CN107951389B - 一种食品加工机 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种食品加工机，该食品加工机包括：主控单元和第一加热回路；第一加热回路包括与电源串联的第一加热器件和采样电阻；主控单元通过采样电阻对第一加热器件工作期间的电流值和电压值进行采样，食品加工机还包括：为正温度系数PTC的第二加热器件；主控单元还用于通过采样电阻采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值，根据采集的电流值和电压值对第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测，并根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节和/或对浆液状态进行检测。通过该实施例方案，基于对正温度系数PTC加热器件的应用实现了杯体温度检测、水位精确检测、掉电记忆和小功率恒温检测等多种功能，提升了制浆效果。

Description

一种食品加工机

技术领域

本发明实施例涉及烹饪设备控制技术，尤指一种食品加工机。

背景技术

市场上现有的食品加工机(如豆浆机)一般都采用一个加热管进行加热，加热功率最小也会在700W以上，大多数选择1000W，很难获取较小的均匀的加热功率。

原因如下：阻性负载的控制一般采用继电器和可控硅：

1)继电器很难实现连续的快速开关，因此很难将功率降低，即使通过控制导通和关闭的时间实现了平均功率较低的要求，但是加热管的热量释放是不均匀的，会导致浆液底部的糊底，突变的浆温也很难保证很好的口感；

2)最通用的方式是通过可控硅控制，通过掉波的方式实现功率降低，但是该方式当功率小于1/4额定功率时，很难通过国家的安全认证，并且此时的加热功率也开始变得不均匀。

发明内容

本发明实施例提供一种食品加工机，能够基于正温度系数PTC加热器件的应用实现杯体温度检测、水位精确检测、掉电记忆和小功率恒温检测等多种功能，提升制浆效果。

本发明实施例采用如下技术方案：

一种食品加工机，该食品加工机包括：主控单元和第一加热回路；第一加热回路包括：与电源串联的第一加热器件和采样电阻；主控单元通过采样电阻对第一加热器件工作期间的电流值和电压值进行采样，食品加工机还包括：第二加热器件，第二加热器件为正温度系数PTC加热器件；

主控单元，还用于通过采样电阻采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值，根据采集的电流值和电压值获取第二加热器件所在位置的杯体温度，并根据获取的杯体温度对浆液状态进行检测和/或对制浆流程进行调节。

可选地，第一加热回路还包括：第一开关；电源、采样电阻、第一开关和第一加热器件依次串联组成第一加热回路；

食品加工机还包括：第二开关；电源、采样电阻、第二开关和第二加热器件依次串联组成第二加热回路；

主控单元的电流采样端与采样电阻的电流输出端相连，主控单元的电压采样端与电源的零线相连。

可选地，主控单元根据采集的电流值和电压值对第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测包括：

根据采集的电流值和电压值计算第二加热器件工作时的阻抗；

根据阻抗和预设的映射表获取第二加热器件的温度，并将第二加热器件的温度作为第二加热器件所在位置的杯体温度；

其中，映射表中包含不同的阻抗与不同的温度值的一一对应关系。

可选地，主控单元采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值包括：

控制第一加热回路断开，并控制第二加热回路导通；

在第二加热回路导通第一时长以后，采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值，并计算预设的第二时长内采集的电流值的平均值以及采集的电压值的平均值；

主控单元根据采集的电流值和电压值对第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测还包括：

根据电流值的平均值以及电压值的平均值计算当前第二加热器件的平均阻抗，并根据平均阻抗获取第二加热器件的温度。

可选地，映射表包括第一温度映射区域和第二温度映射区域；其中，第一温度映射区域所包含的温度值小于第二温度映射区域所包含的温度值；

主控单元，还用于根据预设的时间间隔对第二加热器件的阻抗进行多次检测；当检测出的多个阻抗依次减小时，获取最后检测出的阻抗，并将最后检测出的阻抗与第一温度映射区域相比较，以获取第二加热器件的温度；当检测出的多个阻抗依次增大时，将最后检测出的阻抗与第二温度映射区域相比较，以获取第二加热器件的温度。

可选地，主控单元，还用于当经过多次检测均不能获取检测出的多个阻抗依次减小或依次增大的结果时，控制第一加热回路导通，使第一加热器件持续工作预设的第三时长，并在此期间对第二加热器件的阻抗间隔检测n次，当n次检测中的最后m次检测获得的阻抗满足依次减小或依次增大的结果时，根据第一温度映射区域或第二温度映射区域的映射关系获取第二加热器件的温度；当n次检测中的最后m次检测获得的阻抗不能满足依次减小或依次增大的结果时，确定测温不准或第二加热器件出现异常，并进行报警。

可选地，主控单元根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节包括：当确定测温不准或第二加热器件出现异常时，控制第二加热回路断开。

可选地，主控单元根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节还包括：

当确定测温不准或第二加热器件出现异常时，将预设的异常标志位加1，并当检测出在连续三次制浆过程中均将异常标志位加1时，提醒用户对食品加工机进行售后维修，并将异常标志位清零。

可选地，第二加热器件设置于食品加工机的机体底部；

主控单元，还用于检测机体底部温度；其中，主控单元不具有检测浆液温度的功能。

可选地，主控单元根据检测出的杯体温度对浆液状态进行检测包括：根据第二加热器件的温度、检测出的浆液温度以及下述的第一关系式检测浆液高度：

第一关系式包括：H＝UIt/cρS[(T11-T01)-K(T12-T02)]；

其中，H为浆液高度，U为食品加工机加热期间的电压值，I为食品加工机加热期间的电流值，t为加热持续时间，c为水的比热容，ρ为水的密度，S为食品加工机的杯体底部面积，T01为加热之前的浆液温度，T02为加热之前第二加热器件的温度，T11为加热时长t以后的浆液温度，T12为加热时长t以后第二加热器件的温度，K为预设的调整系数。

本发明实施例的有益效果包括：

1、本发明实施例的食品加工机包括：主控单元和第一加热回路；第一加热回路包括：与电源串联的第一加热器件和采样电阻；主控单元通过采样电阻对第一加热器件工作期间的电流值和电压值进行采样，食品加工机还包括：第二加热器件，第二加热器件为正温度系数PTC加热器件；主控单元，还用于通过采样电阻采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值，根据采集的电流值和电压值获取第二加热器件所在位置的杯体温度，并根据获取的杯体温度对浆液状态进行检测和/或对制浆流程进行调节。该实施例方案基于正温度系数PTC加热装置的应用实现了杯体温度检测、水位精确检测、掉电记忆和小功率恒温检测等多种功能，提升了制浆效果。

2、本发明实施例的主控单元采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值包括：控制第一加热回路断开，并控制第二加热回路导通；在第二加热回路导通第一时长以后，采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值，并计算预设的第二时长内采集的电流值的平均值以及采集的电压值的平均值；主控单元根据采集的电流值和电压值对第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测还包括：根据电流值的平均值以及电压值的平均值计算当前第二加热器件的平均阻抗，并根据平均阻抗获取第二加热器件的温度。该实施例方案细化了温度检测方式，提高了温度检测的准确性。

3、本发明实施例的映射表包括第一温度映射区域和第二温度映射区域；其中，第一温度映射区域所包含的温度值小于第二温度映射区域所包含的温度值；主控单元，还用于根据预设的时间间隔对第二加热器件的阻抗进行多次检测；当检测出的多个阻抗依次减小时，获取最后检测出的阻抗，并将最后检测出的阻抗与第一温度映射区域相比较，以获取第二加热器件的温度；当检测出的多个阻抗依次增大时，将最后检测出的阻抗与第二温度映射区域相比较，以获取第二加热器件的温度。该实施例方案通过对温度变化对应的阻抗变化趋势进行识别，可以实现对低温区与高温区存在的阻抗重叠区域进行区分，避免出现测温异常。

4、本发明实施例的主控单元还用于当经过多次检测均不能获取检测出的多个阻抗依次减小或依次增大的结果时，控制第一加热回路导通，使第一加热器件持续工作预设的第三时长，并在此期间对第二加热器件的阻抗间隔检测n次，当n次检测中的最后m次检测获得的阻抗满足依次减小或依次增大的结果时，根据第一温度映射区域或第二温度映射区域的映射关系获取第二加热器件的温度；当n次检测中的最后m次检测获得的阻抗不能满足依次减小或依次增大的结果时，确定测温不准或第二加热器件出现异常，并进行报警。该实施例方案避免了PTC加热功率过小温度不变或者PTC温度区间处于第一温度映射区域和第二温度映射区域的临界值TRmin附近导致的异常，从而避免了因长时间的异常造成的制浆周期增加，制浆效果变差，甚至无法完成制浆得现象。

5、本发明实施例的主控单元根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节包括：当确定测温不准或第二加热器件出现异常时，控制第二加热回路断开。该实施例方案可以在测温不准或者PTC出现异常时继续通过第一加热装置进行之江，从而保证在异常情况下能够完成制浆。

6、本发明实施例的第二加热器件设置于食品加工机的机体底部；主控单元还用于检测机体底部温度；其中，主控单元不具有检测浆液温度的功能。该实施例方案可以通过液体温度以及碰防信号实现流程跳转，从而可以不通过检测浆液温度实现流程跳转，节省相应的配件成本。

附图说明

下面结合附图对本发明实施例做进一步的说明：

图1为本发明实施例的食品加工机的第一加热回路、第二加热回路以及采样电路示意图；

图2为本发明实施例的PTC温度与阻抗的对应曲线示意图；

图3为本发明实施例的根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节的实施例示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

实施例一

一种食品加工机，如图1所示，该食品加工机包括：主控单元(MCU)1和第一加热回路2；第一加热回路1包括：与电源串联的第一加热器件21和采样电阻R0；主控单元1通过采样电阻R0对第一加热器件21工作期间的电流值和电压值进行采样，食品加工机还包括：第二加热器件31，第二加热器件21为正温度系数PTC加热器件；

主控单元1，还用于通过采样电阻R0采集第二加热器件31加热期间的电流值和电压值，根据采集的电流值和电压值获取第二加热器件31所在位置的杯体温度，并根据获取的杯体温度对浆液状态进行检测和/或对制浆流程进行调节。

可选地，第一加热回路2还可以包括：第一开关22；电源(如图1的火线L和零线N所示)、采样电阻R0、第一开关22和第一加热器件21依次串联组成第一加热回路2；

食品加工机还包括：第二开关32；电源、采样电阻R0、第二开关32和第二加热器件31依次串联组成第二加热回路3；

主控单元1，分别与第一开关22和第二开关32的受控端相连，用于通过第一开关22控制第一加热回路2的通断，并通过第二开关32控制第二加热回路3的通断。其中，第一开关22和第二开关32均可以采用继电器和可控硅，如图1所示的可控硅TRC1(第一开关22)和可控硅TRC2(第二开关32)。

在本发明实施例中，如图1所示，系统电源VCC直接与电网火线L相连，R0为采样电阻，主控单元1的电流采样端与采样电阻R0的电流输出端相连，主控单元1的电压采样端与电源的零线N相连。电流检测从R0一端获取电流检测信号，电压检测从零线N获取检测信号。

在本发明实施例中，本方案在当前的第一加热器件的基础上再单独增加一路PTC加热器件，目的在于实现持续小功率加热，以保证浆温，同时可以在熬煮阶段实现很好的熬煮效果，当两个加热器件同时工作时可以缩短制浆周期。并且基于PTC的负温度系数特性，可以配合相应的硬件电路实现对杯体温度的检测，通过该温度优化制浆流程。

可选地，主控单元1根据采集的电流值和电压值对第二加热器件31所在位置的杯体温度进行检测可以包括：

根据采集的电流值和电压值计算第二加热器件31工作时的阻抗；

根据阻抗和预设的映射表获取第二加热器件31的温度，并将第二加热器件31的温度作为第二加热器件31所在位置的杯体温度；

其中，映射表中包含不同的阻抗与不同的温度值的一一对应关系。

在本发明实施例中，PTC的特性是随着温度的升高，阻值也随着增大，基于以上特点，可通过测试PTC在某一时刻的电阻值。根据欧姆定律，测试该时刻PTC两端的电压值U以及流经PTC的电流值I，通过计算公式R＝U/I可获得此时PTC的电阻值。在具体实施中，可以预先设置不同的PTC电阻值与不同的温度之间的对应关系表，即上述的映射表，获取PTC阻值后通过蟾照映射表的方式可以得到该时刻对应的温度值。

在本发明实施例中，食品加工机具有电压采样和电流采样电路，同时具有PTC加热电路，通过测量PTC加热装置工作时的电压和电流计算PTC的阻抗，再根据PTC温度与阻抗的对应关系即可获取PTC处的温度。

在本发明实施例中，通用的测温方案是采用负温度系数NTC的热敏电阻，该方案采用PTC，在加热的同时可获取该处的温度信息，以便于主控程序判断调整制浆流程，达到更好的制浆效果。

实施例二

该实施例在实施例一的基础上对温度检测方式作了进一步优化。可选地，主控单元1采集第二加热器件31加热期间的电流值和电压值可以包括：

控制第一加热回路断开，并控制第二加热回路导通；

在第二加热回路导通第一时长以后，采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值，并计算预设的第二时长内采集的电流值的平均值以及采集的电压值的平均值；

主控单元根据采集的电流值和电压值对第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测还包括：

根据电流值的平均值以及电压值的平均值计算当前第二加热器件的平均阻抗，并根据平均阻抗获取第二加热器件的温度。

在本发明实施例中，可以单独导通PTC加热回路(即第二加热回路)，使PTC工作，等待第一时长(如5秒钟)以后，采集预设的第二时长内(如两秒内)的电流平均值；结合检测的电压值，计算出此时PTC的平均阻抗，与存储的数据对比得到此时的温度。

在本发明实施例中，PTC开始启动阶段存在误差，因此开启后需要等待一定的时间(即上述的第一时长)；另外，瞬间电流值可能会有很大偏差导致测温不准，通过检测短时间内的平均电流可以避免瞬时电流过大过小的问题；另外，电流采样持续时间过长也存在问题，因为加热过程中温度持续上升电阻也在持续变化，电流值也是一个变化的值，过长的时间累积得出的是一个等效温度而不是这一时刻的温度值，温度的偏差较大，因此该第二时长可以选择1-3秒比较合适。

实施例三

该实施例在实施例一或实施例二的基础上对PTC测温算法作了进一步优化。

可选地，映射表可以包括第一温度映射区域和第二温度映射区域；其中，第一温度映射区域所包含的温度值小于第二温度映射区域所包含的温度值；

主控单元1，还用于根据预设的时间间隔对第二加热器件的阻抗进行多次检测；当检测出的多个阻抗依次减小时，获取最后检测出的阻抗，并将最后检测出的阻抗与第一温度映射区域相比较，以获取第二加热器件的温度；当检测出的多个阻抗依次增大时，将最后检测出的阻抗与第二温度映射区域相比较，以获取第二加热器件的温度。

在本发明实施例中，如图2所示，为PTC温度与阻抗的对应曲线，其中，Rn为额定温零功率电阻，Rmin为最小零功率电阻，TRmin为最小电阻的温度，Tc为开关温度或居里温度，Rc为开关电阻，Rmax为最大电阻，TRmax为最大电阻时的温度。

在本发明实施例中，根据图2可知，上述的映射表可以分为两个部分，即上述的第一温度映射区域和第二温度映射区域；其中，第一温度映射区域可以包括低温阶段(＜TRmin)，第二温度映射区域可以包括高温阶段(在TRmin与TRmax之间)。

在本发明实施例中，上述的时间间隔以及检测出的阻抗的具体个数可以根据不同的应用场景或需求进行自定义，对于其具体数值不做限制。可选地，该时间间隔可以包括：7-12秒；家测的阻抗个数可以包括：3个。

在本发明实施例中，如图3所示，主控单元1可以依据下述检测方法进行温度检测：

(1)、检测T1时刻的阻抗R1，间隔10秒后检测T2时刻的阻抗R2，再间隔10秒钟检测T3时刻的阻抗R3，当R1＞R2＞R3时，取T3时刻的R3按照，第一温度映射区域进行查表得出此时的温度；

(2)、检测T1时刻的阻抗R1，间隔10秒后检测T2时刻的阻抗R2，再间隔10秒钟检测T3时刻的阻抗R3，当R1＜R2＜R3时，取T3时刻的R3按照第二温度映射区域进行查表得出此时的温度；

(3)、当R1、R2、R3判断条件不满足以上两点时，重复上述过程。

在本发明实施例中，PTC本身特性使得其在低温区与高温区存在阻抗重叠，静态单一条件下无法区分其对应的温度点，低温区域随着温度的上升阻值会有缓慢下降，高温区域随着温度的上升阻抗急剧增加，通过对与温度变化对应的阻抗变化趋势进行识别，从而可以实现重叠区域的区分。

实施例四

该实施例在上述任意实施例的基础上通过主加热器件进行辅助加热实现PTC异常判定。

可选地，主控单元1，还用于当经过多次检测均不能获取检测出的多个阻抗依次减小或依次增大的结果时，控制第一加热回路导通，使第一加热器件持续工作预设的第三时长，并在此期间对第二加热器件的阻抗间隔检测n次，当n次检测中的最后m次检测获得的阻抗满足依次减小或依次增大的结果时，根据第一温度映射区域或第二温度映射区域的映射关系获取第二加热器件的温度；当n次检测中的最后m次检测获得的阻抗不能满足依次减小或依次增大的结果时，确定测温不准或第二加热器件出现异常，并进行报警。

在本发明实施例中，如图3所示，仍以上述的实施例三中的实施例为例进行说明。在实施例三中，可能会出现多次检查既不满足R1＞R2＞R3也不满足R1＜R2＜R3的情况，此时如果累计多次(如三次)仍然不满足时，可以采用主加热器件加热方式持续加热第三时长(如30秒以上)，在此加热区间可以间隔检测多次(如3次)(例如，检测时可以停止主加热器件3秒后再开启PTC加热器件2秒，开启PTC时间要在主加热停止的3秒区间内)，再进行判断，满足条件继续按照预设的流程进行，不符合要求进行故障报警。

在本发明实施例中，该实施例方案可以避免PTC加热功率过小温度不变或者PTC温度区间处于TRmin附近导致的异常，从而避免由于长时间的异常造成的增加制浆周期，导致制浆效果变差，甚至无法完成制浆的现象发生。

实施例五

该实施例在上述任意实施例的基础上给出了根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节的具体实施例。

可选地，主控单元1根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节可以包括：当确定测温不准或第二加热器件出现异常时，控制第二加热回路断开。

在本发明实施例中，可以预先设定一套流程，用于专门处理PTC测温异常及PTC加热异常，该流程特点在于流程是固化的，不根据PTC的温度进行调整，且后续流程关闭PTC加热开关，只通过主加热器件进行加热。

在本发明实施例中，通过调整制浆流程，可以避免在测温不准或者PTC出现异常时终止制浆过程，进而能够保证在异常情况下完成制浆。

可选地，主控单元1根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节还可以包括：

当确定测温不准或第二加热器件出现异常时，将预设的异常标志位加1，并当检测出在连续三次制浆过程中均将异常标志位加1时，提醒用户对食品加工机进行售后维修，并将异常标志位清零。

在本发明实施例中，当PTC测温不符合条件时，将异常标志加1并存入EEPROM，上电后按照流程制浆，如果仍然检测到PTC测温失效，例如连续3次PTC测温失效，可以在完成本次制浆后报警提示用户到售后维修。在进行售后维修后，可以通过上电后触按预设的组合键清除EEPROM中该异常记录，清零并重新计数。

在本发明实施例中，由于单次异常立即报警，会导致食材浪费，并容易产生误判，影响用户体验，因此本实施例方案进行多次异常报警；并且将异常存入EEPROM可以长时间存储异常，用于异常累计；维修后EEPROM需要清零，采用组合键方式可以防止误操作。

实施例六

该实施例在上述任意实施例的基础上，提出了一种通过PTC测温来取消食品加工机原有的浆液测温的实施例。

可选地，第二加热器件设置于食品加工机的机体底部；

主控单元1，还用于检测机体底部温度；其中，主控单元不具有检测浆液温度的功能。

在本发明实施例中，本实施例方案中的食品加工机相比于通用的食品加工机可以取消浆液测温，只保留水位检测和防溢检测，并且原食品加工机的测温功能可以由PTC底部测温实现。

在本发明实施例中，通用的食品加工机均是通过液体温度以及碰防信号实现流程跳转，本实施例方案中的食品加工机可以通过杯体底部温度及碰防信号实现流程跳转，从而省略了浆液温度检测功能，节省了相应的配件成本。

实施例七

该实施例在上述任意实施例的基础上，提出了一种PTC测温配合浆液测温实现浆液高度精确检测的实施例。

可选地，主控单元1根据检测出的杯体温度对浆液状态进行检测可以包括：根据第二加热器件的温度、检测出的浆液温度以及下述的第一关系式检测浆液高度：

第一关系式包括：H＝UIt/cρS[(T11-T01)-K(T12-T02)]；

其中，H为浆液高度，U为食品加工机加热期间的电压值，I为食品加工机加热期间的电流值，t为加热持续时间，c为水的比热容，ρ为水的密度，S为食品加工机的杯体底部面积，T01为加热之前的浆液温度，T02为加热之前第二加热器件的温度，T11为加热时长t以后的浆液温度，T12为加热时长t以后第二加热器件的温度，K为预设的调整系数。

在本发明实施例中，通过浆液测温可以测得浆液温度T01，通过PTC测温可以检测杯体温度(即环境温度)T02；以一定的功率进行加热，所述功率一般为全功率，可以通过测得的电压U和电流I计算所得(P＝UI)；加热持续时间t，提供热量W＝Pt＝UIt，此时浆液的温度为T11，杯体温度为T12；假设圆柱形杯体底部圆形面积为S，液体体积V＝SH，水的密度为ρ，液体重量M＝ρV＝ρSH；加热水需要的热量Q＝cM△t，其中c为水的比热容，△t水的温度差；为了消除杯体及环境温度的影响，对温度差进行了修正，即△t＝(T11-T01)-K(T12-T02)，其中K为调整系数(包含液体通过杯体耗散的热量)。综上所述可得：W＝Q；UIt＝cM△t＝cρSH[(T11-T01)-K(T12-T02)]；因此，H＝UIt/cρS[(T11-T01)-K(T12-T02)]。

在本发明实施例中，通过热量等效计算液位高度，既可以判断有无液体，避免干烧；也可以实现宽容量制浆，根据浆液的高度调用不同的程序，以获得良好的制浆效果及口感。

实施例八

该实施例在上述任意实施例的基础上，提出了一种利用PTC恒定的小功率加热功率进行豆浆熬煮的实施例。

可选地，主控单元1根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节还可以包括：

在熬煮阶段，当浆液温度大于预设的温度值时，只开启第二加热器件进行加热；其中，所述第二加热器件保持恒定的功率进行加热，以实现浆液维持在预设的居里温度点处。

在本发明实施例中，该预设温度可以包括：94℃-98℃。

在本发明实施例中，在熬煮阶段当浆液温度大于96℃时，可以只开启PTC加热，通过选取合适的居里温度点让PTC以相对恒定的功率进行熬煮。期间第二加热器件可以进行持续的小功率加热；该小功率可以包括：小于或等于700W的功率；

在本发明实施例中，目前食品加工机小功率加热方式是通过快速加热等待方式实现的功率等效，无法实现恒功率。PTC表面温度达到居里温度点后发热与散热达到了平衡，使得PTC以相对恒定的温度进行加热，恒定小功率可以保证杯体底部的温度相对稳定，浆液可以保持持续的微沸腾状态，可以使食物更香醇。

实施例九

该实施例在上述任意实施例的基础上，提出了一种通过PTC测温实现食品加工机掉电记忆功能的实施例。

在本发明实施例中，在浆液温度达到预设温度(该预设温度可以包括：85℃-93℃，如90℃)前持续采用第一加热器件加热，并采用第二加热器件进行PTC辅助加热，此时可以实时记录PTC温度TD0并存入EEPROM。制浆过程中如果突然掉电，系统电源因储能器件可以保持主控单元MCU延后断电，此时主控单元MCU检测到过零丢失，可以产生一个掉电标志，将该掉电标志以及工作步骤存入EEPROM中。重新上电时，检测是否存在该掉电标志，如果存在掉电标志，则开启PTC加热，并开始检测温度TD，当TD＞TD0-TX时认为异常掉电，此时从EEPROM读取工作步骤继续后续制浆流程；如果不存在掉电标志，则清楚EEPROM数据，并按照新一锅的制浆流程开始制浆。其中，TX为温度调整值，根据掉电时间长短进行确定。

在本发明实施例中，该实施例方案在不增加额外电路及成本的情况下解决了用户的掉电痛点问题，并可以实现较长时间的掉电等待。

本发明实施例的有益效果可以包括：

1、本发明实施例的食品加工机包括：主控单元和第一加热回路；第一加热回路包括：与电源串联的第一加热器件和采样电阻；主控单元通过采样电阻对第一加热器件工作期间的电流值和电压值进行采样，食品加工机还包括：第二加热器件，第二加热器件为正温度系数PTC加热器件；主控单元，还用于通过采样电阻采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值，根据采集的电流值和电压值获取第二加热器件所在位置的杯体温度，并根据获取的杯体温度对浆液状态进行检测和/或对制浆流程进行调节。该实施例方案基于正温度系数PTC加热装置的应用实现了杯体温度检测、水位精确检测、掉电记忆和小功率恒温检测等多种功能，提升了制浆效果。

2、本发明实施例的主控单元采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值包括：控制第一加热回路断开，并控制第二加热回路导通；在第二加热回路导通第一时长以后，采集第二加热器件加热期间的电流值和电压值，并计算预设的第二时长内采集的电流值的平均值以及采集的电压值的平均值；主控单元根据采集的电流值和电压值对第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测还包括：根据电流值的平均值以及电压值的平均值计算当前第二加热器件的平均阻抗，并根据平均阻抗获取第二加热器件的温度。该实施例方案细化了温度检测方式，提高了温度检测的准确性。

3、本发明实施例的映射表包括第一温度映射区域和第二温度映射区域；其中，第一温度映射区域所包含的温度值小于第二温度映射区域所包含的温度值；主控单元，还用于根据预设的时间间隔对第二加热器件的阻抗进行多次检测；当检测出的多个阻抗依次减小时，获取最后检测出的阻抗，并将最后检测出的阻抗与第一温度映射区域相比较，以获取第二加热器件的温度；当检测出的多个阻抗依次增大时，将最后检测出的阻抗与第二温度映射区域相比较，以获取第二加热器件的温度。该实施例方案通过对温度变化对应的阻抗变化趋势进行识别，可以实现对低温区与高温区存在的阻抗重叠区域进行区分，避免出现测温异常。

4、本发明实施例的主控单元还用于当经过多次检测均不能获取检测出的多个阻抗依次减小或依次增大的结果时，控制第一加热回路导通，使第一加热器件持续工作预设的第三时长，并在此期间对第二加热器件的阻抗间隔检测n次，当n次检测中的最后m次检测获得的阻抗满足依次减小或依次增大的结果时，根据第一温度映射区域或第二温度映射区域的映射关系获取第二加热器件的温度；当n次检测中的最后m次检测获得的阻抗不能满足依次减小或依次增大的结果时，确定测温不准或第二加热器件出现异常，并进行报警。该实施例方案避免了PTC加热功率过小温度不变或者PTC温度区间处于第一温度映射区域和第二温度映射区域的临界值TRmin附近导致的异常，从而避免了因长时间的异常造成的制浆周期增加，制浆效果变差，甚至无法完成制浆得现象。

5、本发明实施例的主控单元根据检测出的杯体温度对制浆流程进行调节包括：当确定测温不准或第二加热器件出现异常时，控制第二加热回路断开。该实施例方案可以在测温不准或者PTC出现异常时继续通过第一加热装置进行之江，从而保证在异常情况下能够完成制浆。

6、本发明实施例的第二加热器件设置于食品加工机的机体底部；主控单元还用于检测机体底部温度；其中，主控单元不具有检测浆液温度的功能。该实施例方案可以通过液体温度以及碰防信号实现流程跳转，从而可以不通过检测浆液温度实现流程跳转，节省相应的配件成本。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种食品加工机，所述食品加工机包括：主控单元和第一加热回路；所述第一加热回路包括：与电源串联的第一加热器件和采样电阻；所述主控单元通过所述采样电阻对所述第一加热器件工作期间的电流值和电压值进行采样，其特征在于：所述食品加工机还包括：第二加热器件，所述第二加热器件为正温度系数PTC加热器件；

所述主控单元，还用于通过所述采样电阻采集所述第二加热器件加热期间的电流值和电压值，根据采集的所述电流值和电压值获取所述第二加热器件所在位置的杯体温度，并根据获取的所述杯体温度对浆液状态进行检测和/或对制浆流程进行调节；

所述主控单元根据采集的所述电流值和电压值对所述第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测包括：根据采集的所述电流值和电压值计算所述第二加热器件工作时的阻抗；根据所述阻抗和预设的映射表获取所述第二加热器件的温度，并将所述第二加热器件的温度作为所述第二加热器件所在位置的杯体温度；

所述映射表包括第一温度映射区域和第二温度映射区域；其中，所述第一温度映射区域所包含的温度值小于所述第二温度映射区域所包含的温度值；

所述主控单元，还用于根据预设的时间间隔对所述第二加热器件的阻抗进行多次检测；当检测出的多个阻抗依次减小时，获取最后检测出的阻抗，并将所述最后检测出的阻抗与所述第一温度映射区域相比较，以获取所述第二加热器件的温度；当检测出的多个阻抗依次增大时，将所述最后检测出的阻抗与所述第二温度映射区域相比较，以获取所述第二加热器件的温度。

2.根据权利要求1所述的食品加工机，其特征在于，所述第一加热回路还包括：第一开关；所述电源、所述采样电阻、所述第一开关和所述第一加热器件依次串联组成所述第一加热回路；

所述食品加工机还包括：第二开关；所述电源、所述采样电阻、所述第二开关和所述第二加热器件依次串联组成第二加热回路；

所述主控单元的电流采样端与所述采样电阻的电流输出端相连，所述主控单元的电压采样端与所述电源的零线相连。

3.根据权利要求1或2所述的食品加工机，其特征在于，所述主控单元根据采集的所述电流值和电压值对所述第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测包括：

根据采集的所述电流值和电压值计算所述第二加热器件工作时的阻抗；

根据所述阻抗和预设的映射表获取所述第二加热器件的温度，并将所述第二加热器件的温度作为所述第二加热器件所在位置的杯体温度；

其中，所述映射表中包含不同的阻抗与不同的温度值的一一对应关系。

4.根据权利要求1或2所述的食品加工机，其特征在于，

所述主控单元采集所述第二加热器件加热期间的电流值和电压值包括：

控制所述第一加热回路断开，并控制所述第二加热回路导通；

在所述第二加热回路导通第一时长以后，采集所述第二加热器件加热期间的电流值和电压值，并计算预设的第二时长内采集的所述电流值的平均值以及采集的所述电压值的平均值；

所述主控单元根据采集的所述电流值和电压值对所述第二加热器件所在位置的杯体温度进行检测还包括：

根据所述电流值的平均值以及所述电压值的平均值计算当前所述第二加热器件的平均阻抗，并根据所述平均阻抗获取所述第二加热器件的温度。

5.根据权利要求1所述的食品加工机，其特征在于，

所述主控单元，还用于当经过多次检测均不能获取检测出的多个阻抗依次减小或依次增大的结果时，控制所述第一加热回路导通，使所述第一加热器件持续工作预设的第三时长，并在此期间对所述第二加热器件的阻抗间隔检测n次，当所述n次检测中的最后m次检测获得的阻抗满足依次减小或依次增大的结果时，根据所述第一温度映射区域或所述第二温度映射区域的映射关系获取所述第二加热器件的温度；当所述n次检测中的最后m次检测获得的阻抗不能满足依次减小或依次增大的结果时，确定测温不准或所述第二加热器件出现异常，并进行报警。

6.根据权利要求5所述的食品加工机，其特征在于，所述主控单元根据检测出的所述杯体温度对制浆流程进行调节包括：当确定测温不准或所述第二加热器件出现异常时，控制所述第二加热回路断开。

7.根据权利要求5所述的食品加工机，其特征在于，所述主控单元根据检测出的所述杯体温度对制浆流程进行调节包括：

当确定测温不准或所述第二加热器件出现异常时，将预设的异常标志位加1，并当检测出在连续三次制浆过程中均将所述异常标志位加1时，提醒用户对所述食品加工机进行售后维修，并将所述异常标志位清零。

8.根据权利要求1或2所述的食品加工机，其特征在于，所述第二加热器件设置于所述食品加工机的机体底部；

所述主控单元，还用于检测所述机体底部温度；其中，所述主控单元不具有检测浆液温度的功能。

9.根据权利要求1或2所述的食品加工机，其特征在于，所述主控单元根据检测出的所述杯体温度对浆液状态进行检测包括：根据所述第二加热器件的温度、检测出的浆液温度以及下述的第一关系式检测浆液高度：

所述第一关系式包括：H＝UIt/cρS[(T11-T01)-K(T12-T02)]；

其中，H为所述浆液高度，U为所述食品加工机加热期间的电压值，I为所述食品加工机加热期间的电流值，t为加热持续时间，c为水的比热容，ρ为水的密度，S为所述食品加工机的杯体底部面积，T01为加热之前的浆液温度，T02为加热之前所述第二加热器件的温度，T11为加热时长t以后的浆液温度，T12为加热时长t以后所述第二加热器件的温度，K为预设的调整系数。

Images