CN108074623A - 依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法，其通过依据测试粒度产生存储器定址序列后，将所产生的存储器定址序列转换为相对应的物理地址，并依据所产生的物理地址对存储器的全部或部分进行测试的技术手段，可以有效控制存储器的测试覆盖率，并达成提高存储器测试效率的技术功效。

Description

依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法
技术领域
本发明涉及一种存储器测试系统及其方法，特别系指一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法。
背景技术
在系统整合测试的存储器测试中，一直以来都难以取舍平衡的两个方向就是测试效率与测试覆盖率。目前的服务器系统动辄TB量级的存储器负载使得当需要满足测试覆盖率的需求的时候，测试效率就会变得非常低下。这样的测试效率在服务器大量线上出货的时候是无法被接受的。
为了增加测试效率，只能选择降低测试覆盖率。目前的测试方案大多只能提供使用者选择测试全部负载的存储器的百分比。然而，由于目前的测试方案都是对操作系统随机配置的存储器进行测试，缺少了科学合理的存储器测试的针对性，测试覆盖率往往无法得到保证，让测试覆盖率成为一个非常模糊和随机的指标，为系统埋下安全隐患。
综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在使用随机配置存储器的测试方式无法保证测试覆盖率的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。
发明内容
有鉴于现有技术存在使用随机配置存储器的测试方式无法保证测试覆盖率的问题，本发明遂揭露一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法，其中：
本发明所揭露的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统，应用于安装至少一存储器模块的计算机中，该系统至少包含：输入模块，用以提供选择测试粒度；序列产生模块，用以依据测试粒度产生存储器定址(DRAM Address)序列；地址转换模块，用以转换存储器定址序列为相对应的物理地址；测试模块，用以依据该物理地址对存储器模块进行测试。
本发明所揭露的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法，应用于安装至少一存储器模块的计算机中，其步骤至少包括：选择测试粒度；依据测试粒度产生存储器定址序列；转换存储器定址序列为相对应的物理地址；依据物理地址对存储器模块进行测试。
本发明所揭露的系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明通过依据测试粒度产生存储器定址序列后，将所产生的存储器定址序列转换为相对应的物理地址，并依据所产生的物理地址进行测试，藉以解决现有技术所存在的问题，并可以达成提高存储器测试效率的技术功效。
附图说明
图1为本发明所提的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统架构图。
图2为本发明所提的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法流程图。
【符号说明】
100 计算机
101 存储器模块
110 输入模块
120 序列产生模块
130 地址转换模块
140 测试模块
具体实施方式
以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的特征与实施方式，内容足以使任何本领域技术人员能够轻易地充分理解本发明解决技术问题所应用的技术手段并据以实施，藉此实现本发明可达成的功效。
本发明可以依据设定的测试粒度产生存储器定址(DRAM Address)序列，并在转换存储器定址序列为相对应的物理地址(physical Address)后，依据转换产生的物理地址对存储器模块进行不同测试覆盖率的测试。
本发明所提的测试粒度可以包含存储器模块(DIMM)、所有存储芯片区块(Rank)、所有存储电路组(Bank)、选择线(Row)、或数据线(Column)等选项，藉以提供选择仅需确认所有存储器模块都经过测试、仅需确认所有存储芯片区块都经过测试、仅需确认所有存储电路组都经过测试、仅需确认所有选择线都经过测试、或是需确认所有数据线都经过测试。
以下先以「图1」本发明所提的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统架构图来说明本发明的系统运作。如「图1」所示，本发明的系统含有输入模块110、序列产生模块120、地址转换模块130、以及测试模块140。
输入模块110负责提供选择测试粒度，也就是提供选择对存储器模块、存储芯片区块、存储电路组、选择线、或数据线进行不同覆盖率的测试。
序列产生模块120负责依据输入模块110提供选择的测试粒度产生相对应的一个或多个存储器定址序列。序列产生模块120所产生的存储器定址序列包含插槽识别码(Socket ID)、存储器控制器识别码(MC ID)、存储器通道识别码(Channel ID)、存储器模块识别码(DIMM ID)、存储芯片区块识别码(Rank ID)、存储电路组识别码(Bank ID)、选择线识别码(Row ID)、数据线识别码(Column ID)。
当测试粒度为存储器模块时，序列产生模块120可以直接忽略存储芯片区块识别码、存储电路组识别码、选择线识别码、与数据线识别码，也就是将存储器定址序列中存储芯片区块识别码、存储电路组识别码、选择线识别码、与数据线识别码的位置填入「0」，并可以依据计算机100内的存储器插槽(slot)数量、存储器控制器数量、存储器通道数量、与存储器模块数量产生存储器定址序列。例如，当计算机100内的存储器插槽数量、存储器控制器数量、存储器通道数量均为2，且存储器模块数量为1时，序列产生模块120可以产生「00000000」、「00100000」、「01000000」、「01100000」、「10000000」、「10100000」、「11000000」、「11100000」等八个存储器定址序列。
相似的，当测试粒度为存储芯片区块时，序列产生模块120可以直接忽略存储电路组识别码、选择线识别码、与数据线识别码，并可以依据计算机100内的存储器插槽数量、存储器控制器数量、存储器通道数量、存储器模块数量、与存储芯片区块数量产生存储器定址序列；当测试粒度为存储电路组时，序列产生模块120可以直接忽略选择线识别码与数据线识别码，并可以依据计算机100内的存储器插槽数量、存储器控制器数量、存储器通道数量、存储器模块数量、存储芯片区块数量、与存储电路组数量产生存储器定址序列；当测试粒度为选择线时，序列产生模块120可以直接忽略数据线识别码，并可以依据计算机100内的存储器插槽数量、存储器控制器数量、存储器通道数量、存储器模块数量、存储芯片区块数量、存储电路组数量、与选择线数量产生存储器定址序列。
而当测试粒度为数据线时，表示测试存储器中的所有位元，序列产生模块120将不会忽略任何数据字段，且可以依据计算机100内的存储器插槽数量、存储器控制器数量、存储器通道数量、存储器模块数量、存储芯片区块数量、存储电路组数量、选择线数量、与数据线数量产生存储器定址序列，序列产生模块120也可以使用与公知存储器测试方式中的完整测试所有存储器的模式的相同方式测试所有存储器模块。
地址转换模块130负责将序列产生模块120所产生的存储器定址序列转换为相对应的物理地址。
一般而言，地址转换模块130可以根据存储器定址序列中的插槽识别码、存储器控制器识别码、存储器通道识别码、存储器模块识别码、存储芯片区块识别码判断出安装于计算机100内的各个存储器模块101的物理地址。在部分的实施例中，地址转换模块130可以先由插槽识别码、存储器控制器识别码、存储器通道识别码、存储器模块识别码、以及存储芯片区块识别码判断存储芯片区块地址(Rank Address)，并由存储芯片区块地址、存储器通道识别码、存储器模块识别码、以及存储芯片区块识别码判断存储器通道地址(ChannelAddress)，再由存储器通道地址、插槽识别码、存储器控制器识别码、以及存储器通道识别码判断物理地址。但地址转换模块130将存储器定址序列转换为物理地址的方式并不以上述为限。
测试模块140负责依据地址转换模块130产生的物理地址对安装于计算机100中的存储器模块101进行测试。测试模块140可以先依据地址转换模块130产生的物理地址对存储器模块101所提供的储存空间配置存储器，在对所配置的存储器进行测试。
在部分的实施例中，测试模块140可以在各个物理地址使用各种测试演算法分别进行一个通讯周期的测试，也就是使用这个测试演算法在各个物理地址上执行一个通讯周期。
在部分的实施例中，测试模块140也可以在完成测试后产生相对应的测试报告，藉以明确的指出各个存储器插槽上的各个存储器模块101的状况，例如某个存储以插槽上的某个存储器模块的某个储存地址在某个测试过程发生错误等。
接着以一个实施例来解说本发明的运作系统与方法，并请参照「图2」本发明所提的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法流程图。在本实施例中，假设计算机100为使用x86_64架构的笔记型计算机，但本发明并不以此为限。
首先，输入模块110可以提供使用者选择测试粒度(步骤210)。
接着，序列产生模块120可以依据输入模块110提供选择的测试粒度产生相对应的存储器定址序列(步骤220)。在本实施例中，假设被选择的测试粒度为存储芯片区块，且计算机100内的存储器插槽数量、存储器控制器数量、存储器通道数量、存储器模块数量、与存储芯片区块数量均为2时，序列产生模块120可以产生包含「00000000」、「00010000」、「00100000」、「00110000」、「01000000」、「01010000」、「01100000」、「01110000」、…、「11101000」、「11111000」等32个存储器定址序列。
在序列产生模块120依据测试粒度产生相对应的存储器定址序列(步骤220)后，地址转换模块130可以将序列产生模块120所产生的各个存储器定址序列转换为相对应的物理地址(步骤230)。在本实施例中，假设地址转换模块130可以将序列产生模块120所产生的32个存储器定址序列分别转换为32个46位元的物理地址。
在地址转换模块130将存储器定址序列转换为相对应的物理地址(步骤230)后，测试模块140可以依据转换产生的物理地址对安装于计算机100中的存储器模块101进行测试(步骤240)。在本实施例中，由于有32个物理地址，所以测试模块140将会对存储器模块101至少进行32次的测试，每一次都可以使用至少一测试演算法对一个物理地址所表示的一个特定的存储芯片区块测试一个通讯周期。如此，在测试模块140完成32个物理地址的测试后，安装于计算机100的所有存储器模块101中的存储器芯片区块都至少会经过一次的测试，有效的保证了测试的覆盖率。
另外，测试模块140也可以在对安装于计算机100中的存储器模块101进行测试(步骤240)后，产生相对应的测试报告(步骤250)。
综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于具有依据测试粒度产生存储器定址序列后，将所产生的存储器定址序列转换为相对应的物理地址，并依据所产生的物理地址对存储器模块的全部或部分储存空间进行测试的技术手段，藉由此一技术手段可以来解决现有技术所存在使用随机配置存储器的测试方式无法保证测试覆盖率的问题，进而达成提高存储器测试效率的技术功效。
再者，本发明的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法，可实现于硬件、软件或硬件与软件的组合中，亦可在计算机系统中以集中方式实现或以不同元件散布于若干互连的计算机系统的分散方式实现。
虽然本发明所揭露的实施方式如上，惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，对本发明的实施的形式上及细节上作些许的更动润饰，均属于本发明的专利保护范围。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定者为准。

Claims (10)

1.一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法，应用于一计算机，该计算机安装至少一存储器模块，其特征在于，该方法至少包含下列步骤：
选择一测试粒度；
依据该测试粒度产生至少一存储器定址序列；
转换各该存储器定址序列为相对应的各物理地址；及
依据各该物理地址对各该存储器模块进行测试。
2.如权利要求1所述的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法，其特征在于，转换各该存储器定址序列为相对应的各物理地址的步骤为依据各该存储器定址序列所包含的插槽识别码、存储器控制器识别码、存储器通道识别码、存储器模块识别码、存储芯片区块识别码判断出各该物理地址范围。
3.如权利要求1所述的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法，其特征在于，选择该测试粒度的步骤为选择对所有存储器模块、所有存储芯片区块、所有存储电路组、选择线、或数据线进行测试。
4.如权利要求1所述的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法，其特征在于，依据该各该物理地址对各该存储器模块进行测试的步骤为使用至少一测试演算法对各该物理地址测试一个通讯周期。
5.如权利要求1所述的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法，其特征在于，该方法于依据该各该物理地址对各该存储器模块进行测试的步骤后，更包含产生相对应的测试报告的步骤。
6.一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统，应用于一计算机，该计算机安装至少一存储器模块，其特征在于，该系统至少包含：
一输入模块，用以提供选择一测试粒度；
一序列产生模块，用以依据该测试粒度产生至少一存储器定址序列；
一地址转换模块，用以转换各该存储器定址序列为相对应的各物理地址；及
一测试模块，用以依据该各该物理地址对各该存储器模块进行测试。
7.如权利要求6所述的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统，其特征在于，该地址转换模块为依据各该存储器定址序列所包含的插槽识别码、存储器控制器识别码、存储器通道识别码、存储器模块识别码、存储芯片区块识别码判断出各该物理地址范围。
8.如权利要求6所述的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统，其特征在于，该输入模块是提供选择对所有存储器模块、所有存储芯片区块、所有存储电路组、选择线、或数据线进行测试。
9.如权利要求6所述的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统，其特征在于，该测试模块是使用至少一测试演算法对各该物理地址测试一个通讯周期。
10.如权利要求6所述的依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统，其特征在于，该测试模块更用以产生相对应的测试报告。
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