CN108111151B - 开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置 - Google Patents

开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种开关控制方法，包括步骤：采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到开关控制指令的准确控制，克服了传统技术开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。还提供一种开关控制系统、开关控制设备和测试装置。

Description

开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置
技术领域
本发明涉及电子设备技术领域，特别是涉及一种开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置。
背景技术
随着电子技术的迅速发展，对电子设备质量的要求越来越高，对电子设备的性能进行全面测试是保证电子设备质量的重要途径。
以电子设备的电磁兼容以及电源特性试验为例，在对受试设备进行电源线瞬态干扰测试时，测试标准要求受试设备的开关能够在各种典型工作状态下进行精准地通断，并能够准确读取该受试设备在开关时刻所产生的尖峰信号幅度最大值等参数。然而测试电压信号的峰值、谷值以零值处对受试设备进行通断电所带来的脉冲干扰是不同的，需要对受试设备的开关进行准确控制。
传统技术提供的方案需要多次接收外部输入的控制指令才能完成受试设备的开关控制，导致开关控制的效率偏低，而且该控制指令通常是借助手动方式进行输入的，手动方式容易受到主观因素的影响，降低开关控制的准确性并导致开关控制的效率下降。
发明内容
基于此，有必要针对传统技术开关控制的效率偏低的问题，提供一种开关控制方法。
一种开关控制方法，包括步骤：
采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；
检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；
根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；
根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。
上述开关控制方法通过采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号，对测试电压信号的相位值进行检测，在检测到测试电压的相位值为目标相位值时，触发开关指令，并根据电压信号传输时间以及受试设备的开关响应时间对该开关控制指令进行延迟输出，利用延迟输出的开关控制指令控制受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到延迟输出的开关控制指令的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部指令导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。
针对传统技术开关控制的效率偏低的问题，还提供一种开关控制系统，该系统包括：
采集模块，用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；
触发模块，用于检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；
延时模块，用于根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；
控制模块，用于根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。
上述开关控制系统，通过采集模块采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号，利用触发模块对测试电压信号的相位值进行检测，在检测到测试电压的相位值为目标相位值时，触发开关指令，并通过延时模块根据电压信号传输时间以及受试设备的开关响应时间对该开关控制指令进行延迟输出，通过控制模块利用延迟输出的开关控制指令控制受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到延迟输出的开关控制指令的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部指令导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。
在一个实施例中，所述检测所述测试电压信号的相位值的步骤包括：
检测所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置；
根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值。
在一个实施例中，所述目标相位值为零相位；
所述根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值的步骤包括：
若所述测试电压信号的幅值大小为测试电压信号的过零电压值，且所述测试电压信号处于上升沿位置，则确定所述测试电压信号的相位值为零。
在一个实施例中，在对所述开关控制指令进行延时输出的步骤之前，还包括：
获取所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的传输相位值；
根据所述传输相位值和测试电压信号的频率值确定所述电压信号传输时间。
在一个实施例中，在对所述开关控制指令进行延时输出的步骤之前，还包括：
获取所述受试设备的配置参数；
根据所述配置参数确定所述受试设备的所述开关响应时间。
在一个实施例中，根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出的步骤包括：
对所述电压信号传输时间和受试设备的开关响应时间进行求和，得到第一延迟时间；
根据第一延迟时间对所述开关控制指令延迟输出。
在一个实施例中，所述根据第一延迟时间对所述开关控制指令延迟输出的步骤包括：
根据所述测试电压信号的周期设置第二延迟时间；
根据第一延迟时间和第二延迟时间对所述开关控制指令延迟输出。
在一个实施例中，提供一种开关控制设备，该设备包括电压采集单元，开关控制单元和开关执行单元；
所述电压采集单元用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号并发送至开关控制单元；
所述开关控制单元被配置为执行如上所述的开关控制方法输出控制指令至开关执行单元；
所述开关执行单元接收控制指令控制所述受试设备的开关。
在一个实施例中，提供一种测试装置，该装置包括如上所述的开关控制设备、测试电压源、线路阻抗稳定网络、示波器以及连接所述线路阻抗稳定网络的负载；
所述测试电压源通过线路阻抗稳定网络连接受试设备的电压输入端口，向受试设备输入测试电压信号；
所述示波器连接受试设备的电压输入端口，检测受试设备对测试电压信号的响应；
所述开关控制设备连接受试设备的电压输入端口和受试设备的开关，采集受试设备的测试电压信号并控制受试设备的开关。
在一个实施例中，提供一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述开关控制方法。
上述计算机设备，通过所述处理器上运行的计算机程序，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。
在一个实施例中，提供一种计算机存储介质，该计算机存储介质其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述开关控制方法。
上述计算机存储介质，通过其存储的计算机程序，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。
附图说明
图1为一个实施例中的开关控制方法的流程图；
图2为一个实施例中的开关控制系统的结构示意图；
图3为一个实施例中的开关控制设备的结构示意图；
图4为一个实施例中的测试装置的结构示意图；
图5为一个实施例中的开关执行单元的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的开关控制方法的具体实施方式进行详细说明。
在一个实施例中，提供一种开关控制方法，参考图1所述，图1为一个实施例中的开关控制方法的流程图，包括如下步骤：
步骤S101，采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；
其中，测试电压信号是指在受试设备被测试时，测试电压源向受试设备的电压输入端口输入的测试电压信号，测试电压信号可以包括正弦波、方波或三角波等波形的电压信号。
本步骤主要是在受试设备的电压输入端口采集测试电压信号，进而可以获取测试电压信号的电压幅值、相位值、频率或周期等信息。
步骤S102，检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令。
测试电压信号的相位值的取值范围一般是从0度到360度，不同的相位取值可以与电压信号的不同波形位置对应，以正弦波信号为例，相位值为0度可以对应正弦波信号的零值，90度对应电压信号的谷值，270度对应电压信号的峰值。
本步骤通过检测测试电压信号的相位值，可以实现对测试电压信号的峰值、谷值或零值等波形位置进行检测。
对测试电压信号的相位值进行检测，当测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令，其中，目标相位值可以根据实际情况进行设置为0度到360度中任一相位角度，例如将目标相位值设置为0度，即当检测到电压相位值为0度时，触发开关控制指令，从而实现在电压信号的任意波形位置处对开关控制指令进行准确触发。
步骤S103，根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间。
在本步骤中，开关控制指令被触发后，可以对该指令进行一定时间的延迟，再输出开关控制指令。由于测试电压信号从测试电压信号的电压输入端口传输到受试设备需要一定的时间，而且受试设备的开关进行通断时也存在响应延迟，所以根据电压信号传输时间和受试设备的开关响应时间对开关控制指令进行延迟输出，保证了测试电压信号到达受试设备时受试设备的开关被准确触发，提高了开关控制的准确性。
步骤S104，根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。
本步骤主要是根据延迟输出的开关控制指令对受试设备的开关进行控制，使得该受试设备能够准确地在测试电压信号的任一波形位置到达受试设备时进行开关。
上述开关控制方法通过采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号，对测试电压信号的相位值进行检测，在检测到测试电压的相位值为目标相位值时，触发开关指令，并根据电压信号传输时间以及受试设备的开关响应时间对该开关控制指令进行延迟输出，利用延迟输出的开关控制指令控制受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到延迟输出的开关控制指令的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部指令导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。
一个实施例中，步骤S102的检测所述测试电压信号的相位值可以包括如下步骤：
检测所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置；根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值。
在本实施例中，测试电压信号的相位值是通过检测测试电压信号的幅值大小以及信号波形的边沿位置所确定的，以正弦信号为例，电压信号的幅值大小是指正弦波信号的峰值与谷值之间的电压取值，信号波形的边沿位置是指正弦电压信号的上升沿或下降沿位置，通过对幅值大小和边沿位置的检测，可以准确判断电压信号的波形位置的判断。
本实施例的技术方案通过检测测试电压信号的幅值大小以及边沿位置能够准确确定测试电压信号的相位值，提高开关控制的效率。
在一个实施例中，步骤S102的目标相位值可以是零相位；
在检测测试电压信号的幅值大小以及边沿位置后，可以通过如下步骤确定测试电压信号的相位值：
若所述测试电压信号的幅值大小为测试电压信号的过零电压值，且所述测试电压信号处于上升沿位置，则确定所述测试电压信号的相位值为零。
其中，零相位是指电压信号的相位角取值为0度，过零电压值指是指测试电压信号的信号波形从正半周向负半周转换的时候经过电压零点时的电压值。
如果检测到测试电压信号的幅值为测试电压信号的过零电压值，并且检测到测试电压信号处于上升沿位置，则判断测试电压信号处于零相位，该电压信号对应的相位角取值为0度。可以理解的是，若检测到测试电压信号的幅值为测试电压信号的过零电压值但检测到测试电压信号处于下降沿位置，则判断测试电压信号的相位角取值为180度。
在一个实施例中，在步骤S103之前，可以通过如下步骤确定电压信号传输时间：
获取所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的传输相位值；根据所述传输相位值和测试电压信号的频率值确定所述电压信号传输时间。
测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的过程中，测试电压信号会产生一定的传输相位值，可以通过获取测试电压信号的频率值，从而根据传输相位值和测试电压信号的频率值计算测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的传输时间，得到电压信号传输时间。
在一个实施例中，在步骤S103之前，可以通过如下步骤确定受试设备的所述开关响应时间：
获取所述受试设备的配置参数；根据所述配置参数确定所述受试设备的所述开关响应时间。
由于不同的受试设备之间的开关响应时间不同，本步骤主要是通过获取受试设备的配置参数，根据该配置参数确定受试设备的开关响应时间，以准确控制受试设备的开关。
在一个实施例中，步骤S103可以包括如下步骤：
对所述电压信号传输时间和受试设备的开关响应时间进行求和，得到第一延迟时间；根据第一延迟时间对所述开关控制指令延迟输出。
在本实施例中，将电压信号传输时间以及受试设备的开关响应时间的时间和作为对开关控制指令进行延迟输出的延迟时间，由于同时考虑了电压信号传输时间以及开关响应时间两方面的因素，所以采用该技术方案所确定的延迟时间对开关控制指令进行延迟，能够保证测试电压信号的在选定的波形位置到达受试设备的时准确做出开关响应，进而提高开关控制效率。
在一个实施例中，根据测试电压信号的周期设置第二延迟时间，根据第一延迟时间和第二延迟时间对所述开关控制指令延迟输出。
本实施例主要是根据测试电压信号的周期设置第二延迟时间，根据第一延迟时间和第二延迟时间对开关控制指令进行延迟，其中，一般采用测试电压信号的整数倍周期作为第二延迟时间。以50Hz的正弦电压信号为例，该电压信号的周期为20ms，则可以将第二延迟时间设为20ms的整数倍。该技术方案使得开关控制指令能够根据测试电压信号的周期进行延时输出，提高开关控制指令输出的灵活性，同时也能够保证开关控制的准确性。
在一个实施例中，本发明提供一种开关控制系统，参考图2所述，图2为一个实施例中的开关控制系统的结构示意图，该系统可以包括：
采集模块101，用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；
触发模块102，用于检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；
延时模块103，用于根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；
控制模块104，用于根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。
上述开关控制系统，通过采集模块101采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号，利用触发模块102对测试电压信号的相位值进行检测，在检测到测试电压的相位值为目标相位值时，触发开关指令，并通过延时模块103根据电压信号传输时间以及受试设备的开关响应时间对该开关控制指令进行延迟输出，通过控制模块104利用延迟输出的开关控制指令控制受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到开关控制指令的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部指令导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。
本发明的开关控制系统与本发明的开关控制方法一一对应，在上述开关控制方法的实施例阐述的技术特征及其有益效果均适用于开关控制系统的实施例中，特此声明。
在一个实施例中，提供一种开关控制设备，参考图3，图3为一个实施例中的测试系统的结构示意图，该设备包括电压采集单元201，开关控制单元202和开关执行单元203；
所述电压采集单元201用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号并发送至开关控制单元；
所述开关控制单元202被配置为执行如上所述的开关控制方法输出控制指令至开关执行单元；
所述开关执行单元203接收控制指令控制所述受试设备的开关。
在本实施例中，电压采集单元201可以是具有电压信号采集能力的电路等硬件设备，该电压采集单元201可以与受试设备的电压输入端口连接，在受试设备进行测试的时候，采集测试电压源在受试设备的电压输入端口输入的测试电压信号，并将该电压信号发送到开关控制单元。开关控制单元202可以是被配置为执行如上任意一个实施例中的开关控制方法的处理器，接收电压采集单元的电压信号并输出控制指令到开关执行单元203；开关执行单元203接收该开关控制指令，并根据该指令控制受试设备的开关。
在一个实施例中，提供一种测试装置，该装置可以包括如上实施例所述的开关控制设备、测试电压源、线路阻抗稳定网络、示波器以及连接所述线路阻抗稳定网络的负载；
所述测试电压源通过线路阻抗稳定网络连接受试设备的电压输入端口，向受试设备输入测试电压信号；
所述示波器连接受试设备的电压输入端口，检测受试设备对测试电压信号的响应；
所述开关控制设备连接受试设备的电压输入端口和受试设备的开关，采集受试设备的测试电压信号并控制受试设备的开关。
以电磁兼容中脉冲瞬态干扰试验的测试装置为例，参考图4，图4为一个实施例中的测试装置的结构示意图，该装置包括：测试电压源和受试设备，该测试电压源通过LISN(Line Impedance Stabilization Network，线路阻抗稳定网络)将测试电压输入至受试设备的电压输入端口，连接LISN的50欧姆负载以及连接受试设备的电压输入端口的示波器(高阻)。
开关控制设备通过电压采集单元连接受试设备的电压输入端口，并通过开关执行单元连接受试设备的开关。
在进行测试时，开关控制设备通过电压采集单元采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号，利用开关控制单元延迟输出控制指令控制开关执行单元触发受试设备的开关。
参考图5，图5为一个实施例中的开关执行单元的结构示意图，针对不同的受试设备，可以采用不同的开关执行单元控制受试设备的开关。
如图5(a)所示，对于设有物理开关的受试设备，开关执行单元可以是具有执行部件的开关执行单元，该开关执行单元接收控制指令后，触发执行部件发生动作拨动受试设备的开关，实现开关的控制。
如图5(b)所示，受试设备也可以是受脉冲信号控制的设备，可以采用具有同步功能的开关执行单元，例如采用信号触发脉冲发生器等，该开关执行单元接收到开关指令后，同步输出脉冲信号至受试设备实现开关的控制。
如图5(c)所示，受试设备还可以是连接信号触发脉冲发生器的受试设备，而信号触发脉冲发生器上一般设有物理开关，可以采用具有执行部件的开关执行单元通过控制信号触发脉冲发生器的物理开关从而对受试设备的开关进行控制。
上述实施例提供的技术方案使得受试设备在进行瞬态干扰试验时能够在测试电压信号的峰值、谷值或零值处进行准确地开关操作，提高开关控制效率，也提高了瞬态干扰试验的测试效率。该技术方案还可以应用于CS106，CS115，CS116或电源中断等试验当中。
在一个实施例中，提供一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行所述程序时实现如上述各实施例中的任意一种开关控制方法。
此外，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性的计算机可读取存储介质中，如本发明实施例中，该程序可存储于计算机系统的存储介质中，并被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现包括如上述各开关控制方法的实施例的流程。
该计算机设备，其处理器执行程序时，通过实现如上述各实施例中的任意一种开关控制方法，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。
在一个实施例中，还提供一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其中，该程序被处理器执行时实现如上述各实施例中的任意一种开关控制方法。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccess Memory，RAM)等。
该计算机存储介质，其存储的计算机程序，通过实现包括如上述各开关控制方法的实施例的流程，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种开关控制方法，其特征在于，包括步骤：
采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；
检测所述测试电压信号的相位值；具体包括：检测所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置；根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值；当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；
根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；
根据延时输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。
2.根据权利要求1所述的开关控制方法，其特征在于，所述测试电压信号包括正弦波波形、方波波形或三角波波形的电压信号。
3.根据权利要求1或2所述的开关控制方法，其特征在于，所述目标相位值为零相位；
所述根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值的步骤包括：
若所述测试电压信号的幅值大小为测试电压信号的过零电压值，且所述测试电压信号处于上升沿位置，则确定所述测试电压信号的相位值为零。
4.根据权利要求1所述的开关控制方法，其特征在于，在对所述开关控制指令进行延时输出的步骤之前，还包括：
获取所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的传输相位值；
根据所述传输相位值和测试电压信号的频率值确定所述电压信号传输时间。
5.根据权利要求1所述的开关控制方法，其特征在于，在对所述开关控制指令进行延时输出的步骤之前，还包括：
获取所述受试设备的配置参数；
根据所述配置参数确定所述受试设备的所述开关响应时间。
6.根据权利要求1所述的开关控制方法，其特征在于，根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出的步骤包括：
对所述电压信号传输时间和受试设备的开关响应时间进行求和，得到第一延时时间；
根据第一延时时间对所述开关控制指令延时输出。
7.根据权利要求6所述的开关控制方法，其特征在于，所述根据第一延时时间对所述开关控制指令延时输出的步骤包括：
根据所述测试电压信号的周期设置第二延时时间；
根据第一延时时间和第二延时时间对所述开关控制指令延时输出。
8.一种开关控制系统，其特征在于，包括：
采集模块，用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；
触发模块，用于检测所述测试电压信号的相位值；具体包括：检测所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置；根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值；当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；
延时模块，用于根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；
控制模块，用于根据延时输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。
9.一种开关控制设备，其特征在于，包括电压采集单元，开关控制单元和开关执行单元；
所述电压采集单元用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号并发送至开关控制单元；
所述开关控制单元被配置为执行如权利要求1至7任一项所述的开关控制方法输出控制指令至开关执行单元；
所述开关执行单元接收控制指令控制所述受试设备的开关。
10.一种测试装置，其特征在于，包括如权利要求9所述的开关控制设备、测试电压源、线路阻抗稳定网络、示波器以及连接所述线路阻抗稳定网络的负载；
所述测试电压源通过线路阻抗稳定网络连接受试设备的电压输入端口，向受试设备输入测试电压信号；
所述示波器连接受试设备的电压输入端口，检测受试设备对测试电压信号的响应；
所述开关控制设备连接受试设备的电压输入端口和受试设备的开关，采集受试设备的测试电压信号并控制受试设备的开关。
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