹槽22中心处设有所述通孔16,所述圆形凹槽22内设有一圆片23,所述滑槽连接板19上固定设有一用于固定所述圆片23的圆片盖24,所述第二样品台142包括一第二滑台1421和一粉末环1422,所述第二滑台1421底部设有一安置槽15,所述安置槽15顶部中心处设有一贯穿的透光孔151,所述安置槽15内从上至下依次固定安装有衍射窗口A152、粉末环1422和衍射窗口B153,所述衍射窗口A152和衍射窗口B153为平面镜,所述粉末环1422内放置发生衍射实验的晶体粉末。
所述第二滑台1421其中一侧固定安装一第二吊环143,所述第二吊环143和所述第二滑台1421的连接处还设有一第二滑台挡块,同时两个所述滑槽块20位于所述第二吊环143这一侧面设有缺口,所述缺口的形状和所述第二滑台挡块两端的形状相配,所述第二滑台挡块的厚度加上所述第二滑台1421的长度与所述滑槽块20的长度相同,所述第二滑台挡块、第二滑台1421和所述滑槽块20的厚度相同,因此当推动所述第二吊环143使所述第二滑台1421完全进入至滑道内时,两所述滑槽块20、所述第二滑台1421及所述第二滑台挡板可以形成一个完整的立方体,当拉动所述第二吊环143使所述第二滑台1421移出滑道时,直至只有一对所述限位槽211和所述圆球203配合接触或所述第二滑台1421完全被抽出时,所述第二滑台1421上的安置槽15可以完全抽离出防护罩18,来拆卸和安装粉末环1422。
所述位移台13为XY中空位移台,所述位移台13包括从上至下依次安装的固定板、X轴导轨和Y轴导轨,所述的X轴导轨与所述固定板间安装有X轴行程可调旋钮,所述Y轴导轨与所述固定板间安装有Y轴行程可调旋钮,所述固定板与所述第一连接板固定安装,所述Y轴导轨与所述滑槽连接板固定安装,因此通过X轴行程可调旋钮和Y轴行程可调旋钮可以对所述衍射实验装置14的固定位置进行调节,从而保证X射线可以穿过通孔16进入至粉末环1422内的晶体粉末上发生衍射。
所述衍射实验装置14正下方底架上安装一真空腔17,所述真空腔17顶部密封安装一法兰,所述法兰采用铍窗材料,由于铍窗是由铍元素组成,它原子序数是4,对X射线的吸收较少,主要吸收波长较长的X射线,而对于波长较短的用于XRD和XRF分析的特征X谱线有较高的穿透率,而且铍的机械强度较大,延展性好,可以做到几微米,非常适合做密封真空下的窗体材料,因此铍窗材料是X射线进入腔体的唯一途径。且所述真空腔17内设有一衍射光谱探测器,所述真空腔17是为衍射光谱探测器检测衍射光子提供最佳的制冷和绝对无可见光影响的探测环境而设定的,这样经过衍射实验中的X射线入射并经过校准孔击打粉末晶体,粉末晶体因为自身原子结构空间的组成,会产生不同的衍射光线,出来的光线被所述衍射光谱探测器检测到,通过检测的衍射光线的不同来确定粉末晶体的成分。
所述底架1中的所述第一底板101和所述第二底板102间固定有一用于为所述X射线管7和所述荧光探测器8通电的航空插头25。
当进行荧光实验时,所述航空插头25接入电源线接通,将所述第一滑台921插入至所述第一滑槽91内,使得所述第一滑槽91内滑槽连接板19中心处的圆孔12被所述第一滑台921完全遮挡,此时所述X射线管7发出的X射线从下端部射出,照射在位于正下方的所述样品放置台922内,X射线将所述样品放置台922内的实验样品照射后发生二次反射,并最终被所述荧光探测器8所接收到,从而进行确认实验样品中的微量元素的种类和含量。
当进行衍射实验时,向上拉动滑块183打开所述防滑罩18上的窗口181,进而通过拉动第一吊环93将所述第一滑台921从第一滑槽91内拉出,保持所述滑槽连接板19上的圆孔12处于打开状态,并通过位移台13上的X轴行程可调旋钮和Y轴行程可调旋钮进行调节,从而实现将所述粉末环1422和所述通孔16位于同一竖直线上,最后推动滑块183下落将所述防护罩18上的窗口181闭合,所述快门11打开使得所述X射线管7发出的X射线可以依次穿过所述第一滑槽91内的滑槽连接板19上的圆孔12、所述铅板10、所述第一连接板3上的通孔16和所述位移台13的通孔16并最终透过衍射窗口A152照射在所述粉末环1422上,随后X射线与所述粉末环1422上的晶体粉末发生衍射,产生不同的衍射光线,所述快门11进行拍照,从而确定晶体粉末中的晶体结构,同时衍射的光线通过衍射窗口B153穿过由铍窗材料制成的法兰之后进入至真空腔17内,被所述衍射光谱探测器检测到,通过检测的衍射光线形成的衍射花样来确定晶体粉末中的成分。
本发明中所描述的具体实施例仅仅是对本发明精神作举例说明。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,但并不会偏离本发明的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
在不冲突的情况下,本文中上述实施例及实施例中的特征可以相互结合。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种便携式多用途X射线分析仪,包括底架,所述底架上侧安装有固定架,所述固定架包括通过若干支撑架从下至上平行设置有一第一连接板、一第二连接板和一顶板,其特征在于:
所述顶板下侧安装与所述顶板下侧面互为角度的一X射线管,所述X射线管下端部竖直向下地穿过所述第二连接板,所述第二连接板下侧面安装有一荧光探测器,所述第一连接板上侧通过一长螺栓固定安装一荧光实验装置,所述荧光实验装置包括一第一滑槽和一第一样品台,所述第一滑槽中部设有一贯穿的圆孔,所述第一样品台可在所述第一滑槽内滑动以开合所述圆孔,当所述第一样品台闭合所述圆孔时,所述第一样品台位于所述X射线管下方以接收所述X射线管发出的X射线,且其开口方向与所述荧光探测器探头方向相对,用以将照射在所述第一样品台中实验样品的X射线反射入所述荧光探测器;
所述荧光实验装置与所述第一连接板间从上至下依次安装有铅板和快门,所述长螺栓另一端穿过所述第一连接板固定安装有一中空的位移台,所述位移台底部固设有一衍射实验装置,所述衍射实验装置包括一第二滑槽和一第二样品台,所述铅板、所述第一连接板和所述第二滑槽均设有可供X射线通过的通孔,当所述第一样品台打开所述圆孔时,所述X射线可通过所述通孔依次穿过所述圆孔、所述铅板、所述快门、所述第一连接板和所述位移台照射在所述第二样品台中;
所述衍射实验装置正下方底架上安装一真空腔,所述真空腔顶部密封安装一法兰,且所述真空腔内设有一衍射光谱探测器,从所述快门进入的X射线照射在所述第二样品台内的晶体粉末上发生衍射,并被所述衍射光谱探测器接收形成衍射花样来确定晶体结构。
2.如权利要求1所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:所述底架上表面设有一圈凹槽,所述凹槽内安装有一可对固定架进行密封的防护罩,所述防护罩右侧设有一窗口,用于抽取所述第一样品台以开合所述圆孔或更换第二样品台内的晶体粉末,所述窗口前后两侧的防护罩右侧面设有一对平行设置的滑槽,所述滑槽内穿插有一可竖向移动的滑块以开合所述窗口。
3.如权利要求2所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:所述第一滑槽和所述第二滑槽的结构相同,所述第一滑槽和所述第二滑槽均包括一滑槽连接板和位于所述滑槽连接板两端的滑槽块,所述滑槽块相对一侧设有凹槽,两个所述凹槽及其间距形成一滑道,所述第一样品台可在所述第一滑槽形成的滑道内移动,所述第二样品台可在所述第二滑槽形成的滑道内移动。
4.如权利要求3所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:所述第二滑槽内的滑槽连接板顶部设有圆形凹槽,所述圆形凹槽中心处贯穿设有所述通孔,所述圆形凹槽内设有一圆片,所述第二滑槽内的滑槽连接板上固定设有一用于固定所述圆片的圆片盖。
5.如权利要求3或4所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:每一所述滑槽块内均对称设有一对贯穿的通道,所述通道与所述滑槽块上所述凹槽一侧相交于开口A,所述通道与所述滑槽块背离所述凹槽一侧相交于开口B,所述通道内设有一圆球,位于开口B一侧的所述滑槽块侧面上固定安装有一挡板,所述圆球和所述挡板间均设有一弹簧,所述开口A的直径小于所述圆球的直径,所述开口B的直径不小于所述圆球的直径,所述挡板挤压所述弹簧可将所述圆球推向所述开口A使所述圆球在所述凹槽内形成一突出。
6.如权利要求5所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:所述第一样品台包括一第一滑台和一样品放置台,所述第一滑台上侧面固设有所述样品放置台,所述样品放置台内放置用于发生荧光反应的实验样品,
所述第二样品台包括一第二滑台和一粉末环,所述粉末环内放置用于发生衍射的晶体粉末,所述第二滑台下侧面内设有一安置槽,所述安置槽顶部中心处设有一贯穿的透光孔,所述粉末环置于所述安置槽内且其上下两侧的所述安置槽内分别设有一衍射窗口A和一衍射窗口B。
7.如权利要求6所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:所述第一滑台和第二滑台的宽度与两所述凹槽的间距相同,且位于所述第一滑台和第二滑台宽度方向的侧面均设有与所述凹槽相配的凸起,所述凸起上设有与所述突出相配的限位槽。
8.如权利要求2所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:所述位移台为XY中空位移台,所述位移台包括从上至下依次安装的固定板、X轴导轨和Y轴导轨,所述的X轴导轨与所述固定板间安装有X轴行程可调旋钮,所述Y轴导轨与所述固定板间安装有Y轴行程可调旋钮。
9.如权利要求2所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:所述真空腔与所述衍射实验装置间具有一定间隔,所述真空腔顶部的法兰为铍窗制成。
10.如权利要求2所述便携式多用途X射线分析仪,其特征在于:所述底架包括平行设置的第一底板和第二底板,所述第一底板和第二底板四个角均通过一竖直的地脚进行穿插固定,所述第一底板和所述第二底板间固定有一可为所述X射线管和所述荧光探测器通电的航空插头。
CN201810253549.XA 2018-03-26 2018-03-26 一种便携式多用途x射线分析仪 Pending CN108267467A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810253549.XA CN108267467A (zh) 2018-03-26 2018-03-26 一种便携式多用途x射线分析仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810253549.XA CN108267467A (zh) 2018-03-26 2018-03-26 一种便携式多用途x射线分析仪

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108267467A true CN108267467A (zh) 2018-07-10

Family

ID=62777868

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810253549.XA Pending CN108267467A (zh) 2018-03-26 2018-03-26 一种便携式多用途x射线分析仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108267467A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111426712A (zh) * 2019-12-27 2020-07-17 江苏兴华胶带股份有限公司 一种基于x射线成图的自动锚链检测系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101669024B (zh) * 2007-03-06 2012-10-31 赛默飞世尔科技公司 X射线分析仪器
CN102128845B (zh) * 2009-10-22 2016-02-24 帕纳科有限公司 Xrd和xrf的组合装置
CN107228871A (zh) * 2017-07-21 2017-10-03 中国地质大学(武汉) 一种便携式x射线分析装置
CN107238620A (zh) * 2017-07-26 2017-10-10 中国地质大学(武汉) 一种可旋转试样的x射线荧光衍射集成分析仪
CN206729104U (zh) * 2017-04-16 2017-12-12 孙又来 一种低发酵红茶的发酵装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101669024B (zh) * 2007-03-06 2012-10-31 赛默飞世尔科技公司 X射线分析仪器
CN102128845B (zh) * 2009-10-22 2016-02-24 帕纳科有限公司 Xrd和xrf的组合装置
CN206729104U (zh) * 2017-04-16 2017-12-12 孙又来 一种低发酵红茶的发酵装置
CN107228871A (zh) * 2017-07-21 2017-10-03 中国地质大学(武汉) 一种便携式x射线分析装置
CN107238620A (zh) * 2017-07-26 2017-10-10 中国地质大学(武汉) 一种可旋转试样的x射线荧光衍射集成分析仪

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111426712A (zh) * 2019-12-27 2020-07-17 江苏兴华胶带股份有限公司 一种基于x射线成图的自动锚链检测系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN204086141U (zh) 原位激光质谱光谱同步测量分析仪
RU2397481C1 (ru) Рентгеновский спектрометр
CN101144786B (zh) 一种便携式土壤重金属分析仪
CN103808695B (zh) 一种基于激光诱导击穿光谱技术检测铁矿石全铁的方法
CA2931919C (en) Method and apparatus for online analysis by laser-induced spectroscopy
CN108267467A (zh) 一种便携式多用途x射线分析仪
CN102128847B (zh) 用于x射线荧光光谱仪的光谱信号获取装置
CN208921879U (zh) 一种组合式探地雷达装置
US4856351A (en) Sample chamber and system for analyzing fluid inclusions
CN105203575A (zh) 基于x射线荧光技术的水质重金属在线分析仪及分析方法
CN208171896U (zh) 一种便携式多用途x射线分析仪
CN1038874C (zh) 微区x射线荧光黄金首饰分析装置
CN105866157B (zh) 一种pm2.5重金属在线检测x荧光光谱仪
CN211205957U (zh) 多联电磁控制式可视化煤体坚固性系数测定用捣碎装置
CN207198068U (zh) 一种便携式x射线分析装置
US4960567A (en) Apparatus for analyzing fluid inclusions
CN104374698B (zh) 一种用于激光诱导击穿光谱检测的样品台
CN209182293U (zh) 一种改进结构的气相色谱仪机箱
CN204214767U (zh) 一种用于激光诱导击穿光谱检测的样品台
CN201903516U (zh) 测硫光电转换装置
CN206609810U (zh) 一种镀层的x荧光测试装置
CN216747502U (zh) 一种具有教学功能的x射线荧光光谱仪
CN219104726U (zh) 一种基于激光在线检测的煤质分析装置
CN218470546U (zh) 一种分体便携式三维荧光光谱仪
CN216747503U (zh) 一种能够快速更换吸收片的x射线荧光光谱仪

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB03 Change of inventor or designer information
CB03 Change of inventor or designer information

Inventor after: Zhang Weimin

Inventor after: Xiong Deyun

Inventor after: Wang Dianhong

Inventor after: Ni Xiaoyong

Inventor after: Yang Yongqi

Inventor after: Xu Chaoyu

Inventor before: Zhang Weimin

Inventor before: Wang Dianhong

Inventor before: Ni Xiaoyong

Inventor before: Xiong Deyun

Inventor before: Yang Yongqi

Inventor before: Xu Chaoyu

RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20180710