CN108254665A - 一种qfp64封装的轴角转换芯片检测装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置及方法，其中装置包括检测电路底板以及显示板；检测电路底板与显示板通过插接的方式电性连接；测试电路底板适于在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示。研制成本低，使用方便、快捷，检测准确、可靠、有效。在科研生产过程中可有效降低成本，缩短周期，提高研制及生产能力和效率。
Description
技术领域
本发明涉及检测领域，具体而言，涉及一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置及方法。
背景技术
现有的QFP64封装的轴角转换芯片，由于其集成度高，功能强大，专用性强，故而价格较高，对于中小型科研企业科研生产成本较高，如果采购回来的芯片在焊接前不知其功能是否正常，焊接后才发现芯片故障，如此不仅不能判定芯片故障发生的时机，又给科研生产增加了额外的时间和经济成本。
目前国内代理商和生产厂家不提供检测设备，市场上也没有可用于此种类型芯片的适用于中小型科研企业的检测设备，如果寻找第三方检测机构，其外协成本高且周期长，影响科研进度。
如何解决上述问题是目前亟待解决的。
发明内容
本发明的目的是提供一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置及方法，以解决上述问题。
为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：
本发明提供了一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置，包括
检测电路底板以及显示板；
所述检测电路底板与所述显示板通过插接的方式电性连接；
所述测试电路底板适于在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示。
在本发明较佳的实施例中，所述检测电路底板包括：
主控模块、激磁模块、旋变模块以及芯片安装底座；
所述芯片安装底座适于放置被检测芯片；
所述主控模块分别与所述芯片安装底座以及所述激磁模块电性连接，且适于发出检测信号给所述激磁模块；
所述激磁模块还分别与所述安装底座以及旋变模块电性连接，且适于为被测芯片提供参考信号源以及将接收到的检测信号进行激磁；
所述旋变模块与所述芯片安装底座固定连接，且适于根据接收到的被激磁后检测信号产生位置信号发送给被检测芯片；
被检测芯片将接收到的位置信号转换后发送给主控模块并在显示板上进行显示。
在本发明较佳的实施例中，所述激磁模块包括电压比较器以及运放芯片；
所述主控模块通过电压比较器与运放芯片电性连接。
在本发明较佳的实施例中，所述检测电路底板还包括电源模块；
所述电源模块适于为所述QFP64封装的轴角转换芯片检测装置提供电源。
在本发明较佳的实施例中，所述电源模块包括稳压电路以及降压电路。
在本发明较佳的实施例中，所述检测电路底板包括与所述主控模块电性连接的指示灯模块；
所述主控模块还适于在接收控制指示灯模块的工作状态以显示所述QFP64 封装的轴角转换芯片检测装置的运行状态。
本发明还提供了一种QFP64封装的轴角转换芯片检测方法，所述QFP64封装的轴角转换芯片检测方法通过在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示并根据显示结果判断被检测芯片的功能是否正常。
在本发明较佳的实施例中，所述对被测芯片进行检测的方法包括：
主控芯片输出方波信号；
方波信号经过激磁以及旋变后发送给被测芯片；
被测芯片将接收到的信号转换后发送给主控芯片。
在本发明较佳的实施例中，所述根据显示结果判断被检测芯片的好坏的方法包括：
连续转动旋变；
若在旋变转动时，显示结果有规律的连续变化，则被测芯片功能正常；
若在旋变转动时，显示结果均无规律的跳变，则被测芯片故障。
相对于现有技术，本发明实施例具有以下有益效果：
本发明实施例提供了一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置及方法，其中装置包括检测电路底板以及显示板；检测电路底板与显示板通过插接的方式电性连接；测试电路底板适于在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示。研制成本低，使用方便、快捷，检测准确、可靠、有效。在科研生产过程中可有效降低成本，缩短周期，提高研制及生产能力和效率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的结构示意图。
图2是本发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的原理示意图。
图3是本发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的主控模块的电路图。
图4是本发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的激磁模块的电路图。
图5是发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的旋变模块的电路图。
图6是发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的稳压电路示意图。
图7是发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的降压电路的示意图。
图8是发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的指示灯模块的电路示意图。
图9是发明提供的一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的检测结果示意图。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
实施例
请参阅图1，本发明实施例提供了一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置。QFP64封装的轴角转换芯片检测装置，包括检测电路底板以及显示板。
检测电路底板与显示板通过插接的方式电性连接；测试电路底板适于在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示。研制成本低，使用方便、快捷，检测准确、可靠、有效。在科研生产过程中可有效降低成本，缩短周期，提高研制及生产能力和效率。
请参阅图2，检测电路底板包括：主控模块、激磁模块、旋变模块以及芯片安装底座。
其中，芯片安装底座适于放置被检测芯片，测芯片安装时芯片上的圆形标识与芯片安装底座设置的圆形标识对应；主控模块分别与芯片安装底座以及激磁模块电性连接，且适于发出检测信号给激磁模块；激磁模块还分别与安装底座以及旋变模块电性连接，且适于为被测芯片提供参考信号源以及将接收到的检测信号进行激磁；旋变模块与芯片安装底座固定连接，且适于根据接收到的被激磁后检测信号产生位置信号发送给被检测芯片；被检测芯片将接收到的位置信号转换后发送给主控模块并在显示板上进行显示。
具体的，主控模块采用的型号为C8051F120，其具体电路图如图3所示。
在本实施例中，激磁模块包括电压比较器以及运放芯片；主控模块通过电压比较器与运放芯片电性连接，其中电压比较器的型号为TL082ID，运放芯片的型号为PA162KD。激磁模块的具体电路图如图4所示。
请继续参阅图1，在本实施例中，检测电路底板还包括电源模块；电源模块适于为QFP64封装的轴角转换芯片检测装置提供电源。
其中，电源模块包括稳压电路以及降压电路。稳压电路的具体电路图如图5 所示，降压电路的具体电路图如图6所示。
在本实施例中，检测电路底板包括与主控模块电性连接的指示灯模块；主控模块还适于在接收控制指示灯模块的工作状态以显示QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的运行状态。
具体的指示灯模块包括指示灯V3、指示灯V5以及指示灯V4，指示灯模块的具体电路图如图7所示。
其中，指示灯V3长亮时，表示检测电路底板正常工作；指示灯V5闪烁，表示主控模块工作正常；指示灯V4，在如果在旋变转动时，V4随之闪烁，在旋变不转动时，V4长亮或不亮，或无规律的闪烁，说明被测芯片安装良好，若在旋变转动时，V4不闪烁，说明被测芯片未安装好。
工作原理如下，主控模块发送2K方波信号给激磁模块，激磁模块向被测芯片提供参考信号源以及向旋变模块提供2K正弦波的激磁，旋变模块在2K正玄波的激磁作用下产生位置信号(差分正、余弦信号)并发送给被测芯片，由被测芯片转换后输出16为二进制并行数据并发送给主控模块在显示板上进行显示。通过观察指示模块的状态以及显示板的结果变化规律来判断被测芯片功能是否正常。
第二实施例
本发明实施例还提供了一种QFP64封装的轴角转换芯片检测方法，QFP64封装的轴角转换芯片检测方法通过在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示并根据显示结果判断被检测芯片的功能是否正常。
其中，对被测芯片进行检测的方法包括：主控芯片输出方波信号；方波信号经过激磁以及旋变后发送给被测芯片；被测芯片将接收到的信号转换后发送给主控芯片。
其中，根据显示结果判断被检测芯片的好坏的方法包括：连续转动旋变；若在旋变转动时，显示结果有规律的连续变化，则被测芯片功能正常；若在旋变转动时，显示结果均无规律的跳变，则被测芯片故障。
在本实施例中，旋变过程中，被测芯片正常时输输出的数据变化规律如图8 所示。其中，旋变转动的速度不大于2°/S。
综上所述，本发明提供了一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置及方法，其中装置包括检测电路底板以及显示板；检测电路底板与显示板通过插接的方式电性连接；测试电路底板适于在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示。研制成本低，使用方便、快捷，检测准确、可靠、有效。在科研生产过程中可有效降低成本，缩短周期，提高研制及生产能力和效率。
以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (9)
1.一种QFP64封装的轴角转换芯片检测装置，其特征在于：包括
检测电路底板以及显示板；
所述检测电路底板与所述显示板通过插接的方式电性连接；
所述测试电路底板适于在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示。
2.如权利要求1所述的QFP64封装的轴角转换芯片检测装置，其特征在于：
所述检测电路底板包括：
主控模块、激磁模块、旋变模块以及芯片安装底座；
所述芯片安装底座适于放置被检测芯片；
所述主控模块分别与所述芯片安装底座以及所述激磁模块电性连接，且适于发出检测信号给所述激磁模块；
所述激磁模块还分别与所述安装底座以及旋变模块电性连接，且适于为被测芯片提供参考信号源以及将接收到的检测信号进行激磁；
所述旋变模块与所述芯片安装底座固定连接，且适于根据接收到的被激磁后检测信号产生位置信号发送给被检测芯片；
被检测芯片将接收到的位置信号转换后发送给主控模块并在显示板上进行显示。
3.如权利要求2所述的QFP64封装的轴角转换芯片检测装置，其特征在于，
所述激磁模块包括电压比较器以及运放芯片；
所述主控模块通过电压比较器与运放芯片电性连接。
4.如权利要求2所述的QFP64封装的轴角转换芯片检测装置，其特征在于，
所述检测电路底板还包括电源模块；
所述电源模块适于为所述QFP64封装的轴角转换芯片检测装置提供电源。
5.如权利要求4所述的QFP64封装的轴角转换芯片检测装置，其特征在于，
所述电源模块包括稳压电路以及降压电路。
6.如权利要求2所述的QFP64封装的轴角转换芯片检测装置，其特征在于，
所述检测电路底板包括与所述主控模块电性连接的指示灯模块；
所述主控模块还适于在接收控制指示灯模块的工作状态以显示所述QFP64封装的轴角转换芯片检测装置的运行状态。
7.一种QFP64封装的轴角转换芯片检测方法，其特征在于，所述QFP64封装的轴角转换芯片检测方法通过在不焊接被测芯片的情况下对被测芯片进行检测，且在显示板上对测试数据进行显示并根据显示结果判断被检测芯片的功能是否正常。
8.如权利要求7所述的QFP64封装的轴角转换芯片检测方法，其特征在于
所述对被测芯片进行检测的方法包括：
主控芯片输出方波信号；
方波信号经过激磁以及旋变后发送给被测芯片；
被测芯片将接收到的信号转换后发送给主控芯片。
9.如权利要求7所述的QFP64封装的轴角转换芯片检测方法，其特征在于，
所述根据显示结果判断被检测芯片的好坏的方法包括：
连续转动旋变；
若在旋变转动时，显示结果有规律的连续变化，则被测芯片功能正常；
若在旋变转动时，显示结果均无规律的跳变，则被测芯片故障。
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- 2017-12-13 CN CN201711325483.2A patent/CN108254665A/zh active Pending
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