CN108226746A - 基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，本发明解决了传统测试方法数度慢，精度低，无法进行自动化测试的缺点。使用电阻跨导网络，免去了运放反馈电路，优化了测试线路，通过测试程序控制输入、输出信号，实现了不同参数连续自动测试，提高了测试速度，使用阻抗匹配，保证了测试的精度，从而达到快速，准确，稳定测试的目的。

Description

基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法

技术领域

本发明涉及一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法。

背景技术

MAX436是具有差分、高阻抗输入的高速、宽禁带跨导运算放大器。该器件为电流输出型运算放大器，可以在不需要负反馈电路的情况下得到精确的信号增益，在航天型号中有广泛的运用。大规模集成电路测试系统Micro FLEX是由Teradyne公司生产的高精度集成电路测试系统，它在PC机上用VBT语言编写测试程序，向被测器件提供电信号、数字测试向量和模拟测试波形，自动测量相应输出管脚上的响应，判断器件是否达到规范的功能和性能要求。Micro FLEX测试系统具有高速高精度的优点，基于该平台开发的MAX436测试程序并设计相关的测试线路，可较好地满足器件测试的要求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，能够解决传统测试方法数度慢，精度低，无法进行自动化测试的问题。

为解决上述问题，本发明提供一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K4，K7，K8，K9闭合，将MAX436的正负输入端IN+、IN-分别连接到Micro FLEX模拟信号源BBAC Source+、BBAC Source-上，输出端连接到信号捕获端口BBAC capture上，跨导端Z+，Z-通过400Ω电阻Rz连接构成跨导网络，输出端加50Ω负载电阻RL；

当信号源输入正弦波差分信号时，输出端得到正弦波输出信号，由BBAC capture捕获输出信号后，经过系统计算处理，得到输出电压有效值Vout，由计算增益系数K= Vout/Vin/(RL/Rz)。

进一步的，在上述方法中，还包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器保持默认状态，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输出端加0V电压，测试两个输入端偏置电流值，输入失调电流为两个输入端偏置电流之差。

进一步的，在上述方法中，还包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输出端加0V电压，测试两个输入端的差分电压，即为输入失调电压Vos。

进一步的，在上述方法中，还包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输入端分别加2.5V、-2.5V的共模电压，测试两次得到的失调电压Vos1、Vos2，计算共模抑制比CMRR=20Log（（Vos1-Vos2）/5）。

进一步的，在上述方法中，还包括：

使器件上电，V+=5.25V，V-=-5.25V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输入端加0V共模电压，测试Vos1，改变器件电源电压为V+=2.4V, V-=-2.4V，用同样的方法测试Vos2，计算电源电压抑制比PSRR=20Log（（Vos1-Vos2）/7.65）。

进一步的，在上述方法中，还包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K2，K3闭合，加500Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，在器件正负输入端IN+、IN-分别加±0.01V电压，测试输出端输出电压值。

与现有技术相比，本发明解决了传统测试方法数度慢，精度低，无法进行自动化测试的问题。使用电阻跨导网络，免去了运放反馈电路，优化了测试线路，通过测试程序控制输入、输出信号，实现了不同参数连续自动测试，提高了测试速度，使用阻抗匹配，保证了测试的精度，从而达到快速，准确，稳定测试的目的。

附图说明

图1是本发明一实施例的测试线路方框图；

图2是本发明一实施例的跨导运放MAX436的测试线路图；

图3是本发明一实施例的信号输入电路图；

图4是本发明一实施例的输出信号测试电路图；

图5是本发明一实施例的电阻跨导网络电路图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

图1是测试线路方框图，如图1所示，信号输入、输出信号测试、电源输入、负载都接在被测器件DUT上。

图2是使用Micro FLEX进行跨导运放MAX436测试的线路图，此线路图的功能实现了MAX436电学参数的测试，包括输入偏置电流、输入失调电流、输入失调电压、共模抑制比、电源电压抑制比、输出摆幅、电流增益的测试。

图3是信号输入电路，如图所示，通过继电器开关，可以将输入管脚连接到不同的设备资源上，以实现不同参数的测试要求。

图4是输出信号的测试电路，根据不同的输出信号，通过继电器切换将输出管脚连接到不同的信号接收端，可以满足不同参数的测试需要。

图5是电阻跨导网络，由一个400Ω电阻和继电器组成，当继电器闭合时，电阻连接跨导运放MAX436的Z+、Z-管脚，组成跨导网络，实现信号增益。

负载电路，可以由程序控制不同的继电器闭合，来选择不同阻值的负载电阻。

本发明提供一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，具体参数测试过程和测试原理如下：

1. 输入偏置电流（Ib）、输入失调电流（Ios）测试：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器保持默认状态，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输出端加0V电压，测试两个输入端偏置电流值，输入失调电流为两个输入端偏置电流之差。

2. 输入失调电压（Vos）测试：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输出端加0V电压，测试两个输入端的差分电压，即为输入失调电压Vos。

3. 共模抑制比（CMRR）测试

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输入端分别加2.5V、-2.5V的共模电压，测试两次得到的失调电压Vos1、Vos2，由程序计算共模抑制比CMRR=20Log（（Vos1-Vos2）/5）。

4. 电源电压抑制比（PSRR）测试：

使器件上电，V+=5.25V，V-=-5.25V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输入端加0V共模电压，测试Vos1，改变器件电源电压为V+=2.4V, V-=-2.4V，用同样的方法测试Vos2，由程序计算电源电压抑制比PSRR=20Log（（Vos1-Vos2）/7.65）。

5. 输出电压摆幅（Vo）

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K2，K3闭合，加500Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，在器件正负输入端IN+、IN-分别加±0.01V电压，测试输出端输出电压值。

6. 电流增益（K）测试：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K4，K7，K8，K9闭合，将MAX436的正负输入端IN+、IN-分别连接到Micro FLEX模拟信号源BBAC Source+、BBAC Source-上，输出端连接到信号捕获端口BBAC capture上，跨导端Z+，Z-通过400Ω电阻Rz连接构成跨导网络，输出端加50Ω负载电阻RL。当信号源输入正弦波差分信号时，输出端得到正弦波输出信号，由BBACcapture捕获输出信号后，经过系统计算处理，得到输出电压有效值Vout，由程序计算增益系数K= Vout/Vin/(RL/Rz)。

本发明设计了一种基于Micro FLEX系统的测试线路。在MAX436的跨导端Z+、Z-之间连接一个阻值为400Ω的电阻构成跨导网络，在输出端使用50Ω的电阻作为负载。进行电流增益系数测试时，使用Micro FLEX系统的模拟信号源BBAC source提供差分输入信号，输出端由信号捕获端口BBAC capture接收输出信号。由程序自动控制继电器的打开、闭合可以对负载的大小进行选择，考虑到MAX436不同的参数需要用不同的仪表资源进行测试，采用了在同一个管脚上连接不同的仪表，并用测试程序来控制继电器开关，切换不同的测试仪表。输入、输出线路使用50Ω的阻抗匹配。

本发明使用大规模集成电路测试系统Micro FLEX来进行跨导运放MAX436的测试，主要是使用大规模集成电路测试系统Micro FLEX设备进行宇航用跨导运算放大器MAX436的测试方法，解决了传统测试方法速度慢，精度低的缺点，实现了高速、高精度的测试方法，具有较好的稳定性。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

显然，本领域的技术人员可以对发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包括这些改动和变型在内。

Claims (6)

1.一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，其特征在于，包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K4，K7，K8，K9闭合，将MAX436的正负输入端IN+、IN-分别连接到Micro FLEX模拟信号源BBAC Source+、BBAC Source-上，输出端连接到信号捕获端口BBAC capture上，跨导端Z+，Z-通过400Ω电阻Rz连接构成跨导网络，输出端加50Ω负载电阻RL；

当信号源输入正弦波差分信号时，输出端得到正弦波输出信号，由BBAC capture捕获输出信号后，经过系统计算处理，得到输出电压有效值Vout，由计算增益系数K= Vout/Vin/(RL/Rz)。

2.如权利要求1所述的基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，其特征在于，还包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器保持默认状态，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输出端加0V电压，测试两个输入端偏置电流值，输入失调电流为两个输入端偏置电流之差。

3.如权利要求1所述的基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，其特征在于，还包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输出端加0V电压，测试两个输入端的差分电压，即为输入失调电压Vos。

4.如权利要求1所述的基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，其特征在于，还包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输入端分别加2.5V、-2.5V的共模电压，测试两次得到的失调电压Vos1、Vos2，计算共模抑制比CMRR=20Log（（Vos1-Vos2）/5）。

5.如权利要求1所述的基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，其特征在于，还包括：

使器件上电，V+=5.25V，V-=-5.25V，使继电器K1，K3闭合，加50Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，输入端加0V共模电压，测试Vos1，改变器件电源电压为V+=2.4V, V-=-2.4V，用同样的方法测试Vos2，计算电源电压抑制比PSRR=20Log（（Vos1-Vos2）/7.65）。

6.如权利要求1所述的基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，其特征在于，还包括：

使器件上电，V+=5V，V-=-5V，使继电器K2，K3闭合，加500Ω负载，器件输入、输出端与Micro FLEX运放测试环PLOAL相连，在器件正负输入端IN+、IN-分别加±0.01V电压，测试输出端输出电压值。