CN108151764A - 一种激光陀螺高低温锁区测试装置及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种激光陀螺高低温锁区测试装置,包括用于承载待测激光陀螺的测试工装,还包括上位机和转台,上位机内设置有控制软件模块,转台上设置有密封包裹住转台上端的温度箱,测试工装设置在转台的台面上,测试工装由呈一定夹角θ的测试工装底座和测试工装安装板组成,待测激光陀螺安装在测试工装安装板上,转台台面上还设置有测试电路;还公开了其测试方法;本发明实现了对激光陀螺高低温锁区的测试,本发明的测试装置测试精度高、操作简单、自动化程度高,借助本发明的测试装置,能够分析激光陀螺高低温下锁区特性,这对于激光陀螺研发和生产都有着重要的意义。
Description
技术领域
本发明属于激光陀螺生产测试技术领域,具体涉及一种激光陀螺高低温锁区测试装置及测试方法。
背景技术
激光陀螺作为捷联惯导系统的理想角速度传感器,其精度直接影响惯导系统的精度。锁区是影响激光陀螺精度的重要因素,锁区的来源主要为环路的非均匀性,而环路的非均匀性随着温度的变化而改变。因此准确测量激光陀螺在高低温下的锁区,分析激光陀螺在高低温下性能,对激光陀螺生产研发有着重要意义。
通常锁区的测量方法可以概括为:改变转台转速,通过判断是否有输出信号来得到锁区值。这种锁区测试方案在常温下转台精度可以满足测试要求,但在高温70℃以及低温-40℃转台精度无法满足测试要求。目前现有的锁区测试系统只针对激光陀螺在常温下的锁区测试,还没有专门针对高低温下激光陀螺的锁区测试。
发明内容
本发明的目的在于根据现有技术的不足,设计一种光陀螺高低温锁区测试装置及测试方法,解决了现有的锁区测试系统不能测试激光陀螺高低温锁区的难题,本发明的测试装置精度高、操作简单、自动化程度高。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种激光陀螺高低温锁区测试装置,包括用于承载待测激光陀螺的测试工装,还包括上位机和设置在隔振地基上的转台,所述的上位机内设置有加载控制软件的控制软件模块,所述的控制软件模块包括串口通信模块、数据采集卡通信模块、转台控制模块、锁区算法模块和数据保存模块,所述的转台上设置有密封包裹住转台上端的温度箱,所述的测试工装设置在转台的台面上,所述的测试工装由呈一定夹角θ的测试工装底座和测试工装安装板组成,待测激光陀螺安装在测试工装安装板上,所述的转台台面上还设置有与上位机相连接的测试电路,所述的转台连接有转台控制器,所述的温度箱连接有压缩机。
本发明还公开了一种激光陀螺高低温锁区测试装置的测试方法,包括以下步骤:
a)将待测激光陀螺固定在测试工装的测试工装安装板上,测试工装和待测激光陀螺一起固定在转台的台面上;
b)设置测试需要的环境温度,到温后保温4小时;
c)标定待测激光陀螺敏感轴和转台旋转轴成夹角θ;
d)运行控制软件模块上的控制软件选择待测激光陀螺的工作模式进行锁区测试,显示锁区测试结果并存储;
e)重复步骤d的操作,直到测试待测激光陀螺所有工作模式的锁区;
f)关闭待测激光陀螺和转台的电源。
其中,步骤b)中所述的环境温度高温为70℃,低温为-40℃。
本发明的有益效果是:
本发明实现了对激光陀螺高低温锁区的测试,本发明的测试装置测试精度高、操作简单、自动化程度高,借助本发明的测试装置,能够分析激光陀螺高低温下锁区特性,这对于激光陀螺研发和生产都有着重要的意义。
附图说明
图1是本发明的装置的结构示意图;
图2是本发明装置的测试工装的结构示意图;
图3是本发明的测试流程图。
各附图标记为:1—测试工装底座,2—测试工装安装板,3—待测激光陀螺,4—转台,5—压缩机,6—温度箱,7—转台控制器,8—上位机,9—测试工装,10—隔振地基,11—测试电路。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细说明。
参照图1至图3所示,本发明公开了一种激光陀螺高低温锁区测试装置,包括用于承载待测激光陀螺3的测试工装9,还包括上位机8和设置在隔振地基10上的转台4,所述的上位机8内设置有加载控制软件的控制软件模块,所述的转台4上设置有密封包裹住转台4上端的温度箱6,所述的测试工装9设置在保温箱6内且位于转台4的台面上,所述的测试工装9包括呈一定夹角θ的测试工装底座1和测试工装安装板2,待测激光陀螺3安装在测试工装安装板2上。待测激光陀螺3通过测试工装9固定在转台4上,使待测激光陀螺敏感轴与转台旋转轴有一定的夹角,转台4的台面放置在温度箱6内,温度箱6为待测激光陀螺3提供高低温的测试环境。所述的转台4台面上还设置有与上位机8相连接的测试电路11,所述的温度箱6连接有压缩机5。
测试前,待测激光陀螺敏感轴和转台旋转轴成夹角θ需要进行标定,通过对待测激光陀螺3施加抖动与加噪驱动,让待测激光陀螺3正常工作,将待测激光陀螺3作为一个角速度传感器来使用,转台4转速为Ωi,上位机8获取输出脉冲数为N,标度因素为K,那么:
这样可以得到待测激光陀螺敏感轴和转台旋转轴成夹角θ。
所述的转台4连接有转台控制器7,转台4的控制流程如下:
正扫:转台4从静止以加速度a的加速度加速到V,再以-a的加速度减速到-V,最后以a的加速度加速到0。
反扫:转台4从静止以加速度-a的加速度减速到-V,再以a的加速度加速到V,最后以-a的加速度减速到0。
高低温锁区测试进行2次测试,分别为转台4正扫和反扫,得到2组锁区测试结果。
所述的控制软件模块包括串口通信模块、数据采集卡通信模块、转台控制模块、锁区算法模块和数据保存模块。上位机8通过串口通信模块与转台4进行通信,发送控制指令和接收返回数据。数据采集卡通信模块用于采集待测激光陀螺3的输出拍频信号。完成串口设置后,上位机8通过串口通信模块发送转台控制指令。锁区算法模块用于计算待测激光陀螺3的锁区值,并显示在控制软件模块的界面上。数据保存模块用于保存测得的2组锁区值,保存锁区值时,正扫锁区值和反扫锁区值换行保存。
使用时,测试电路11接收上位机8控制指令,为待测激光陀螺3提供稳流与稳频驱动,可以设置开启/关闭待测激光陀螺3抖动,并对待测激光陀螺3输出的脉冲信息进行滤波和计数。上位机8内的控制软件模块发送控制指令控制转台4携带待测激光陀螺3顺时针加速/减速以及逆时针加速/减速转动、同时接收待测激光陀螺3反馈的拍频信号以及转台4反馈的速率信息,通过上位机8内的控制软件模块计算出锁区并显示和储存。
本发明还公开了一种激光陀螺高低温锁区测试装置的测试方法,包括以下步骤:
a)将待测激光陀螺3固定在测试工装9的测试工装安装板2上,测试工装9和待测激光陀螺3一起固定在转台4的台面上;
b)设置测试需要的环境温度,到温后保温4小时;
c)标定待测激光陀螺3敏感轴和转台4旋转轴成夹角θ;
d)运行控制软件模块上的控制软件选择待测激光陀螺3的工作模式进行锁区测试,显示锁区测试结果并存储;
e)重复步骤d的操作,直到测试待测激光陀螺3所有工作模式的锁区;
f)关闭待测激光陀螺3和转台4的电源。
其中,步骤b)中所述的环境温度高温为70℃,低温为-40℃,为保证待测激光陀螺3达到指定温度,温度箱6在到达指定温度后保温4小时后进行测试。
综上所述,本发明激光陀螺高低温锁区测试装置及测试方法实现了对激光陀螺在高低温环境下的锁区测试,分析激光陀螺在高低温环境下的锁区特性,对激光陀螺的研发生产有很大的促进作用,同时本发明测试精度高,操作简单。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,以及部分运用的实施例,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明创造构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。
Claims (3)
1.一种激光陀螺高低温锁区测试装置,其特征在于:包括用于承载待测激光陀螺(3)的测试工装(9),还包括上位机(8)和设置在隔振地基(10)上的转台(4),所述的上位机(8)内设置有加载控制软件的控制软件模块,所述的控制软件模块包括串口通信模块、数据采集卡通信模块、转台控制模块、锁区算法模块和数据保存模块,所述的转台(4)上设置有密封包裹住转台(4)上端的温度箱(6),所述的测试工装(9)设置在转台(4)的台面上,所述的测试工装(9)由呈一定夹角θ的测试工装底座(1)和测试工装安装板(2)组成,待测激光陀螺(3)安装在测试工装安装板(2)上,所述的转台(4)台面上还设置有与上位机(8)相连接的测试电路(11),所述的转台(4)连接有转台控制器(7),所述的温度箱(6)连接有压缩机(5)。
2.一种如权利要求1所述的激光陀螺高低温锁区测试装置的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
a)将待测激光陀螺(3)固定在测试工装(9)的测试工装安装板(2)上,测试工装(9)和待测激光陀螺(3)一起固定在转台(4)的台面上;
b)设置测试需要的环境温度,到温后保温4小时;
c)标定待测激光陀螺(3)敏感轴和转台(4)旋转轴呈夹角θ;
d)运行控制软件模块上的控制软件选择待测激光陀螺(3)的工作模式进行锁区测试,显示锁区测试结果并存储;
e)重复步骤d的操作,直到测试待测激光陀螺(3)所有工作模式的锁区;
f)关闭待测激光陀螺(3)和转台(4)的电源。
3.根据权利要求2所述的一种激光陀螺高低温锁区测试装置的测试方法,其特征在于,步骤b)中所述的环境温度高温为70℃,低温为-40℃。
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