CN108254729B - 一种双拟合相位解缠绕方法和双拟合相位解缠绕装置 - Google Patents

一种双拟合相位解缠绕方法和双拟合相位解缠绕装置 Download PDF

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CN108254729B CN201810310870.7A CN201810310870A CN108254729B CN 108254729 B CN108254729 B CN 108254729B CN 201810310870 A CN201810310870 A CN 201810310870A CN 108254729 B CN108254729 B CN 108254729B
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Abstract

本发明涉及一种双拟合相位解缠绕方法和双拟合相位解缠绕装置，包括：预先确定检测参考体；确定所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布；根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布；根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布；根据所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数；根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数；根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。本方案能够避免因为穿过包含残差点的行为不连续区域，而造成局部误差的全局传播。

Description

一种双拟合相位解缠绕方法和双拟合相位解缠绕装置
技术领域
本发明涉及雷达技术领域，尤其涉及一种双拟合相位解缠绕方法和双拟合相位解缠绕装置。
背景技术
在紧缩场建设和使用过程中，需要首先掌握静区场幅度和相位分布性能以判定场区是否可用。针对静区尺寸较大的散射测试紧缩场暗室，采用检验大尺寸参考体散射，如长条型平板、圆盘等，进而反演电场幅相特性分布，是较为有效且快捷的静区性能检测方式。但是，由于三角函数的周期性，直接获取的相位是位于[-π,π)间的主值，即缠绕相位，而紧缩场静区场性能分布反演是要获得与理想平面波分布的幅相偏差量，因此，必须进行相位解缠绕处理。
目前，常用的相位解缠算法主要是最小范数法，如最小二乘法。但是，利用最小二乘法解缠绕时，会因为穿过包含残差点的行为不连续区域，而造成局部误差的全局传播，进而导致全局误差。
因此，针对以上不足，需要提供一种双拟合相位解缠绕方法和双拟合相位解缠绕装置。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，利用传统的相位解缠绕算法解缠绕时，会因为穿过包含残差点的行为不连续区域，而造成局部误差的全局传播，针对现有技术中的缺陷，提供一种双拟合相位解缠绕方法和双拟合相位解缠绕装置，能够避免因为穿过包含残差点的行为不连续区域，而造成局部误差的全局传播。
第一方面，本发明实施例提供了一种双拟合相位解缠绕方法，包括：
预先确定检测参考体；
确定所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布；
根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布；
根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布；
根据所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数；
根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数；
根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。
优选地，所述确定所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布，包括：
将所述检测参考体在方位角u、俯仰角v方向上的RCS值作为所述RCS角度分布，其中，所述RCS值为复数；
所述根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布，包括：
根据以下公式确定在直角坐标系(x，y)位置上的双程电场的幅相值，将确定出的所述在直角坐标系(x，y)上的双程电场的幅相值的集合作为所述双程电场的空间分布，
Figure GDA0002270756690000021
其中，Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布，S(u，v)表征所述RCS角度分布，e表征自然底数，j表征虚数单位。
优选地，所述根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布，包括：
根据以下公式确定直接辐射场分布，
Figure GDA0002270756690000022
其中，所述Ecr(x，y)表征所述直接辐射场分布，所述Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布。
优选地，所述根据所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数，包括：
对所述直接辐射场分布进行积分变换，获取相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据；
对所述相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据；
对所述幅度空间位置分布数据和所述单调积累相位空间位置分布数据，分别进行二阶多项式拟合逼近，获取幅相双拟合系数。
优选地，所述根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据，包括：
利用所述幅度锥度表达函数，获取修正数据；
利用所述修正数据，提取所述单调积累相位空间位置分布数据的缠绕分量；
根据所述缠绕分量，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。
优选地，特征在于，
所述根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数，包括：
利用所述幅相双拟合系数，构造幅相修正函数；
利用构造的所述幅相修正函数，获取幅度锥度表达函数。
第二方面，本发明实施例提供了一种双拟合相位解缠绕装置，包括：
检测参考体确定模块，用于预先确定检测参考体；
反演变换模块，用于确定所述检测参考体确定模块确定的所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布；根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布；根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布；
解缠处理模块，用于根据所述反演变换模块确定的所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数；根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数；根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。
优选地，所述反演变换模块，用于将所述检测参考体在方位角u、俯仰角v方向上的RCS值作为所述RCS角度分布，其中，所述RCS值为复数；
根据以下公式确定在直角坐标系(x，y)位置上的双程电场的幅相值，将确定出的所述在直角坐标系(x，y)上的双程电场的幅相值的集合作为所述双程电场的空间分布，
Figure GDA0002270756690000041
其中，Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布，S(u，v)表征所述RCS角度分布，e表征自然底数，j表征虚数单位。
优选地，所述反演变换模块，用于根据以下公式确定直接辐射场分布，
Figure GDA0002270756690000042
其中，所述Ecr(x，y)表征所述直接辐射场分布，所述Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布。
优选地，所述解缠处理模块，用于对所述直接辐射场分布进行积分变换，获取相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据；对所述相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据；对所述幅度空间位置分布数据和所述单调积累相位空间位置分布数据，分别进行二阶多项式拟合逼近，获取幅相双拟合系数。
在本发明实施例中，通过预先确定检测参考体，即将检测参考体作为检测面基准，即可确定出检测参考体的RCS角度分布，再根据RCS角度分布确定双程电场的空间分布，进而确定直接辐射场分布，而在确定出直接辐射场分布后不是采用路径跟踪法或最小二乘法进行解缠，而是根据直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数，进而获取幅度锥度表达函数，再通过幅度锥度表达函数获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。综上可见，由于场的幅值特性不存在缠绕现象，因此通过上述方法解缠绕，可以避免在变换过程中，由于目标不同散射角度间存在时间差异导致的相位直接反演的结果存在相位波动积累而造成的相位纠缠现象。
附图说明
图1是本发明一实施例提供的一种双拟合相位解缠绕方法的流程图；
图2是本发明一实施例提供的归一化场强分布的示意图；
图3是本发明一实施例提供的相位分布的示意图；
图4是本发明一实施例提供的一维角谱积分变换后原始相位数据的示意图；
图5是本发明一实施例提供的单调积累相位空间位置分布数据的示意图；
图6是本发明一实施例提供的解缠绕后的相位分布的示意图；
图7是本发明一实施例提供的存在波动积累的线性相位分布和解纠缠后的相位分布的示意图；
图8是本发明一实施例提供的另一种双拟合相位解缠绕方法的流程图；
图9是本发明一实施例提供的一种双拟合相位解缠绕装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
如图1所示，本发明实施例提供的一种双拟合相位解缠绕方法，包括：
步骤101：预先确定检测参考体；
步骤102：确定所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布；
步骤103：根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布；
步骤104：根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布；
步骤105：根据所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数；
步骤106：根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数；
步骤107：根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。
在本发明实施例中，通过预先确定检测参考体，即将检测参考体作为检测面基准，即可确定出检测参考体的RCS角度分布，再根据RCS角度分布确定双程电场的空间分布，进而确定直接辐射场分布，而在确定出直接辐射场分布后不是采用路径跟踪法或最小二乘法进行解缠，而是根据直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数，进而获取幅度锥度表达函数，再通过幅度锥度表达函数获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。综上可见，由于场的幅值特性不存在缠绕现象，因此通过上述方法解缠绕，可以避免在变换过程中，由于目标不同散射角度间存在时间差异导致的相位直接反演的结果存在相位波动积累而造成的相位纠缠现象。
实施例二
在本发明一实施例中，所述确定所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布，包括：
将所述检测参考体在方位角u、俯仰角v方向上的RCS值作为所述RCS角度分布，其中，所述RCS值为复数；
所述根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布，包括：
根据以下公式确定在直角坐标系(x，y)位置上的双程电场的幅相值，将确定出的所述在直角坐标系(x，y)上的双程电场的幅相值作为所述双程电场的空间分布，
Figure GDA0002270756690000071
其中，Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布，S(u，v)表征所述RCS角度分布，e表征自然底数，j表征虚数单位。
在本发明实施例中，利用参考目标法，将预先确定检测参考体作为检测面基准，即设定检测平面处在一个非平面波照射的场区环境，确定检测参考体在不同角度下的RCS值的集合，即检测参考体在方位角u、俯仰角v的方向上的RCS值，虽然RCS值和双程电场的幅相值均为复数，但是方位角u和俯仰角v的取值范围均为(0°，360°)，因此是针对方位角u和俯仰角v在圆周上积分，可以得出收敛的双程电场的空间分布，即确定在(x，y)位置上的双程电场的幅相值。
实施例三
在本发明一实施例中，所述根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布，包括：
根据以下公式确定直接辐射场分布，
Figure GDA0002270756690000072
其中，所述Ecr(x，y)表征所述直接辐射场分布，所述Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布。
在本发明实施例中，由于双程电场的空间分布，即静区场分布已根据已知的RCS角度分布求得，因此根据求得的双程电场的空间分布可确定紧缩场的直接辐射场分布，即确定幅度空间位置分布数据和相位空间位置分布数据。
如图2所示，是归一化场强分布的示意图，即通过紧缩场的直接辐射场分布确定的幅度空间位置分布数据，其中，横轴表示场点位置，单位m，纵轴表示场强，单位dB。
如图3所示，为相位分布的示意图，即通过紧缩场的直接辐射场分布确定的相位空间位置分布数据，其中，横轴表示场点位置，单位m，纵轴表示相位，单位°(deg)。
实施例四
在本发明一实施例中，所述根据所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数，包括：
对所述直接辐射场分布进行积分变换，获取相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据；
对所述相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据；
对所述幅度空间位置分布数据和所述单调积累相位空间位置分布数据，分别进行二阶多项式拟合逼近，获取幅相双拟合系数。
在本发明实施例中，被处理数据时用于静区检测参考体在被测紧缩场中的散射测试结果，即直接辐射场分布，通过一维角谱积分变换运算后，直接辐射场分布被转换为散射场幅相值关于空间位置的分布序列，即相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据，依据反射面天线辐射近场幅相分布特征，通过对积分变换后求得的相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据，再通过积累相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据分别进行二阶多项式拟合逼近，完成双拟合逼近。
需要说明的是，由于散射场相位分布信息隐含在场的波动函数中，在积分变换过程中散射场相位会随空间距离的角度投影变化而变化，进而产生解算结果随位置变化而波动，如图4所示，为一维角谱积分变换后原始相位数据的示意图，即缠绕状态的相位，其中，横轴表示场点位置，单位m，纵轴表示相位，单位°(deg)。
如图5所示，为单调积累相位空间位置分布数据的示意图，是对积分变化后求得的相位空间位置分布数据进行线性化处理，所构成的单调积累相位空间位置分布数据，其中，横轴表示场点位置，单位m，纵轴表示相位，单位°(deg)。
实施例五
在本发明一实施例中，所述根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据，包括：
利用所述幅度锥度表达函数，获取修正数据；
利用所述修正数据，提取所述单调积累相位空间位置分布数据的缠绕分量；
根据所述缠绕分量，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。
在本发明实施例中，如需获取静区散射场相位分布的实际情况，则需要根据幅度锥度表达函数求得修正数据，以使从求得的修正数据中去除单调积累相位中的缠绕分量，进而获得相位随空间位置分布的解缠绕数据。综上可见，由于场的幅值特性不存在缠绕现象，因此在求得相位随空间位置分布的解缠绕数据时，可以避免解缠时穿过包含残差点的相位不连续区域，而造成的局部误差的全局传播，进而导致的全局误差。
如图6所示，为解缠绕后的相位分布的示意图，即解缠绕后的相位空间分布数据，其中，横轴表示场点位置，单位m，纵轴表示相位，单位°(deg)。
实施例六
在本发明一实施例中，所述根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数，包括：
利用所述幅相双拟合系数，构造幅相修正函数；
利用构造的所述幅相修正函数，获取幅度锥度表达函数。
在本发明实施例中，在利用幅相双拟合系数获取幅度锥度表达函数时需要先构造幅相修正函数，再利用构造的幅相修正函数，即可获得包含积累相位中缠绕分量的空间发分布数据的新的幅度锥度表达函数，以使根据幅度锥度表达函数获得解缠绕数据。
综上可见，获取静区散射场相位分布的实际情况，需要依据反射面天线辐射近场幅相分布特征，通过线性化、双拟合逼近、幅相修正函数重构和相位解缠绕四个环节，获取静区散射场相位分布的实际情况。
可理解的是，在确定直接辐射场分布后，对直接辐射场分布变化过程中，由于目标不同散射角度间存在时间差异，故相位直接反演的结果存在相位波动积累，这会造成相位纠缠现象。故需要使用相位解纠缠算法去除相位波动积累，获得空间相位分布。如图7所示，为存在波动积累的线性相位分布和解纠缠后的相位分布的示意图，其中，图中的实线表征存在波动积累的线性相位分布，虚线表征解纠缠后的相位分布，横轴表示空间位置，纵轴表示相位，单位°(deg)。
由于紧缩场系统属于反射面天线的特殊应用，依据天线理论，理想状态下在其辐射主瓣内辐射场的幅相分布应分别满足同种类的二阶多项式变化规律。故可根据这一规律，先后对场幅值分布和相位分布进行二阶双拟合比对。由于场的幅值特性不存在缠绕现象，可依照其做第一次拟合获得场分布规律，之后对缠绕状态的场相位分布进行第二次拟合，求得理想状态下的相位分布，比对分解后获得相位偏差的解缠绕结果。综上可见，利用本方案提出的双拟合相位解缠绕方法，讷讷够对紧缩场静区幅相分布特性的高效、准确的求解，与传统的求解方式相比具有更好的时效性和较高的精度。
为了更加清楚的说明本命的技术方案及优点，下面检测参考体T为例，对本发明实施例提供的一种双拟合相位解缠绕方法进行详细描述，如图8所示，具体包括以下步骤：
步骤801：确定检测参考体T的RCS角度分布。
具体地，双拟合相位解缠绕方法是基于静区场幅相分布反演技术的处理结果的运用，而静区场幅相分布反演技术的核心则是将检测参考体T作为检测面基准，即检测平面处在非平面波照射的场区环境时检测参考体T的RCS角度分布。
步骤802：根据RCS角度分布，确定双程电场的空间分布。
具体地，通过以下公式推导，可以将检测参考体T的RCS角度分布进行变化，反演散射测试环境下双程电场的空间分布关系，
Figure GDA0002270756690000111
其中，S(u，v)表征检测体RCS角度分布，即检测参考体T在方位角u、俯仰角v方向上的RCS值，Ecr-2w(x，y)表征双程电场的空间分布，即直角坐标系(x，y)位置上的双程电场的幅相值，j(ux+vy)表征场的相位分布。通过推导可以获取静区场分布的表达形式：
Figure GDA0002270756690000112
步骤803：根据双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布。
具体地，通过上述公式可以确定双程电场的空间分布，因此根据双程电场的空间分布，可以确定紧缩场的直接辐射场分布特性为：
Figure GDA0002270756690000113
步骤804：对直接辐射场分布进行积分变换，获取相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据。
具体地，在积分变换过程中，由于目标不同散射角度间存在时间差异，因此相位直接反演的结果(即直接辐射场分布)存在相位波动积累，这会造成相位纠缠现象。因此需要使用相位解纠缠算法去除相位波动积累，获得空间相位分布，即对直接辐射场分布进行积一维角谱积分变换运算后，即被转换为散射场幅相值关于空间位置的分布序列，即相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据。
步骤805：对获取的相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据。
具体地，由于散射场相位分布信息隐含在场的波动函数中，在积分变换过程中散射场相位会随空间距离的角度投影变化而变化，为了避免结算结果随位置变化而波动，需要对相位空间位置分布数据进行线性化处理，以使通过构成的单调积累相位空间位置分布数据进行解缠绕。
步骤806：对幅度空间位置分布数据和单调积累相位空间位置分布数据，分别进行二阶多项式拟合逼近，获取幅相双拟合系数。
具体地，在依据反射面天线辐射近场幅相分布特性，理想状态下再其辐射主瓣内辐射场的幅相分布应分别满足同种类的二阶多项式变化规律，因此可根据这一规律，对幅相空间位置分布数据和单调积累相位空间位置分布数据分别进行二阶多项式拟合逼近。由于场的辐射特性不存在缠绕现象，因此可依照其做第一次拟合获得场分布规律，之后对缠绕状态的场相位分布进行第二次拟合，求得理想状态下的相位分布，比对分解后获得相位偏差的解缠绕结果。
步骤807：利用幅相双拟合系数，构造幅相修正函数，获取幅度锥度表达函数。
具体地，为了求取修正数据，需要先利用幅相双拟合系数构造幅相修正函数，进而获得包含积累相位中缠绕分量的空间分布数据的新的幅度锥度表达函数。
步骤808：利用根据幅度锥度表达函数求得的修正数据，获取单调积累相位分布数据中的缠绕分量。
步骤809：利用取出的单调积累相位分布数据中的缠绕分量，获得相位随空间位置分布的解缠绕数据。
综上可见，依据反射面天线辐射进场幅相分布特征，通过线性化、双拟合逼近、幅相修正函数重构和相位解缠绕运算四个环节，不仅可以获取景区散射场相位分布的实际情况，还可以避免穿过包含残差点的相位不连续区域，因此会造成局部误差的全局传播，从而导致全局误差。
如图9所示，本发明实施例提供了一种双拟合相位解缠绕装置，包括：
检测参考体确定模块901，用于预先确定检测参考体；
反演变换模块902，用于确定所述检测参考体确定模块901确定的所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布；根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布；根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布；
解缠处理模块903，用于根据所述反演变换模块902确定的所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数；根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数；根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。
在本发明一实施例中，所述反演变换模块，用于将所述检测参考体在方位角u、俯仰角v方向上的RCS值作为所述RCS角度分布，其中，所述RCS值为复数；
根据以下公式确定在直角坐标系(x，y)位置上的双程电场的幅相值，将确定出的所述在直角坐标系(x，y)上的双程电场的幅相值的集合作为所述双程电场的空间分布，
Figure GDA0002270756690000131
其中，Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布，S(u，v)表征所述RCS角度分布，e表征自然底数，j表征虚数单位。
在本发明一实施例中，所述反演变换模块，用于根据以下公式确定直接辐射场分布，
Figure GDA0002270756690000132
其中，所述Ecr(x，y)表征所述直接辐射场分布，所述Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布。
在本发明一实施例中，所述解缠处理模块，用于对所述直接辐射场分布进行积分变换，获取相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据；对所述相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据；对所述幅度空间位置分布数据和所述单调积累相位空间位置分布数据，分别进行二阶多项式拟合逼近，获取幅相双拟合系数。
在本发明一实施例中，所述解缠处理模块，用于利用所述幅相双拟合系数，构造幅相修正函数；利用构造的所述幅相修正函数，获取幅度锥度表达函数。
综上所述，本发明各个实施例至少具有如下有益效果：
1、在本发明一实施例中，通过预先确定检测参考体，即将检测参考体作为检测面基准，即可确定出检测参考体的RCS角度分布，再根据RCS角度分布确定双程电场的空间分布，进而确定直接辐射场分布，而在确定出直接辐射场分布后不是采用路径跟踪法或最小二乘法进行解缠，而是根据直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数，进而获取幅度锥度表达函数，再通过幅度锥度表达函数获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。综上可见，由于场的幅值特性不存在缠绕现象，因此通过上述方法解缠绕，可以避免在变换过程中，由于目标不同散射角度间存在时间差异导致的相位直接反演的结果存在相位波动积累而造成的相位纠缠现象。
2、在本发明一实施例中，利用参考目标法，将预先确定检测参考体作为检测面基准，即设定检测平面处在一个非平面波照射的场区环境，确定检测参考体在不同角度下的RCS值的集合，即检测参考体在方位角u、俯仰角v的方向上的RCS值，虽然RCS值和双程电场的幅相值均为复数，但是方位角u和俯仰角v的取值范围均为(0°，360°)，因此是针对方位角u和俯仰角v在圆周上积分，可以得出收敛的双程电场的空间分布，即确定在(x，y)位置上的双程电场的幅相值。
3、在本发明一实施例中，由于双程电场的空间分布，即静区场分布已根据已知的RCS角度分布求得，因此根据求得的双程电场的空间分布可确定紧缩场的直接辐射场分布，即确定幅度空间位置分布数据和相位空间位置分布数据。
4、在本发明一实施例中，被处理数据时用于静区检测参考体在被测紧缩场中的散射测试结果，即直接辐射场分布，通过一维角谱积分变换运算后，直接辐射场分布被转换为散射场幅相值关于空间位置的分布序列，即相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据，依据反射面天线辐射近场幅相分布特征，通过对积分变换后求得的相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据，再通过积累相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据分别进行二阶多项式拟合逼近，完成双拟合逼近。
5、在本发明一实施例中，如需获取静区散射场相位分布的实际情况，则需要根据幅度锥度表达函数求得修正数据，以使从求得的修正数据中去除单调积累相位中的缠绕分量，进而获得相位随空间位置分布的解缠绕数据。综上可见，由于场的幅值特性不存在缠绕现象，因此在求得相位随空间位置分布的解缠绕数据时，可以避免解缠时穿过包含残差点的相位不连续区域，而造成的局部误差的全局传播，进而导致的全局误差。
6、在本发明一实施例中，在利用幅相双拟合系数获取幅度锥度表达函数时需要先构造幅相修正函数，再利用构造的幅相修正函数，即可获得包含积累相位中缠绕分量的空间发分布数据的新的幅度锥度表达函数，以使根据幅度锥度表达函数获得解缠绕数据。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种双拟合相位解缠绕方法，其特征在于，包括：
预先确定检测参考体；
确定所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布；
根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布；
根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布；
根据所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数；
根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数；
根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据；
其中，所述根据所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数，包括：
对所述直接辐射场分布进行积分变换，获取相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据；
对所述相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据；
对所述幅度空间位置分布数据和所述单调积累相位空间位置分布数据，分别进行二阶多项式拟合逼近，获取幅相双拟合系数。
2.根据权利要求1所述的双拟合相位解缠绕方法，其特征在于，所述确定所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布，包括：
将所述检测参考体在方位角u、俯仰角v方向上的RCS值作为所述RCS角度分布，其中，所述RCS值为复数；
所述根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布，包括：
根据以下公式确定在直角坐标系(x，y)位置上的双程电场的幅相值，将确定出的所述在直角坐标系(x，y)上的双程电场的幅相值的集合作为所述双程电场的空间分布，
Figure FDA0002270756680000021
其中，Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布，S(u，v)表征所述RCS角度分布，e表征自然底数，j表征虚数单位。
3.根据权利要求2所述的双拟合相位解缠绕方法，其特征在于，
所述根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布，包括：
根据以下公式确定直接辐射场分布，
Figure FDA0002270756680000022
其中，所述Ecr(x，y)表征所述直接辐射场分布，所述Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布。
4.根据权利要求1所述的双拟合相位解缠绕方法，其特征在于，
所述根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据，包括：
利用所述幅度锥度表达函数，获取修正数据；
利用所述修正数据，提取所述单调积累相位空间位置分布数据的缠绕分量；
根据所述缠绕分量，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据。
5.根据权利要求1至4中任一所述的双拟合相位解缠绕方法，其特征在于，
所述根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数，包括：
利用所述幅相双拟合系数，构造幅相修正函数；
利用构造的所述幅相修正函数，获取幅度锥度表达函数。
6.一种双拟合相位解缠绕装置，其特征在于，包括：
检测参考体确定模块，用于预先确定检测参考体；
反演变换模块，用于确定所述检测参考体确定模块确定的所述检测参考体的雷达散射截面RCS角度分布；根据所述RCS角度分布，确定双程电场的空间分布；根据所述双程电场的空间分布，确定直接辐射场分布；
解缠处理模块，用于根据所述反演变换模块确定的所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数；根据所述幅相双拟合系数，获取幅度锥度表达函数；根据所述幅度锥度表达函数，获取相位随空间位置分布的解缠绕数据；
其中，所述根据所述直接辐射场分布，获取幅相双拟合系数，包括：
对所述直接辐射场分布进行积分变换，获取相位空间位置分布数据和幅度空间位置分布数据；
对所述相位空间位置分布数据进行线性化处理，构成单调积累相位空间位置分布数据；
对所述幅度空间位置分布数据和所述单调积累相位空间位置分布数据，分别进行二阶多项式拟合逼近，获取幅相双拟合系数。
7.根据权利要求6所述的双拟合相位解缠绕装置，其特征在于，
所述反演变换模块，用于将所述检测参考体在方位角u、俯仰角v方向上的RCS值作为所述RCS角度分布，其中，所述RCS值为复数；
根据以下公式确定在直角坐标系(x，y)位置上的双程电场的幅相值，将确定出的所述在直角坐标系(x，y)上的双程电场的幅相值的集合作为所述双程电场的空间分布，
Figure FDA0002270756680000031
其中，Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布，S(u，v)表征所述RCS角度分布，e表征自然底数，j表征虚数单位。
8.根据权利要求7所述的双拟合相位解缠绕装置，其特征在于，
所述反演变换模块，用于根据以下公式确定直接辐射场分布，
Figure FDA0002270756680000041
其中，所述Ecr(x，y)表征所述直接辐射场分布，所述Ecr-2w(x，y)表征所述双程电场的空间分布。
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