CN107945727B - 一种Mura现象补偿方法及其装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种Mura现象补偿方法及其装置，通过将显示面板所有区域的补偿数据拆分成各时序控制芯片对应负责的区域部分，分别存储在flash存储区中的不同位置，各时序控制芯片工作时只读取自身对应的部分补偿数据，避免了多个时序控制芯片之间无法区分自身负责区域所对应的有效补偿数据矩阵，从而导致各个时序控制芯片的补偿效果出现错误。

Description

一种Mura现象补偿方法及其装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种Mura现象补偿方法及其装置。
背景技术
显示面板的驱动线路中，时序控制芯片(Timer Control Integrated Circuit，TCON IC)对数据的处理能力存在一定的局限性，例如最大支持3840*2160分辨率、120Hz刷新率的时序控制芯片，若要驱动7680*4320分辨率、60Hz刷新率的显示面板，则需要两颗时序控制芯片并联使用，单颗时序控制芯片负责左、右，或者上、下各一半的显示区域。当有多颗时序控制芯片并联使用来驱动显示面板时，显示面板的亮暗差异补偿技术使用上会遇到一些问题，相机拍摄整个显示面板的显示区域并计算出对应的灰阶补偿数据矩阵，将此灰阶补偿数据矩阵同时传输给并联工作的多颗时序控制芯片时，由于单颗时序控制芯片只负责显示面板的某一显示区域数据，时序控制芯片之间无法区分自身负责区域所对应的有效补偿数据矩阵，会导致各个时序控制芯片的补偿效果出现错误。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种Mura现象补偿方法及其装置，旨在当使多颗时序控制芯片并联工作时，显示面板的亮暗补偿功能，还可以达到正确的补偿效果。
为实现上述目的，本发明提出的一种Mura现象补偿方法，用于多颗时序控制芯片并联处理显示面板，其包括以下步骤：步骤一：拍摄整个显示面板的显示区域；步骤二：计算整个显示面板的显示区域的补偿数据矩阵a；步骤三：多颗所述时序控制芯片的数量设为N，将所述显示面板分成N个小部分，每一所述时序控制芯片控制每一所述小部分；步骤四：设定显示面板的分辨率为B1*B2，将补偿数据矩阵a等间隔设定参考点为A1*A2，补偿数据矩阵a等于(B1/A1+1)*(B2/A2+1)，当N个所述小部分对应的参考点为整数时，将补偿数据矩阵a拆分成N个小矩阵C，每一所述小矩阵C等于(B1/A1+1)*((B2/A2)/N+1)；当N个所述小部分对应的参考点不为整数时，将补偿数据矩阵a拆分成N个小矩阵C，每一所述小矩阵C等于(B1/A1+1)*((B2/A2+1)/N+1)；步骤五：将每一所述小矩阵分别输入到对应的每一所述时序控制芯片中；步骤六：每一所述时序控制芯片工作时只读取自身对应的所述小矩阵的补偿数据。
可选的，每一所述时序控制芯片对应连接一flash存储器，每一所述小矩阵C分别输入到每一所述flash存储器中。
可选的，N颗所述时序控制芯片共同连接一flash存储器，将所述flash存储器分成N个存储区，每一所述小矩阵C分别输入到每一所述存储区内。
可选的，设定N等于2，设定显示面板的分辨率为7680*4320，间隔设定的参考点为16*16，则补偿数据矩阵a为481*271，此时两个所述小部分对应的参考点为整数，每一所述小矩阵C均为481*136。
可选的，在将补偿数据矩阵a为481*271拆成两个上下的小矩阵时，复制一份所述补偿数据矩阵a的第136行的补偿数据。
可选的，设定N等于2，设定显示面板的分辨率为7680*4320，间隔设定的参考点为32*32，补偿数据矩阵a为241*136，此时两个所述小部分的显示区域对应的参考点不为整数，每一所述小矩阵C均为241*69。
可选的，在将补偿数据矩阵a为241*136拆成上下两个小矩阵时，复制一份所述补偿数据矩阵a的第68行和第69行补偿数据。
本发明还提供了一种Mura现象补偿装置，其特征在于，包括：显示面板，所述显示面板分成多个显示区域；多颗时序控制芯片，每一所述时序控制芯片分别与每一所述显示区域对应连接；Mura现象补偿处理芯片，用于与所述时序控制芯片连接，Mura现象补偿处理芯片用于计算整个显示面板的显示区域的补偿数据矩阵a，且将补偿数据矩阵a拆分成多个小矩阵，每一小矩阵的数据对应补偿每一所述显示区域。
可选的，每一所述时序控制芯片对应连接一flash存储器，每一所述小矩阵的数据分别输入到每一所述flash存储器中。
可选的，多颗所述时序控制芯片共同连接一flash存储器，将所述flash存储器分成N个存储区，每一所述小矩阵的数据分别输入到每一所述存储区内。
本发明所提供的一种Mura现象补偿方法及其装置，通过将显示面板所有区域的补偿数据拆分成各时序控制芯片对应负责的区域部分，分别存储在flash存储区中的不同位置，各时序控制芯片工作时只读取自身对应的部分补偿数据，避免了多个时序控制芯片之间无法区分自身负责区域所对应的有效补偿数据矩阵，从而导致各个时序控制芯片的补偿效果出现错误。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明Mura现象补偿装置的结构示意图；
图2为本发明Mura现象补偿方法第一实施例的流程框图；
图3为本发明Mura现象补偿方法第二实施例的流程示意图；
图4为本发明Mura现象补偿方法第三实施例的流程示意图；
图5为本发明Mura现象补偿方法第三实施例的另一流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
随着显示面板，例如液晶显示面板(Liquid Crystal Display Panel，LCD面板)、有机发光二极管显示面板(Organic Light Emitting Diode Display Panel,OLED面板)，向着轻薄大屏的方向发展，因实际制程上的不可控因素，使显示面板各处的物理特性存在差异，导致在大于一个像素点的范围内，显示纯灰度图像时亮度不均匀的现象，即业界所称的Mura现象。
请参看图1及图2所示，本发明的第一实施例所提供的Mura现象补偿方法，用于多颗时序控制芯片(Timer Control Integrated Circuit，TCON IC)并联处理的显示面板，本实施方式的显示面板为LCD面板。所述Mura现象补偿方法包括以下步骤：
步骤一：拍摄整个显示面板的显示区域，具体为在显示面板的中心点的正上方用一相机对显示一定灰度画面的显示面板拍照，通过采集到的图像得到所述显示面板的亮度数据。
步骤二：根据采集到的亮度数据，计算整个显示面板的显示区域的补偿数据矩阵a。具体的包括Mura现象补偿处理芯片，用于与所述时序控制芯片连接，Mura现象补偿处理芯片用于计算整个显示面板的显示区域的补偿数据矩阵a。
步骤三：多颗所述时序控制芯片的数量设为N，将所述显示面板分成N个小部分，每一所述时序控制芯片控制每一所述小部分。具体的将显示面板的所有区域的补偿数据拆分成每一所述时序控制芯片对应负责的区域部分。
步骤四：设定显示面板的分辨率为B1*B2，将补偿数据矩阵a等间隔设定参考点为A1*A2，多颗所述时序控制芯片并联驱动显示面板时，一定会存在相邻的边界区域，所以得到补偿数据矩阵a等于(B1/A1+1)*(B2/A2+1)；当N个所述小部分对应的参考点为整数时，将补偿数据矩阵a拆分成N个小矩阵C，每一所述小矩阵C等于(B1/A1+1)*((B2/A2)/N+1)；当N个所述小部分对应的参考点不为整数时，将补偿数据矩阵a拆分成N个小矩阵C，每一所述小矩阵C等于(B1/A1+1)*((B2/A2+1)/N+1)。
步骤五：将每一所述小矩阵分别输入到对应的每一所述时序控制芯片中。在本实施例中，每一所述时序控制芯片对应连接一flash存储器(又称闪存)，每一所述小矩阵C分别输入到每一所述flash存储器中。在其它实施例中，N颗所述时序控制芯片共同连接一flash存储器，将所述flash存储器分成N个存储区，每一所述小矩阵C分别输入到每一所述存储区内。
步骤六：每一所述时序控制芯片工作时只读取自身对应的所述小矩阵的补偿数据，从而使得各所述时序控制芯片工作时只读取自身对应的部分补偿数据，以此使得多颗时序控制芯片并联工作时的，所述显示面板得亮暗补偿功能达到正确的补偿效果，避免了多颗所述时序控制芯片之间无法区分自身负责区域所对应的有效补偿数据矩阵，会导致各个时序控制芯片的补偿效果出现错误。
请参看图3，本发明的Mura现象补偿方法的第二实施例，将多颗所述时序控制芯片的N设定等于2，也就有时序控制芯片1(简称TCON1)和时序控制芯片2(简称TCON2)。设定显示面板的分辨率为7680*4320，间隔设定的参考点为16*16，则补偿数据矩阵a为481*271，此时两个所述小部分对应的参考点为整数，每一所述小矩阵C均为481*136。在将补偿数据矩阵a为481*271拆成两个上下的小矩阵C时，复制一份所述补偿数据矩阵a的第136行的补偿数据。
具体的，本实施例出现上、下部分显示区域对应的补偿数据参考点为整数，下半部分第一行像素正好是补偿数据参考点位置，但是上半部分最后几行像素的补偿数据需要使用到下半部分第一行的补偿参考点的补偿数据，此时需要将整个显示面板补偿参考点的补偿数据矩阵a分成上、下两部分a1和a2，分别存储在不同的flash存储器中，对应连接两颗时序控制芯片，两颗时序控制芯片，即TCON1和TCON2，在读取补偿数据时，分别读取不同的flash存储器。7680*4320分辨率、补偿参考点间隔设定16*16，补偿数据矩阵a为481*271个数据，补偿数据矩阵a的第136行补偿数据的位置刚好落在下半部分显示区域的第1行像素上，而上半部分显示区域最后几行像素的补偿数据，需要由补偿数据矩阵a中的第135行和第136行补偿数据进行线性插值计算得到，所以在拆分补偿数据矩阵a时需要将第136行的补偿数据复制一份，即补偿数据矩阵a中的第136行补偿数据作为小矩阵a1(上半部分)的第136行补偿数据，同时也作为小矩阵a2(下半部分)的第1行补偿数据，这样小矩阵a1和小矩阵a2均为481*136的数据矩阵。
请参看图4及图5，本发明的Mura现象补偿方法的第三实施例，将多颗所述时序控制芯片的N设定等于2，也就有时序控制芯片1(简称TCON1)和时序控制芯片2(简称TCON2)。设定显示面板的分辨率为7680*4320，间隔设定的参考点为32*32，补偿数据矩阵a为241*136，此时两个所述小部分的显示区域对应的参考点不为整数，每一所述小矩阵C均为241*69。在将补偿数据矩阵a为241*136拆成上下两个小矩阵时，复制一份所述补偿数据矩阵a的第68行和第69行补偿数据。
具体的，本实施例出现上、下部分显示区域对应的补偿数据参考点不为整数，7680*4320分辨率、补偿参考点间隔设定32*32，补偿数据矩阵b为241*136个数据，上、下部分显示区域的分界线刚好处于补偿数据矩阵b的第68行和第69行补偿数据所在等间隔设定区域的中间位置，则需要将第69行补偿数据放在上半显示区域的小矩阵b1中，对于负责上半部分显示区域的时序控制芯片，当显示上半显示区域最后16行像素时，仍使用所述补偿数据矩阵b的第68行和第69行补偿数据进行32*32等间隔线性插值计算(此等间隔内的第17～32行像素数据不需要计算出来)。针对下半部分显示区域，则需要将所述补偿数据矩阵b的第68行补偿数据放在下半显示区域的小矩阵b2中，而下半部分显示区域第1行像素位置为第68行和第69行补偿数据对应的等间隔内的第17行像素，当此时序控制芯片接收到原始像素的灰阶数据后并计算相应像素位置的补偿数据时，需要将所有原始像素的行位置增加16，即显示区域的第1行像素变为小矩阵b2中的第17行像素位置，这样线性插值计算出来的补偿数据才能和原始像素的位置正确对应。
本发明包括一种Mura现象补偿装置，包括显示面板，所述显示面板分成多个显示区域。多颗时序控制芯片，每一所述时序控制芯片分别与每一所述显示区域对应连接。Mura现象补偿处理芯片，用于与所述时序控制芯片连接，Mura现象补偿处理芯片用于计算整个显示面板的显示区域的补偿数据矩阵a，且将补偿数据矩阵a拆分成多个小矩阵，每一小矩阵的数据对应补偿每一所述显示区域。
在其中一个实施例中，每一所述时序控制芯片对应连接一flash存储器，每一所述小矩阵的数据分别输入到每一所述flash存储器中。
在其中另一个实施例中，多颗所述时序控制芯片共同连接一flash存储器，将所述flash存储器分成N个存储区，每一所述小矩阵的数据分别输入到每一所述存储区内。
本发明，通过每一所述时序控制芯片工作时只读取自身对应的所述小矩阵的补偿数据，从而使得各所述时序控制芯片工作时只读取自身对应的部分补偿数据，以此使得同一显示面板使用多颗时序控制芯片驱动时，Mura补偿功能仍能正常工作，避免了多颗所述时序控制芯片之间无法区分自身负责区域所对应的有效补偿数据矩阵，会导致各个时序控制芯片的补偿效果出现错误。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护之内。

Claims (10)

1.一种Mura现象补偿方法，用于多颗时序控制芯片并联处理显示面板，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：拍摄整个显示面板的显示区域；
步骤二：计算整个显示面板的显示区域的补偿数据矩阵a；
步骤三：多颗所述时序控制芯片的数量设为N，将所述显示面板分成N个小部分，每一所述时序控制芯片控制每一所述小部分；
步骤四：设定显示面板的分辨率为B1*B2，将补偿数据矩阵a等间隔设定参考点为A1*A2，补偿数据矩阵a等于(B1/A1+1)*(B2/A2+1)，当N个所述小部分对应的参考点为整数时，将补偿数据矩阵a拆分成N个小矩阵C，每一所述小矩阵C等于(B1/A1+1)*((B2/A2)/N+1)；当N个所述小部分对应的参考点不为整数时，将补偿数据矩阵a拆分成N个小矩阵C，每一所述小矩阵C等于(B1/A1+1)*((B2/A2+1)/N+1)；
步骤五：将每一所述小矩阵分别输入到对应的每一所述时序控制芯片中；
步骤六：每一所述时序控制芯片工作时只读取自身对应的所述小矩阵的补偿数据。
2.如权利要求1所述的Mura现象补偿方法，其特征在于：每一所述时序控制芯片对应连接一flash存储器，每一所述小矩阵C分别输入到每一所述flash存储器中。
3.如权利要求1所述的Mura现象补偿方法，其特征在于：N颗所述时序控制芯片共同连接一flash存储器，将所述flash存储器分成N个存储区，每一所述小矩阵C分别输入到每一所述存储区内。
4.如权利要求1所述的Mura现象补偿方法，其特征在于：设定N等于2，设定显示面板的分辨率为7680*4320，间隔设定的参考点为16*16，则补偿数据矩阵a为481*271，此时两个所述小部分对应的参考点为整数，每一所述小矩阵C均为481*136。
5.如权利要求4所述的Mura现象补偿方法，其特征在于：在将补偿数据矩阵a为481*271拆成两个上下的小矩阵时，复制一份所述补偿数据矩阵a的第136行的补偿数据。
6.如权利要求1所述的Mura现象补偿方法，其特征在于：设定N等于2，设定显示面板的分辨率为7680*4320，间隔设定的参考点为32*32，补偿数据矩阵a为241*136，此时两个所述小部分的显示区域对应的参考点不为整数，每一所述小矩阵C均为241*69。
7.如权利要求6所述的Mura现象补偿方法，其特征在于：在将补偿数据矩阵a为241*136拆成上下两个小矩阵时，复制一份所述补偿数据矩阵a的第68行和第69行补偿数据。
8.一种Mura现象补偿装置，其特征在于，包括：
显示面板，所述显示面板分成多个显示区域；
多颗时序控制芯片，每一所述时序控制芯片分别与每一所述显示区域对应连接；
Mura现象补偿处理芯片，用于与所述时序控制芯片连接，Mura现象补偿处理芯片用于计算整个显示面板的显示区域的补偿数据矩阵a，且将补偿数据矩阵a拆分成多个小矩阵，每一小矩阵的数据通过所述Mura现象补偿处理芯片采用权利要求1-7任意一项所述的Mura现象补偿方法对应补偿每一所述显示区域。
9.如权利要求8所述的Mura现象补偿装置，其特征在于：每一所述时序控制芯片对应连接一flash存储器，每一所述小矩阵的数据分别输入到每一所述flash存储器中。
10.如权利要求8所述的Mura现象补偿装置，其特征在于：多颗所述时序控制芯片共同连接一flash存储器，将所述flash存储器分成N个存储区，每一所述小矩阵的数据分别输入到每一所述存储区内。
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