发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种辅助测量装置及测量设备,用于解决现有技术中由于是通过手动测量待测产品尺寸,而导致出现测量结果精确度不高,且还需要耗费大量人力,物力的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明一方面提供一种辅助测量装置,所述辅助测量装置包括:设置在一基准面上的底座;设置在所述底座上,并在一压力作用下向所述基准面移动的滑动机构;及设置在所述底座上,记录所述滑动机构的移动位移的位移传感器。
于本发明的一实施例中,所述位移传感器通过固定件安装于所述底座的一侧面;所述位移传感器包括一位于其顶端,可与所述滑动机构压缩式接触的接触头,和与所述接触头连接,用于读取所述接触头的压缩位移的读取器。
于本发明的一实施例中,所述滑动机构包括:用于为所述待测产品提供搁置平台的耐磨板;通过连接件与所述耐磨板连接,用于支撑所述耐磨板,及搁置于所述耐磨板上的待测产品的T型块;固定至所述T型块,用于按压所述接触头的按压台。
于本发明的一实施例中,所述按压台包括:位于所述接触头正上方,且与所述接触头接触的压板;通过所述连接件将所述压板固定至所述T型块上的第一连接板和第二连接板;所述压板,第一连接板,第二连接板形成凹型的按压台。
于本发明的一实施例中,所述T型块与所述按压台形成环形空间,该环形空间中设置有所述滑动机构所包括的滑动部;所述滑动部包括:设置于所述T型块上,用以引导所述T型块和所述按压台一起朝所述基准面移动的直线型导轨;和设置在所述直线型导轨上,与所述T型块固定连接的滑块。
于本发明的一实施例中,所述底座的底端设置为工型台;所述工型台的顶端,与所述第一连接板和第二连接板相对应的位置处设置有凸耳;所述凸耳上开设有支撑孔。
于本发明的一实施例中,所述辅助测量装置还包括安装于所述支撑孔内,用于顶持所述第一连接板和第二连接板的弹性部件。
于本发明的一实施例中,所述辅助测量装置还包括设置于所述底座上,用于调节所述滑动机构的上限位的行程调节块。
本发明另一方面提供一种测量设备,所述测量设备包括:抓取伺服装置,用于抓取待测产品;设置于一基准面上,所述的辅助测量装置,用于在所述抓取伺服装置按压所述待测产品至下限位时,测量自身相对于所述基准面的移动位移;及计算终端,与所述辅助测量装置电连接,用于根据所述辅助测量装置所测量的其相对于基准面的移动位移,计算所述待测产品的尺寸,并判定该待测产品是否合格。
于本发明的一实施例中,所述待测产品的尺寸=所述抓取伺服装置处于上限位时与所述基准面之间的距离-所述抓取伺服装置朝所述基准面移动到下限位的移动距离-所述辅助测量装置处于未压缩状态时与所述基准面之间的距离+所述辅助测量装置相对于放置其的基准面的移动位移。
如上所述,本发明的辅助测量装置及测量设备,具有以下有益效果:
本发明所述的辅助测量装置及测量设备以自动测量替代人工对待测产品进行测量,避免了人工测量产生的误差,提高了检测节拍,整体提升了产品精确度与质量。且因为是自动运行,可以节约大量的时间,减少了人工成本。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。
请参阅图1至图3。须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语,亦仅为便于叙述的明了,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当亦视为本发明可实施的范畴。
实施例一
本实施例提供一种辅助测量装置,所述辅助测量装置包括:
设置在一基准面上的底座;
设置在所述底座上,并在一压力作用下向所述基准面移动的滑动机构;及
设置在所述底座上,记录所述滑动机构的移动位移的位移传感器。
以下结合图示对本实施例所提供的辅助测量装置进行详细描述。本实施例所述的辅助测量装置与用于抓取待测产品,并将待测产品移动至检测位置的抓取伺服装置配合,通过所述抓取伺服装置的按压,以测量所述辅助测量装置相对于放置其的基准面的压缩位移。在本实施例中,所述抓取伺服装置架设在测量平台上的支架上,该支架的顶部设置有用于引导所述抓取伺服装置从来料位置移动至检测位置的移动导轨;所述辅助测量装置放置在所述测量平台上,并将所述测量平台的平面设置为基准面。在本实施例中,微波炉为待测产品。所述抓取伺服装置将微波炉从来料位置移动至检测位置,并在微波炉的四个脚下端设置所述辅助测量装置。
请参阅图1和图2,分别显示为辅助测量装置的立体结构示意图和侧视图。如图1和图2所示,所述辅助测试装置1包括底座11、位移传感器12、滑动机构13、行程调节块14和弹性部件15。
所述底座11为所述辅助测量装置的基准,并设置于作为基准面的测量平台上。所述位移传感器12、滑动机构13、行程调节块14都设置于所述底座11上。所述底座的底部设置有用于固定在所述测量平台的安装孔(未予图示)。所述底座11设置为工型台。所述工型台的顶端,与所述滑动机构12相对应的位置处设置有凸耳111。所述凸耳111上开设有第一支撑孔112。
在本实施例中,所述位移传感器12采用直线位移传感器,该直线位移传感器的功能在于把直线机械位移量转换成电信号。为了达到这一效果,通常将可变电阻滑轨定置在传感器的固定部位,通过滑片在滑轨上的位移来测量不同的阻值。传感器滑轨连接稳态直流电压,允许流过微安培的小电流,滑片和始端之间的电压,与滑片移动的长度成正比。将传感器用作分压器可最大限度降低对滑轨总阻值精确性的要求,因为由温度变化引起的阻值变化不会影响到测量结果。
参阅图1和图2,所述位移传感器12通过固定件(于本实施例中,所述固定件采用螺栓或螺丝)安装于所述底座11的一侧面。所述位移传感器12包括一位于其顶端,可与所述滑动机构13压缩式接触的接触头121,和与所述接触头121连接,用于读取所述接触头的压缩位移的读取器122。在所述抓取伺服装置将微波炉放置于所述滑动机构13上端面,并朝所述基准面按压所述微波炉时,所述滑动机构12随微波炉移动,并按压所述接触头121,待所述抓取伺服装置按压微波炉至所述抓取伺服装置的下限位时,所述读取器122读取所述接触头121的压缩位移,即所述滑动机构13相对于所述基准面的移动位移。
所述滑动机构设置在所述底座11上,并在一压力作用下向所述基准面移动。在本实施例汇中,所述压力为抓取伺服装置的按压力。继续参阅图1和图2,所述滑动机构13包括耐磨板131、T型块132、按压台133和滑动部134。其中,所述T型块132与所述按压台133形成环形空间。于本实施例中,所述环形空间呈矩形。
所述耐磨板131用于为微波炉提供搁置平台。所述抓取伺服装置从来料位置抓取微波炉,并将待测量的微波炉的四个脚分别放置在四个辅助测量装置的耐磨板131上。
所述T型块132通过连接件(于本实施例中,所述连接件采用螺栓或螺丝)与所述耐磨板131连接,用于支撑所述耐磨板131,及搁置于所述耐磨板131上的微波炉。
所述按压台133通过连接件固定至所述T型块132上,在抓取伺服装置按压微波炉时,带动该按压台133按压所述位移传感器12的接触头121。在本实施例中,所述按压台133包括:压板133A、第一连接板133B、及第二连接板133C。所述压板133A,第一连接板133B,第二连接板133C形成凹型的按压台133。其中,所述压板133A位于所述接触头121的正上方,且与所述接触头接触。所述第一连接板133B和第二连接板133C通过所述连接件将所述压板133A固定至所述T型块132。在本实施例中,凸耳111具体设置在与所述第一连接板133B和第二连接板133C相对应的位置处。所述第一连接板133B和第二连接板133C上与所述凸耳111上开设的第一支撑孔112的对应位置处同样设置有用于顶持所述底座11的第二支撑孔。
所述滑动部134设置于该环形空间中。所述滑动部134包括:设置于所述T型块132上,用以引导所述T型块132和所述按压台133一起朝所述基准面移动的直线型导轨(未予图示);和设置在所述直线型导轨上,与所述T型块132固定连接的滑块。
所述行程调节块14设置于所述底座11上,用于调节所述滑动机构13的上限位,其前端有1个螺纹孔,通过安装于该螺纹孔内的螺钉顶住压板133A,以便位移传感器12和压板133A更好接触,并且限制位移传感器12的上限位。
所述弹性部件15用于顶持所述第一连接板和第二连接板。所述弹性部件15的一端安装于所述第一支撑孔112中,另一端安装于所述第二支撑孔内。所述弹性部件15在所述抓取伺服装置取消按压操作后,使用在按压过程中产生的弹力令所述滑动机构12恢复到未压缩状态。本实施例中,所述弹性部件15采用弹簧。
本实施例所述的辅助测量装置以自动测量替代人工对待测产品进行测量,避免了人工测量产生的误差,且因为是自动运行,可以节约大量的时间,减少了人工成本。
实施例二
本实施例提供一种测量设备2,所述测量设备安装于一测量平台3上。请参阅图3,显示为测量设备的原理结构示意图。如图3所示,所述测量设备2包括:支架21、抓取伺服装置22、辅助测试装置1、及辅助测试装置1电连接的计算终端(未予图示)。
所述支架21架设在测量平台3上。该支架21的顶部设置有用于引导所述抓取伺服装置22从来料位置移动至检测位置的移动导轨211。
所述抓取伺服装置22用于抓取待测产品,并将待测产品移动至检测位置(在本实施例中,将该检测位置处的平面,即固定所述辅助测试装置1的平面设置为基准面),并按压所述待测产品,以带动辅助测试装置1朝所述基准面移动。
设置于所述基准面上,如实施例一所述的辅助测试装置1用于在所述抓取伺服装置按压所述待测产品至所述抓取伺服装置的下限位时,测量自身相对于所述基准面的移动位移。
在本实施例中,所述计算终端为PLC。PLC用于根据所述辅助测量装置1所测量的其相对于所述基准面的移动位移,计算所述待测产品的尺寸,并判定该待测产品是否合格。请参阅图4,显示为待测产品的尺寸计算示意图。如图4所示,所述待测产品4的尺寸A=所述抓取伺服装置22处于上限位时与所述基准面之间的距离X-所述抓取伺服装置22朝所述基准面移动到下限位的移动距离Y-所述辅助测量装置1处于未压缩状态时与所述基准面之间的距离Z+所述辅助测量装置1相对于放置其的基准面的移动位移B。
在本实施例中,如果测量有节拍要求,所述PLC可实时监测位移值,绘制出测量曲线。将PLC所绘制的测量曲线发送到与PLC连接的显示屏,以供操作人员查看了解当前待测产品位移的实时状态,并判断待测产品的测量曲线是否满足生产要求。
综上所述,本发明所述的辅助测量装置及测量设备以自动测量替代人工对待测产品进行测量,避免了人工测量产生的误差,提高了检测节拍,整体提升了产品精确度与质量。且因为是自动运行,可以节约大量的时间,减少了人工成本。所以,本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。